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一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置制造方法

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一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置制造方法
【專利摘要】一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,屬于風(fēng)力發(fā)電機(jī)葉片檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】。包括支架和葉片量規(guī),所述支架分為葉根支架和葉尖支架,葉片量規(guī)包括坐標(biāo)框架、兩個(gè)游標(biāo)卡尺組及水平滑軌,所述兩個(gè)游標(biāo)卡尺組分置于葉片兩側(cè)的坐標(biāo)框架立柱上,分別沿坐標(biāo)框架的立柱上下滑動(dòng),坐標(biāo)框架立柱置于水平滑軌上,沿水平滑軌水平移動(dòng),在游標(biāo)卡尺觸點(diǎn)接觸葉片時(shí),自動(dòng)記錄該點(diǎn)距參考坐標(biāo)的二維相對(duì)位移。本實(shí)用新型針對(duì)葉片測(cè)量的獨(dú)特性而設(shè)計(jì),大大降低了費(fèi)用;實(shí)現(xiàn)自動(dòng)讀數(shù),存儲(chǔ),并生成文件。本實(shí)用新型可以直接測(cè)量覆蓋葉片剖面的360度范圍,數(shù)據(jù)可靠,測(cè)量省力。測(cè)量簡(jiǎn)單,精確,迅速,可測(cè)量無(wú)限多的點(diǎn),不受電腦軟件限制,而且對(duì)葉片無(wú)傷害。測(cè)量用時(shí)更短,數(shù)據(jù)更可靠。
【專利說(shuō)明】一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,用于風(fēng)力發(fā)電機(jī)葉片的檢測(cè)。

【背景技術(shù)】
[0002]風(fēng)力發(fā)電機(jī)葉片的氣動(dòng)性能參數(shù),對(duì)其載荷計(jì)算以及控制系統(tǒng)參數(shù)的計(jì)算,有舉足輕重的決定作用。葉片的外形尺寸對(duì)其氣動(dòng)性能的影響很可觀:在葉片敏感區(qū),千分之幾的外形尺寸變化可能導(dǎo)致升力變化10%,這直接影響到載荷計(jì)算和控制參數(shù)的準(zhǔn)確性。然而,國(guó)內(nèi)大多風(fēng)機(jī)葉片的氣動(dòng)參數(shù)都未經(jīng)驗(yàn)證,主要原因是測(cè)試的復(fù)雜性和高昂的費(fèi)用。
[0003]現(xiàn)有的葉片測(cè)量技術(shù)有多種,其中較精確的有兩種:激光跟蹤測(cè)量和切剖葉片法。
[0004]激光跟蹤測(cè)量法是根據(jù)激光測(cè)距原理、通過(guò)反射目標(biāo)與被測(cè)量物體保持直接接觸或非接觸性激光掃描、然后通過(guò)跟蹤激光光束來(lái)測(cè)量反射目標(biāo),進(jìn)而獲得實(shí)際工件三維坐標(biāo)。各翼型的尺寸可從葉片三維坐標(biāo)中導(dǎo)出。
[0005]切剖葉片法是把葉片切割成所需數(shù)量的小段,然后測(cè)量各剖面的尺寸。
[0006]激光跟蹤測(cè)量法費(fèi)用高,需要購(gòu)買激光跟蹤儀,較好的約400萬(wàn)元人民幣,即使租用費(fèi)也達(dá)2萬(wàn)元/天,而且測(cè)量數(shù)據(jù)龐大,需軟件處理,其軟件的使用需要對(duì)有微機(jī)基礎(chǔ)知識(shí)和英語(yǔ)能力的技術(shù)人員進(jìn)行培訓(xùn)。當(dāng)葉片尺寸較大時(shí),激光束不能直接覆蓋全部葉片表面,需要重新定位或有接力裝置,增加了測(cè)量的復(fù)雜性和不可靠性。切剖葉片法需對(duì)葉片進(jìn)行切割,葉片受損,切割過(guò)程費(fèi)時(shí)費(fèi)力。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]針對(duì)上述存在的技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,它能測(cè)量無(wú)限多的點(diǎn),不受電腦軟件限制,而且對(duì)葉片無(wú)傷害。
[0008]本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的:
[0009]一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,包括坐標(biāo)框架、兩個(gè)游標(biāo)卡尺組及水平滑軌,所述兩個(gè)游標(biāo)卡尺組分置于葉片兩側(cè)的坐標(biāo)框架立柱上,分別沿坐標(biāo)框架的立柱上下滑動(dòng),坐標(biāo)框架立柱置于水平滑軌上,沿水平滑軌水平移動(dòng),在游標(biāo)卡尺觸點(diǎn)接觸葉片時(shí),自動(dòng)記錄該點(diǎn)距參考坐標(biāo)的二維相對(duì)位移。
[0010]所述坐標(biāo)框架由兩立柱構(gòu)成,通過(guò)緊固螺栓固定在水平滑軌上。
[0011]在所述立柱和水平滑軌間還設(shè)置有支撐桿支撐。
[0012]本發(fā)明的有益效果為:
[0013]本發(fā)明針對(duì)葉片測(cè)量的獨(dú)特性而設(shè)計(jì),大大降低了費(fèi)用。因?yàn)榭刂迫~片氣動(dòng)性能的關(guān)鍵在于對(duì)主要翼型的二維控制,所以可以采用傳統(tǒng)的量具并配置簡(jiǎn)單的電子儀表,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)讀數(shù),存儲(chǔ),并生成文件。本發(fā)明可以直接測(cè)量覆蓋葉片剖面的360度范圍,數(shù)據(jù)可靠,測(cè)量省力。
[0014]采用本發(fā)明的技術(shù)方案測(cè)量簡(jiǎn)單,精確,迅速,可測(cè)量無(wú)限多的點(diǎn),不受電腦軟件限制,而且對(duì)葉片無(wú)傷害。與激光跟蹤法比較,測(cè)量用時(shí)更短,數(shù)據(jù)更可靠,費(fèi)用會(huì)降低至少50倍。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1為本發(fā)明測(cè)量安裝葉片的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖2為圖1的A-A剖視圖。
[0017]圖中:1.葉片,11.葉根,12.葉尖,13.葉片前緣,14.葉片后緣,2.葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,31.葉根支架,32.葉尖支架,4.水平滑軌,5.緊固螺栓,6.立柱,71.游標(biāo)卡尺組I,72.游標(biāo)卡尺組II,8.支撐桿。

