一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，所述電路包括依次連接的試驗(yàn)電源、直流電源、充電電路及與所述電壓源換流器的晶閘管被試設(shè)備連接的諧振回路。本實(shí)用新型在較低的電壓下使用較小的電容值即可構(gòu)造極大的沖擊電流；能夠模擬UPFC或柔性直流公共直流母線短路的故障，滿足對(duì)檢驗(yàn)半橋電壓源換流器晶閘管流過沖擊電流能力的要求。
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】：
[0001] 本實(shí)用新型涉及一種晶閘管分流檢測(cè)電路，具體講涉及一種用于半橋結(jié)構(gòu)電壓源 換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路。 -種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路

【背景技術(shù)】：
[0002] 晶閘管器件是一種高電壓、大功率的功率半導(dǎo)體器件，它具有容量大、效率高和控 制性好等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用在對(duì)電能的整流、逆變、斬波和開關(guān)等電路，是信息產(chǎn)業(yè)和傳統(tǒng)產(chǎn) 業(yè)間的重要接口，是弱電控制和強(qiáng)電被控裝置間的橋梁。
[0003] 隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展，作為HVDC的核心部件的大功率電力電子器件為基礎(chǔ) 的高壓串聯(lián)閥的運(yùn)行可靠性和在各種電力系統(tǒng)狀態(tài)下的生存能力逐漸成為一個(gè)關(guān)系到 HVDC能否在電力系統(tǒng)中得到廣泛應(yīng)用的關(guān)鍵問題。為了提高晶閘管的可靠性，已經(jīng)進(jìn)行了 大量的理論研究工作，但完整的試驗(yàn)仍然是提高和保證晶閘管串聯(lián)閥可靠性的最終技術(shù)手 段。
[0004] 過電流試驗(yàn)是檢驗(yàn)閥在故障情況下，耐受過電流、電壓及其相關(guān)熱效應(yīng)的能力。本 申請(qǐng)針對(duì)如何在故障情況下可靠觸發(fā)晶閘管，并考察晶閘管耐受大電流能力。 實(shí)用新型內(nèi)容：
[0005] 本實(shí)用新型的目的是提供一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，本實(shí)用 新型能夠滿足對(duì)檢驗(yàn)半橋電壓源換流器晶閘管流過沖擊電流能力的要求。
[0006] 為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案：一種用于電壓源換流器的晶閘 管分流檢測(cè)電路，所述電路包括依次連接的試驗(yàn)電源、直流電源、充電電路及與所述電壓源 換流器的晶閘管被試設(shè)備連接的諧振回路。
[0007] 本實(shí)用新型提供的一種用于半橋結(jié)構(gòu)電壓源換流器的晶閘管分流保護(hù)電路，所述 試驗(yàn)電源包括低壓單相交流電源或低壓三相交流電源和與所述電源連接的斷路器。
[0008] 本實(shí)用新型提供的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，所述直流電源 包括與所述試驗(yàn)電源依次串聯(lián)連接的調(diào)壓器、變壓器和不控整流橋。
[0009] 本實(shí)用新型提供的另一優(yōu)選的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，所 述充電電路包括與所述不控整流橋輸出端依次串聯(lián)連接的充電電阻R1和開關(guān)K1。
[0010] 本實(shí)用新型提供的再一優(yōu)選的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，所 述諧振回路包括與所述充電回路并聯(lián)的電容C、與所述充電電路一端依次連接的電感L、電 阻R2、晶閘管和開關(guān)K2 ;所述晶閘管參數(shù)應(yīng)不小于被試設(shè)備晶閘管I2t值和不小于被試設(shè) 備晶閘管耐壓值；
[0011] 所述充電電路用于控制所述電容C的充電時(shí)間。
