測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法
【專利摘要】本發(fā)明為一種測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法，其中光源包含發(fā)光二極管與透鏡，該方法包含設(shè)置該發(fā)光二極管模塊于驗證位置；供電至該發(fā)光二極管；擴散發(fā)光二極管經(jīng)透鏡輸出的光線；輸出擷取目標(biāo)，其取自于擴散光的光源；以及依據(jù)擷取目標(biāo)的中心點兩側(cè)的亮度而計算偏折點，以決定光源的光軸。本發(fā)明的測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法，用以發(fā)光的光源包含發(fā)光二極管與透鏡，其中光源為驗證目標(biāo)，可通過擴散板擷取驗證目標(biāo)，然后借助擷取目標(biāo)中心點兩側(cè)的亮度而測量光源的光軸。
【專利說明】測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明有關(guān)于一種用于測量發(fā)光二極管(light-emitting diode, LED)模塊的光軸的方法，其尤指一種用于測量發(fā)光二極管模塊光源的光軸的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]基于顯示裝置的多種需求，因而研發(fā)出多種顯示裝置，例如液晶顯示(liquidcrystal display, LCD)裝置、等離子顯不面板(plasma display panels, F1DPs)、電致發(fā)光顯不器(electro-luminescent displays, ELDs)以及真空螢光顯不器(vacuumfluorescent displays, VFDs),并得到廣泛使用。
[0003]在此，液晶顯示器的液晶面板包含液晶層、薄膜晶體管(TFT)基板與彩色濾光基板，薄膜晶體管(TFT)基板與彩色濾光基板兩者相對設(shè)置，以讓液晶層位于薄膜晶體管(TFT)基板與彩色濾光基板之間，同時，液晶面板的背光單元包含發(fā)光二極管模塊，以提供光源用于影像顯示。在發(fā)光二極管模塊中，數(shù)個發(fā)光二極管為連續(xù)地排列，且因大量使用發(fā)光二極管，會導(dǎo)致生產(chǎn)成本與功率消耗受到發(fā)光二極管數(shù)量的影響而增加。
[0004]因此，遂發(fā)展出發(fā)光二極管模塊使用光源與覆蓋光源的透鏡，以解決上述問題。圖1為一個發(fā)光二極管模塊10的示意圖。請參閱圖1，該發(fā)光二極管模塊10中，光源12依據(jù)規(guī)則的間隔距離而設(shè)置在一個光路11上，該光路11具有預(yù)定的長與寬。
[0005]圖2為圖1的該光源12的平面視圖，以及圖3為圖2的該光源12的剖視圖。請參閱圖2與圖3，該光源12包含一個發(fā)光二極管14與用以覆蓋該發(fā)光二極管14的一個透鏡16，并將發(fā)光二極管14所發(fā)出的光一致地照射于一個預(yù)定方向。在此，透鏡16可為非球面透鏡，以擴散發(fā)光二極管14所發(fā)出的光，在圖2中，其設(shè)置為單一發(fā)光二極管14，但，也可替代設(shè)置成數(shù)個發(fā)光二極管14。在此，光源12需對準(zhǔn)于相互匹配的發(fā)光二極管14的中心與透鏡16的中心軸(下稱光軸)。
[0006]若發(fā)光二極管14的中心與透鏡16的光軸不匹配，則光源12所發(fā)出的光不能依據(jù)一個照射方向而一致地照射。因此，使用光源12的背光單元的品質(zhì)可能會惡化。因此，需要針對發(fā)光二極管模塊10所包含的作為背光單元的光源12所對應(yīng)的光軸的準(zhǔn)直狀態(tài)(alignment state)進(jìn)行驗證。
[0007]對此，韓國專利公開案編號KR10-2011-0055992，其揭露了用于測量影像裝置的光學(xué)位置的偏心量(eccentricity)的裝置與方法，其通過一個影像單元擷取數(shù)個測量標(biāo)記，并通過該些標(biāo)記的影像測量出錯位。如此，由于需要顯示該些測量標(biāo)記，會導(dǎo)致整體步驟數(shù)量增加。
[0008]有鑒于此，本發(fā)明提出一種用于測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法，其改善現(xiàn)有光軸測量方法所發(fā)生的情況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本發(fā)明的主要目的，是提供一種用于測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法，其通過擴散板擷取發(fā)光二極管模塊的數(shù)個發(fā)光二極管與一個透鏡所發(fā)出的光做為驗證目標(biāo)，再借助測量擷取目標(biāo)的中心點兩側(cè)的亮度而測量該驗證目標(biāo)的光軸狀態(tài)，同時，當(dāng)轉(zhuǎn)動經(jīng)過該擷取目標(biāo)的中心點的測量線至預(yù)定角度時，利用測量擷取目標(biāo)的整體亮度，以計算出中心點兩側(cè)的亮度比而測量光源的光軸。
