軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，用以測試一磁環(huán)，其包括一測試治具，其具有一上治具、一下治具，以及設(shè)置于所述上治具和下治具之間的一固定座，所述上治具的下表面凸設(shè)多個第一信號接點，所述下治具的上表面凸設(shè)多個第二信號接點，使用時，將第一信號接點與第二信號接點插置于磁環(huán)中空的區(qū)域，并使第一信號接點與第二信號接點電性導(dǎo)接，使電信號導(dǎo)通，進(jìn)而測出磁環(huán)的電感量，便于大規(guī)模的對磁環(huán)進(jìn)行測試。
【專利說明】軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種測試的治具，尤其涉及一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市場上使用的一種磁環(huán)的測試治具，具體如下，首先提供一磁環(huán)，所述磁環(huán)呈封閉的圓環(huán)狀，再提供一導(dǎo)線，并將導(dǎo)線(銅線)纏繞在所述磁環(huán)的表面，在磁環(huán)的表面形成多匝線圈，然后再對導(dǎo)線通電測試。上述做法，每測試一個產(chǎn)品要進(jìn)行相應(yīng)的圈數(shù)繞線，測試完后又要拆線，無法實現(xiàn)自動化操作，極大的浪費銅線，導(dǎo)致效率低下，當(dāng)產(chǎn)品數(shù)量較多時，甚至沒辦法實現(xiàn)全檢，經(jīng)常有不良品流出。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之缺陷，提供了一種高效、快捷的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具。
[0004]本實用新型是這樣實現(xiàn)的:一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，用以測試一磁環(huán)，其包括一測試治具，其具有一上治具、一下治具，以及設(shè)置于所述上治具和下治具之間的一固定座，所述上治具的下表面凸設(shè)多個第一信號接點，所述下治具的上表面凸設(shè)多個第二信號接點，每一所述第一信號接點對應(yīng)每一所述第二信號接點。
[0005]進(jìn)一步地，所述上治具通過一第一氣缸推動，所述下治具通過一第二氣缸推動。
[0006]進(jìn)一步地，所述測試治具具有一支架，所述固定座設(shè)置于所述支架，所述上治具和下治具分別設(shè)置于所述支架，且可相對所述支架滑動。
[0007]進(jìn)一步地，所述第一信號接點與所述第二信號接點交錯設(shè)置。
[0008]進(jìn)一步地，所述第一信號接點為插針，所述第二信號接點的上表面向下凹設(shè)多個凹孔，每一所述插針對應(yīng)每一所述凹孔。
[0009]更進(jìn)一步地，所述第一信號接點與所述第二信號接點接觸時，形成閉合的一回路，且所述第一信號接點的數(shù)量為三。
[0010]進(jìn)一步地，所述第一信號接點于所述上治具上呈圓環(huán)狀設(shè)置，所述第二信號接點于所述下治具上呈圓環(huán)狀設(shè)置。
[0011]進(jìn)一步地，所述上治具包括一第一主體部，以及設(shè)置于所述第一主體部前端的一第一固定盤，所述第一固定盤突出所述第一主體部上、下表面，所述第一主體部中設(shè)置多個第一引線，所述第一固定盤中設(shè)置所述第一信號接點，每一所述第一引線對應(yīng)并焊接在每一所述第一信號接點上。
[0012]進(jìn)一步地，所述下治具包括一第二主體部，以及設(shè)置于所述第二主體部前端的第二固定盤，所述第二固定盤突出所述第二主體部上、下表面，所述第二固定盤對應(yīng)所述第一固定盤，所述第二主體部中設(shè)置多個第二引線，所述第二固定盤中設(shè)置所述第二信號接點，每一所述第二引線對應(yīng)并焊接在每一所述第二信號接點上。[0013]進(jìn)一步地，所述測試治具上設(shè)置一數(shù)字電橋，所述數(shù)字電橋用以顯示測試值，所述數(shù)字電橋分別與第一引線、第二引線電性連接。
[0014]本實用新型提供一種一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，包括以下步驟:先固定磁環(huán)，再將上治具的第一信號接點與上治具的第二信號接點插置于磁環(huán)中空的區(qū)域，并使第一信號接點與第二信號接點電性導(dǎo)接，使電信號導(dǎo)通，進(jìn)而測出磁環(huán)的電感量，便于大規(guī)模的對磁環(huán)進(jìn)行測試，相對于以往的每測試一個產(chǎn)品要進(jìn)行相應(yīng)的圈數(shù)繞線，測試完后又要拆線的方式，提高了生產(chǎn)效率，避免銅線的浪費，大大節(jié)約了成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