[0012] 本實(shí)用新型提供的又一優(yōu)選的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，所 述被試設(shè)備包括與所述放電回路中的晶閘管反向并聯(lián)的半橋電壓源換流器，所述半橋電壓 源換流器包括2只IGBT串聯(lián)組成上下管的半橋橋臂，每只所述IGBT與續(xù)流二極管反向并 聯(lián)；
[0013] 上管IGBT集電極與下管IGBT發(fā)射極之間并聯(lián)直流電容器，所述半橋橋臂中點(diǎn)與 下管IGBT發(fā)射極之間并聯(lián)子模塊旁路晶閘管；所述半橋橋臂連接控制器。
[0014] 本實(shí)用新型提供的又一優(yōu)選的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路， 所述不控整流橋?yàn)閱蜗嗾鳂蚧蛉嗾鳂颉?br> [0015] 和最接近的現(xiàn)有技術(shù)比，本實(shí)用新型提供技術(shù)方案具有以下優(yōu)異效果
[0016] 1、本實(shí)用新型的試驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)簡單，試驗(yàn)方法簡單可靠；
[0017] 2、本實(shí)用新型的試驗(yàn)所需的電源容量較??；
[0018] 3、本實(shí)用新型在較低的電壓下使用較小的電容值即可構(gòu)造極大的沖擊電流；
[0019] 4、本實(shí)用新型能夠模擬UPFC后柔性直流直流母線短路的故障，滿足對(duì)檢驗(yàn)半橋 電壓源換流器晶閘管流過沖擊電流能力的要求；
[0020] 5、本實(shí)用新型中的半橋電壓源換流器用于檢驗(yàn)沖擊電流對(duì)子模塊旁路晶閘管是 否會(huì)產(chǎn)生不良影響；
[0021] 6、接地放電回路用于在試驗(yàn)完畢后使電容C放電，保證試驗(yàn)安全。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0022] 圖1為本實(shí)用新型的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0023] 下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0024] 實(shí)施例1 :
[0025] 如圖1所示，本例的實(shí)用新型用于半橋結(jié)構(gòu)電壓源換流器的晶閘管分流保護(hù)電路 包括依次連接的試驗(yàn)電源、直流電源、充電電路、諧振回路和被試設(shè)備；所述諧振回路與接 地放電回路連接。
[0026] 所述試驗(yàn)電源包括低壓單相交流電源或低壓三相交流電源和與所述電源連接的 斷路器。
[0027] 所述直流電源包括與所述試驗(yàn)電源依次串聯(lián)連接的調(diào)壓器、變壓器和不控整流 橋；所述不控整流橋?yàn)閱蜗嗾鳂蚧蛉嗾鳂颉?br> [0028] 所述充電電路包括與所述不控整流橋輸出端依次串聯(lián)連接的充電電阻R1和開關(guān) K1。
[0029] 所述諧振回路包括與所述充電回路并聯(lián)的電容C、與所述充電電路一端依次連接 的電感L、電阻R2、晶閘管和開關(guān)K2 ;所述晶閘管為有大于被試設(shè)備晶閘管I2t值和大于被 試設(shè)備晶閘管耐壓值；所述充電電路用于控制電容C的充電時(shí)間。
[0030] 所述被試設(shè)備包括與所述放電回路中的晶閘管反向并聯(lián)的半橋電壓源換流器，所 述半橋電壓源換流器包括2只IGBT串聯(lián)組成上下管的半橋橋臂，每只所述IGBT與續(xù)流二 極管反向并聯(lián)；
[0031] 上管IGBT集電極與下管IGBT發(fā)射極之間并聯(lián)直流電容器，所述半橋橋臂中點(diǎn)與 下管IGBT發(fā)射極之間并聯(lián)子模塊旁路晶閘管；所述半橋橋臂連接控制器。
[0032] 所述接地放電回路包括與所述電容C正極連接的開關(guān)K3和與所述開關(guān)K3串聯(lián)的 放電電阻R3且所述放電電阻R3接地。
[0033] 包含上述技術(shù)方案的電路的檢測(cè)方法為：
[0034] 1)斷開諧振回路的開關(guān)K2、接地放電回路的開關(guān)1(3，半橋電壓源換流器控制器上 電，令其產(chǎn)生觸發(fā)脈沖，使上下管IGBT均一直處于關(guān)斷狀態(tài)，使旁路晶閘管和諧振回路中 的晶閘管都一直處于觸發(fā)狀態(tài)；
[0035] 2)閉合試驗(yàn)電源的斷路器QZ和充電電路的開關(guān)& ;
[0036] 3)調(diào)節(jié)調(diào)壓器，使直流母線電壓達(dá)到要求，對(duì)諧振回路的電容C充電；
