測試rfid電子標(biāo)簽性能的方法及其裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提出的一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法及其裝置，所述檢測方法包括如下步驟：a.在測試距離S向電子標(biāo)簽發(fā)射激活信號，并接收電子標(biāo)簽反饋的應(yīng)答信號并獲取電子標(biāo)簽性能的判別數(shù)據(jù)；b.將判別數(shù)據(jù)與預(yù)置的用于確定電子標(biāo)簽性能的參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；c.根據(jù)判別數(shù)據(jù)與預(yù)置數(shù)據(jù)的比較結(jié)果確定電子標(biāo)簽的性能；通過本發(fā)明公開的測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法及裝置，能夠?qū)﹄娮訕?biāo)簽的性能進(jìn)行檢測，并準(zhǔn)確判斷電子標(biāo)簽的性能，防止安裝在車輛上的電子標(biāo)簽的信息無法讀取而出現(xiàn)的管理漏洞，并且測試方法簡單高效。
【專利說明】測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法及其裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法及其裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在智能交通領(lǐng)域，利用智能無線射頻識別(RFID)技術(shù)進(jìn)行交通信息的采集已得到廣泛運用，其基本的工作原理是:在車輛上安裝利用無源標(biāo)簽輸入車輛及駕駛?cè)说认嚓P(guān)交通管理信息后形成的電子標(biāo)簽(射頻卡)，然后在各預(yù)先布置的路面點安裝讀寫器，讀寫器生成電磁信號并通過讀寫天線以一定功率向無源電子標(biāo)簽發(fā)射，無源電子標(biāo)簽的標(biāo)簽天線接收該信號并被激活，電子標(biāo)簽(射頻卡)被激活后將射頻卡內(nèi)存儲的車輛信息以電磁信號的方式回饋給讀寫器，讀寫器通過解調(diào)等處理過程從而獲取車輛信息；由于電子標(biāo)簽在出廠時，不同批次的標(biāo)簽的性能可能存在瑕疵，當(dāng)電子標(biāo)簽被安裝在車輛后，安裝過程中經(jīng)常出現(xiàn)擠壓、折疊等因素，容易造成射頻卡損壞，而目前，還沒有能夠?qū)Π惭b后的電子標(biāo)簽進(jìn)行質(zhì)量檢測的方法，因此，容易造成車輛信息無法被識別，容易出現(xiàn)管理漏洞。
[0003]有鑒于此，需要提出一種對安裝后的電子標(biāo)簽的性能進(jìn)行檢測的方法及裝置，能夠?qū)﹄娮訕?biāo)簽的性能進(jìn)行檢測，并準(zhǔn)確判斷電子標(biāo)簽的性能，防止安裝在車輛上的電子標(biāo)簽的信息無法讀取而出現(xiàn)的管理漏洞，并且測試方法簡單高效。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明提出的一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法及裝置，能夠?qū)﹄娮訕?biāo)簽的性能進(jìn)行檢測，并準(zhǔn)確判斷電子標(biāo)簽的性能，防止安裝在車輛上的電子標(biāo)簽的信息無法讀取而出現(xiàn)的管理漏洞，并且測試方法簡單高效。
[0005]本發(fā)明公開的一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法，所述檢測方法包括如下步驟:
[0006]a.在測試距離S向電子標(biāo)簽發(fā)射激活信號，并接收電子標(biāo)簽反饋的應(yīng)答信號并獲取電子標(biāo)簽性能的判別數(shù)據(jù)；
[0007]b.將判別數(shù)據(jù)與預(yù)置的用于確定電子標(biāo)簽性能的參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；
[0008]c.根據(jù)判別數(shù)據(jù)與預(yù)置數(shù)據(jù)的比較結(jié)果確定電子標(biāo)簽的性能；
[0009]進(jìn)一步，步驟a中，所述判別數(shù)據(jù)包括在不同距離的應(yīng)答信號的接收成功率以及應(yīng)答信號的能量值；
[0010]進(jìn)一步，步驟b中，所述參考數(shù)據(jù)包括在不同距離的應(yīng)答信號的接收成功率基準(zhǔn)參數(shù)和應(yīng)答信號的能量值基準(zhǔn)參數(shù)；
[0011]進(jìn)一步，步驟c中，確定電子標(biāo)簽的性能包括:
[0012]Cl.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率高于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值高于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常；
