測量電路板表面高度差的檢具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種測量電路板表面高度差的檢具，屬于電路板檢測【技術(shù)領(lǐng)域】。該檢具，包括：支架，包括底座、支桿、調(diào)節(jié)桿和水平桿，所述支桿安裝于底座上，所述調(diào)節(jié)桿一端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接支桿，另一端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接水平桿；以及千分表，固定于水平桿上，且該千分表的測量桿與水平桿保持垂直。采用該檢具，既可測量電路板的共面性，又可測量電路板細(xì)微翹曲的最大垂直位移高度。具有操作簡單、使用方便，儀器成本較低，測量數(shù)據(jù)可靠的優(yōu)點(diǎn)，能夠廣泛適應(yīng)于各種電路板的“共面性或細(xì)微翹曲”常規(guī)性檢測、品質(zhì)管控中。
【專利說明】測量電路板表面高度差的檢具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電路板制造中使用的檢測工具，特別是涉及一種測量電路板表面高度差的檢具。

【背景技術(shù)】
[0002]半導(dǎo)體測試板主要是應(yīng)用于IC芯片測試領(lǐng)域的一類電路板，其中的探針卡(Probe Card)板主要應(yīng)用在芯片封裝前的晶圓測試中，使用該探針卡板測試時(shí)，探針一端與PCB板相連，一端與晶圓接觸。因此，為保證探針與晶圓的良好接觸，對(duì)探針電路板的共面性要求極高，如要求該電路板外層的高度極差在10-50 μ m。此外，由于封裝基板后端應(yīng)用也需直接與芯片接觸，也提高了對(duì)封裝基板共面性的品質(zhì)管控要求。
[0003]另外，對(duì)于板厚較大的探針卡板來說，即使翹曲很小(例如最大垂直位移小于0.15mm)，但對(duì)電路板的共面性影響很大，需要測量并篩選出來；但這細(xì)微程度的翹曲，垂直位移距離無法采用常規(guī)的塞規(guī)或針規(guī)來測量，除精密、昂貴的三坐標(biāo)測量儀外，無其他較操作方便的常規(guī)性測量檢具。
[0004]但是，目前來說，電路板制造行業(yè)內(nèi)測量板共面性的檢具一般為三坐標(biāo)測量儀，而該儀器為精密儀器，價(jià)格非常昂貴、保養(yǎng)操作要求嚴(yán)格，不便于常規(guī)性的共面性測量、檢測。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于此，本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種測量電路板表面高度差的檢具，該檢具具有操作簡單、使用方便、成本低和測量數(shù)據(jù)可靠的優(yōu)點(diǎn)，適用于電路板常規(guī)性的共面性檢測。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采取以下技術(shù)方案:
[0007]一種測量電路板表面高度差的檢具，包括:
[0008]支架，包括底座、支桿、調(diào)節(jié)桿和水平桿，所述支桿安裝于底座上，所述調(diào)節(jié)桿一端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接支桿，另一端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接水平桿；以及
[0009]千分表,固定于水平桿上，且該千分表的測量桿與水平桿保持垂直。
[0010]本實(shí)用新型的測量電路板表面高度差的檢具，在對(duì)電路板的共面性進(jìn)行檢測時(shí)，首先將底座安放于水平的臺(tái)面上，然后轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)節(jié)桿進(jìn)行角度調(diào)節(jié)，使固定于水平桿上的千分表測量桿與臺(tái)面保持垂直，固定調(diào)節(jié)桿和水平桿的位置。然后將待測電路板置于臺(tái)面上，以鑷子夾住千分表的測量桿向上提起，移動(dòng)電路板至該測量桿下方，輕輕放下測量桿，讀出千分表上的讀數(shù)。重復(fù)提起千分表測量桿、移動(dòng)電路板，測定電路板上不同位置的高度，從而可由該高度差值得出同一電路板的高度變化極差值，確定該電路板的共面性是否合格。
[0011]本實(shí)用新型的檢具，還可用于測量電路板的翹曲程度，特別適用于翹曲垂直高度小于0.15mm的電路板。測量方法為:首先，用手按住電路板一角、使該處電路板緊貼于臺(tái)面，利用千分表測量出此時(shí)電路板該角位置處的高度hi ;然后依次用手按住電路板其它三個(gè)角，分別測量出按住不同角時(shí)該位置的電路板高度，測量出電路板在此位置的翹曲垂直高度最大值h2，h2-hl的值即為該電路板該角翹曲位移高度；按上述方法依次測量電路板其他三角的翹曲位移高度，取最大位移高度計(jì)算該板翹曲情況。
