技術(shù)特征：
1.一種洞縫型儲層的地質(zhì)特征參數(shù)的測定方法，該測定方法包括以下步驟：分割步驟，基于預(yù)定的分割閾值，將洞縫型儲層的巖心圖像分割為前景區(qū)域和背景區(qū)域；提取步驟，從所分割后的巖心圖像中提取所述前景區(qū)域作為裂縫特征區(qū)域；區(qū)域調(diào)整步驟，針對各裂縫特征區(qū)域，通過區(qū)域膨脹、區(qū)域腐蝕和區(qū)域細(xì)化中至少一種對所述裂縫特征區(qū)域進(jìn)行區(qū)域調(diào)整；以及計算步驟，根據(jù)所提取的裂縫特征區(qū)域，計算該洞縫型儲層的地質(zhì)特征參數(shù)；在所述提取步驟之后且在所述計算步驟之前，該測定方法還包括以下步驟：對各裂縫特征區(qū)域進(jìn)行區(qū)域邊緣平滑的區(qū)域邊緣平滑步驟，該區(qū)域邊緣平滑步驟包括以下步驟：重心計算步驟，采用該裂縫特征區(qū)域作為被濾波像素組，計算該被濾波像素組的重心；第一像素組計算步驟，計算所述被濾波像素組中距離所述重心最遠(yuǎn)的一個像素組，作為第一像素組；第二像素組計算步驟，計算所述被濾波像素組中在由所述重心和所述第一像素組形成的直線上的投影距離所述第一像素組最遠(yuǎn)的第二像素組；以及去除步驟，從所述被濾波像素組中去除所述第一像素組和所述第二像素組，然后重復(fù)所述重心計算步驟、所述第一像素組計算步驟和所述第二像素組計算步驟，直到所述被濾波像素組剩下一個像素組為止。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定方法，該測定方法在所述提取步驟之后且在所述計算步驟之前包括以下步驟：去噪步驟，對于提取的裂縫特征區(qū)域，統(tǒng)計各裂縫特征區(qū)域的像素的數(shù)量，將所統(tǒng)計出的像素數(shù)量小于去噪閾值的裂縫特征區(qū)域作為噪聲區(qū)域而去除。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測定方法，其中，所述區(qū)域膨脹通過以下來生成膨脹后的巖心圖像：把預(yù)定的第一結(jié)構(gòu)元素平移到所述巖心圖像中的作為處理對象的像素之后得到第一平移圖像，并且如果第一平移圖像中的任意一個像素與要被膨脹的裂縫特征區(qū)域重疊，則該像素作為膨脹后的裂縫特征區(qū)域中的像素；其中，所述區(qū)域腐蝕通過以下來生成腐蝕后的巖心圖像：把預(yù)定的第二結(jié)構(gòu)元素平移到所述巖心圖像中的作為處理對象的像素之后得到第二平移圖像，并且如果所述第二平移圖像中的所有像素與要被腐蝕的裂縫特征區(qū)域重疊，則該像素作為腐蝕后的裂縫特征區(qū)域中的像素；并且其中，所述區(qū)域細(xì)化通過根據(jù)所述裂縫特征區(qū)域中各像素的八個相鄰像素是屬于所述裂縫特征區(qū)域還是所述背景區(qū)域來判斷該像素是否保留在所述裂縫特征區(qū)域中，來生成細(xì)化后的巖心圖像。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測定方法，其中，在所述區(qū)域腐蝕中對于區(qū)域腐蝕前屬于所述裂縫特征區(qū)域但是區(qū)域腐蝕后不再屬于所述裂縫特征區(qū)域的像素進(jìn)行標(biāo)記，然后進(jìn)行所述區(qū)域細(xì)化，將在所述區(qū)域細(xì)化中被判斷為留在所述裂縫特征區(qū)域中的被標(biāo)記的像素作為腐蝕后的裂縫特征區(qū)域中的像素。