[0013]C2.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率高于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常，但應(yīng)答信號受外界干擾。
[0014]C3.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值高于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常，但激活信號受外界干擾。
[0015]C4.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則調(diào)整測試點與被測試射頻卡的距離，返回步驟a繼續(xù)測試；
[0016]進(jìn)一步，步驟C4中進(jìn)一步包括:當(dāng)步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，在調(diào)整測試點與被測試電子標(biāo)簽的距離，返回步驟a繼續(xù)測試時對返回步驟a的次數(shù)進(jìn)行累加，當(dāng)返回步驟a的次數(shù)累加到預(yù)置值N時，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為異?；驌p壞。
[0017]本發(fā)明提供的一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的裝置，包括:
[0018]射頻信號收發(fā)單元，用于向被測試RFID電子標(biāo)簽發(fā)送激活信號并對RFID電子標(biāo)簽的應(yīng)答信號進(jìn)行接收；中央處理模塊，用于接收射頻信號收發(fā)單元輸出的應(yīng)答信號并進(jìn)行接收應(yīng)答信號的接收成功率及能量值進(jìn)行計算，并根據(jù)計算結(jié)果與預(yù)置的應(yīng)答信號的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行比較并輸出比較結(jié)果；
[0019]進(jìn)一步，所述中央處理模塊包括:
[0020]成功率計算單元，與所述射頻信號收發(fā)單元電連接，用于計算接收應(yīng)答信號的成功率并輸出；
[0021]應(yīng)答信號能量值測量單元，與所述射頻信號收發(fā)電源電連接，用于計算應(yīng)答信號的能量值并輸出；
[0022]中央處理器，與所述成功率計算單元和應(yīng)答信號能量值測試單元電連接并預(yù)置有應(yīng)答信號的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)，用于接收應(yīng)答信號的接收成功率和應(yīng)答信號的能量值并與預(yù)置的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行比較，并輸出比較結(jié)果；
[0023]進(jìn)一步，所述中央處理模塊還包括與所述中央處理器的電連接的用于對返回步驟a的次數(shù)進(jìn)行計數(shù)的計數(shù)器，當(dāng)計數(shù)器累加到大于等于預(yù)置值N時，累加器清零并向中央處理單元輸出清零信號；
[0024]進(jìn)一步，還包括用于測量當(dāng)前測試距離S的距離傳感器，所述距離傳感器與所述中央處理器的電連接并向中央處理器輸出距離信號；
[0025]進(jìn)一步，還包括與所述中央處理器電連接的顯示單元，用于對測試RFID電子標(biāo)簽性能的參數(shù)進(jìn)行顯示。本發(fā)明的有益效果:通過本發(fā)明公開的測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法及裝置，能夠?qū)﹄娮訕?biāo)簽的性能進(jìn)行檢測，并準(zhǔn)確判斷電子標(biāo)簽的性能，防止安裝在車輛上的電子標(biāo)簽的信息無法讀取而出現(xiàn)的管理漏洞，并且測試方法簡單高效；本發(fā)明所提供相應(yīng)的測試裝置，便于攜帶，使用靈活，可手持到檢測位置進(jìn)行測試工作，節(jié)約了人力成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步描述:
[0027]圖1為測試電子標(biāo)簽性能的方法的流程圖。
[0028]圖2為測試電子標(biāo)簽性能的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖?！揪唧w實施方式】
[0029]圖1為測試電子標(biāo)簽性能的方法的流程圖，圖2為測試電子標(biāo)簽性能的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，本發(fā)明公開的一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法，所述檢測方法包括如下步驟:
[0030]a.在測試距離S向電子標(biāo)簽發(fā)射激活信號，并接收電子標(biāo)簽反饋的應(yīng)答信號并獲取電子標(biāo)簽性能的判別數(shù)據(jù)；其中，測試距離S為測試點與被測的電子標(biāo)簽之間的距離，并且測試距離S可以根據(jù)測試需要進(jìn)行調(diào)整；