[0010]本發(fā)明采用的主要技術(shù)方案是:
[0011]本發(fā)明的一種實施形式(aspect)為，提供一種用于測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法，該二極管模塊為光軸測量目標(biāo)，其中該光源包含至少一個發(fā)光二極管與至少一個透鏡，該方法包含:設(shè)置該發(fā)光二極管模塊于驗證位置；供應(yīng)電源至發(fā)光二極管；擴散發(fā)光二極管經(jīng)由透鏡所發(fā)出的光；輸出擷取目標(biāo)，其取自于擴散光的光源，以及依據(jù)該擷取目標(biāo)的中心點兩側(cè)的亮度計算偏折點而決定(determine，亦可翻譯為判定或確定)光源的光軸。
[0012]該方法可更進(jìn)一步包含移除擷取目標(biāo)上的雜訊。
[0013]該擴散光可借助設(shè)置擴散板于該發(fā)光二極管模塊的前面而達(dá)成。
[0014]該光軸的決定步驟包含:設(shè)定測量線于該擷取目標(biāo)上；測量該測量線上的亮度；顯示測量的亮度；轉(zhuǎn)動該測量線至預(yù)定角度；重新測量該測量線的亮度直到該測量線回到起始位置；重新顯示(re-displaying)測量的亮度；獲得重新顯示的亮度的斜率；當(dāng)比較重新顯示的亮度的斜率與參考斜率而落入預(yù)定范圍時，決定偏折點；以及補償補償值至該光軸測量目標(biāo)上。
[0015]該亮度是測量于該中心點的反向(_)與正向(+)。
[0016]該亮度可在像素單元中測量到。
[0017]該亮度的斜率可為該亮度變化量與像素位置的微分值。
[0018]該參考斜率的絕對值可從0.1至0.3。
[0019]該斜率與該參考斜率可比較數(shù)次。
[0020]該補償補償值的步驟包含:制備數(shù)個發(fā)光二極管為參考樣本用于取得該補償值；測量該擴散板與該數(shù)個發(fā)光二極管模塊其中一個透鏡之間的距離，其中該數(shù)個發(fā)光二極管模塊即為參考樣本；使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置(2維表面光源測量器)測量所述的其中一個發(fā)光二極管模塊的偏心量；在決定該光軸的期間內(nèi)計算臨時補償值(temporarycompensation value)于所述的其中一個發(fā)光二極管模塊的該偏心量上；以及將該補償值補償至該發(fā)光二極管模塊的偏心量，該發(fā)光二極管模塊為該光軸測量目標(biāo)；其中當(dāng)該補償值所補償?shù)钠牧繛樵撔﹨⒖紭颖镜陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%以內(nèi)時，設(shè)定該臨時補償值為參考補償值并以該參考補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊上；當(dāng)該測量距離等于或高于誤差范圍時，具有該測量距離的該發(fā)光二極管模塊可自該光軸測量目標(biāo)排除，并制備一個新的發(fā)光二極管模塊。
[0021]該誤差范圍(errorrange)可為 ±100 微米(micrometer)。
[0022]該方法可更進(jìn)一步包含取得該測量距離與設(shè)定距離的差異以及依據(jù)該差異移動該擴散板的步驟。
[0023]該計算該臨時補償值的步驟可更進(jìn)一步包含依據(jù)方程式I計算該發(fā)光二極管模塊所對應(yīng)的補償值，該方程式I如下:
[0024]y=ax+b-(I)[0025]其中Y為補償值，a為補償增益值，X為實際測量值，以及b為第一群組與第二群組的補償偏移量。
[0026]當(dāng)該補償值所補償?shù)脑撈牧扛哂谠撔﹨⒖紭颖镜乃龅钠渲幸粋€發(fā)光二極管模塊的偏心量的5%時，該方法可更進(jìn)一步包含:將該些參考樣本的該些發(fā)光二極管模塊分類為第一群組與第二群組；在決定該光軸的期間內(nèi)，針對受測的該發(fā)光二極管模塊的偏心量計算該第一群組與該第二群組的該些發(fā)光二極管模塊的偏心量上的補償值；將該臨時補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊的該偏心量上；以及當(dāng)該補償值所補償?shù)钠牧繛樵撔﹨⒖紭颖镜陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%以內(nèi)時，設(shè)定該臨時補償值為參考補償值并以該參考補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊上。
[0027]該第一群組可包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的100%至85%的發(fā)光二極管模塊，以及該第二群組可包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的84%至60%的發(fā)光二極管模塊。
