導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于導(dǎo)電玻璃檢測(cè)設(shè)備【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說(shuō)是一種導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)，包含有一機(jī)臺(tái)、一動(dòng)力單元、一移動(dòng)平臺(tái)、一第一真空吸附式托盤(pán)組、一第二真空吸附式托盤(pán)組、一待測(cè)卡匣、一良品卡匣、一不良品卡匣、一校位裝置、一檢測(cè)平臺(tái)、一框架、至少一影像對(duì)位裝置及一電測(cè)單元；由所述第一真空吸附式托盤(pán)組對(duì)待測(cè)卡匣內(nèi)的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取料及將導(dǎo)電玻璃送入于檢測(cè)平臺(tái)內(nèi)的送料，另由所述第二真空吸附式托盤(pán)組對(duì)檢測(cè)平臺(tái)內(nèi)的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取料，并將所述導(dǎo)電玻璃送入所述良品卡匣或不良品卡匣內(nèi)的送料。本發(fā)明能達(dá)到分工及減少等待時(shí)間的功效，進(jìn)而大幅地提升檢測(cè)效率。
【專利說(shuō)明】導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于導(dǎo)電玻璃檢測(cè)設(shè)備【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說(shuō)是一種導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]一般對(duì)導(dǎo)電玻璃進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，主要是由一托盤(pán)將一待測(cè)的導(dǎo)電玻璃自一待測(cè)卡匣內(nèi)取出，再由所述托盤(pán)送入于一檢測(cè)平臺(tái)上進(jìn)行檢測(cè)，待檢測(cè)完畢后，再由所述托盤(pán)將所述導(dǎo)電玻璃依檢測(cè)結(jié)果而送入于一良品卡匣或不良品卡匣內(nèi)，接著再由所述托盤(pán)重復(fù)地進(jìn)行將導(dǎo)電玻璃自一待測(cè)卡匣內(nèi)取出、送入檢測(cè)平臺(tái)、自檢測(cè)平臺(tái)取出、送入良品卡匣或不良品卡匣的程序。
[0003]然而，由于移動(dòng)導(dǎo)電玻璃的動(dòng)作都是由同一托盤(pán)所進(jìn)行，因此在每一程序進(jìn)行前幾乎都需等待托盤(pán)一段時(shí)間，尤其是在檢測(cè)完畢后，由所述托盤(pán)將所述導(dǎo)電玻璃依檢測(cè)結(jié)果而送入于一良品卡匣或不良品卡匣內(nèi)，接著再由所述托盤(pán)重復(fù)地進(jìn)行將導(dǎo)電玻璃自一待測(cè)卡匣內(nèi)取出的程序中，必須等待相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間，而有效率不佳的問(wèn)題由此可見(jiàn)，上述常用設(shè)備仍有很多缺陷，并不是一完善的設(shè)計(jì)，而亟待加以改良。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)，該導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)具有雙托盤(pán)能進(jìn)行分工的移動(dòng)，以增進(jìn)檢測(cè)的效率。
[0005]為了達(dá)成上述發(fā)明目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
[0006]—種導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng),包括有:
[0007]一機(jī)臺(tái)；
[0008]一動(dòng)力單元，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上，用于輸出沿一 Z軸進(jìn)行上、下直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)的動(dòng)力及旋轉(zhuǎn)的動(dòng)力；
[0009]一移動(dòng)平臺(tái)，位于所述機(jī)臺(tái)上，并于所述動(dòng)力單元連接，通過(guò)所述動(dòng)力單元所輸出的動(dòng)力所驅(qū)使，而沿Z軸進(jìn)行上、下的直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)及旋轉(zhuǎn)；
