一種信號(hào)測(cè)試方法及設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明實(shí)施例公開了一種信號(hào)測(cè)試方法，所述方法包括：獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置；根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。本發(fā)明實(shí)施例還公開了一種信號(hào)測(cè)試設(shè)備。采用本發(fā)明，可在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，操作簡單，提升工作效率。
【專利說明】一種信號(hào)測(cè)試方法及設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種信號(hào)測(cè)試方法及設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]PCBCPrinted Circuit Board，印制電路板)是電子工業(yè)的重要部件之一，對(duì)于大多數(shù)電子設(shè)備而言，大到計(jì)算機(jī)、通訊電子設(shè)備或軍用武器系統(tǒng)，小到電子手表或計(jì)算器，只要有集成電路等電子元器件，為了它們之間的電氣互連，都要使用PCB。而在PCB制作完成之后，對(duì)硬件單元測(cè)試階段的信號(hào)測(cè)試中，現(xiàn)有技術(shù)是用戶通過電路設(shè)計(jì)文檔找到測(cè)試點(diǎn)，并手持探頭，在調(diào)試示波器的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，操作繁復(fù)，效率較低。另外，現(xiàn)有的軟件測(cè)試自動(dòng)化階段僅通過網(wǎng)口以及電口等接口下發(fā)軟件指令，進(jìn)行功能性的測(cè)試，無法在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種信號(hào)測(cè)試方法及設(shè)備，可在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，操作簡單，提升工作效率。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明第一方面提供了一種信號(hào)測(cè)試方法，所述方法包括:
[0005]獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置；
[0006]根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；
[0007]根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0008]在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測(cè)試用例包括測(cè)試信號(hào)信息；
[0009]所述根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸包括；
[0010]根據(jù)所述測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息；
[0011]獲取與所述探頭的選取信息匹配的探頭；
[0012]根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述獲取到的探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0013]結(jié)合第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取與所述探頭的選取信息匹配的探頭之前，通過所述機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息；
[0014]判斷所述識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述獲取到的探頭的選取信息是否匹配；
[0015]若是，則觸發(fā)執(zhí)行根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述當(dāng)前探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；
[0016]若否，則控制所述機(jī)械臂抓取與所述獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭。[0017]結(jié)合第一方面、第一方面的第一種或第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述目標(biāo)測(cè)試器件包括印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料；
[0018]所述獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例之前，根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例。
[0019]結(jié)合第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例之后，針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。
[0020]結(jié)合第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測(cè)試用例包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段；
[0021]所述針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改包括；
[0022]顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，所述各個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)；
[0023]根據(jù)用戶通過所述編輯接口針對(duì)所述測(cè)試用例中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)所述目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。
[0024]結(jié)合第一方面或第一方面的第一種至第五種中的任一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第六種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸還包括；
[0025]通過光源和相機(jī)監(jiān)控所述機(jī)械臂將所述探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0026]結(jié)合第一方面或第一方面的第一種至第六種中的任一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第七種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測(cè)試用例包括業(yè)務(wù)期望結(jié)果；
[0027]根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
[0028]結(jié)合第一方面的第七種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第八種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析之后，根據(jù)所述測(cè)試過程和所述對(duì)所述獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
[0029]本發(fā)明第二方面提供了一種信號(hào)測(cè)試設(shè)備，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備包括:
[0030]用例獲取模塊，用于獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置；
[0031]機(jī)械臂控制模塊，用于根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；
[0032]示波器配置模塊，用于根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取所述機(jī)械臂控制模塊中的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0033]在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測(cè)試用例包括測(cè)試信號(hào)信息；
