技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，包括步驟：根據(jù)置信度，計(jì)算與不同故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間；根據(jù)故障數(shù)和與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間，計(jì)算使用方風(fēng)險(xiǎn)和生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)；根據(jù)故障數(shù)、與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間和生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)，計(jì)算最小故障數(shù)和最短試驗(yàn)時(shí)間；根據(jù)使用方風(fēng)險(xiǎn)、生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)和鑒別比，計(jì)算最大故障數(shù)和最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間；根據(jù)最小故障數(shù)、最短試驗(yàn)時(shí)間、最大故障數(shù)和最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間畫出試驗(yàn)截尾判決圖，并基于試驗(yàn)截尾判決圖對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行判決。本發(fā)明所述技術(shù)方案提高了對(duì)批電子產(chǎn)品做出拒收判決的條件，因而有效降低了生產(chǎn)方損失和合格電子產(chǎn)品被拒收的風(fēng)險(xiǎn)，同時(shí)便于試驗(yàn)規(guī)劃安排。

技術(shù)研發(fā)人員：何俊;陶小創(chuàng);曲麗麗
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京電子工程總體研究所
文檔號(hào)碼：201510469648
技術(shù)研發(fā)日：2015.08.04
技術(shù)公布日：2017.02.22