[0016]圖1為本實用新型提供的先前技術(shù)的示意圖；
[0017]圖2為本實用新型實施例提供的立體圖；
[0018]圖3為本實用新型實施例提供的剖視圖。
【具體實施方式】
[0019]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。
[0020]請參見圖1、圖2和圖3，本實用新型實施例提供一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其包括一磁環(huán)4和一測試治具，具體使用步驟請參見以下說明。
[0021]第一步，請參見圖1、圖2和圖3，提供一磁環(huán)4，所述磁環(huán)4呈一封閉的環(huán)狀，其中部鏤空，即所述磁環(huán)具有中空的一區(qū)域。
[0022]第二步，請參見圖1、圖2和圖3，提供一測試治具，其具有一上治具1、一下治具2，以及設(shè)置于所述上治具I和下治具2之間的一固定座3，所述上治具I通過一第一氣缸推動，所述下治具2通過一第二氣缸推動。所述測試治具還具有一支架5，所述固定座3設(shè)置于所述支架5，所述上治具I和下治具2分別設(shè)置于所述支架5，且可相對所述支架5滑動，以便于所述上治具I和下治具2的自由移動。
[0023]請參見圖1、圖2和圖3，所述上治具I的下表面凸設(shè)多個第一信號接點13，所述下治具2的上表面凸設(shè)多個第二信號接點23，每一所述第一信號接點13對應(yīng)每一所述第二信號接點23，所述第一信號接點13于所述上治具I上呈圓環(huán)狀設(shè)置，所述第二信號接點23于所述下治具2上呈圓環(huán)狀設(shè)置，以對應(yīng)所述磁環(huán)4中空的區(qū)域，便于所述第一信號接點13和所述第一信號接點13插入所述磁環(huán)4中空的區(qū)域。所述第一信號接點13與所述第二信號接點23交錯設(shè)置，所述第一信號接點13為插針，所述第二信號接點23的上表面向下凹設(shè)多個凹孔，每一所述插針對應(yīng)每一所述凹孔。所述第一信號接點13與所述第二信號接點23接觸時，形成閉合的一回路，且所述第一信號接點13的數(shù)量為三，所述第二信號接點23的數(shù)量為三。當(dāng)然，不能限制所述第一信號接點13和第二信號接點23的數(shù)量，應(yīng)當(dāng)根據(jù)實際的需要，選擇所述第一信號接點13和第二信號接點23的數(shù)量。
[0024]請參見圖1、圖2和圖3，所述上治具I包括一第一主體部11，以及設(shè)置于所述第一主體部11前端的一第一固定盤12,所述第一固定盤12突出所述第一主體部11上、下表面，便于所述第一固定盤12的拆卸和維修，所述第一主體部11中設(shè)置多個第一引線，所述第一固定盤12中設(shè)置所述第一信號接點13，每一所述第一引線對應(yīng)并焊接在每一所述第一信號接點13上，使所述第一引線與所述第一信號接點13電性導(dǎo)接，便于更換和維修。
[0025]請參見圖1、圖2和圖3，所述下治具2包括一第二主體部21，以及設(shè)置于所述第二主體部21前端的第二固定盤22，所述第二固定盤22突出所述第二主體部21上、下表面，便于所述第二固定盤22的拆卸和維修，所述第二固定盤22對應(yīng)所述第一固定盤12，所述第二主體部21中設(shè)置多個第二引線，所述第二固定盤22中設(shè)置所述第二信號接點23，每一所述第二引線對應(yīng)并焊接在每一所述第二信號接點23上，使所述第一引線與所述第一信號接點13電性導(dǎo)接，便于更換和維修。所述測試治具上設(shè)置一數(shù)字電橋，所述數(shù)字電橋用以顯示測試值，所述數(shù)字電橋分別與第一引線、第二引線電性連接。
[0026]第三步，請參見圖1、圖2和圖3，將所述磁環(huán)4固定于所述固定座3，使所述磁環(huán)4中空的區(qū)域?qū)?zhǔn)所述第一信號接點13和第二信號接點23，便于所述第一信號接點13和第二信號接點23進(jìn)入中空的區(qū)域，防止第一信號接點13和第二信號接點23與所述磁環(huán)4發(fā)生撞擊，導(dǎo)致第一信號接點13和第二信號接點23損壞，或者磁環(huán)4被破壞。
[0027]第四步，請參見圖1、圖2和圖3，驅(qū)動所述上治具I向下運動，所述下治具2向上運動，使所述第一信號接點13進(jìn)入所述磁環(huán)4中，所述第二信號接點23進(jìn)入所述磁環(huán)4中，且每一所述第一信號接點13與對應(yīng)的每一所述第二信號接點23接觸，即所述所述第一信號接點13與所述第二信號接點23電性導(dǎo)接，所述插針插置于所述凹孔中，也可防止所述插針在與所述凹孔對接時產(chǎn)生錯位，保證所述第一信號接點13與所述第二信號接點23電性導(dǎo)接時，電信號的良好傳輸。