【具體實(shí)施方式】
[0018]下面通過(guò)實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳述。
[0019]實(shí)施例:如圖2所示,本發(fā)明的技術(shù)方案是:一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,包括坐標(biāo)框架、兩個(gè)游標(biāo)卡尺組71、72及水平滑軌4,所述兩個(gè)游標(biāo)卡尺組71、72分置于葉片I兩側(cè)的坐標(biāo)框架立柱6上,分別沿坐標(biāo)框架的立柱6上下滑動(dòng),坐標(biāo)框架立柱6置于水平滑軌4上,沿水平滑軌4水平移動(dòng),在游標(biāo)卡尺觸點(diǎn)接觸葉片時(shí),自動(dòng)記錄該點(diǎn)距參考坐標(biāo)的二維相對(duì)位移。如圖1所示,在使用時(shí),通過(guò)葉根支架31和葉尖支架32固定葉片I。
[0020]本例所述坐標(biāo)框架由兩立柱6構(gòu)成,通過(guò)緊固螺栓5固定在水平滑軌4上。在所述立柱6和水平滑軌4間還設(shè)置有支撐桿8支撐。
[0021]本發(fā)明在測(cè)量時(shí),其葉片檢測(cè)測(cè)量方法如下:
[0022]首先將葉片前緣13朝下固定在支架上,然后把葉片檢測(cè)量規(guī)裝置2固定在葉片I任意z向位置,坐標(biāo)框架立柱6上的兩個(gè)游標(biāo)卡尺組71、72觸點(diǎn)可在X和y方向自由滑動(dòng)。在任意位置清零得到(x=0,y=0)即為參考坐標(biāo)系。當(dāng)游標(biāo)卡尺觸點(diǎn)接觸葉片I時(shí),即可自動(dòng)記錄該點(diǎn)距參考坐標(biāo)的二維相對(duì)位移(X,y),最后自動(dòng)建立一個(gè)包括若干組(X,I, z)的值、測(cè)試時(shí)間、名稱的文件,該文件可用來(lái)間接測(cè)得該翼型的扭角。
[0023]具體操作步驟是:
[0024]I)葉片I按一定攻角(即葉片前緣13朝下,)將葉根11固定在葉根支架31上,葉尖12處通過(guò)葉尖支架32固定;
[0025]2)葉片檢測(cè)量規(guī)裝置2在葉片I的z方向任一位置固定;
[0026]3)葉片檢測(cè)量規(guī)裝置2的兩個(gè)游標(biāo)卡尺組71、72觸點(diǎn)可沿立柱滑動(dòng)至任意位置,分別清零確定坐標(biāo)原點(diǎn);
[0027]4)兩個(gè)游標(biāo)卡尺組71、72的觸點(diǎn)沿立柱滑動(dòng)選擇x方向的位置,沿水平滑軌滑動(dòng)使探針接觸葉片表面,然后按鍵記錄該點(diǎn)的X,y坐標(biāo)值;
[0028]5)重復(fù)步驟(4)的方法記錄葉片所有點(diǎn)的X,y坐標(biāo)值;
[0029]6)鍵入測(cè)試時(shí)間,日期,測(cè)試位置,角度等,生成該翼型坐標(biāo)文件;
[0030]7)將葉片檢測(cè)量規(guī)裝置2移到下一個(gè)要測(cè)翼型的位置z,按步驟(3),(4),(5),(6)操作;
[0031]8)全部葉片翼型測(cè)完后,可通過(guò)數(shù)據(jù)線或無(wú)線方式,導(dǎo)出該葉片翼型坐標(biāo)。
【權(quán)利要求】
1.一種葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,其特征在于:包括坐標(biāo)框架、兩個(gè)游標(biāo)卡尺組及水平滑軌,所述兩個(gè)游標(biāo)卡尺組分置于葉片兩側(cè)的坐標(biāo)框架立柱上,分別沿坐標(biāo)框架的立柱上下滑動(dòng),坐標(biāo)框架立柱置于水平滑軌上,沿水平滑軌水平移動(dòng),在游標(biāo)卡尺觸點(diǎn)接觸葉片時(shí),自動(dòng)記錄該點(diǎn)距參考坐標(biāo)的二維相對(duì)位移。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,其特征在于:所述坐標(biāo)框架由兩立柱構(gòu)成,通過(guò)緊固螺栓固定在水平滑軌上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述葉片檢測(cè)量規(guī)裝置,其特征在于:在所述立柱和水平滑軌間還設(shè)置有支撐桿支撐。
【文檔編號(hào)】G01B5/20GK204177331SQ201420670549
【公開(kāi)日】2015年2月25日 申請(qǐng)日期:2014年11月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月11日
【發(fā)明者】陳春梅 申請(qǐng)人:沈陽(yáng)華創(chuàng)風(fēng)能有限公司, 青島華創(chuàng)風(fēng)能有限公司, 通遼華創(chuàng)風(fēng)能有限公司, 寧夏華創(chuàng)風(fēng)能有限公司
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