[0012]并且，本實(shí)用新型的檢具，通過靈活可調(diào)的支架，能使千分表移動(dòng)至臺(tái)面的任一位置，還能靈活調(diào)整千分表的高度，使該檢具能夠適用于各種不同規(guī)格的電路板，具有廣泛的應(yīng)用前景。
[0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述水平桿上開有安裝孔，該安裝孔的軸向垂直于所述水平桿，所述千分表穿過該安裝孔固定于水平桿上。通過安裝孔安裝千分表，安裝穩(wěn)定，保證測量時(shí)千分表的穩(wěn)定性，避免產(chǎn)生晃動(dòng)影響測量結(jié)果。
[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述調(diào)節(jié)桿、水平桿通過油壓固定旋鈕與支桿連接固定。以油壓固定旋鈕連接，具有調(diào)節(jié)方便，角度變化靈敏和穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)。
[0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述水平桿上還設(shè)有調(diào)節(jié)千分表固定方向的微調(diào)旋鈕。利用微調(diào)旋鈕，使千分表的測量桿可以更精確地與臺(tái)面(即電路板平面)保持垂直，確保測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。
[0016]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述底座為磁性表座,其上設(shè)有磁性旋鈕。在臺(tái)面上焊接固定有鋼板，該檢具工作時(shí)，磁性表座吸附固定與該鋼板上，不需要測量時(shí)，將磁性旋鈕關(guān)閉，就可將該檢具從臺(tái)面撤走，便于儀器保養(yǎng)。
[0017]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述千分表為數(shù)顯式千分表。數(shù)顯式的千分表便于操作者讀數(shù)，可以盡量減少讀數(shù)誤差對(duì)測量結(jié)果造成的影響。
[0018]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下有益效果:
[0019]本實(shí)用新型的測量電路板表面高度差的檢具，既可測量電路板的共面性，又可測量電路板細(xì)微翹曲的最大垂直位移高度。具有操作簡單、使用方便，儀器成本較低，測量數(shù)據(jù)可靠的優(yōu)點(diǎn)，能夠廣泛適應(yīng)于各種電路板的“共面性或細(xì)微翹曲”常規(guī)性檢測、品質(zhì)管控中，從而避免不合格產(chǎn)品流入市場。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1為【具體實(shí)施方式】中的檢具結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖2為【具體實(shí)施方式】中的檢具檢測電路板共面性示意圖；
[0022]圖3為【具體實(shí)施方式】中的檢具測量電路板翹曲程度示意圖。
[0023]其中:11.底座；12.支桿；13.調(diào)節(jié)桿；14.水平桿；15.磁性旋鈕；16.油壓固定旋鈕；17.微調(diào)旋鈕；2.千分表；21.測量桿；3.臺(tái)面；4.電路板。

【具體實(shí)施方式】
[0024]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例來詳細(xì)說明本實(shí)用新型。
[0025]實(shí)施例1
[0026]—種測量電路板表面高度差的檢具，如圖1所不，包括:支架和千分表2。
[0027]支架包括底座11、支桿12、調(diào)節(jié)桿13和水平桿14，所述支桿12安裝于底座11上，所述調(diào)節(jié)桿13 —端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接支桿12，另一端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接水平桿14。在本實(shí)施例中，所述底座11為磁性表座，其上設(shè)有磁性旋鈕15。利用磁性旋鈕15開關(guān)，在臺(tái)面上焊接固定有鋼板，該檢具工作時(shí)，磁性表座吸附固定與該鋼板上，不需要測量時(shí)，將磁性旋鈕關(guān)閉，就可將該檢具從臺(tái)面撤走，便于儀器保養(yǎng)。