[0028]該方法可更進(jìn)一步包含依據(jù)方程式2計算對應(yīng)于該第一群組的第一補償值以及對應(yīng)于該第二群組的第二補償值的步驟，該方程式2如下:
[0029]yl=alx+bl 以及
[0030]y2=a2x+b2-(2)
[0031]其中yl與y2分別為第一補償值與第二補償值，al為第一群組與第二群組的補償增益值，a2為第三群組的補償增益值，X為實際距離，bl為該第一群組與該第二群組的補償偏移量，b2為該第三群組的補償偏移量。
[0032]當(dāng)該補償值所補償?shù)脑撈牧扛哂谠撔﹨⒖紭颖镜乃龅钠渲幸粋€發(fā)光二極管模塊的偏心量的5%時，該方法可更進(jìn)一步包含:將該些參考樣本的發(fā)光二極管模塊分類為第一至第三群組(第一、第二和第三群組)；在決定該光軸的期間內(nèi)，針對受測的該發(fā)光二極管模塊的偏心量計算該第一群組至第三群組的該些發(fā)光二極管模塊的偏心量的臨時補償值；將該臨時補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊的該偏心量上；以及當(dāng)該補償值所補償?shù)钠牧繛樵撔﹨⒖紭颖镜陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%以內(nèi)時，設(shè)定該臨時補償值為參考補償值并以該參考補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊上。
[0033]該第一群組包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的100%至90%的發(fā)光二極管模塊，該第二群組包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的89%至80%的發(fā)光二極管模塊，第三群組包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的79%至60%的發(fā)光二極管模塊。
[0034]依據(jù)方程式(3)計算對應(yīng)于該第一群組的第一補償值、對應(yīng)于該第二群組的第二補償值以及對應(yīng)于該第三群組的第三補償值，該方程式3如下:
[0035]yl=alx+bl,
[0036]y2=a2x+b2,以及
[0037]y3=a3x+b3---------------(3)
[0038]其中yl、y2與y3分別為該第一群組、該第二群組與該第三群組的補償值，al為該第一群組的補償增益值，a2為該第二群組的補償增益值，a3該第三群組的補償增益值，x為實際距離，bl為該第一群組的補償偏移量，b2為該第二群組的補償偏移量，以及b3為該第三群組的補償偏移量。
[0039]當(dāng)該補償值所補償之該偏心量高于該些參考樣本的所述的其中一個發(fā)光二極管模塊的偏心量的5%時，該方法更進(jìn)一步包含重新設(shè)定該發(fā)光二極管模塊的測量設(shè)備。
[0040]本發(fā)明的有益效果是:
[0041]通過擴散板擷取發(fā)光二極管模塊的數(shù)個發(fā)光二極管與一個透鏡所發(fā)出的光做為驗證目標(biāo)，再借助測量擷取目標(biāo)的中心點兩側(cè)的亮度而測量該驗證目標(biāo)的光軸狀態(tài)，同時，當(dāng)轉(zhuǎn)動經(jīng)過該擷取目標(biāo)的中心點的測量線至預(yù)定角度時，利用測量擷取目標(biāo)的整體亮度，可以計算出中心點兩側(cè)的亮度比而測量出光源的光軸。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0042]圖1為現(xiàn)有的發(fā)光二極管模塊的示意圖；
[0043]圖2為圖1中的光源的平面視圖；
[0044]圖3為圖2中的該光源的剖視圖；
[0045]圖4為本發(fā)明的一個實施例的方塊圖，其揭露用于測量光軸的裝置，該裝置用以測量一個發(fā)光二極管模塊的光軸；
[0046]圖5為圖4中的裝置的側(cè)視圖；
[0047]圖6為圖5的 擷取單元的主視圖；
[0048]圖7為本發(fā)明的一個實施例的流程圖，其揭露用于測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法；
[0049]圖8為設(shè)置發(fā)光二極管模塊的示意圖；
[0050]圖9為設(shè)置擴散板的示意圖；
[0051]圖10為擷取單元輸出擷取目標(biāo)的示意圖；
[0052]圖11為決定光軸的流程圖；
[0053]圖12為亮度測量值的示意圖；
[0054]圖13為圖12的Al區(qū)域的放大示意圖；
[0055]圖14為擷取目標(biāo)的偏折點的示意圖；
[0056]圖15為偏心量測量的不意圖，該偏心量測量于偏心量測量并使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置決定光軸的期間內(nèi)；
