技術(shù)特征：

1.一種用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、根據(jù)置信度，計(jì)算與不同故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間；

S2、根據(jù)故障數(shù)和與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間，計(jì)算使用方風(fēng)險(xiǎn)和生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)；

S3、根據(jù)故障數(shù)、與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間和生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)，計(jì)算最小故障數(shù)和最短試驗(yàn)時(shí)間；

S4、根據(jù)使用方風(fēng)險(xiǎn)、生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)和鑒別比，計(jì)算最大故障數(shù)和最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間；

S5、根據(jù)最小故障數(shù)、最短試驗(yàn)時(shí)間、最大故障數(shù)和最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間畫出試驗(yàn)截尾判決圖，并基于試驗(yàn)截尾判決圖對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行判決。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S1中計(jì)算與不同故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間的公式為：

公式中，T為電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)時(shí)間，單位h；Z為電子產(chǎn)品的故障數(shù)；γ為置信度；為自由度為2Z+2的卡方分布分位數(shù)；θ₁為平均故障間隔時(shí)間檢驗(yàn)下限。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S2中計(jì)算使用方風(fēng)險(xiǎn)和生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)的公式為：

$\mathrm{\α}=\mathrm{\β}=\underset{k=0}{\overset{Z}{\Σ}}\frac{{(T/{\mathrm{\θ}}_1)}^k{e}^{-T/{\mathrm{\θ}}_1}}{k!}$

公式中，α為生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)；β為使用方風(fēng)險(xiǎn)；T為電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)時(shí)間，單位h；Z為電子產(chǎn)品的故障數(shù)；θ₁為平均故障間隔時(shí)間檢驗(yàn)下限。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S3進(jìn)一步包括如下子步驟：

S3.1、將各故障數(shù)和與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間代入生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)與試驗(yàn)時(shí)間、故障數(shù)的關(guān)系式，計(jì)算得到各故障數(shù)和與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的可靠性試驗(yàn)時(shí)間所對(duì)應(yīng)的多個(gè)生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)，所述生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)與試驗(yàn)時(shí)間、故障數(shù)的關(guān)系式如下：

$1-{\mathrm{\α}}^{\′}=\underset{k=0}{\overset{Z}{\Σ}}\frac{{\left(\frac{T}{{\mathrm{d\θ}}_1}\right)}^k{e}^{-\frac{T}{{\mathrm{d\θ}}_1}}}{k!}$

公式中，α′為生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)；T為電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)時(shí)間，單位h；d為鑒別比；Z為電子產(chǎn)品的故障數(shù)；θ₁為平均故障間隔時(shí)間檢驗(yàn)下限；

S3.2、將與步驟S2得到的生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)最接近的通過步驟S3.1計(jì)算出的生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)所對(duì)應(yīng)的故障數(shù)和與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間作為最小故障數(shù)和最短試驗(yàn)時(shí)間。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S4進(jìn)一步包括如下子步驟：

S4.1、令故障數(shù)由取最小故障數(shù)起逐漸以1為單位增大，根據(jù)使用方風(fēng)險(xiǎn)β和生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)α，通過查卡方分布表得到最大故障數(shù)計(jì)算公式中的兩個(gè)卡方分布分位數(shù)，統(tǒng)計(jì)各故障數(shù)所對(duì)應(yīng)的兩個(gè)卡方分布分位數(shù)的比值，若兩個(gè)卡方分布分位數(shù)的比值不小于1/d，則此時(shí)對(duì)應(yīng)的故障數(shù)為最大故障數(shù)，所述最大故障數(shù)計(jì)算公式為：

$\frac{{\mathrm{\χ}}_{2Z_{max},\mathrm{\α}}^2}{{\mathrm{\χ}}_{2Z_{max},(1-\mathrm{\β})}^2}\≥\frac{1}{d}$

公式中，α為步驟S2得到的生產(chǎn)方風(fēng)險(xiǎn)；β為使用方風(fēng)險(xiǎn)；d為鑒別比；Z_max為最大故障數(shù)；為自由度為2Z_max的卡方分布分位數(shù)；

S4.2、計(jì)算截尾時(shí)間，若與最大故障數(shù)所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間大于截尾時(shí)間，則將與最大故障數(shù)所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間作為最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間，若與最大故障數(shù)所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間小于等于截尾時(shí)間，則將截尾時(shí)間作為最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間，計(jì)算截尾時(shí)間的公式如下：

${T_0}^{\′}=\frac{{\mathrm{\θ}}_0\·{\mathrm{\χ}}_{2Z_{max},\mathrm{\α}}^2}{2}$

公式中，T₀′為截尾時(shí)間，θ₀為平均故障間隔時(shí)間檢驗(yàn)上限。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S5中根據(jù)最小故障數(shù)、最短試驗(yàn)時(shí)間、最大故障數(shù)和最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間畫出試驗(yàn)截尾判決圖的方法如下：

以試驗(yàn)時(shí)間為橫坐標(biāo)，以故障數(shù)為縱坐標(biāo)，建立坐標(biāo)系；

將故障數(shù)和與故障數(shù)對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間確定的各點(diǎn)連接形成判定線；

判定線的起點(diǎn)為最短試驗(yàn)時(shí)間和最小故障數(shù)確定的點(diǎn)，終點(diǎn)為最長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間和最大故障數(shù)確定的點(diǎn)；

由起點(diǎn)和終點(diǎn)分別向兩個(gè)坐標(biāo)軸做垂線，形成試驗(yàn)截尾判決圖。