本發(fā)明涉及一種利用作動器帶動治具及封閉件同步位移，令治具伸入通過隔離室的移料口，在測試座執(zhí)行移入或下壓電子元件的作業(yè)時，利用封閉件直接將隔離室的移料口封閉，以防止隔離室外部的雜訊干擾影響電子元件測試作業(yè)，進而有效提升測試品質的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置。

背景技術：

在現(xiàn)今，無線通訊電子元件(如射頻IC)已廣泛應用于行動電話、基地臺或無線網(wǎng)路等，為確保無線通訊電子元件的出廠品質，業(yè)者必須測試無線通訊電子元件的接收/發(fā)送射頻信號等功能；請參閱第1、2圖，目前測試方式是在電子元件測試設備的機臺11的開放空間設有測試機構12，該測試機構12設有具測試座122的電路板121，該測試座122并設有復數(shù)個探針123，用以電性接觸無線通訊電子元件13的接點131，該測試設備的移料機構(圖未示出)設有作第一、二、三方向(如X、Y、Z方向)位移的移料器14，該移料器14具有吸嘴治具141，并以吸嘴治具141吸附待測的無線通訊電子元件13，而將無線通訊電子元件13移載置入于測試座122內(nèi)，然為使無線通訊電子元件13的接點131與測試座122的探針123確實接觸，該測試設備以一壓接機構的下壓器15作Z方向位移而壓抵無線通訊電子元件13，使無線通訊電子元件13的接點131與測試座122的探針123保持電性接觸，再以測試機(圖未示出)發(fā)送測試信號供無線通訊電子元件13接收，令無線通訊電子元件13于測試座122上執(zhí)行測試作業(yè)，并依測試結果而淘汰不良品的無線通訊電子元件13；然而，該測試機構12的測試座122是在開放空間對無線通訊電子元件13執(zhí)行測試作業(yè)，由于開放空間會存在有其他雜訊，導致無線通訊電子元件13不僅會接收到測試機發(fā)送的測試信號，也會接收到其他雜訊，導致測試作業(yè)中易受其他雜訊干擾，而會發(fā)生誤判為不良品的情形，造成影響測試品質的缺失。

技術實現(xiàn)要素：

針對現(xiàn)有技術的不足，本發(fā)明的目的在于：提供一種具有防雜訊機構的電子元件測試裝置及其測試分類設備，利用作動器帶動治具及封閉件同步位移，令治具伸入通過隔離室的移料口，在測試座執(zhí)行移入或下壓電子元件的作業(yè)時，利用封閉件直接將隔離室的移料口封閉，以防止隔離室外部的雜訊干擾影響電子元件測試作業(yè)，進而有效提升測試品質。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術方案是：

一種具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，其特征在于，包含：

測試機構：設有具有至少一測試座的電路板，用以測試電子元件；

防雜訊機構：設有具有至少一容置空間的隔離室，以容置該測試機構的測試座，該隔離室設有至少一相通該容置空間及外部的移料口，該防雜訊機構設有至少一作動器，該至少一作動器裝配至少一執(zhí)行預設作業(yè)的治具，還在該至少一作動器上設有至少一封閉該移料口的封閉件。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該防雜訊機構的隔離室是外罩或具承板的中空室體。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該防雜訊機構的作動器設有帶動至少一移動架作至少一方向位移的第一驅動源，該至少一移動架上裝配有至少一治具，還在該至少一移動架上裝配有該至少一封閉件。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該防雜訊機構的作動器裝配有至少一具有吸嘴的壓取治具，以壓抵貼置于該測試座的電子元件上。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該防雜訊機構是在該隔離室的外部設有第一作動器，該第一作動器帶動至少一治具及至少一封閉該移料口的第一封閉件作至少一方向位移，還在該隔離室的內(nèi)部設有第二作動器，該第二作動器帶動至少一封閉該治具的第二封閉件作至少一方向位移。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該第一作動器設有帶動至少一移動架作至少一方向位移的第二驅動源，該至少一移動架上裝配有該至少一治具及該第一封閉件，該第二作動器設有帶動該第二封閉件作復數(shù)個方向位移的第四驅動源及第五驅動源。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該第一作動器設有帶動至少一移動架作至少一方向位移的第二驅動源，該至少一移動架上裝配有該第一封閉件，以及帶動該至少一治具作Z方向位移的第三驅動源，另該第二作動器設 有帶動該第二封閉件作復數(shù)個方向位移的第四驅動源及第五驅動源。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該測試機構設有復數(shù)個測試座，該防雜訊機構的隔離室開設有復數(shù)個移料口，該作動器上設有封閉該復數(shù)個移料口的復數(shù)個封閉件。

