電路測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種電路測試系統(tǒng)，包括測試設(shè)備、微控制器及開關(guān)組合，所述開關(guān)組合包括連接所述測試設(shè)備的第一開關(guān)、第二開關(guān)，所述第一開關(guān)與所述第二開關(guān)均連接所述微控制器，所述第一開關(guān)用于連接測試電路，所述第二開關(guān)用于連接另一測試電路，所述微控制器用于在接收到一觸發(fā)信號后開啟所述第一開關(guān)從而使來自所述測試電路的測試信號傳送給所述測試設(shè)備，并在一設(shè)定時間后斷開所述第一開關(guān)而開啟所述第二開關(guān)以使來自所述另一測試電路的測試信號傳送給所述測試設(shè)備。所述電路測試系統(tǒng)用于方便測試所述測試電路。
【專利說明】電路測試系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)，特別是一種電路測試系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 在機(jī)臺的各種測試中，常見的有顯示屏的顏色測試，內(nèi)存條插拔測試、自動關(guān)機(jī)測 試、自動音源測試、自動后端USB插拔測試、直流電壓轉(zhuǎn)換電路測試等。在直流電壓轉(zhuǎn)換電 路測試過程中，在測試每一組電壓轉(zhuǎn)換電路時，都需要重新插拔示波器探頭，連接到測試 點(diǎn)，該樣的測試方式，浪費(fèi)測試時間，增加儀器損耗，提高人力及設(shè)備成本，人工手動調(diào)節(jié)測 試通道所帶來的人力成本提高，測試效率低下，且誤操作頻繁。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 有鑒于此，有必要提供一種方便測試電壓轉(zhuǎn)換電路的電路測試系統(tǒng)。
[0004] -種電路測試系統(tǒng)，包括測試設(shè)備、微控制器及開關(guān)組合，所述開關(guān)組合包括連接 所述測試設(shè)備的第一開關(guān)、第二開關(guān)，所述第一開關(guān)與所述第二開關(guān)均連接所述微控制器， 所述第一開關(guān)用于連接測試電路，所述第二開關(guān)用于連接另一測試電路，所述微控制器用 于在接收到一觸發(fā)信號后開啟所述第一開關(guān)從而使來自所述測試電路的測試信號傳送給 所述測試設(shè)備，并在一設(shè)定時間后斷開所述第一開關(guān)而開啟所述第二開關(guān)W使來自所述另 一測試電路的測試信號傳送給所述測試設(shè)備。
[0005] 進(jìn)一步的改進(jìn)是；所述第一開關(guān)包括導(dǎo)通端、第一連接端及第二連接端，所述微控 制器連接所述第一開關(guān)的導(dǎo)通端，所述第一開關(guān)的第一連接端連接所述測試電路，所述第 一開關(guān)的第二連接端連接所述測試設(shè)備，所述第一開關(guān)的導(dǎo)通端用于在所述微控制器接收 所述觸發(fā)信號后導(dǎo)通，所述第一開關(guān)的第二連接端在所述第一開關(guān)的導(dǎo)通端導(dǎo)通后將所述 測試信號傳送至所述測試設(shè)備。
[0006] 進(jìn)一步的改進(jìn)是：所述第一開關(guān)為N溝道增強(qiáng)型M0S陽T，所述第一開關(guān)的導(dǎo)通端、 第一連接端及第二連接端分別對應(yīng)所述N溝道增強(qiáng)型M0SFET的柵極、源極及漏極。
[0007] 進(jìn)一步的改進(jìn)是；所述第二開關(guān)包括導(dǎo)通端、第一連接端及第二連接端，所述微控 制器連接所述第二開關(guān)的導(dǎo)通端，所述第二開關(guān)的第一連接端連接所述測試電路，所述第 二開關(guān)的第二連接端連接所述測試設(shè)備，所述第二開關(guān)的導(dǎo)通端用于在所述微控制器斷開 所述第一開關(guān)并開啟所述第二開關(guān)后導(dǎo)通，所述第二開關(guān)的第二連接端用于在所述第二開 關(guān)的導(dǎo)通端導(dǎo)通后將所述另一測試電路的測試信號傳送至所述測試設(shè)備。
[0008] 進(jìn)一步的改進(jìn)是：所述第二開關(guān)為N溝道增強(qiáng)型M0S陽T，所述第二開關(guān)的導(dǎo)通端、 第一連接端及第二連接端分別對應(yīng)所述N溝道增強(qiáng)型M0S陽T的柵極、源極及漏極。
[0009] 進(jìn)一步的改進(jìn)是：所述微控制器還連接比較電路，所述比較電路用于產(chǎn)生所述觸 發(fā)信號。
[0010] 進(jìn)一步的改進(jìn)是：所述微控制器用于連接所述比較電路的比較器的輸出端，所述 比較器的反向輸入端用于通過第一電阻連接所述比較電路的第一電源，所述比較器的正向 輸入端用于通過第二電阻連接所述比較電路的第二電源，所述微控制器用于在所述第二電 源的電壓大于所述第一電源的電壓時接收所述觸發(fā)信號。
[0011] 進(jìn)一步的改進(jìn)是：所述微控制器包括晶振輸入或外部時鐘輸入引腳及晶振輸出 引腳，所述微控制器還的晶振輸入或外部時鐘輸入引腳及晶振輸出引腳之間連接晶體振蕩 器，所述晶體振蕩器用于為所述微控制器產(chǎn)生時鐘頻率。
[0012] 進(jìn)一步的改進(jìn)是：所述微控制器包括外部程序存儲器使能引腳，所述微控制器的 外部程序存儲器使能引腳連接電源。
[0013] 進(jìn)一步的改進(jìn)是：所述微控制器為89C51系列單片機(jī)。