[0034]所述機(jī)械臂控制模塊包括；[0035]選取信息獲取單元，用于根據(jù)所述測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息；
[0036]探頭獲取單元，用于獲取與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭；
[0037]機(jī)械臂控制單元，用于根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述探頭獲取單元獲取到的探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0038]結(jié)合第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述機(jī)械臂控制模塊還包括；
[0039]選取信息識(shí)別單元，用于通過所述機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息；
[0040]選取信息判斷單元，用于判斷所述選取信息識(shí)別單元識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息是否匹配；
[0041]若所述選取信息判斷單元判斷所述選取信息識(shí)別單元識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息匹配，則觸發(fā)所述機(jī)械臂控制單元根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述當(dāng)前探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；
[0042]若所述選取信息判斷單元判斷所述選取信息識(shí)別單元識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息不匹配，則觸發(fā)所述探頭獲取單元控制所述機(jī)械臂抓取與所述獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭。
[0043]結(jié)合第二方面、第二方面的第一種或第二方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述目標(biāo)測(cè)試器件包括印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料；
[0044]用例生成模塊用于根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例，觸發(fā)所述用例獲取模塊獲取所述測(cè)試用例。
[0045]結(jié)合第二方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，用例修改模塊用于在所述用例生成模塊生成所述測(cè)試用例后，針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。
[0046]結(jié)合第二方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測(cè)試用例包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段；
[0047]所述用例修改模塊包括；
[0048]字段顯示單元，用于顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，所述各個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)；
[0049]用例修改單元，用于根據(jù)用戶通過所述編輯接口針對(duì)所述字段顯示單元顯示的測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)所述目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。
[0050]結(jié)合第二方面或第二方面的第一種至第五種中的任一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第六種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，監(jiān)控模塊用于在所述機(jī)械臂控制模塊根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸時(shí)，通過光源和相機(jī)監(jiān)控所述機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0051]結(jié)合第二方面或第二方面的第一種至第六種中的任一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第七種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測(cè)試用例包括業(yè)務(wù)期望結(jié)果；[0052]數(shù)據(jù)分析模塊用于根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述示波器配置模塊根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的所述與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
[0053]結(jié)合第二方面的第七種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第八種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，報(bào)告生成模塊用于根據(jù)所述測(cè)試過程和所述數(shù)據(jù)分析模塊對(duì)所述獲取到的所述與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
[0054]實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，具有如下有益效果:信號(hào)測(cè)試設(shè)備獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，其中所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置，根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸，根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，本發(fā)明實(shí)施例可在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，操作簡單，提升工作效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0055]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0056]圖1是本發(fā)明實(shí)施例中提供的一種信號(hào)測(cè)試方法的流程示意圖；
[0057]圖2是本發(fā)明另一實(shí)施例中提供的一種信號(hào)測(cè)試方法的流程示意圖；
[0058]圖3是本發(fā)明實(shí)施例中提供的一種信號(hào)測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0059]圖4是本發(fā)明實(shí)施例中圖3的機(jī)械臂控制模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0060]圖5是本發(fā)明實(shí)施例中圖3的用例修改模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0061]圖6是本發(fā)明另一實(shí)施例中提供的一種信號(hào)測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0062]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0063]本發(fā)明實(shí)施例中的信號(hào)測(cè)試方法可以實(shí)現(xiàn)在信號(hào)測(cè)試設(shè)備中自動(dòng)生成測(cè)試用例，根據(jù)該測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸，并根據(jù)該測(cè)試用例配置示波器，從而根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)一步的，該信號(hào)測(cè)試方法還可以在信號(hào)測(cè)試設(shè)備中根據(jù)測(cè)試用例的業(yè)務(wù)期望結(jié)果對(duì)獲取到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并根據(jù)測(cè)試過程和對(duì)獲取到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