所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，該作動器設有帶動至少一移動架作復數(shù)個方向位移的第六驅動源及第七驅動源，該至少一移動架上設有復數(shù)個治具及該復數(shù)個封閉件。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術方案還包括：

一種應用具有防雜訊機構的電子元件測試裝置的測試分類設備，其特征在于，包含：

機臺；

供料裝置：配置于該機臺上，并設有至少一供料承置器，用以容納至少一待測的電子元件；

收料裝置：配置于該機臺上，并設有至少一收料承置器，用以容納至少一已測的電子元件；

至少一根據(jù)權利要求1所述的具有防雜訊機構的電子元件測試裝置；

輸送裝置：裝配于該機臺上，并設有至少一移料器，用以移載該電子元件；

中央控制裝置：用以控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)。

本發(fā)明的優(yōu)點之一，提供一種具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，其包含測試機構及防雜訊機構，該測試機構設有具有至少一測試座的電路板，并以測試座測試電子元件，該防雜訊機構設有至少一具容置空間的隔離室，該隔離室容置測試機構的測試座，并開設有至少一相通容置空間及外部的移料口，另該防雜訊機構設有至少一作動器，該至少一作動器上設有至少一執(zhí)行預設作業(yè)的治具及至少一封閉移料口的封閉件，進而作動器帶動治具及封閉件同步位移，令治具伸入通過隔離室的移料口而于測試座執(zhí)行移入或下壓電子元件的作業(yè)，并利用封閉件直接將隔離室的移料口封閉，以防止隔離室外部的雜訊干擾影響電子元件測試作業(yè)，達到有效提升測試品質的實用效益。

本發(fā)明的優(yōu)點之二，提供一種具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，其中，該防雜訊機構的作動器帶動至少一具有吸嘴的壓取治具及至少一封閉件作至少一方向位移，由于壓取治具的吸嘴管路相通至隔離室的外部，于作動器上的壓取治具將電子元件移入至測試座，并壓抵電子元件與測試座確實接觸時，可令 壓取治具貼置于電子元件上而封閉吸嘴，并利用封閉件封閉隔離室的移料口，進而確實封閉壓取治具及移料口，以有效防止隔離室外部的雜訊干擾影響電子元件測試作業(yè)，達到有效提升測試品質的實用效益。

本發(fā)明的優(yōu)點之三，提供一種具有防雜訊機構的電子元件測試裝置，其中，該防雜訊機構是在隔離室的外部設有第一作動器，并以第一作動器帶動至少一第一封閉件作至少一方向位移，還在隔離室的內(nèi)部設有第二作動器，并以第二作動器帶動至少一第二封閉件作至少一方向位移，當?shù)谝蛔鲃悠魃系奈熘尉邔㈦娮釉迫霚y試座后，即脫離電子元件，該第二作動器帶動第二封閉件下壓電子元件與測試座確實接觸，由于吸嘴治具的管路相通至隔離室的外部，該第一作動器即帶動吸嘴治具位移貼置于第二封閉件上而封閉，并以第一封閉件封閉隔離室的移料口，進而確實封閉吸嘴治具及移料口，以有效防止隔離室外部的雜訊干擾影響電子元件測試作業(yè)，達到有效提升測試品質的實用效益。

本發(fā)明的優(yōu)點之四，提供一種應用具有防雜訊機構的電子元件測試裝置的測試分類設備，包含機臺、供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置裝配于機臺上，并設有至少一供料承置器，以容納至少一待測的電子元件，該收料裝置裝配于機臺上，并設有至少一收料承置器，以容納至少一已測的電子元件，該測試裝置裝配于機臺上，并設有測試機構及防雜訊機構，分別對電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，以及防止其他雜訊干擾測試作業(yè)，該輸送裝置裝配于機臺上，并設有至少一移料器，用以移載電子元件，該中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)，達到提升作業(yè)效能的實用效益。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有測試裝置執(zhí)行無線通訊電子元件測試作業(yè)的使用示意圖(一)；

