1.近紅外光譜法快速無損鑒別文拉法辛晶型的方法，主要包括以下步驟：
(1)收集文拉法辛不同晶型的樣品；
(2)使用近紅外光譜儀以最優(yōu)的光譜測(cè)量參數(shù)值采集文拉法辛不同晶型樣品的近紅外光譜；
(3)以最優(yōu)的化學(xué)計(jì)量學(xué)預(yù)處理方法對(duì)文拉法辛不同晶型樣品的近紅外光譜進(jìn)行預(yù)處理；
(4)采用最優(yōu)建模光譜范圍、適當(dāng)?shù)墓庾V數(shù)據(jù)維度建立文拉法辛晶型的化學(xué)計(jì)量學(xué)鑒別模型；
(5)評(píng)價(jià)所建文拉法辛晶型化學(xué)計(jì)量學(xué)鑒別模型的性能；
(6)應(yīng)用所建文拉法辛晶型化學(xué)計(jì)量學(xué)鑒別模型鑒別未知文拉法辛晶體的晶型。
2.如權(quán)利要求1所述方法，其特征在于：晶體為文拉法辛晶體，包括但不限于B型和C型。
3.如權(quán)利要求1所述方法，其特征在于：所述步驟(2)中近紅外光譜測(cè)量?jī)x器包括但不限于傅里葉變換近紅外光譜儀；測(cè)量參數(shù)包括但不限于掃描次數(shù)、分辨率和光譜掃描范圍；測(cè)量模式包括但不限于漫反射模式。
4.如權(quán)利要求1所述方法，其特征在于：所述步驟(3)中對(duì)光譜數(shù)據(jù)的前處理方法包括但不限于多元散射校正、標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變換、一階導(dǎo)數(shù)、二階導(dǎo)數(shù)、Savitzky-Golay平滑或Norris平滑以及均值中心化中的一種或幾種。
5.如權(quán)利要求1所述方法，其特征在于：所述步驟(4)中最優(yōu)的波數(shù)范圍包括但不限于計(jì)算軟件自動(dòng)選擇、手動(dòng)選擇、計(jì)算軟件自動(dòng)選擇與手動(dòng)選擇相結(jié)合。
6.如權(quán)利要求1所述方法，其特征在于：所述步驟(4)中光譜數(shù)據(jù)降維方法包括但不限于主成分分析法。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述步驟(4)中文拉法辛晶型的化學(xué)計(jì)量學(xué)鑒 別模型，建模算法包括但不限于判別分析和對(duì)向傳播人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述步驟(5)中評(píng)價(jià)所建文拉法辛晶型鑒別模型性能的參數(shù)包括但不限于校正集正判率和驗(yàn)證集正判率。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述步驟(6)中應(yīng)用所建模型鑒別未知文拉法辛晶體的晶型，所用的近紅外光譜的光譜測(cè)量參數(shù)、光譜測(cè)量方法、化學(xué)計(jì)量學(xué)預(yù)處理方法、建模光譜范圍、降維方法均與校正集樣品一致；所用計(jì)算軟件包括但不限于TQ Analyst和MATLAB。