[0064]請(qǐng)參閱圖1，圖1是本發(fā)明實(shí)施例中提供的一種信號(hào)測(cè)試方法的流程示意圖，如圖所示本發(fā)明實(shí)施例的所述方法至少包括:
[0065]步驟S101，獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例。[0066]信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，其中測(cè)試用例可以包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置。
[0067]作為一種可選的實(shí)施方式，目標(biāo)測(cè)試器件可以包括印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成測(cè)試用例。具體的，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)硬件單元信號(hào)測(cè)試階段的信號(hào)測(cè)試方法和信號(hào)特性，完成與信號(hào)、示波器、測(cè)試命令與業(yè)務(wù)軟件、預(yù)期波形以及波形判斷等有關(guān)的參數(shù)設(shè)置，所述參數(shù)設(shè)置可以包括測(cè)試信號(hào)信息、測(cè)試信號(hào)參數(shù)設(shè)置、測(cè)試命令業(yè)務(wù)匹配設(shè)置、示波器參數(shù)設(shè)置以及波形判斷參數(shù)設(shè)置等，其中測(cè)試命令業(yè)務(wù)即測(cè)試目標(biāo)，也就是所述測(cè)試用例測(cè)試目標(biāo)測(cè)試器件是否滿足的特定需求。進(jìn)一步的，信號(hào)測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述參數(shù)設(shè)置以及目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料，生成測(cè)試用例。
[0068]進(jìn)一步可選的，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。
[0069]進(jìn)一步可選的，所述測(cè)試用例可以包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，其中所述至少一個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)，信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以根據(jù)用戶通過編輯接口對(duì)測(cè)試用例中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。
[0070]步驟S102，根據(jù)獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0071]信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。具體的，所述測(cè)試用例可以包括測(cè)試信號(hào)信息，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息，探頭的選取信息可以包括探頭的種類、數(shù)量以及所述至少兩個(gè)探頭之間的配合關(guān)系等，例如，測(cè)試信號(hào)信息是測(cè)量測(cè)試信號(hào)的電流時(shí)，探頭的選取信息中的探頭的類型可以為電流探頭；測(cè)試信號(hào)信息是測(cè)量光器件和光纖傳輸?shù)墓庑盘?hào)時(shí)，探頭的選取信息中的探頭的類型可以為光電探頭，進(jìn)一步的信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以獲取與探頭的選取信息匹配的探頭，并根據(jù)測(cè)試用例控制機(jī)械臂將獲取到的與探頭的選取信息匹配的探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0072]作為一種可選的實(shí)施方式，信號(hào)測(cè)試設(shè)備在獲取與探頭的選取信息匹配的探頭之前，機(jī)械臂固定探頭的位置分別安裝數(shù)字識(shí)別塊，本發(fā)明實(shí)施例所提及的探頭的頂部也安裝了對(duì)應(yīng)的數(shù)字識(shí)別塊，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以通過機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息，并判斷識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與根據(jù)測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取到的探頭的選取信息是否匹配，若是，則直接根據(jù)獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將當(dāng)前探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；若否，則根據(jù)測(cè)試用例控制機(jī)械臂抓取與獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭，并控制機(jī)械臂將所述抓取到的探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0073]作為一種可選的實(shí)施方式，信號(hào)測(cè)試設(shè)備控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸時(shí)，還可以通過光源和相機(jī)監(jiān)控機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸的過程。
[0074]步驟S103，根據(jù)獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。[0075]信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0076]具體實(shí)現(xiàn)中，針對(duì)不同測(cè)試信號(hào)，例如SMI (Serial Management Interface,串行管理接口)總線信號(hào)或眼圖信號(hào)等，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以在特定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的特性模板中配置針對(duì)所述特定測(cè)試信號(hào)的測(cè)試用例中的配置參數(shù)，并根據(jù)經(jīng)過配置的特性模板配置所述示波器。信號(hào)測(cè)試設(shè)備配置了示波器后，可以根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，其中所述測(cè)試數(shù)據(jù)可以包括用例測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)和測(cè)試信號(hào)的波形數(shù)據(jù)等。
[0077]作為一種可選的實(shí)施方式，信號(hào)測(cè)試設(shè)備獲取到用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)后，可以根據(jù)測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。進(jìn)一步可選的，信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以根據(jù)測(cè)試過程和對(duì)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
[0078]在圖1所示的信號(hào)測(cè)試方法中，信號(hào)測(cè)試設(shè)備獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，其中所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置，根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸，根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，本發(fā)明實(shí)施例可在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，操作簡單，提升工作效率。
[0079]請(qǐng)參閱圖2，圖2是本發(fā)明另一實(shí)施例中提供的一種信號(hào)測(cè)試方法的流程示意圖，如圖所示，該信號(hào)測(cè)試方法可以包括以下步驟:
[0080]步驟S201，根據(jù)目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成測(cè)試用例。
[0081]信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成測(cè)試用例。
[0082]具體實(shí)現(xiàn)中，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)硬件單元信號(hào)測(cè)試階段的信號(hào)測(cè)試方法和信號(hào)特性，完成與信號(hào)、示波器、測(cè)試命令與業(yè)務(wù)軟件、預(yù)期波形以及波形判斷等有關(guān)的參數(shù)設(shè)置，所述參數(shù)設(shè)置可以包括測(cè)試信號(hào)信息、測(cè)試信號(hào)參數(shù)設(shè)置、測(cè)試命令業(yè)務(wù)匹配設(shè)置、示波器參數(shù)設(shè)置以及波形判斷參數(shù)設(shè)置等，進(jìn)一步的，信號(hào)測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述參數(shù)設(shè)置以及目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料，生成測(cè)試用例。
[0083]作為一種可選的實(shí)施方式，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。進(jìn)一步可選的，所述測(cè)試用例可以包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，其中所述至少一個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)，信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以根據(jù)用戶通過編輯接口對(duì)測(cè)試用例中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。
[0084]其中，根據(jù)目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成的測(cè)試用例可以以表格或圖像的形式顯示，例如，以表格的形式顯示測(cè)試用例，即將測(cè)試用例中的測(cè)試項(xiàng)、測(cè)試點(diǎn)及其位置和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)等信息以表格的形式顯示。以圖像的形式顯示測(cè)試用例，可以是將測(cè)試用例可視化顯示，即將測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)流經(jīng)的器件，按照測(cè)試信號(hào)的流向排列，進(jìn)行圖像化顯示，還可以通過顏色和箭頭對(duì)測(cè)試信號(hào)的流向進(jìn)行標(biāo)識(shí)，通過顏色和提示圖形標(biāo)識(shí)測(cè)試用例中的用例測(cè)試點(diǎn)。進(jìn)一步可選的，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以在顯示的測(cè)試用例中，根據(jù)用戶提交的修改指令，對(duì)所述顯示的測(cè)試用例進(jìn)行修改。
[0085]步驟S202，根據(jù)生成的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0086]信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)所述生成的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0087]具體實(shí)現(xiàn)中，所述測(cè)試用例可以包括測(cè)試信號(hào)信息，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息，探頭的選取信息可以包括探頭的種類、數(shù)量以及所述至少兩個(gè)探頭之間的配合關(guān)系等，例如，測(cè)試信號(hào)信息是測(cè)量測(cè)試信號(hào)的電流時(shí)，探頭的選取信息中的探頭的類型可以為電流探頭；測(cè)試信號(hào)信息是測(cè)量光器件和光纖傳輸?shù)墓庑盘?hào)時(shí)，探頭的選取信息中的探頭的類型可以為光電探頭，進(jìn)一步的信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以獲取與探頭的選取信息匹配的探頭，并根據(jù)測(cè)試用例控制機(jī)械臂將獲取到的與探頭的選取信息匹配的探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0088]作為一種可選的實(shí)施方式，信號(hào)測(cè)試設(shè)備在獲取與探頭的選取信息匹配的探頭之前，機(jī)械臂固定探頭的位置可以分別安裝數(shù)字識(shí)別塊，本發(fā)明實(shí)施例所提及的探頭的頂部也安裝了對(duì)應(yīng)的數(shù)字識(shí)別塊，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以通過機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息，并判斷識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與根據(jù)測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取到的探頭的選取信息是否匹配，若是，則直接根據(jù)獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將當(dāng)前探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；若否，則根據(jù)測(cè)試用例控制機(jī)械臂抓取與獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭，并控制機(jī)械臂將所述抓取到的探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0089]作為一種可選的實(shí)施方式，信號(hào)測(cè)試設(shè)備控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸時(shí)，還可以通過光源和相機(jī)監(jiān)控機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸的過程。若監(jiān)控到探頭接觸的位置與理想的用例測(cè)試點(diǎn)的位置不匹配，可以通過用戶調(diào)整探頭接觸的位置，從而使探頭接觸的位置與理想的用例測(cè)試點(diǎn)的位置匹配。
[0090]步驟S203，根據(jù)生成的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0091]信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)生成的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0092]示波器是利用電子示波管的特性，將人眼無法直接觀測(cè)的交變電信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像，顯示在熒光屏上以便測(cè)量的電子測(cè)量儀器。示波器可以支持長余輝測(cè)試方式，其中長余輝測(cè)試方式可以將多個(gè)測(cè)試信號(hào)疊加，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)生成的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)生成的測(cè)試用例控制所述示波器中的長余輝測(cè)試功能。進(jìn)一步的，針對(duì)不同測(cè)試信號(hào)，例如SMI總線信號(hào)或眼圖信號(hào)等，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以在特定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的特性模板中配置針對(duì)所述特定測(cè)試信號(hào)的測(cè)試用例中的配置參數(shù)，并根據(jù)經(jīng)過配置的特性模板配置所述示波器。
[0093]信號(hào)測(cè)試設(shè)備配置了示波器后，可以根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，其中所述測(cè)試數(shù)據(jù)可以包括用例測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)和測(cè)試信號(hào)的波形數(shù)據(jù)等。