圖2是現(xiàn)有測試裝置執(zhí)行無線通訊電子元件測試作業(yè)的使用示意圖(二)；

圖3是本發(fā)明測試裝置第一實施例的示意圖；

圖4是本發(fā)明測試裝置第一實施例的使用示意圖(一)；

圖5是本發(fā)明測試裝置第一實施例的使用示意圖(二)；

圖6是本發(fā)明測試裝置第一實施例的使用示意圖(三)；

圖7是測試裝置第一實施例的作動器另一實施例示意圖；

圖8是作動器另一實施例的使用示意圖(一)；

圖9是作動器另一實施例的使用示意圖(二)；

圖10是本發(fā)明測試裝置第二實施例的示意圖；

圖11是本發(fā)明測試裝置第二實施例的使用示意圖(一)；

圖12是本發(fā)明測試裝置第二實施例的使用示意圖(二)；

圖13是本發(fā)明測試裝置第二實施例的使用示意圖(三)；

圖14是本發(fā)明測試裝置第二實施例的使用示意圖(四)；

圖15是測試裝置第二實施例的第一作動器另一實施例示意圖；

圖16是第一作動器另一實施例的使用示意圖(一)；

圖17是第一作動器另一實施例的使用示意圖(二)；

圖18是第一作動器另一實施例的使用示意圖(三)；

圖19是第一作動器另一實施例的使用示意圖(四)；

圖20是本發(fā)明測試裝置第三實施例的示意圖；

圖21是本發(fā)明測試裝置第三實施例的使用示意圖(一)；

圖22是本發(fā)明測試裝置第三實施例的使用示意圖(二)；

圖23是本發(fā)明測試裝置第三實施例的使用示意圖(三)；

圖24是本發(fā)明測試裝置應用于測試分類設備的示意圖。

附圖標記說明：[現(xiàn)有技術]機臺11；測試機構12；電路板121；測試座122；探針123；無線通訊電子元件13；接點131；移料器14；吸嘴治具141；下壓器15；[本發(fā)明]測試裝置20；測試機構21；電路板211；測試座212；探針213；防雜訊機構22；隔離室221；容置空間2211；移料口2212；作動器222；第一驅動源2221；移動架2222；下壓治具2223；壓取治具2224；封閉件223；防雜訊機構23；隔離室231；容置空間2311；移料口2312；第一作動器232；第二驅動源2321；移動架2322；第三驅動源2323；吸嘴治具2324；壓取治具2325；第一封閉件233；第二作動器234；第四驅動源2341；第五驅動源2342；第二封閉件235；防雜訊機構24；隔離室241；容置空間2411；移料口2412；作動器242；第六驅動源2421；第七驅動源2422；移動架2423；下壓治具2424；封閉件243；移料器31；吸嘴治具311；無線通訊電子元件40；接點41；機臺50；供料裝置60；供料承置器61；收料裝置70；收料承置器71；搬送裝置80；輸入端輸送機構81；第一供料載臺82；第二供料載臺83；第一拾取機構84；第二拾取機構85；第一收料載臺86；第二收料載臺87；輸出端輸送機構88。

具體實施方式

為使貴審查委員對本發(fā)明作更進一步的了解，茲舉一較佳實施例并配合圖式，詳述如后：

請參閱圖3，是本發(fā)明測試裝置20的第一實施例，其包含測試機構21及防雜訊機構22，該測試機構21設有具有至少一測試座212的電路板211，以測試電子元件，更進一步，該電路板可為具測試程式的電路板，也或電性連結測試機的電路板，于本實施例中，該電子元件是無線通訊電子元件，該電路板211上配置有測試座212，并電性連結測試機，該測試座212具有復數(shù)個為探針213的傳輸件，用以電性接觸該無線通訊電子元件的接點，以測試無線通訊電子元件的接收/發(fā)送信號功能是否異常等；該防雜訊機構22設有至少一具容置空間的隔離室，該隔離室容置測試機構21的測試座212，更進一步，該隔離室可為一外罩而罩置于測試座212的外部，或為一具承板的中空室體，該承板可為獨立板體，或利用測試機構的電路板作為承板，也或利用機臺作為承板，用以承置電路板，于本實施例中，該隔離室221是一以隔離材制成的外罩，并于內(nèi)部設有容置空間2211，該隔離室221罩置于測試座212的外部，并放置于機臺上，使測試座212位于容置空間2211，又該隔離室221設有至少一相通容置空間2211及外部的移料口，于本實施例中，是在隔離室221的頂面開設有移料口2212，以使容置空間2211相通至隔離室221的外部，該移料口2212并對應于測試座212，另該防雜訊機構22設有至少一作動器，該至少一作動器上裝配有至少一執(zhí)行預設作業(yè)的治具，更進一步，該防雜訊機構22可配置一獨立的作動器，或以移料機構(圖未示出)的具有吸嘴治具的移料器，或具有壓取治具的壓取器作為該防雜訊機構22的作動器，也或以壓接機構(圖未示出)的具有下壓治具的下壓器作為該防雜訊機構22的作動器，于本實施例中，該防雜訊機構22是在隔離室221的上方設有作動器，該作動器設有第一驅動源，以帶動至少一移動架作至少一方向位移，于本實施例中，該作動器222設有第一驅動源2221，以帶動一移動架2222作Z方向位移，該移動架2222上裝配有下壓治具2223，以下壓測試座212內(nèi)的無線通訊電子元件，另該防雜訊機構22是在作動器222上設有至少一封閉移料口2212的封閉件223，于本實施例中，該封閉件223由隔離材制成，并裝配于作動器222的移動架2222上而作Z方向位移，用以封閉隔離室221的移料口2212。