[0028]所述調(diào)節(jié)桿13、水平桿14通過油壓固定旋鈕16與支桿12連接固定可以理解的，也可采用其他方式連接支桿、調(diào)節(jié)桿和水平桿，只需使它們能夠自由轉(zhuǎn)動(dòng)，并在測量時(shí)固定位置即可，但以油壓固定旋鈕連接，具有調(diào)節(jié)方便，角度變化靈敏和穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)。
[0029]所述水平桿14上開有安裝孔，該安裝孔的軸向垂直于所述水平桿14，所述千分表2穿過該安裝孔固定于水平桿14上，使千分表的測量桿21與水平桿14保持垂直?？梢岳斫獾?，千分表也可通過其它方式固定于水平桿上，只需使其測量桿與臺(tái)面保持垂直，并確保固定方式穩(wěn)定可靠即可。并且，水平桿14上還設(shè)有調(diào)節(jié)千分表固定方向的微調(diào)旋鈕17，利用微調(diào)旋鈕17，使千分表2的測量桿可以更精確地與臺(tái)面(即電路板平面)保持垂直，確保測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。
[0030]進(jìn)一步的，為了便于讀數(shù)，千分表可選用數(shù)顯式千分表。
[0031]采用本實(shí)施例的檢具檢測電路板共面性的方法如下:
[0032]如圖2所示，首先將底座11安放于水平的臺(tái)面3上，然后通過對(duì)油壓固定旋鈕16的調(diào)節(jié)，轉(zhuǎn)動(dòng)支桿12和調(diào)節(jié)桿13進(jìn)行角度調(diào)節(jié)，并將千分表2的位置固定，同時(shí)使固定于水平桿14上的千分表2的測量桿21與臺(tái)面保持垂直。還可利用微調(diào)旋鈕17進(jìn)行調(diào)節(jié)，使千分表2的測量桿21更加精確的與臺(tái)面3保持垂直。然后將待測電路板4置于臺(tái)面上，以鑷子夾住千分表的測量桿21向上提起，移動(dòng)電路板4至該測量桿21下方，輕輕放下測量桿21，讀出千分表2上的讀數(shù)。重復(fù)提起千分表測量桿21、移動(dòng)電路板4，測定電路板4上不同位置的高度，從而可由該高度差值得出同一電路板的高度變化極差值，確定該電路板的共面性是否合格。
[0033]采用本實(shí)施例的檢具檢測電路板翹曲的方法如下:
[0034]如圖3所示，首先，按照上述方法調(diào)節(jié)支架，使千分表的測量桿21與臺(tái)面3保持垂直。隨后，用手按住電路板4 一角、使電路板該角緊貼于臺(tái)面，以千分表測量出此時(shí)電路板該角位置處的高度hi ;然后依次用手按住電路板其它三個(gè)角，分別測量出按住不同角時(shí)該位置的電路板高度，測量出電路板在此位置的翹曲垂直高度最大值h2，h2-hl的值即為該電路板在該角翹曲位移高度；按上述方法依次測量電路板其他三角的翹曲位移高度，取最大位移高度計(jì)算該板翹曲情況。
[0035]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種測量電路板表面高度差的檢具，其特征在于，包括: 支架，包括底座、支桿、調(diào)節(jié)桿和水平桿，所述支桿安裝于底座上，所述調(diào)節(jié)桿一端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接支桿，另一端可轉(zhuǎn)動(dòng)式連接水平桿；以及 千分表，固定于水平桿上，且該千分表的測量桿與水平桿保持垂直。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量電路板表面高度差的檢具，其特征在于，所述水平桿上開有安裝孔，該安裝孔的軸向垂直于所述水平桿，所述千分表穿過該安裝孔固定于水平桿上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量電路板表面高度差的檢具，其特征在于，所述調(diào)節(jié)桿、水平桿通過油壓固定旋鈕與支桿連接固定。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量電路板表面高度差的檢具，其特征在于，所述水平桿上還設(shè)有調(diào)節(jié)千分表固定方向的微調(diào)旋鈕。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量電路板表面高度差的檢具，其特征在于，所述底座為磁性表座，其上設(shè)有磁性旋鈕。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量電路板表面高度差的檢具，其特征在于，所述千分表為數(shù)顯式千分表。
【文檔編號(hào)】G01B5/28GK204085379SQ201420432592
【公開日】2015年1月7日 申請(qǐng)日期:2014年8月1日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月1日
【發(fā)明者】張志強(qiáng), 謝添華, 李志東 申請(qǐng)人:廣州興森快捷電路科技有限公司, 深圳市興森快捷電路科技股份有限公司, 宜興硅谷電子科技有限公司