[0094]步驟S204，根據(jù)測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)獲取到的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
[0095]測(cè)試用例可以包括業(yè)務(wù)期望結(jié)果，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)獲取到的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。例如，針對(duì)電平信號(hào)，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以對(duì)獲取到的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)中的電平信號(hào)的幅值進(jìn)行分析，判斷所述測(cè)試數(shù)據(jù)中的電平信號(hào)的幅值與業(yè)務(wù)期望結(jié)果中的電平信號(hào)的幅值是否匹配?？蛇x的，信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以對(duì)接示波器廠商的時(shí)序分析軟件或眼圖分析軟件等商用軟件，實(shí)現(xiàn)對(duì)例如眼圖信號(hào)的測(cè)試結(jié)果的分析。
[0096]步驟S205，根據(jù)測(cè)試過程和對(duì)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
[0097]測(cè)試信號(hào)設(shè)備可以根據(jù)測(cè)試過程和對(duì)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。所述測(cè)試過程可以包括生成測(cè)試用例，控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸，配置示波器，根據(jù)經(jīng)過配置的示波器顯示與探頭進(jìn)行接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的分析等。所述測(cè)試報(bào)告可以包括測(cè)試信號(hào)、測(cè)試點(diǎn)位置、對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果等，所述測(cè)試報(bào)告支持worcUexcel、網(wǎng)頁、PDF以及各種圖片等商用軟件形式。
[0098]在圖2所示的信號(hào)測(cè)試方法中，信號(hào)測(cè)試設(shè)備根據(jù)目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成測(cè)試用例，根據(jù)所述生成的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸，根據(jù)所述生成的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，對(duì)獲取到的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并生成測(cè)試報(bào)告，本發(fā)明實(shí)施例可在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例的生成、用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試、測(cè)試結(jié)果的分析以及測(cè)試報(bào)告的生成，操作簡單，提升工作效率。
[0099]請(qǐng)參閱圖3，圖3是本發(fā)明實(shí)施例中提供的一種數(shù)據(jù)庫資源回收系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示本發(fā)明實(shí)施例中的數(shù)據(jù)庫資源回收系統(tǒng)至少可以包括用例獲取模塊301、機(jī)械臂控制模塊302以及示波器配置模塊303。
[0100]用例獲取模塊301，用于獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置。
[0101]機(jī)械臂控制模塊302，用于根據(jù)用例獲取模塊301獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0102]示波器配置模塊303，用于根據(jù)用例獲取模塊301獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取機(jī)械臂控制模塊303中的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0103]具體實(shí)現(xiàn)中，針對(duì)不同測(cè)試信號(hào)，例如SMI (Serial Management Interface,串行管理接口)總線信號(hào)或眼圖信號(hào)等，示波器配置模塊303可以在特定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的特性模板中配置針對(duì)所述特定測(cè)試信號(hào)的測(cè)試用例中的配置參數(shù)，并根據(jù)經(jīng)過配置的特性模板配置所述示波器。示波器配置模塊303還可以根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，其中所述測(cè)試數(shù)據(jù)可以包括用例測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)和測(cè)試信號(hào)的波形數(shù)據(jù)
坐寸O
[0104]所述測(cè)試用例包括測(cè)試信號(hào)信息，作為一種可選的實(shí)施方式，本發(fā)明實(shí)施例中的機(jī)械臂控制模塊302可以如圖4所示，進(jìn)一步包括:
[0105]選取信息獲取單元401，用于根據(jù)所述測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息。
[0106]探頭獲取單元402，用于獲取與選取信息獲取單元401獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭。
[0107]機(jī)械臂控制單元403，用于根據(jù)用例獲取模塊301獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將探頭獲取單元402獲取到的探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0108]作為一種可選的實(shí)施方式，所述機(jī)械臂控制模塊302還可以包括:
[0109]選取信息識(shí)別單元404，用于通過所述機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息。
[0110]選取信息判斷單元405，用于判斷選取信息識(shí)別單元404識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與選取信息獲取單元401獲取到的探頭的選取信息是否匹配。
[0111]其中，探頭獲取單元402在獲取與探頭的選取信息匹配的探頭之前，機(jī)械臂固定探頭的位置可以分別安裝數(shù)字識(shí)別塊，本發(fā)明實(shí)施例所提及的探頭的頂部也安裝了對(duì)應(yīng)的數(shù)字識(shí)別塊，選取信息識(shí)別單元404可以通過機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息，選取信息判斷單元405判斷識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與選取信息獲取單元401根據(jù)測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取到的探頭的選取信息是否匹配。
[0112]若選取信息判斷單元405判斷選取信息識(shí)別單元404識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與選取信息獲取單元401獲取到的探頭的選取信息匹配，則觸發(fā)所述機(jī)械臂控制單元403根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述當(dāng)前探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0113]若所述選取信息判斷單元405判斷所述選取信息識(shí)別單元404識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述選取信息獲取單元401獲取到的探頭的選取信息不匹配，則觸發(fā)所述探頭獲取單元402控制所述機(jī)械臂抓取與所述獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭。