請參閱圖4，于使用時，由于該測試機構21的測試座212位于防雜訊機構22的隔離室221內(nèi)，該移料機構的移料器31帶動一吸附有待測無線通訊電子元件40的吸嘴治具311作Y方向位移，將待測的無線通訊電子元件40移載至隔離室221的移料口2212上方，移料器31再帶動吸嘴治具311作Z方向向下位移，令吸嘴治具311通過隔離室221的移料口2212，而伸入于隔離室221的容置空間2211內(nèi)，將待測的無線通訊電子元件40移載置入于該測試機構21的測試座212內(nèi)。

請參閱圖5，于測試機構21的測試座212承置待測的無線通訊電子元件40后，該移料器的吸嘴治具作Z方向向上位移復位，為防止測試座212內(nèi)的無線通訊電子元件40受到外部雜訊干擾，該防雜訊機構22的作動器222以第一驅動源2221帶動移動架2222、下壓治具2223及封閉件223作Z方向向下位移，令下壓治具2223通過隔離室221的移料口2212，而伸入于隔離室221的容置空間2211內(nèi)，以下壓測試座212上的待測無線通訊電子元件40，使待測無線通訊電子元件40的接點41確實接觸測試座212的探針213而執(zhí)行測試作業(yè)，然于作動器222帶動下壓治具2223作Z方向向下位移時，并利用封閉件223直接封閉隔離室221的移料口2212，以完全防止隔離室221外部的雜訊干擾測試作業(yè)，使待測無線通訊電子元件40于封閉的隔離室221內(nèi)進行測試作業(yè)，達到提升測試品質的實用效益。

請參閱圖6，于測試作業(yè)完畢后，該防雜訊機構22的作動器222帶動移動架2222、下壓治具2223及封閉件223作Z方向向上位移，令封閉件223開啟隔離室221的移料口2212，該下壓治具2223脫離測試座212上的已測無線通訊電子元件40，并通過隔離室221的移料口2212，而離開隔離室221的容置空間2211，以供移料機構(圖未示出)的移料器31的吸嘴治具311作Y－Z方向位移，經(jīng)由隔離室221的移料口2212，而取出測試座212上的已測無線通訊電子元件40，以便將已測的無線通訊電子元件40移載至下一裝置處。

請參閱圖7、圖8，是防雜訊機構22的作動器另一實施例，該防雜訊機構22的作動器裝配有至少一具有吸嘴的壓取治具，以壓抵貼置于該測試座212的電子元件上，更進一步，該作動器設有第一驅動源，以帶動至少一移動架作至少一方向位移，該至少一移動架設有具有吸嘴的壓取治具，于本實施例中，該作動器222以第一驅動源2221帶動移動架2222作Y－Z方向位移，該移動架2222上設有封閉件223及具有吸嘴的壓取治具2224，該壓取治具2224的吸嘴 可于受壓時作適當緩沖變形或內(nèi)縮位移，于本實施例中，該壓取治具2224的吸嘴于受壓時作內(nèi)縮位移；于使用時，該防雜訊機構22以作動器222的第一驅動源2221帶動移動架2222、一吸附有待測無線通訊電子元件40的壓取治具2224及封閉件223作Y－Z方向位移，令壓取治具2224帶動待測的無線通訊電子元件40通過隔離室221的移料口2212，將待測的無線通訊電子元件40移載置入于測試機構21的測試座212內(nèi)，并下壓待測的無線通訊電子元件40，使待測無線通訊電子元件40的接點41確實接觸測試座212的探針213而執(zhí)行測試作業(yè)，由于壓取治具2224壓抵貼合于無線通訊電子元件40上，而可利用無線通訊電子元件40封閉壓取治具2224的吸嘴，以防止外部雜訊經(jīng)由壓取治具2224的吸嘴管路而干擾隔離室221內(nèi)的測試作業(yè)，然于作動器222帶動壓取治具2224將待測的無線通訊電子元件40置入測試座212時，可利用封閉件223封閉隔離室221的移料口2212，因此，該防雜訊機構22可確實封閉壓取治具2224的吸嘴及隔離室221的移料口2212，以有效防止隔離室221外部的雜訊干擾影響電子元件測試作業(yè)，達到有效提升測試品質的實用效益。