[0010]一第一真空吸附式托盤(pán)組，設(shè)置于所述移動(dòng)平臺(tái)上，并可于所述移動(dòng)平臺(tái)上依據(jù)設(shè)定的路徑進(jìn)行上升、吸附、下降及釋放的路徑位移；
[0011]一第二真空吸附式托盤(pán)組，設(shè)置于所述移動(dòng)平臺(tái)上，并可于所述移動(dòng)平臺(tái)上依據(jù)設(shè)定的路徑進(jìn)行上升、吸附、下降及釋放的路徑位移；
[0012]一待測(cè)卡匣，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上，供多個(gè)待測(cè)的導(dǎo)電玻璃加以容置；
[0013]一良品卡匣，設(shè)直于所述機(jī)臺(tái)上；
[0014]一不良品卡匣，設(shè)直于所述機(jī)臺(tái)上；
[0015]一校位裝置，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上，可進(jìn)行精密而細(xì)微的X軸、Y軸、Z軸及旋轉(zhuǎn)的位移調(diào)整；
[0016]一檢測(cè)平臺(tái)，設(shè)置于所述校位裝置上，并通過(guò)所述校位裝置所連動(dòng)，以供一導(dǎo)電玻璃加以放置；
[0017]一框座，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上；
[0018]多個(gè)影像對(duì)位裝置，分別設(shè)置于所述第一真空吸附式托盤(pán)組、第二真空吸附式托盤(pán)組及所述框座上，并可對(duì)所述檢測(cè)平臺(tái)上的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取像或者對(duì)所述待測(cè)卡匣、所述良品卡匣、所述不良品卡匣的導(dǎo)電的導(dǎo)電玻璃檢測(cè)位置進(jìn)行取像；
[0019]一電測(cè)單元，設(shè)置于所述框座上，用于對(duì)位于所述檢測(cè)平臺(tái)上的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行接觸測(cè)試；
[0020]本發(fā)明還包含有兩個(gè)定位塊，設(shè)置于所述檢測(cè)平臺(tái)上，并位于所述檢測(cè)區(qū)的相鄰兩側(cè)，使由所述兩基準(zhǔn)邊與所述兩定位塊共同地分位于所述檢測(cè)區(qū)的四周邊位置上，且所述兩定位塊并可朝向檢測(cè)區(qū)進(jìn)行靠近與遠(yuǎn)離的往復(fù)直線位移。
[0021]所述影像對(duì)位裝置位于所述檢測(cè)平臺(tái)的上方，所述影像對(duì)位裝置具有一影像擷取單元及一微調(diào)機(jī)構(gòu)，所述影像擷取單元用于對(duì)位于所述檢測(cè)區(qū)上的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取像，所述微調(diào)機(jī)構(gòu)連接于所述影像擷取單元與所述框座之間，用于細(xì)微調(diào)整所述影像擷取單元的位置。
[0022]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)及有益效果是:本發(fā)明由所述第一真空吸附式托盤(pán)組對(duì)待測(cè)卡匣內(nèi)的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取料及將導(dǎo)電玻璃送入于檢測(cè)平臺(tái)內(nèi)的送料，另由所述第二真空吸附式托盤(pán)組對(duì)檢測(cè)平臺(tái)內(nèi)的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取料，并將所述導(dǎo)電玻璃送入于所述良品卡匣或不良品卡匣內(nèi)的送料，而能達(dá)到分工及減少等待時(shí)間的功效，進(jìn)而大幅地提升檢測(cè)效率。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0023]圖1為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的立體組合圖。
[0024]圖2為圖1所示實(shí)施例的局部立體組合圖。
[0025]圖2A為圖2的A部分的局部放大圖。
[0026]圖2B為圖2的B部分的局部放大圖。
[0027]圖3至圖13為圖1所示實(shí)施例的動(dòng)作示意圖。
[0028]圖3A為本發(fā)明的校位裝置、檢測(cè)平臺(tái)、兩定位塊的放大圖。