[0014] 上述電路測試系統(tǒng)中，所述微控制器接收所述觸發(fā)信號后處于工作狀態(tài)而開啟所 述第一開關(guān)從而使來自所述測試電路的測試信號傳送給所述測試設(shè)備，所述微控制器在所 述設(shè)定時間后斷開所述第一開關(guān)并開啟所述第二開關(guān)而使來自所述另一測試電路的另一 測試信號傳送給所述測試設(shè)備。所述電路測試系統(tǒng)用于方便測試所述測試電路。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015] 圖1是本發(fā)明電路測試系統(tǒng)一較佳實(shí)施方式的一原理圖。
[0016] 圖2是本發(fā)明電路測試系統(tǒng)一較佳實(shí)施方式的一電路連接圖。
[0017] 主要元件符號說明

【權(quán)利要求】
1. 一種電路測試系統(tǒng)，包括測試設(shè)備，其特征在于：所述電路測試系統(tǒng)還包括微控制 器及開關(guān)組合，所述開關(guān)組合包括連接所述測試設(shè)備的第一開關(guān)、第二開關(guān)，所述第一開關(guān) 與所述第二開關(guān)均連接所述微控制器，所述第一開關(guān)用于連接測試電路，所述第二開關(guān)用 于連接另一測試電路，所述微控制器用于在接收到一觸發(fā)信號后開啟所述第一開關(guān)從而使 來自所述測試電路的測試信號傳送給所述測試設(shè)備，并在一設(shè)定時間后斷開所述第一開關(guān) 而開啟所述第二開關(guān)以使來自所述另一測試電路的測試信號傳送給所述測試設(shè)備。
2. 如權(quán)利要求1所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述第一開關(guān)包括導(dǎo)通端、第一連 接端及第二連接端，所述微控制器連接所述第一開關(guān)的導(dǎo)通端，所述第一開關(guān)的第一連接 端連接所述測試電路，所述第一開關(guān)的第二連接端連接所述測試設(shè)備，所述第一開關(guān)的導(dǎo) 通端用于在所述微控制器接收所述觸發(fā)信號后導(dǎo)通，所述第一開關(guān)的第二連接端在所述第 一開關(guān)的導(dǎo)通端導(dǎo)通后將所述測試信號傳送至所述測試設(shè)備。
3. 如權(quán)利要求2所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述第一開關(guān)為N溝道增強(qiáng)型 MOSFET，所述第一開關(guān)的導(dǎo)通端、第一連接端及第二連接端分別對應(yīng)所述N溝道增強(qiáng)型 MOSFET的柵極、源極及漏極。
4. 如權(quán)利要求1所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述第二開關(guān)包括導(dǎo)通端、第一連 接端及第二連接端，所述微控制器連接所述第二開關(guān)的導(dǎo)通端，所述第二開關(guān)的第一連接 端連接所述測試電路，所述第二開關(guān)的第二連接端連接所述測試設(shè)備，所述第二開關(guān)的導(dǎo) 通端用于在所述微控制器斷開所述第一開關(guān)并開啟所述第二開關(guān)后導(dǎo)通，所述第二開關(guān)的 第二連接端用于在所述第二開關(guān)的導(dǎo)通端導(dǎo)通后將所述另一測試電路的測試信號傳送至 所述測試設(shè)備。
5. 如權(quán)利要求4所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述第二開關(guān)為N溝道增強(qiáng)型 MOSFET，所述第二開關(guān)的導(dǎo)通端、第一連接端及第二連接端分別對應(yīng)所述N溝道增強(qiáng)型 MOSFET的柵極、源極及漏極。
6. 如權(quán)利要求1所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述微控制器還連接比較電路，所 述比較電路用于產(chǎn)生所述觸發(fā)信號。
7. 如權(quán)利要求6所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述微控制器用于連接所述比較 電路的比較器的輸出端，所述比較器的反向輸入端用于通過第一電阻連接所述比較電路的 第一電源，所述比較器的正向輸入端用于通過第二電阻連接所述比較電路的第二電源，所 述微控制器用于在所述第二電源的電壓大于所述第一電源的電壓時接收所述觸發(fā)信號。
8. 如權(quán)利要求1所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述微控制器包括晶振輸入或外 部時鐘輸入引腳及晶振輸出引腳，所述微控制器還的晶振輸入或外部時鐘輸入引腳及晶振 輸出引腳之間連接晶體振蕩器，所述晶體振蕩器用于為所述微控制器產(chǎn)生時鐘頻率。
9. 如權(quán)利要求1所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述微控制器包括外部程序存儲 器使能引腳，所述微控制器的外部程序存儲器使能引腳連接電源。
10. 如權(quán)利要求1所述的電路測試系統(tǒng)，其特征在于：所述微控制器為89C51系列單片 機(jī)。
【文檔編號】G01R31/28GK104422872SQ201310360508
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月19日
【發(fā)明者】曹偉華, 郭雯 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司