請參閱圖9，于測試作業(yè)完畢后，該防雜訊機構22的作動器222以第一驅動源2221帶動移動架2222、壓取治具2224及封閉件223作Z方向向上位移，令封閉件223開啟隔離室221的移料口2212，并以壓取治具2224的吸嘴取出測試座212上的已測無線通訊電子元件40，且通過隔離室221的移料口2212，而離開隔離室221，以便將已測的無線通訊電子元件40移載至下一裝置處。

請參閱圖10，是本發(fā)明測試裝置20的第二實施例，其包含測試機構21及防雜訊機構23，該測試機構21設有具有至少一測試座212的電路板211，以測試電子元件，于本實施例中，該電子元件是無線通訊電子元件，該電路板211上配置有測試座212，并電性連結測試機，該測試座212具有復數(shù)個為探針213的傳輸件，用以電性接觸該無線通訊電子元件的接點，以測試無線通訊電子元件的接收/發(fā)送信號功能是否異常等；該防雜訊機構23設有至少一具容置空間的隔離室，該隔離室容置測試機構21的測試座212，于本實施例中，該隔離室231是一以隔離材制成的外罩，并于內(nèi)部設有容置空間2311，該隔離室231罩置于測試座212的外部，并放置于機臺上，使測試座212位于容置空間2311，又該隔離室231設有相通容置空間2311及外部的移料口，于本實施例中，是在隔離室231的頂面開設有移料口2312，以使容置空間2311相通至隔離室231的外部，該移料口2312并對應于測試座212，另該防雜訊機構23設有至少一第一 作動器，該至少一第一作動器上裝配有至少一執(zhí)行預設作業(yè)的治具，更進一步，該防雜訊機構23可配置獨立的第一作動器，或以移料機構(圖未示出)的具有吸嘴治具的移料器，或具有壓取治具的壓取器作為該防雜訊機構23的第一作動器，也或以壓接機構(圖未示出)的具有下壓治具的下壓器作為該防雜訊機構23的第一作動器，又該第一作動器設有帶動至少一移動架作至少一方向位移的第二驅動源，于本實施例中，該防雜訊機構23利用一移料機構的移料器作為第一作動器232，該第一作動器232設有第二驅動源2321，第二驅動源2321帶動一移動架2322作Y－Z方向位移，該移動架2322上并裝配有一第三驅動源2323，以帶動一吸嘴治具2324作Z方向小行程位移，以移載取放無線通訊電子元件，另該防雜訊機構23是在第一作動器232上設有至少一封閉移料口2312的第一封閉件233，并于隔離室231的內(nèi)部設有至少一第二作動器234，該第二作動器234帶動至少一封閉該治具的第二封閉件235位移，更進一步，該第二作動器234設有帶動該第二封閉件235作復數(shù)個方向位移的第四驅動源及第五驅動源，于本實施例中，該第一封閉件233由隔離材制成，并裝配于第一作動器232的移動架2322上，而由第一作動器232帶動作Y－Z方向位移，用以封閉隔離室231的移料口2312，另該第二作動器234設有一第四驅動源2341，以帶動一第五驅動源2342作Y方向位移，第五驅動源2342則帶動第二封閉件235作Z方向位移，第二封閉件235用以下壓測試座212內(nèi)的無線通訊電子元件，并封閉吸嘴治具2324。

請參閱圖11，于使用時，由于測試機構21的測試座212裝配于防雜訊機構23的隔離室231內(nèi)，該防雜訊機構23以第一作動器232的第二驅動源2321帶動移動架2322、第三驅動源2323、一吸附有待測無線通訊電子元件40的吸嘴治具2324及第一封閉件233作Y方向位移，令吸嘴治具2324將待測的無線通訊電子元件40移載至隔離室231的移料口2312上方，第二驅動源2321再帶動移動架2322、第三驅動源2323、吸嘴治具2324及第一封閉件233作Z方向向下位移，令吸嘴治具2324通過隔離室231的移料口2312，而伸入于隔離室231的容置空間2311內(nèi)，第三驅動源2323再帶動吸嘴治具2324作Z方向向下位移一小段行程，使吸嘴治具2324將待測的無線通訊電子元件40移載置入于測試機構21的測試座212內(nèi)，該防雜訊機構23并利用第一封閉件233封閉隔離室231的移料口2312。