[0114]所述目標(biāo)測(cè)試器件包括印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料，作為一種可選的實(shí)施方式，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以包括:
[0115]用例生成模塊304，用于根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例，觸發(fā)所述用例獲取模塊301獲取所述測(cè)試用例。
[0116]作為一種可選的實(shí)施方式，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以包括:
[0117]用例修改模塊305，用于在所述用例生成模塊304生成所述測(cè)試用例后，針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。
[0118]所述測(cè)試用例包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段，作為一種可選的實(shí)施方式，本發(fā)明實(shí)施例中的用例修改模塊305可以如圖5所示，進(jìn)一步包括:
[0119]字段顯示單元501，用于顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，所述各個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)。[0120]用例修改單元502，用于根據(jù)用戶通過所述編輯接口針對(duì)所述字段顯示單元501顯示的測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)所述目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。
[0121]作為一種可選的實(shí)施方式，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以包括:
[0122]監(jiān)控模塊306，用于在所述機(jī)械臂控制模塊302根據(jù)所述用例獲取模塊301獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸時(shí)，通過光源和相機(jī)監(jiān)控所述機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0123]所述測(cè)試用例包括業(yè)務(wù)期望結(jié)果，作為一種可選的實(shí)施方式，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以包括:
[0124]數(shù)據(jù)分析模塊307，用于根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述示波器配置模塊303根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的所述與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
[0125]作為一種可選的實(shí)施方式，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還可以包括:
[0126]報(bào)告生成模塊308，用于根據(jù)所述測(cè)試過程和所述數(shù)據(jù)分析模塊307對(duì)所述獲取到的所述與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)
生口 ο
[0127]在圖3、圖4以及圖5所示的信號(hào)測(cè)試設(shè)備中，用例獲取模塊301獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，其中所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置，機(jī)械臂控制模塊302根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸，示波器配置模塊303根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，本發(fā)明實(shí)施例可在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，操作簡單，提升工作效率。
[0128]請(qǐng)參閱圖6，圖6是本發(fā)明另一實(shí)施例中提供的一種信號(hào)測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。其中，如圖6所示，該信號(hào)測(cè)試設(shè)備可以包括:至少一個(gè)處理器601，例如CPU，至少一個(gè)網(wǎng)絡(luò)接口 604，用戶接口 603，存儲(chǔ)器605，至少一個(gè)通信總線602以及顯示屏606。其中，通信總線602用于實(shí)現(xiàn)這些組件之間的連接通信。其中，用戶接口 603可以包括顯示屏(Display)、鍵盤(Keyboard)，可選用戶接口 603還可以包括標(biāo)準(zhǔn)的有線接口、無線接口。網(wǎng)絡(luò)接口 604可選的可以包括標(biāo)準(zhǔn)的有線接口、無線接口(如W1-FI接口)。存儲(chǔ)器605可以是高速RAM存儲(chǔ)器，也可以是非不穩(wěn)定的存儲(chǔ)器(non-volatile memory),例如至少一個(gè)磁盤存儲(chǔ)器。存儲(chǔ)器605可選的還可以是至少一個(gè)位于遠(yuǎn)離前述處理器601的存儲(chǔ)裝置。如圖6所示，作為一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)的存儲(chǔ)器605中可以包括操作系統(tǒng)、網(wǎng)絡(luò)通信模塊、用戶接口模塊以及信號(hào)測(cè)試應(yīng)用程序。
[0129]在圖6所示的信號(hào)測(cè)試設(shè)備中，網(wǎng)絡(luò)接口 604主要用于連接示波器和機(jī)械臂，與示波器或機(jī)械臂進(jìn)行數(shù)據(jù)通信；而處理器601可以用于調(diào)用存儲(chǔ)器605中存儲(chǔ)的信號(hào)測(cè)試應(yīng)用程序，并執(zhí)行以下操作:
[0130]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，該測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置；
[0131]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604控制機(jī)械臂將探頭與目標(biāo)測(cè)試器件中的用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；
[0132]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604配置示波器，并根據(jù)經(jīng)過配置的示波器獲取與探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0133]在一個(gè)實(shí)施例中，處理器601調(diào)用存儲(chǔ)器605中存儲(chǔ)的信號(hào)測(cè)試應(yīng)用程序還可以執(zhí)行以下操作:
[0134]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置；
[0135]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；
[0136]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0137]在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試用例包括測(cè)試信號(hào)信息，相應(yīng)地，處理器601根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸具體為:
[0138]處理器601通過網(wǎng)絡(luò)接口 604獲取到的所述測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息；
[0139]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604獲取與所述探頭的選取信息匹配的探頭；
[0140]通過網(wǎng)絡(luò)接口 604獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述獲取到的探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0141]在一個(gè)實(shí)施例中，處理器601獲取與所述探頭的選取信息匹配的探頭之前還可以執(zhí)行以下操作:
[0142]通過所述機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息；