[0029]圖5A為圖5的側(cè)視圖。
[0030]其中:1為機(jī)臺(tái)，2為動(dòng)力單元，3為移動(dòng)平臺(tái)，41為第一真空吸附式托盤(pán)組，42為第二真空吸附式托盤(pán)組，51為待測(cè)卡匣，52為良品卡匣，53為不良品卡匣，61為校位裝置，62為檢測(cè)平臺(tái)，621為檢測(cè)區(qū)，622為基準(zhǔn)邊，623為真空吸附孔，624為凹槽，63為定位塊，7為框座，8為影像對(duì)位裝置，81為影像擷取單元，82為微調(diào)機(jī)構(gòu)，9為電測(cè)單元，91為電測(cè)移動(dòng)件，92為電測(cè)頭99為導(dǎo)電玻璃。

【具體實(shí)施方式】
[0031]如圖1?13所示，是本發(fā)明所提供一較佳實(shí)施例的導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)，其主要包含有一機(jī)臺(tái)1、一動(dòng)力單元2，一移動(dòng)平臺(tái)3、一第一真空吸附式托盤(pán)組41、一第二真空吸附式托盤(pán)組42、一待測(cè)卡匣51、一良品卡匣52、一不良品卡匣53、一校位裝置61、一檢測(cè)平臺(tái)62、兩定位塊63、一框座7、兩影像對(duì)位裝置8、一電測(cè)單元9及一控制器(圖中未示)。
[0032]如圖1?2所示，所述機(jī)臺(tái)I是可穩(wěn)固地置放于一地面(或其它平面)上。
[0033]所述動(dòng)力單元2是設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)I上，用于輸出沿一 Z軸進(jìn)行上、下直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)的動(dòng)力及旋轉(zhuǎn)的動(dòng)力。
[0034]所述移動(dòng)平臺(tái)3是位于所述機(jī)臺(tái)I上并與所述動(dòng)力單元2連接，通過(guò)所述動(dòng)力單元2所輸出的動(dòng)力而被驅(qū)動(dòng)地進(jìn)行上、下的Z軸直線往復(fù)移動(dòng)及旋轉(zhuǎn)。
[0035]所述第一真空吸附式托盤(pán)組41，設(shè)置于所述移動(dòng)平臺(tái)3上，并可于所述移動(dòng)平臺(tái)3上依據(jù)設(shè)定的路徑進(jìn)行上升、吸附、下降及釋放的路徑位移。
[0036]所述第二真空吸附式托盤(pán)組42，設(shè)置于所述移動(dòng)平臺(tái)3上，并可于所述移動(dòng)平臺(tái)3上依據(jù)設(shè)定的路徑進(jìn)行上升、吸附、下降及釋放的路徑位移。
[0037]所述待測(cè)卡匣51，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)I上，并位于所述移動(dòng)平臺(tái)3的一側(cè)位置上，通過(guò)所述待測(cè)卡匣51供多個(gè)待測(cè)的導(dǎo)電玻璃99加以容置。
[0038]如圖1?2、圖2A所示,所述良品卡匣52設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)I上,并位于所述移動(dòng)平臺(tái)3的另一側(cè)位置上，通過(guò)所述良品卡匣52供測(cè)試后被判定為良品的導(dǎo)電玻璃99加以容置。
[0039]所述不良品卡匣53設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)I上，并位于所述移動(dòng)平臺(tái)3的另一側(cè)位置上，通過(guò)所述不良品卡匣53供測(cè)試后被判定為不良品的導(dǎo)電玻璃99加以容置。
[0040]所述校位裝置61設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)I上，并位于所述移動(dòng)平臺(tái)3的一側(cè)，所述校位裝置61可進(jìn)行精密而細(xì)微的X軸、Y軸、Z軸及旋轉(zhuǎn)的位移調(diào)整。
[0041]如圖1?3、圖3A所示，所述檢測(cè)平臺(tái)62，設(shè)置于所述校位裝置61上，并通過(guò)所述校位裝置61所連動(dòng)，所述檢測(cè)平臺(tái)62上具有一檢測(cè)區(qū)621及兩垂直相鄰于所述檢測(cè)區(qū)621邊緣的基準(zhǔn)邊622，所述檢測(cè)區(qū)621上并具有多個(gè)以預(yù)定間距排列的真空吸附孔623，以對(duì)所述檢測(cè)區(qū)621產(chǎn)生真空吸力；而所述檢測(cè)區(qū)621于其一端的基準(zhǔn)邊622上具有供第一、第二真空吸附式托盤(pán)組41、42伸入的凹槽624。