請參閱圖12、圖13，于測試機構21的測試座212承置待測的無線通訊電 子元件40后，該防雜訊機構23的第一作動器232以第三驅動源2323帶動吸嘴治具2324作Z方向向上位移一小段行程，令吸嘴治具2324暫時脫離待測的無線通訊電子元件40，并仍位于隔離室231內(nèi)，接著第二作動器234利用第四驅動源2341及第五驅動源2342帶動第二封閉件235作Y－Z方向位移，令第二封閉件235下壓測試座212內(nèi)待測的無線通訊電子元件40，使待測無線通訊電子元件40的接點41確實接觸測試座212的探針213而執(zhí)行測試作業(yè)；由于吸嘴治具2324的抽氣管路相通至隔離室231的外部，為防止外部雜訊經(jīng)由吸嘴治具2324的抽氣管路而干擾隔離室231內(nèi)的測試作業(yè)，該防雜訊機構23是在第二封閉件235下壓待測無線通訊電子元件40與測試座212確實接觸后，利用第一作動器232的第三驅動源2323帶動吸嘴治具2324作Z方向向下位移一小段行程，使吸嘴治具2324貼置于第二封閉件235的頂面，進而封閉吸嘴治具2324，因此，該防雜訊機構23利用第一作動器232上的第一封閉件233封閉隔離室231的移料口2312，并以第二作動器234上的第二封閉件235封閉吸嘴治具2324，進而有效防止隔離室231外部的雜訊干擾影響無線通訊電子元件40的測試作業(yè)，達到提升測試品質的實用效益。

請參閱圖14，于測試作業(yè)完畢后，該防雜訊機構23的第一作動器232利用第三驅動源2323帶動吸嘴治具2324作Z方向向上位移一小段行程，使吸嘴治具2324先脫離第二封閉件235的頂面，該第二作動器234再利用第四驅動源2341及第五驅動源2342帶動第二封閉件235作Y－Z方向反向位移復位，令第二封閉件235脫離已測的無線通訊電子元件40，由于吸嘴治具2324仍位于隔離室231內(nèi)，該第一作動器232即利用第三驅動源2323帶動吸嘴治具2324作Z方向向下位移一小段行程，令吸嘴治具2324取出測試座212上的已測無線通訊電子元件40，該第一作動器232的第二驅動源2321即帶動移動架2322、第三驅動源2323、一吸附有已測無線通訊電子元件40的吸嘴治具2324及第一封閉件233作Z方向向上位移較大行程，令第一封閉件233開啟隔離室231的移料口2312，并以吸嘴治具2324將已測的無線通訊電子元件40移出隔離室231，該第一作動器232再帶動吸嘴治具2324、第一封閉件233及已測的無線通訊電子元件40作Y方向位移至下一裝置處。

請參閱圖15、圖16，是防雜訊機構23的第一作動器另一實施例，該第一作動器設有第二驅動源，以帶動至少一移動架作至少一方向位移，于本實施例中，該第一作動器232以第二驅動源2321帶動移動架2322作Y－Z方向位移， 該移動架2322上設有第一封閉件233及具有吸嘴的壓取治具2325，該壓取治具2325的吸嘴可于受壓時作適當緩沖變形或內(nèi)縮位移，于本實施例中，該壓取治具2325的吸嘴于受壓時作內(nèi)縮位移，該防雜訊機構23的第二作動器234帶動至少一第二封閉件235位移，并以第二封閉件235封閉壓取治具2325，于本實施例中，第二作動器234設有第四驅動源2341及第五驅動源2342，以驅動至少一第二封閉件235作Y－Z方向位移；于使用時，該防雜訊機構23以第一作動器232的第二驅動源2321帶動移動架2322、一吸附有待測無線通訊電子元件40的壓取治具2325及第一封閉件233作Y－Z方向位移，令壓取治具2325帶動待測的無線通訊電子元件40通過隔離室231的移料口2312，并將待測的無線通訊電子元件40移載置入于測試機構21的測試座212內(nèi)，以及利用第一封閉件233封閉隔離室231的移料口2312。