[0143]判斷所述識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述獲取到的探頭的選取信息是否匹配；
[0144]若是，則觸發(fā)執(zhí)行根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述當(dāng)前探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸；
[0145]若否，則控制所述機(jī)械臂抓取與所述獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭。
[0146]在一個(gè)實(shí)施例中，所述目標(biāo)測(cè)試器件包括印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料，處理器601獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例之前，還可以執(zhí)行以下操作:
[0147]根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例。
[0148]在一個(gè)實(shí)施例中，處理器601根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例之后，還可以執(zhí)行以下操作:
[0149]針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。
[0150]在一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試用例包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段，處理器601針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改可以具體為:
[0151]顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，所述各個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)；
[0152]根據(jù)用戶通過所述編輯接口針對(duì)所述測(cè)試用例中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)所述目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。[0153]在一個(gè)實(shí)施例中，處理器601還執(zhí)行以下步驟:
[0154]根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸時(shí)，通過光源和相機(jī)監(jiān)控所述機(jī)械臂將所述探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
[0155]在一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試用例包括業(yè)務(wù)期望結(jié)果，處理器601還可以執(zhí)行步驟:
[0156]根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
[0157]在一個(gè)實(shí)施例中，處理器601根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析之后，還可以執(zhí)行步驟:
[0158]根據(jù)所述測(cè)試過程和所述對(duì)所述獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
[0159]圖6所示的信號(hào)測(cè)試設(shè)備可在硬件單元信號(hào)測(cè)試階段結(jié)合軟硬件，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，操作簡單，提升工作效率。
[0160]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過計(jì)算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-Only Memory, ROM)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(Random AccessMemory, RAM)等。
[0161]需要說明的是，在上述實(shí)施例中，對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重，某個(gè)實(shí)施例中沒有詳細(xì)描述的部分，可以參見其他實(shí)施例的相關(guān)描述。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該知悉，說明書中所描述的實(shí)施例均屬于優(yōu)選實(shí)施例，所涉及的動(dòng)作和單元并不一定是本發(fā)明所必須的。
[0162]本發(fā)明實(shí)施例方法中的步驟可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行順序調(diào)整、合并和刪減。
[0163]本發(fā)明實(shí)施例裝置中的模塊或單元可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行合并、劃分和刪減。
[0164]本發(fā)明實(shí)施例中所述模塊或單元,可以通過通用集成電路,例如CPU (CentralProcessing Unit,中央處理器)，或通過 ASIC (Application Specific IntegratedCircuit,專用集成電路)來實(shí)現(xiàn)。
[0165]以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的信號(hào)測(cè)試方法及設(shè)備進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
【權(quán)利要求】
1.一種信號(hào)測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括: 獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置； 根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸； 根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試用例包括測(cè)試信號(hào)信息； 所述根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸包括: 根據(jù)所述測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息； 獲取與所述探頭的選取信息匹配的探頭； 根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述獲取到的探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取與所述探頭的選取信息匹配的探頭之前，所述方法還包括: 通過所述機(jī)械臂識(shí) 別當(dāng)前探頭的選取信息； 判斷所述識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述獲取到的探頭的選取信息是否匹配；若是，則觸發(fā)執(zhí)行根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述當(dāng)前探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸； 若否，則控制所述機(jī)械臂抓取與所述獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭。
4.如權(quán)利要求1~3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述目標(biāo)測(cè)試器件包括印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料； 所述獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例之前，所述方法還包括: 根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例之后，所述方法還包括: 針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試用例包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段； 所述針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改包括: 顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，所述各個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)； 根據(jù)用戶通過所述編輯接口針對(duì)所述測(cè)試用例中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)所述目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。