[0028]第五步，請參見圖1、圖2和圖3，分離所述上治具I和所述下治具2，并取出所述磁環(huán)4，由于所述第一引線連接所述第一信號接點13，所述第二引線連接所述第二信號接點23，且所述第一信號接點13與所述第二引線接點23連接形成回路，故所述第一信號接點13與所述第二引線連接時，產(chǎn)生了一個閉合的線圈，可測出軟磁環(huán)4型產(chǎn)品的電感量，再將相應(yīng)的數(shù)據(jù)顯示在數(shù)字電橋中，讀取數(shù)字電橋中顯示的數(shù)字或者信號，便于判斷磁環(huán)4的相關(guān)設(shè)計是否符合要求。最后再驅(qū)動所述上治具I向上運動，所述下治具2向下運動，使所述所述上治具與所述下治具2分離，將所述磁環(huán)4從所述固定座3上取出。
[0029]本實用新型所述測試治具自動的測試方式，實現(xiàn)了所述磁環(huán)4的快速測試，所述第一信號接點13和所述第二信號接點23采用對接的方式，插置于所述磁環(huán)4中空的區(qū)域，所述第一信號接點13和所述第二信號接點23形成回路，使電信號導(dǎo)通，進(jìn)而測出磁環(huán)4的電感量，便于大規(guī)模的對磁環(huán)4進(jìn)行測試，相對于以往的每測試一個產(chǎn)品要進(jìn)行相應(yīng)的圈數(shù)繞線，測試完后又要拆線的方式，提高了生產(chǎn)效率，避免銅線的浪費，大大節(jié)約了成本。
[0030]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，用以測試一磁環(huán)，其特征在于，其包括一測試治具，其具有一上治具、一下治具，以及設(shè)置于所述上治具和下治具之間的一固定座，所述上治具的下表面凸設(shè)多個第一信號接點，所述下治具的上表面凸設(shè)多個第二信號接點，每一所述第一信號接點對應(yīng)每一所述第二信號接點。
2.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述上治具通過一第一氣缸推動，所述下治具通過一第二氣缸推動。
3.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述測試治具具有一支架，所述固定座設(shè)置于所述支架，所述上治具和下治具分別設(shè)置于所述支架，且可相對所述支架滑動。
4.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述第一信號接點與所述第二信號接點交錯設(shè)置。
5.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述第一信號接點為插針，所述第二信號接點的上表面向下凹設(shè)多個凹孔，每一所述插針對應(yīng)每一所述凹孔。
6.如權(quán)利要求5所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述第一信號接點與所述第二信號接點接觸時，形成閉合的一回路，且所述第一信號接點的數(shù)量為三。
7.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述第一信號接點于所述上治具上呈圓環(huán)狀設(shè)置，所述第二信號接點于所述下治具上呈圓環(huán)狀設(shè)置。
8.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述上治具包括一第一主體部，以及設(shè)置于所述第一主體部前端的一第一固定盤，所述第一固定盤突出所述第一主體部上、下表面，所述第一主體部中設(shè)置多個第一引線，所述第一固定盤中設(shè)置所述第一信號接點，每一所述第一引線對應(yīng)并焊接在每一所述第一信號接點上。
9.如權(quán)利要求8所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述下治具包括一第二主體部，以及設(shè)置于所述第二主體部前端的第二固定盤，所述第二固定盤突出所述第二主體部上、下表面，所述第二固定盤對應(yīng)所述第一固定盤，所述第二主體部中設(shè)置多個第二引線，所述第二固定盤中設(shè)置所述第二信號接點，每一所述第二引線對應(yīng)并焊接在每一所述第二信號接點上。
10.如權(quán)利要求8所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測試的治具，其特征在于:所述測試治具上設(shè)置一數(shù)字電橋，所述數(shù)字電橋用以顯示測試值，所述數(shù)字電橋分別與第一引線、第二引線電性連接。
【文檔編號】G01R27/26GK203405536SQ201320444659
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月24日
【發(fā)明者】周維波 申請人:惠州鉑科磁材有限公司