請參閱圖17、圖18，于測試機構21的測試座212承置待測的無線通訊電子元件40后，該防雜訊機構23的第一作動器232以第二驅動源2321帶動壓取治具2325作Z方向向上位移一小段行程，令壓取治具2325脫離待測的無線通訊電子元件40，并仍位于隔離室231內(nèi)，接著第二作動器234利用第四驅動源2341及第五驅動源2342帶動第二封閉件235作Y－Z方向位移，令第二封閉件235下壓測試座212內(nèi)待測的無線通訊電子元件40，使待測無線通訊電子元件40的接點41確實接觸測試座212的探針213而執(zhí)行測試作業(yè)；為防止外部雜訊經(jīng)由壓取治具2325的抽氣管路而干擾隔離室231內(nèi)的測試作業(yè)，該防雜訊機構23是在第二封閉件235下壓待測無線通訊電子元件40與測試座212確實接觸后，利用第一作動器232的第二驅動源2321帶動壓取治具2325作Z方向向下位移一小段行程，使壓取治具2325貼置于第二封閉件235上，以封閉壓取治具2325的吸嘴，進而有效防止隔離室231外部的雜訊干擾影響無線通訊電子元件40的測試作業(yè)，達到提升測試品質的實用效益。

請參閱圖19，于測試作業(yè)完畢后，該防雜訊機構23的第一作動器232利用第二驅動源2321帶動壓取治具2325作Z方向向上位移一小段行程，使壓取治具2325先脫離第二封閉件235，該第二作動器234再利用第四驅動源2341及第五驅動源2342帶動第二封閉件235作Y－Z方向反向位移復位，令第二封閉件235脫離已測的無線通訊電子元件40，由于壓取治具2325仍位于隔離室231內(nèi)，該第一作動器232即利用第二驅動源2321帶動壓取治具2325作Z方向向下位移一小段行程，令壓取治具2325取出測試座212上的已測無線通訊電子元件40， 該第一作動器232的第二驅動源2321再帶動移動架2322、一吸附有已測無線通訊電子元件40的壓取治具2325及第一封閉件233作Z方向向上位移較大行程，令第一封閉件233開啟隔離室231的移料口2312，并以壓取治具2325將已測的無線通訊電子元件40移出隔離室231，該第一作動器232再帶動壓取治具2325、第一封閉件233及已測的無線通訊電子元件40作Y方向位移至下一裝置處。

請參閱圖20，是本發(fā)明測試裝置20的第三實施例，其包含測試機構21及防雜訊機構24，該測試機構21設有具有至少一測試座的電路板，以測試電子元件，于本實施例中，該電子元件是無線通訊電子元件，測試機構21并設有具復數(shù)個測試座212的電路板211，該電路板211并電性連結測試機，各測試座212具有復數(shù)個為探針213的傳輸件，用以電性接觸該無線通訊電子元件的接點，以測試無線通訊電子元件的接收/發(fā)送信號功能是否異常等；該防雜訊機構24設有具有至少一容置空間的隔離室，該隔離室容置測試機構21的測試座212，于本實施例中，該隔離室241是一以隔離材制成的外罩，并于內(nèi)部設有容置空間2411，該隔離室241罩置于測試座212的外部，并放置于機臺上，使測試座212位于容置空間2411，又該隔離室241設有相通容置空間2411及外部的移料口，于本實施例中，是在隔離室241的頂面開設有復數(shù)個移料口2412，以使容置空間2411相通至隔離室241的外部，另該防雜訊機構24設有至少一作動器，該至少一作動器上裝配有至少一執(zhí)行預設作業(yè)的治具，更進一步，該至少一作動器設有帶動至少一移動架作復數(shù)個方向位移的第六驅動源及第七驅動源，于本實施例中，該防雜訊機構24是在隔離室241的上方設有作動器242，該作動器242設有第六驅動源2421，以帶動第七驅動源2422作Y方向位移，第七驅動源2422則帶動一移動架2423作Z方向位移，該移動架2423上設有復數(shù)個下壓治具2424，用以下壓復數(shù)個測試座212內(nèi)的無線通訊電子元件，另該防雜訊機構24是在作動器242上設有至少一封閉移料口的封閉件，于本實施例中，是在作動器242的移動架2423上設有復數(shù)個封閉件243，各封閉件243由隔離材制成，以封閉隔離室241的復數(shù)個移料口2412。