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定方法，該測定方法還包括在所述分割步驟之前的、對所述巖心圖像進(jìn)行預(yù)處理的預(yù)處理步驟，所述預(yù)處理包括選自以下處理中的至少一種處理：色階調(diào)整、亮度調(diào)整、飽和度調(diào)整、灰度調(diào)整、色調(diào)調(diào)整、對比度調(diào)整、圖像濾波、圖像銳化、圖像平滑、圖像模糊、圖像邊緣檢測和圖像底片化處理。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定方法，該測定方法還包括在所述提取步驟之后、在所述計算步驟之前的裂縫特征調(diào)整步驟，該裂縫特征調(diào)整步驟針對各裂縫特征區(qū)域進(jìn)行相關(guān)形狀的繪制和填充，進(jìn)行區(qū)域腐蝕處理和區(qū)域膨脹處理中的至少一種。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定方法，所述地質(zhì)特征參數(shù)包括選自以下參數(shù)中至少一項：裂縫長度、裂縫寬度、巖層面與裂縫間之間的夾角、裂縫類型、平均縫寬、面縫率、裂縫面長比、裂縫面密度、裂縫線密度、裂縫間距。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定方法，其中，所述洞縫型儲層是洞縫型碳酸鹽巖。9.一種洞縫型儲層分布的預(yù)測方法，該預(yù)測方法包括以下步驟：圖像獲取步驟，從洞縫型儲層的至少一個位置獲取巖心圖像；地質(zhì)特征參數(shù)獲取步驟，針對所獲取的各巖心圖像，采用權(quán)利要求1-8中任意一項所述的測定方法，獲取與該巖心圖像相對應(yīng)的位置處的地質(zhì)特征參數(shù)；以及儲層分布預(yù)測步驟，基于該洞縫型儲層的所述至少一個位置處的地質(zhì)特征參數(shù)，預(yù)測洞縫型儲層的分布。10.一種洞縫型儲層的地質(zhì)特征參數(shù)的測定裝置，該測定裝置包括：分割單元，其基于預(yù)定的分割閾值，將洞縫型儲層的巖心圖像分割為前景區(qū)域和背景區(qū)域；提取單元，其從所分割后的巖心圖像中提取所述前景區(qū)域作為裂縫特征區(qū)域；區(qū)域調(diào)整單元，其針對各裂縫特征區(qū)域，通過區(qū)域膨脹、區(qū)域腐蝕和區(qū)域細(xì)化中至少一種對所述裂縫特征區(qū)域進(jìn)行區(qū)域調(diào)整；以及計算單元，其根據(jù)所提取的裂縫特征區(qū)域，計算該洞縫型儲層的地質(zhì)特征參數(shù)；區(qū)域邊緣平滑單元，其對各裂縫特征區(qū)域進(jìn)行區(qū)域邊緣平滑，該區(qū)域邊緣平滑單元包括：重心計算部，其采用該裂縫特征區(qū)域作為被濾波像素組，計算被濾波像素組的重心；第一像素組計算部，其計算所述被濾波像素組中距離所述重心最遠(yuǎn)的一個像素組，作為第一像素組；第二像素組計算部，其計算所述被濾波像素組中在由所述重心和所述第一像素組形成的直線上的投影距離所述第一像素組最遠(yuǎn)的第二像素組；去除部，其從所述被濾波像素組中去除所述第一像素組和所述第二像素組；以及控制部，其控制所述重心計算部、所述第一像素組計算部、所述第二像素組計算部和所述去除部重復(fù)進(jìn)行操作，直到所述被濾波像素組剩下一個像素組為止。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測定裝置，該測定裝置還包括：去噪單元，其針對各裂縫特征區(qū)域，統(tǒng)計各裂縫特征區(qū)域的像素的數(shù)量，將所統(tǒng)計出的像素數(shù)量小于去噪閾值的裂縫特征區(qū)域作為噪聲區(qū)域而去除。