[0042]所述兩定位塊63設(shè)置于所述檢測(cè)平臺(tái)62上，并位于所述檢測(cè)區(qū)621的相鄰兩側(cè)，使由所述兩基準(zhǔn)邊622與所述兩定位塊63共同地分位于所述檢測(cè)區(qū)621的四周邊位置上，且所述兩定位塊63并可朝向檢測(cè)區(qū)621進(jìn)行靠近與遠(yuǎn)離的往復(fù)直線位移。
[0043]所述框座7設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)I上，并位于所述檢測(cè)平臺(tái)62的周邊而具有一預(yù)定高度。
[0044]如圖1?2、圖2B及圖7，所述影像對(duì)位裝置8，分別設(shè)置于所述第一、第二真空吸附式托盤(pán)組41、42及框座7上，并位于所述檢測(cè)平臺(tái)62的上方，所述各影像對(duì)位裝置8分別具有一影像擷取單元81及一微調(diào)機(jī)構(gòu)82，所述影像擷取單元81用于對(duì)位于所述檢測(cè)區(qū)621上的待測(cè)導(dǎo)電玻璃99進(jìn)行取像，所述微調(diào)機(jī)構(gòu)82是連接于所述影像擷取單元81與所述框座7之間，用以細(xì)微調(diào)整所述影像擷取單元81的位置；或者通過(guò)設(shè)置于第一、第二真空吸附式托盤(pán)組41、42的影像對(duì)位裝置8對(duì)所述待測(cè)卡匣51、所述良品卡匣52、所述不良品卡匣53的導(dǎo)電的導(dǎo)電玻璃99檢測(cè)或者對(duì)所述檢測(cè)平臺(tái)62上的導(dǎo)電玻璃99位置進(jìn)行取像；值得一提的是:當(dāng)檢測(cè)待測(cè)卡匣51時(shí)所述影像對(duì)位裝置8先檢測(cè)并由控制器紀(jì)錄于待測(cè)卡匣51待測(cè)的導(dǎo)電玻璃99的位置編號(hào)并使第一、第二真空吸附式托盤(pán)組41、42依據(jù)設(shè)定路徑進(jìn)行上升、吸附、下降及釋放的路徑位移。
[0045]如圖1?2及圖8所示,所述電測(cè)單元9,具有一電測(cè)移動(dòng)件91及一電測(cè)頭92 ;所述電測(cè)移動(dòng)件91設(shè)置于所述框座7上，并可沿Z軸進(jìn)行直線的往復(fù)位移，所述電測(cè)頭92是連接于所述電測(cè)移動(dòng)件91上，用于對(duì)位于所述檢測(cè)區(qū)621上的待測(cè)導(dǎo)電玻璃99進(jìn)行電氣接觸測(cè)試。
[0046]所述控制器(圖中未示)，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)I上，并與所述動(dòng)力單元2、第一真空吸附式托盤(pán)組41、第二真空吸附式托盤(pán)組42、校位裝置61、檢測(cè)平臺(tái)62、定位塊63、影像對(duì)位裝置8及所述電測(cè)單元9電性連接，以控制所述動(dòng)力單元2、第一真空吸附式托盤(pán)組41、第二真空吸附式托盤(pán)組42、校位裝置61、檢測(cè)平臺(tái)62、定位塊63、影像對(duì)位裝置8及所述電測(cè)單元9的作動(dòng)與停止，并能進(jìn)行對(duì)所述影像擷取單元81的影像對(duì)位訊號(hào)進(jìn)行判讀及對(duì)所述電測(cè)頭92的接觸測(cè)試訊號(hào)進(jìn)行判讀。
[0047]本發(fā)明的使用方式介紹如下:
[0048]首先，由所述影像對(duì)位裝置8先檢測(cè)并由控制器紀(jì)錄于待測(cè)卡匣51待測(cè)的導(dǎo)電玻璃99的位置編號(hào)使所述第一真空吸附式托盤(pán)組41伸入于所述待測(cè)卡匣51內(nèi)，以將一待測(cè)的導(dǎo)電玻璃99以依據(jù)設(shè)定路徑先將第一真空吸附式托盤(pán)組41上升，將導(dǎo)電玻璃99分離于待測(cè)卡匣51并對(duì)其真空吸附的方式加以取出(如圖3所示)，接著便由所述動(dòng)力單元2所產(chǎn)生的動(dòng)力旋轉(zhuǎn)所述移動(dòng)平臺(tái)3，使所述第一真空吸附式托盤(pán)組41朝向所述檢測(cè)平臺(tái)62(如圖4所示)，接著再由所述第一真空吸附式托盤(pán)組41將所吸附的導(dǎo)電玻璃99伸入于所述檢測(cè)平臺(tái)62，并放置于所述檢測(cè)區(qū)621上(如圖5所示)；值得一提的是第一真空吸附式托盤(pán)組41經(jīng)由檢測(cè)平臺(tái)62的凹槽624將導(dǎo)電玻璃99傳送到檢測(cè)區(qū)621，此時(shí)第一真空吸附式托盤(pán)組41先下降將導(dǎo)電玻璃99放在檢測(cè)區(qū)621并經(jīng)由凹槽624退出(如圖5A所示)，接著，位于所述檢測(cè)區(qū)621周邊位置的兩定位塊63，則將位于所述檢測(cè)區(qū)621上的導(dǎo)電玻璃