請參閱圖21，于使用時，由于測試機構21的復數(shù)個測試座212位于防雜訊機構24的隔離室241內(nèi)，該防雜訊機構24以作動器242的第六驅動源2421帶動第七驅動源2422、移動架2423、復數(shù)個下壓治具2424及復數(shù)個封閉件243作Y方向位移，令復數(shù)個封閉件243與復數(shù)個移料口2412錯位，該移料機構的移料器31帶動復數(shù)個吸附有待測無線通訊電子元件40的吸嘴治具311作Y－ Z方向位移，將復數(shù)個待測的無線通訊電子元件40經(jīng)由移料口2412而移載至隔離室241內(nèi)，并移入放置于測試機構21的測試座212。

請參閱圖22，于測試機構21的各測試座212承置待測的無線通訊電子元件40后，由于隔離室241的移料口2412未封閉，為防止各測試座212內(nèi)的待測無線通訊電子元件40受到外部雜訊干擾，該防雜訊機構24的作動器242的第六驅動源2421帶動第七驅動源2422、移動架2423、復數(shù)個下壓治具2424及復數(shù)個封閉件243作Y方向反向位移，令復數(shù)個下壓治具2424及復數(shù)個封閉件243對應于隔離室241的復數(shù)個移料口2412，作動器242再以第七驅動源2422帶動移動架2423、復數(shù)個下壓治具2424及復數(shù)個封閉件243作Z方向向下位移，令復數(shù)個下壓治具2424分別通過隔離室241的移料口2412，而伸入于隔離室241的容置空間2411內(nèi)，以各別下壓測試座212上的待測無線通訊電子元件40，使各待測無線通訊電子元件40的接點41確實接觸測試座212的探針213而執(zhí)行測試作業(yè)，然于各下壓治具2424壓抵待測的無線通訊電子元件40時，該作動器242上的復數(shù)個封閉件243即直接封閉隔離室241的移料口2412，以完全防止隔離室241外部的雜訊干擾測試作業(yè)，使待測無線通訊電子元件40于封閉的隔離室241內(nèi)進行測試作業(yè)，達到提升測試品質的實用效益。

請參閱圖23，于測試作業(yè)完畢后，該作動器242的第七驅動源2422帶動移動架2423、復數(shù)個下壓治具2424及復數(shù)個封閉件243作Z方向向上位移，令復數(shù)個封閉件243開啟隔離室241的移料口2412，并使復數(shù)個下壓治具2424分別脫離已測的無線通訊電子元件40，并通過隔離室241的移料口2412，而離開隔離室241的容置空間2411，作動器242的第六驅動源2421帶動第七驅動源2422、移動架2423、復數(shù)個下壓治具2424及復數(shù)個封閉件243作Y方向位移，令復數(shù)個封閉件243與復數(shù)個移料口2412錯位，以供移料機構的移料器31的復數(shù)個吸嘴治具311作Y－Z方向位移，于隔離室241內(nèi)的測試座212取出已測的無線通訊電子元件40，并將已測的無線通訊電子元件40移載至下一裝置處。

請參閱圖24，本發(fā)明測試裝置20應用于測試分類設備，測試分類設備包含機臺50、供料裝置60、收料裝置70、測試裝置20、輸送裝置80及中央控制裝置，該供料裝置60裝配于機臺50，并設有至少一供料承置器61，用以容納至少一待測的電子元件；該收料裝置70裝配于機臺50，并設有至少一收料承置器71，用以容納至少一已測的電子元件，該測試裝置20裝配于機臺50上，并設有測試機構21及防雜訊機構22，該測試機構21用以測試電子元件，該防雜訊 機構22對電子元件執(zhí)行預設作業(yè)(如下壓作業(yè))，以及防止其他雜訊干擾測試機構21的測試作業(yè)，該輸送裝置80的輸入端輸送機構81是在供料裝置60取出待測的電子元件，并分別輸送至第一供料載臺82及第二供料載臺83，第一供料載臺82及第二供料載臺83將待測的電子元件載送至測試裝置20處，該輸送裝置80的第一移料機構84及第二移料機構85分別將第一供料載臺82及第二供料載臺83上待測的電子元件移載至測試裝置20而執(zhí)行測試作業(yè)，以及將測試裝置20處的已測電子元件移載至第一收料載臺86及第二收料載臺87，第一收料載臺86及第二收料載臺87則載出已測的電子元件，該輸送裝置80的輸出端輸送機構88是在第一收料載臺86及第二收料載臺87上取出已測的電子元件，并依據(jù)測試結果，將已測的電子元件輸送至收料裝置70分類收置，該中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)，達到提升作業(yè)效能的實用效益。