[0037] 4)充電達(dá)到穩(wěn)定后，斷開試驗(yàn)電源的斷路器QZ和充電電路的開關(guān)& ;
[0038] 5)閉合諧振回路的開關(guān)K2,測(cè)試開始；
[0039] 6)測(cè)試完畢后，閉合接地放電回路的開關(guān)Μ寺電容充分放電后，分別檢測(cè)所有晶 閘管和半橋電壓源換流器中每個(gè)器件是否完好。
[0040] 其中，諧振回路用于產(chǎn)生沖擊電流，晶閘管用于檢驗(yàn)流過沖擊電流的能力，半橋電 壓源換流器用于檢驗(yàn)沖擊電流對(duì)子模塊旁路晶閘管是否會(huì)產(chǎn)生不良影響。
[0041] 最后應(yīng)該說明的是：以上實(shí)施例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非對(duì)其限 制，盡管參照上述實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明，所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理 解：依然可以對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行修改或者等同替換，而未脫離本實(shí)用新型 精神和范圍的任何修改或者等同替換，其均應(yīng)涵蓋在本權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【權(quán)利要求】
1. 一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，其特征在于：所述電路包括依次連 接的試驗(yàn)電源、直流電源、充電電路及與所述電壓源換流器的晶閘管被試設(shè)備連接的諧振 回路。
2. 如權(quán)利要求1所述的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，其特征在于： 所述試驗(yàn)電源包括低壓單相交流電源或低壓三相交流電源和與所述電源連接的斷路器。
3. 如權(quán)利要求1所述的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，其特征在于： 所述直流電源包括與所述試驗(yàn)電源依次串聯(lián)連接的調(diào)壓器、變壓器和不控整流橋。
4. 如權(quán)利要求3所述的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，其特征在于： 所述充電電路包括與所述不控整流橋輸出端依次串聯(lián)連接的充電電阻R1和開關(guān)K1。
5. 如權(quán)利要求4所述的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，其特征在于： 所述諧振回路包括與所述充電回路并聯(lián)的電容C、與所述充電電路一端依次連接的電感L、 電阻R2、晶閘管和開關(guān)K2 ;所述晶閘管參數(shù)應(yīng)不小于被試設(shè)備晶閘管I2t值和不小于被試 設(shè)備晶閘管耐壓值； 所述充電電路用于控制所述電容C的充電時(shí)間。
6. 如權(quán)利要求5所述的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，其特征在于： 所述被試設(shè)備包括與放電回路中的晶閘管反向并聯(lián)的半橋電壓源換流器，所述半橋電壓源 換流器包括2只IGBT串聯(lián)組成上下管的半橋橋臂，每只所述IGBT與續(xù)流二極管反向并聯(lián)； 上管IGBT集電極與下管IGBT發(fā)射極之間并聯(lián)直流電容器，所述半橋橋臂中點(diǎn)與下管 IGBT發(fā)射極之間并聯(lián)子模塊旁路晶閘管；所述半橋橋臂連接控制器。
7. 如權(quán)利要求3所述的一種用于電壓源換流器的晶閘管分流檢測(cè)電路，其特征在于： 所述不控整流橋?yàn)閱蜗嗾鳂蚧蛉嗾鳂颉?br> 【文檔編號(hào)】G01R31/12GK203894367SQ201420235910
【公開日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年5月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月9日
【發(fā)明者】王軒, 喻勁松, 燕翚, 王宇紅 申請(qǐng)人:國家電網(wǎng)公司, 國網(wǎng)智能電網(wǎng)研究院, 中電普瑞科技有限公司