99往所述兩基準(zhǔn)邊622上加以抵靠(如圖6所示)，并由所述檢測(cè)區(qū)621上的真空吸附孔623產(chǎn)生吸力，而將所述導(dǎo)電玻璃99穩(wěn)固地固定于所述檢測(cè)區(qū)621中，并由所述影像對(duì)位裝置8的影像擷取單元81對(duì)所述導(dǎo)電玻璃99進(jìn)行對(duì)位的影像擷取(如圖7所示)，并將所擷取的影像訊號(hào)傳遞至所述控制器中加以判讀，以判讀所述導(dǎo)電玻璃99是否位于正確位置，如非位于正確位置時(shí)，則由所述控制器驅(qū)動(dòng)所述校位裝置61進(jìn)行X、Y、Z軸的移動(dòng)及旋轉(zhuǎn)，來(lái)使所述導(dǎo)電玻璃99能被校位于正確位置處，再由所述電測(cè)單元9的電測(cè)移動(dòng)件91帶動(dòng)所述電測(cè)頭92與所述導(dǎo)電玻璃99接觸(如圖8所示)，以檢測(cè)所述導(dǎo)電玻璃99的電性是否導(dǎo)通，并將檢測(cè)后的訊號(hào)傳遞至所述控制器中，以由所述控制器判讀所述導(dǎo)電玻璃99為良品或?yàn)椴涣计?，而在前述所述定位塊63將導(dǎo)電玻璃99往所述兩基準(zhǔn)邊622上加以抵靠的動(dòng)作至所述電測(cè)頭92接觸于所述導(dǎo)電玻璃99上的動(dòng)作期間內(nèi)，所述移動(dòng)平臺(tái)3再度受所述動(dòng)力單元2所驅(qū)使而旋轉(zhuǎn)，使所述第一真空吸附式托盤(pán)組41朝向于所述待測(cè)卡匣51的方向(如圖9所示)，并以將另一待測(cè)的導(dǎo)電玻璃99以真空吸附的方式加以取出，再由所述動(dòng)力單元2所產(chǎn)生的動(dòng)力旋轉(zhuǎn)所述移動(dòng)平臺(tái)3，使所述第一真空吸附式托盤(pán)組41朝向所述檢測(cè)平臺(tái)62(如圖10所示)，如此一來(lái)，位于所述檢測(cè)區(qū)621中被所述電測(cè)頭92所檢測(cè)后的導(dǎo)電玻璃99，便可由所述第二真空吸附式托盤(pán)組42所取出，同時(shí)并由所述第一真空吸附式托盤(pán)組41將待測(cè)的導(dǎo)電玻璃99送入于所述檢測(cè)區(qū)621中(如圖11所示)，以再度進(jìn)行前述的定位塊63推移、真空吸附、影像擷取、電測(cè)接觸的程序，而在進(jìn)行上述的作業(yè)時(shí)，所述第二真空吸附式托盤(pán)組42則將已檢測(cè)后的導(dǎo)電玻璃99依控制器的判讀，而送入于良品卡匣52或不良品卡匣53內(nèi)(如圖12或圖13所示)，而所述第一真空吸附式托盤(pán)組41則再將待測(cè)卡匣51內(nèi)的待測(cè)導(dǎo)電玻璃99加以取出，以等待下一次送入于所述檢測(cè)區(qū)621上；值得一提的是，當(dāng)?shù)诙婵瘴绞酵斜P(pán)組42要進(jìn)行導(dǎo)電玻璃99放置于良品卡匣52或不良品卡匣53時(shí)，設(shè)置于第二真空吸附式托盤(pán)組42的影像對(duì)位裝置8先檢測(cè)良品卡匣52或不良品卡匣53是否有空位容置導(dǎo)電玻璃99，并由控制器紀(jì)錄提供路徑，將導(dǎo)電玻璃99容置于良品卡匣52或不良品卡匣53中。
[0049]綜上所述，本發(fā)明由所述第一真空吸附式托盤(pán)組41對(duì)位于所述待測(cè)卡匣51內(nèi)的導(dǎo)電玻璃99進(jìn)行取料及將導(dǎo)電玻璃99送入于檢測(cè)平臺(tái)62內(nèi)的送料，而由所述第二真空吸附式托盤(pán)組42對(duì)檢測(cè)平臺(tái)62內(nèi)的導(dǎo)電玻璃99進(jìn)行取料，并將所述導(dǎo)電玻璃99送入于所述良品卡匣52或不良品卡匣53內(nèi)的送料，而能達(dá)到分工的效率。
[0050]況且，所述第一真空吸附式托盤(pán)組41對(duì)位于所述待測(cè)卡匣51內(nèi)的導(dǎo)電玻璃99進(jìn)行取料，及所述第二真空吸附式托盤(pán)組42將所述導(dǎo)電玻璃99送入于所述良品卡匣52或不良品卡匣53內(nèi)的送料，都是在所述檢測(cè)區(qū)621內(nèi)的導(dǎo)電玻璃99受到定位塊63的推抵、校正裝置的校位、影像對(duì)位裝置8的影像擷取及電測(cè)單元9的電測(cè)同時(shí)加以進(jìn)行，而能避免各構(gòu)件間產(chǎn)生等待的時(shí)間，以大幅地增進(jìn)檢測(cè)的效率。
【權(quán)利要求】