[0031]b.將判別數(shù)據(jù)與預(yù)置的用于確定電子標(biāo)簽性能的參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；
[0032]c.根據(jù)判別數(shù)據(jù)與預(yù)置數(shù)據(jù)的比較結(jié)果確定電子標(biāo)簽的性能；
[0033]本實施例中，步驟a中，所述判別數(shù)據(jù)包括在不同距離的應(yīng)答信號的接收成功率以及應(yīng)答信號的能量值；其中，接收應(yīng)答信號的成功率是指在同一時間間隔內(nèi)接收到應(yīng)答信號的總次數(shù)與發(fā)出激活信號總次數(shù)的比值；應(yīng)答信號的能量值是指在當(dāng)前測試距離S處的應(yīng)答信號的能量值。
[0034]本實施例中，步驟b中，所述參考數(shù)據(jù)包括在不同距離的應(yīng)答信號的接收成功率基準(zhǔn)參數(shù)和應(yīng)答信號的能量值基準(zhǔn)參數(shù)；其中，接收成功率基準(zhǔn)參數(shù)的在設(shè)置時應(yīng)考慮到外界干擾的因素，由于不同距離的測試環(huán)境所受到的干擾程度不一樣，即標(biāo)簽的性能受到距離因素的影響；因此，按照不同距離，所述成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)因距離不同而分別設(shè)置。例如，在本實施例中，選取3m范圍進(jìn)行測試，接收成功率基準(zhǔn)參數(shù)應(yīng)該不小于激活信號總發(fā)射次數(shù)的70% ;應(yīng)答信號的能量值基準(zhǔn)參數(shù)在設(shè)置時應(yīng)考慮到由于電磁信號在傳遞過程中衰減、外界干擾以及測試距離的因素，比如，電子標(biāo)簽出廠時已經(jīng)設(shè)定標(biāo)簽被激活后的發(fā)射功率，因此，在電子標(biāo)簽發(fā)射應(yīng)答信號的能量值是確定的，那么應(yīng)答信號的基準(zhǔn)參數(shù)在設(shè)置時應(yīng)小于電子標(biāo)簽發(fā)射應(yīng)答信號時的能量值。
[0035]本實施例中，步驟c中，確定電子標(biāo)簽的性能包括:
[0036]Cl.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率高于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值高于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常；
[0037]C2.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率高于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常，但應(yīng)答信號受外界干擾，由于接收成功率高于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，則可說明激活信號能夠有效地對電子標(biāo)簽進(jìn)行激活，并且電子標(biāo)簽在激活信號的作用下能夠正常響應(yīng)，應(yīng)答信號在外界的干擾下衰減過大從而造成應(yīng)答信號能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)；
[0038]C3.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值高于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常，但激活信號受外界干擾，由于激活行行好收到外界干擾，并不是每次發(fā)射的激活信號都能夠激活電子標(biāo)簽，但激活信號一旦能夠激活電子標(biāo)簽，應(yīng)答信號未受到干擾使其能量值均能高于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，因此，造成接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)；
[0039]C4.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則調(diào)整測試點與被測試電子標(biāo)簽的距離，返回步驟a繼續(xù)測試，調(diào)整距離時，一般為縮短測試點與被測試電子標(biāo)簽的距離，步驟C4中進(jìn)一步包括:當(dāng)步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，在調(diào)整測試點與被測試射頻卡的距離，返回步驟a繼續(xù)測試時對返回步驟a的次數(shù)進(jìn)行累加，對返回步驟a的次數(shù)通過計數(shù)器進(jìn)行累加，當(dāng)返回步驟a的次數(shù)累加到預(yù)置值N時，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為異?；驌p壞，其中，累加數(shù)的預(yù)置值N的設(shè)置，可以根據(jù)現(xiàn)場測試情況設(shè)定。
[0040]相應(yīng)地，本發(fā)明提供的一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的裝置，包括:
[0041]射頻信號收發(fā)單元，用于向被測試RFID電子標(biāo)簽發(fā)送激活信號并對RFID電子標(biāo)簽的應(yīng)答信號進(jìn)行接收；
[0042]中央處理模塊，用于接收射頻信號收發(fā)單元輸出的應(yīng)答信號并進(jìn)行接收應(yīng)答信號的接收成功率及能量值進(jìn)行計算，并根據(jù)計算結(jié)果與預(yù)置的應(yīng)答信號的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行比較并輸出比較結(jié)果，通過比較結(jié)果確定電子標(biāo)簽的性能。
[0043]本實施例中，所述中央處理模塊包括:
[0044]成功率計算單元，與所述射頻信號收發(fā)單元電連接，用于計算接收應(yīng)答信號的成功率并輸出，所述成功率計算單元通過對激活信號的發(fā)射總次數(shù)以及應(yīng)答信號的接收總次數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計計算，并且將應(yīng)答信號的接收總次數(shù)與激活信號發(fā)射的總次數(shù)的比值作為成功率信號輸出；
[0045]應(yīng)答信號能量值測量單元，與所述射頻信號收發(fā)電源電連接，用于計算應(yīng)答信號的能量值并輸出，應(yīng)答信號能量值測量單元對當(dāng)前測試距離S處接收到的應(yīng)答信號的能量值進(jìn)行測量并輸出能量值信號；
[0046]中央處理器，與所述成功率計算單元和應(yīng)答信號能量值測試單元電連接并預(yù)置有應(yīng)答信號的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)，用于接收應(yīng)答信號的接收成功率和應(yīng)答信號的能量值并與預(yù)置的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行比較，并輸出比較結(jié)果。
[0047]本實施例中，所述中央處理模塊還包括與所述中央處理器的電連接的用于對返回步驟a的次數(shù)進(jìn)行計數(shù)的計數(shù)器，并且計數(shù)器將返回步驟a的次數(shù)傳送到中央處理器，中央處理器將當(dāng)前累加次數(shù)與預(yù)置值N進(jìn)行比較，當(dāng)計數(shù)器累加次數(shù)大于或等于預(yù)置值N時，中央處理器向計數(shù)器發(fā)送清零指令并使計數(shù)器清零，此時中央處理器輸出電子標(biāo)簽性能的判定結(jié)果并判定電子標(biāo)簽的性能為異?；驌p壞，當(dāng)計數(shù)器的計數(shù)累加值小于預(yù)置值N時，則調(diào)整當(dāng)前測試點與被測試電子標(biāo)簽的距離，再次測試，并且計數(shù)器的技術(shù)加I。
[0048]本實施例中，還包括用于測量當(dāng)前測試距離S的距離傳感器，所述距離傳感器與所述中央處理器的電連接并向中央處理器輸出距離信號，距離傳感器對當(dāng)前檢測點與被測試電子標(biāo)簽的距離進(jìn)行測試并輸出距離信號，當(dāng)需要重新調(diào)整測試距離時，則距離傳感器將調(diào)整后的距離進(jìn)行測量并輸出距離信號給中央處理器。本實施例中，還包括與所述中央處理器電連接的顯示單元，用于對測試RFID電子標(biāo)簽性能的參數(shù)進(jìn)行顯示，便于測試者進(jìn)行直觀的觀察以及結(jié)論的得出；本測試裝置的還設(shè)置有供電單元以及存儲單元，供電單元可以采用蓄電池，也可以采用通過市電轉(zhuǎn)換為直流電供電，但是，為了便于攜帶以及移動，一般采用蓄電池供電，存儲單元對測試過程中的參數(shù)進(jìn)行記錄備案。當(dāng)然，本裝置還可設(shè)置與所述中央處理器連接的鍵盤(圖中未標(biāo)出)，所述鍵盤用于在測試環(huán)境中對所述成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，便于指令的輸入和更改。
[0049]最后說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【權(quán)利要求】
1.一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法，其特征在于:所述檢測方法包括如下步驟: a.在測試距離S向電子標(biāo)簽發(fā)射激活信號，并接收電子標(biāo)簽反饋的應(yīng)答信號并獲取電子標(biāo)簽性能的判別數(shù)據(jù)； b.將判別數(shù)據(jù)與預(yù)置的用于確定電子標(biāo)簽性能的參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較； c.根據(jù)判別數(shù)據(jù)與預(yù)置數(shù)據(jù)的比較結(jié)果確定電子標(biāo)簽的性能。