7.如權(quán)利要求1~6任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸還包括: 通過光源和相機(jī)監(jiān)控所述機(jī)械臂將所述探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
8.如權(quán)利要求1~7任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試用例包括業(yè)務(wù)期望結(jié)果; 所述方法還包括: 根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析之后，所述方法還包括: 根據(jù)所述測(cè)試過程和所述對(duì)所述獲取到的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
10.一種信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備包括: 用例獲取模塊，用于獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試器件的測(cè)試用例，所述測(cè)試用例包括用例測(cè)試點(diǎn)的位置； 機(jī)械臂控制模塊，用于根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸； 示波器配置模塊，用于根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例配置示波器，并根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取所述機(jī)械臂控制模塊中的與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。`
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試用例包括測(cè)試信號(hào)信息； 所述機(jī)械臂控制模塊包括: 選取信息獲取單元，用于根據(jù)所述測(cè)試用例中的測(cè)試信號(hào)信息獲取探頭的選取信息； 探頭獲取單元，用于獲取與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭; 機(jī)械臂控制單元，用于根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述探頭獲取單元獲取到的探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
12.如權(quán)利要求11所述的信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述機(jī)械臂控制模塊還包括: 選取信息識(shí)別單元，用于通過所述機(jī)械臂識(shí)別當(dāng)前探頭的選取信息； 選取信息判斷單元，用于判斷所述選取信息識(shí)別單元識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息是否匹配； 若所述選取信息判斷單元判斷所述選取信息識(shí)別單元識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息匹配，則觸發(fā)所述機(jī)械臂控制單元根據(jù)所述獲取到的測(cè)試用例控制所述機(jī)械臂將所述當(dāng)前探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸； 若所述選取信息判斷單元判斷所述選取信息識(shí)別單元識(shí)別到的當(dāng)前探頭的選取信息與所述選取信息獲取單元獲取到的探頭的選取信息不匹配，則觸發(fā)所述探頭獲取單元控制所述機(jī)械臂抓取與所述獲取到的探頭的選取信息匹配的探頭。
13.如權(quán)利要求10~12任一項(xiàng)所述的信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述目標(biāo)測(cè)試器件包括印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料； 所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還包括:用例生成模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)測(cè)試器件中的印制電路板設(shè)計(jì)文件和器件資料生成所述測(cè)試用例，觸發(fā)所述用例獲取模塊獲取所述測(cè)試用例。
14.如權(quán)利要求13所述的信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還包括: 用例修改模塊，用于在所述用例生成模塊生成所述測(cè)試用例后，針對(duì)所述測(cè)試用例提供編輯接口，并根據(jù)用戶通過所述編輯接口提交的修改指令，對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修改。
15.如權(quán)利要求14所述的信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試用例包括至少一個(gè)關(guān)鍵字段； 所述用例修改模塊包括: 字段顯示單元，用于顯示所述測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段，所述各個(gè)關(guān)鍵字段分別與所述測(cè)試用例中的部分內(nèi)容一一對(duì)應(yīng)； 用例修改單元，用于根據(jù)用戶通過所述編輯接口針對(duì)所述字段顯示單元顯示的測(cè)試用例中的至少一個(gè)關(guān)鍵字段中的目標(biāo)關(guān)鍵字段進(jìn)行的修改，對(duì)所述目標(biāo)關(guān)鍵字段對(duì)應(yīng)的內(nèi)容進(jìn)行修改。
16.如權(quán)利要求10~15任一項(xiàng)所述的信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還包括: 監(jiān)控模塊，用于在所述機(jī)械臂控制模塊根據(jù)所述用例獲取模塊獲取到的測(cè)試用例控制機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸時(shí)，通過光源和相機(jī)監(jiān)控所述機(jī)械臂將探頭與所述目標(biāo)測(cè)試器件中的所述用例測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。
17.如權(quán)利要求10~16任一項(xiàng)所述的信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試用例包括業(yè)務(wù)期望結(jié)果； 所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還包括: 數(shù)據(jù)分析模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試用例中的業(yè)務(wù)期望結(jié)果，對(duì)所述示波器配置模塊根據(jù)所述經(jīng)過配置的示波器獲取到的所述與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
18.如權(quán)利要求17所述的信號(hào)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述信號(hào)測(cè)試設(shè)備還包括: 報(bào)告生成模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試過程和所述數(shù)據(jù)分析模塊對(duì)所述獲取到的所述與所述探頭接觸的用例測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到的分析結(jié)果生成測(cè)試報(bào)告。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK103698686SQ201310673886
【公開日】2014年4月2日 申請(qǐng)日期:2013年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月11日
【發(fā)明者】孔令國, 凌州, 汪盛 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司