1.一種導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括: 一機(jī)臺(tái)； 一動(dòng)力單元，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上，用于輸出沿一 Z軸進(jìn)行上、下直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)的動(dòng)力及旋轉(zhuǎn)的動(dòng)力； 一移動(dòng)平臺(tái)，位于所述機(jī)臺(tái)上，并于所述動(dòng)力單元連接，通過(guò)所述動(dòng)力單元所輸出的動(dòng)力所驅(qū)使，而沿Z軸進(jìn)行上、下的直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)及旋轉(zhuǎn)； 一第一真空吸附式托盤(pán)組，設(shè)置于所述移動(dòng)平臺(tái)上，并可于所述移動(dòng)平臺(tái)上依據(jù)設(shè)定的路徑進(jìn)行上升、吸附、下降及釋放的路徑位移； 一第二真空吸附式托盤(pán)組，設(shè)置于所述移動(dòng)平臺(tái)上，并可于所述移動(dòng)平臺(tái)上依據(jù)設(shè)定的路徑進(jìn)行上升、吸附、下降及釋放的路徑位移； 一待測(cè)卡匣，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上，供多個(gè)待測(cè)的導(dǎo)電玻璃加以容置； 一良品卡匣，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上； 一不良品卡匣，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上； 一校位裝置，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上，可進(jìn)行精密而細(xì)微的X軸、Y軸、Z軸及旋轉(zhuǎn)的位移調(diào)整； 一檢測(cè)平臺(tái)，設(shè)置于所述校位裝置上，并通過(guò)所述校位裝置所連動(dòng)，以供一導(dǎo)電玻璃加以放置，且檢測(cè)平臺(tái)上具有一供導(dǎo)電玻璃放置的檢測(cè)區(qū)及兩個(gè)垂直相鄰于所述檢測(cè)區(qū)邊緣的基準(zhǔn)邊，所述檢測(cè)區(qū)上具有多個(gè)以預(yù)定間距排列的真空吸附孔，以對(duì)所述檢測(cè)區(qū)上的導(dǎo)電玻璃產(chǎn)生真空吸力； 一框座，設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上； 多個(gè)影像對(duì)位裝置，分別設(shè)置于所述第一真空吸附式托盤(pán)組、第二真空吸附式托盤(pán)組及所述框座上，并可對(duì)所述檢測(cè)平臺(tái)上的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取像或者對(duì)所述待測(cè)卡匣、所述良品卡匣、所述不良品卡匣的導(dǎo)電的導(dǎo)電玻璃檢測(cè)位置進(jìn)行取像； 一電測(cè)單元，設(shè)置于所述框座上，用于對(duì)位于所述檢測(cè)平臺(tái)上的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行接觸測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包含有兩個(gè)定位塊，設(shè)置于所述檢測(cè)平臺(tái)上，并位于所述檢測(cè)區(qū)的相鄰兩側(cè)，使由所述兩基準(zhǔn)邊與所述兩定位塊共同地分位于所述檢測(cè)區(qū)的四周邊位置上，且所述兩定位塊并可朝向檢測(cè)區(qū)進(jìn)行靠近與遠(yuǎn)離的往復(fù)直線位移。
3.如權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電玻璃檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述影像對(duì)位裝置位于所述檢測(cè)平臺(tái)的上方，所述影像對(duì)位裝置具有一影像擷取單元及一微調(diào)機(jī)構(gòu)，所述影像擷取單元用于對(duì)位于所述檢測(cè)區(qū)上的導(dǎo)電玻璃進(jìn)行取像，所述微調(diào)機(jī)構(gòu)連接于所述影像擷取單元與所述框座之間，用于細(xì)微調(diào)整所述影像擷取單元的位置。
【文檔編號(hào)】G01R31/01GK104280650SQ201310285005
【公開(kāi)日】2015年1月14日 申請(qǐng)日期:2013年7月8日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月8日
【發(fā)明者】邱毓英, 宋柏瑋, 李浩瑋 申請(qǐng)人:全研科技有限公司