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法，其特征在于:步驟a中，所述判別數(shù)據(jù)包括在不同距離的應(yīng)答信號的接收成功率以及應(yīng)答信號的能量值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法，其特征在于:步驟b中，所述參考數(shù)據(jù)包括在不同距離的應(yīng)答信號的接收成功率基準(zhǔn)參數(shù)和應(yīng)答信號的能量值基準(zhǔn)參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法，其特征在于:步驟c中，確定電子標(biāo)簽的性能包括: Cl.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率高于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值高于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常； C2.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率高于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常，但應(yīng)答信號受外界干擾。 C3.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值高于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為正常，但激活信號受外界干擾。 C4.在步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，則調(diào)整測試點與被測試射頻卡的距離，返回步驟a繼續(xù)測試。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的方法，其特征在于:步驟C4中進(jìn)一步包括:當(dāng)步驟b中的比較結(jié)果為當(dāng)前距離S的應(yīng)答信號的接收成功率低于成功率基準(zhǔn)參數(shù)，應(yīng)答信號的能量值低于能量值基準(zhǔn)參數(shù)，在調(diào)整測試點與被測試電子標(biāo)簽的距離，返回步驟a繼續(xù)測試時對返回步驟a的次數(shù)進(jìn)行累加，當(dāng)返回步驟a的次數(shù)累加到預(yù)置值N時，則確定RFID電子標(biāo)簽的性能為異?；驌p壞。
6.一種測試RFID電子標(biāo)簽性能的裝置，其特征在于:包括: 射頻信號收發(fā)單元，用于向被測試RFID電子標(biāo)簽發(fā)送激活信號并對RFID電子標(biāo)簽的應(yīng)答信號進(jìn)行接收； 中央處理模塊，用于接收射頻信號收發(fā)單元輸出的應(yīng)答信號并進(jìn)行接收應(yīng)答信號的接收成功率及能量值進(jìn)行計算，并根據(jù)計算結(jié)果與預(yù)置的應(yīng)答信號的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行比較并輸出比較結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的裝置，其特征在于:所述中央處理模塊包括: 成功率計算單元，與所述射頻信號收發(fā)單元電連接，用于計算接收應(yīng)答信號的成功率并輸出； 應(yīng)答信號能量值測量單元，與所述射頻信號收發(fā)電源電連接，用于計算應(yīng)答信號的能量值并輸出；中央處理器，與所述成功率計算單元和應(yīng)答信號能量值測試單元電連接并預(yù)置有應(yīng)答信號的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)，用于接收應(yīng)答信號的接收成功率和應(yīng)答信號的能量值并與預(yù)置的成功率基準(zhǔn)參數(shù)和能量值基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行比較，并輸出比較結(jié)果。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的裝置，其特征在于:所述中央處理模塊還包括與所述中央處理器的電連接的用于對返回步驟a的次數(shù)進(jìn)行計數(shù)的計數(shù)器，當(dāng)計數(shù)器累加到大于等于預(yù)置值N時，累加器清零并向中央處理單元輸出清零信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的裝置，其特征在于:還包括用于測量當(dāng)前測試距離S的距離傳感器，所述距離傳感器與所述中央處理器的電連接并向中央處理器輸出距離信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述測試RFID電子標(biāo)簽性能的裝置，其特征在于:還包括與所述中央處理器電連接的顯示單元，用于對測試RFID電子標(biāo)簽性能的參數(shù)進(jìn)行顯示。
【文檔編號】G01R31/00GK103487676SQ201310285080
【公開日】2014年1月1日 申請日期:2013年7月8日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月8日
【發(fā)明者】趙明 申請人:重慶市城投金卡信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司