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測定裝置，所述區(qū)域調(diào)整單元包括：區(qū)域膨脹部，所述區(qū)域膨脹部通過以下來生成膨脹后的巖心圖像：把預(yù)定的第一結(jié)構(gòu)元素平移到所述巖心圖像中的作為處理對象的像素之后得到第一平移圖像，并且如果所述第一平移圖像中的任意一個像素與要被膨脹的裂縫特征區(qū)域重疊，則該像素作為膨脹后的裂縫特征區(qū)域中的像素；區(qū)域腐蝕部，所述區(qū)域腐蝕部通過以下來生成腐蝕后的巖心圖像：把預(yù)定的第二結(jié)構(gòu)元素平移到所述巖心圖像中的作為處理對象的像素之后得到第二平移圖像，并且如果所述第二平移圖像中的所有像素與要被腐蝕的裂縫特征區(qū)域重疊，則該像素作為腐蝕后的裂縫特征區(qū)域中的像素；區(qū)域細(xì)化部，所述區(qū)域細(xì)化部通過根據(jù)所述裂縫特征區(qū)域中各像素的八個相鄰像素是屬于所述裂縫特征區(qū)域還是所述背景區(qū)域來判斷該像素是否保留在所述裂縫特征區(qū)域中，來生成細(xì)化后的巖心圖像；以及控制部，該控制部根據(jù)來自外部的控制命令，控制所述區(qū)域膨脹部、所述區(qū)域腐蝕部和所述區(qū)域細(xì)化部中的至少一個對所提取出的各裂縫特征區(qū)域進(jìn)行處理。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的測定裝置，其中，所述區(qū)域腐蝕部對于區(qū)域腐蝕前屬于所述裂縫特征區(qū)域但是區(qū)域腐蝕后不再屬于所述裂縫特征區(qū)域的像素進(jìn)行標(biāo)記，然后將在所述區(qū)域細(xì)化部被判斷為留在所述裂縫特征區(qū)域中的被標(biāo)記像素作為腐蝕后的裂縫特征區(qū)域中的像素。14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測定裝置，該測定裝置還包括預(yù)處理單元，其對所述巖心圖像進(jìn)行預(yù)處理，所述預(yù)處理包括選自以下處理中的至少一種處理：色階調(diào)整、亮度調(diào)整、飽和度調(diào)整、灰度調(diào)整、色調(diào)調(diào)整、對比度調(diào)整、圖像濾波、圖像銳化、圖像平滑、圖像模糊、圖像邊緣檢測和圖像底片化處理。15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測定裝置，該測定裝置還包括裂縫特征調(diào)整單元，該裂縫特征調(diào)整單元針對各裂縫特征區(qū)域進(jìn)行相關(guān)形狀的繪制和填充，進(jìn)行區(qū)域腐蝕處理和區(qū)域膨脹處理中的至少一種。16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測定裝置，所述地質(zhì)特征參數(shù)包括選自以下參數(shù)中至少一項：裂縫長度、裂縫寬度、巖層面與裂縫間之間的夾角、裂縫類型、平均縫寬、面縫率、裂縫面長比、裂縫面密度、裂縫線密度、裂縫間距。17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測定裝置，其中，所述洞縫型儲層是洞縫型碳酸鹽巖。18.一種洞縫型儲層分布的預(yù)測系統(tǒng)，該預(yù)測系統(tǒng)包括：圖像獲取裝置，其從洞縫型儲層的至少一個位置獲取巖心圖像；權(quán)利要求10-17中任一項所述的測定裝置，其針對所獲取的各巖心圖像，測定洞縫型儲層中與該巖心圖像相對應(yīng)的位置處的地質(zhì)特征參數(shù)；以及儲層分布預(yù)測裝置，其基于該洞縫型儲層的所述至少一個位置處的地質(zhì)特征參數(shù)，預(yù)測洞縫型儲層的分布。