[0057]圖16為偏心量測量的不意圖，該偏心量測量于偏心量測量并使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置決定光軸的期間內(nèi)，該些偏心量已補償一個補償值；
[0058]圖17為偏心量測量的不意圖，該偏心量測量于偏心量測量并使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置決定光軸的期間內(nèi)，該些偏心量分類為第一群組與第二群組；
[0059]圖18為已補償一個補償值的圖17中的第一群組與第二群組的示意圖；
[0060]圖19為偏心量測量的不意圖，該偏心量測量于偏心量測量并使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置決定光軸的期間內(nèi)，該些偏心量分類為第一群組至第三群組；以及
[0061]圖20為補償一個補償值于第十九圖的第一群組至第三群組的示意圖。
[0062]【主要元件符號說明】
[0063]10 發(fā)光二極管模塊
[0064]11 光路[0065]112 安裝部
[0066]12光源
[0067]14 發(fā)光二極管
[0068]16透鏡
[0069]100裝置
[0070]110本體
[0071]120 電源供應(yīng)單元
[0072]122 電連接器
[0073]130擷取單元
[0074]132擴散片
[0075]140傳輸單元
[0076]150 比較單元
[0077]160 顯示單元
[0078]A測量線
`[0079]Al區(qū)段
[0080]B偏折點
[0081]C中心點
[0082]Gl第一群組
[0083]G2第二群組
[0084]G3第三群組。
【具體實施方式】
[0085]為使對本發(fā)明的特征及所達(dá)成的功效有更進(jìn)一步的了解與認(rèn)識，謹(jǐn)佐以較佳實施例及配合詳細(xì)說明，說明如后:
[0086]以下所述內(nèi)容為揭露利用一個裝置測量發(fā)光二極管模塊的光軸的方法。
[0087]圖4為本發(fā)明的一個實施例的方塊圖，其揭露用于測量光軸個裝置100，該裝置100用以測量一個發(fā)光二極管模塊的光軸；圖5為圖4中的裝置100的側(cè)視圖；圖6為圖5的擷取單元130的主視圖。請參閱圖4至圖6，該裝置100可包含本體110、電源供應(yīng)單元120、擷取單元130、傳輸單元140、比較單元150及顯示單元160。
[0088]圖7為本發(fā)明的一個實施例的之流程圖，其揭露用于測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法。請參閱圖7，該方法包含置放發(fā)光二極管模塊(執(zhí)行步驟S110);供應(yīng)電源(執(zhí)行步驟S120);擴散光源(執(zhí)行步驟S130);輸出擷取目標(biāo)(執(zhí)行步驟S140);以及決定光軸(執(zhí)行步驟S150)。
[0089]請一并參閱圖4至圖7，以繼續(xù)說明該方法。
[0090]首先，執(zhí)行步驟S110，該發(fā)光二極管模塊10作為測量目標(biāo)被設(shè)置。在此實施例中，該發(fā)光二極管模塊10置放于該本體110上。該本體110提供測量位置，用以置放該發(fā)光二極管模塊10，下述將說明用于測量發(fā)光二極管模塊10的裝置。
[0091]本實施例中，該本體110具有一個平臺形狀,該平臺形狀具有預(yù)定高度,而該本體110亦可依據(jù)使用者需求選擇其他不同形狀，同時，該本體110亦可具有數(shù)個滾輪，以讓該本體110移動至所需位置或可固定該本體110至所需位置。圖5中，該發(fā)光二極管模塊10置放于該本體110下方的安裝部112上，該安裝部112與該本體110分離設(shè)置，但，該安裝部112可在驗證時做為該本體110的一部分，以穩(wěn)定地保持該發(fā)光二極管模塊10。
[0092]圖8為設(shè)置為測量目標(biāo)的發(fā)光二極管模塊10的示意圖。請參閱圖8，該發(fā)光二極管模塊10具有數(shù)個光源12，該些光源12依據(jù)規(guī)則的間隔距離排列于該安裝部112，并于該安裝部112形成數(shù)列。下述內(nèi)容為說明該發(fā)光二極管模塊10接收該電源供應(yīng)單元120所供應(yīng)的電。
[0093]該發(fā)光二極管模塊10的結(jié)構(gòu)為相關(guān)領(lǐng)域熟知技術(shù)，于此不再贅述該發(fā)光二極管模塊10的結(jié)構(gòu)。待該發(fā)光二極管模塊10被置放之后，執(zhí)行步驟S120，供應(yīng)電源至該發(fā)光二極管模塊10，該電源供應(yīng)單元120用以供電至該發(fā)光二極管模塊10，該電源供應(yīng)單元120供電至作為該測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊10，使該些光源12在對該發(fā)光二極管模塊10的該些光源12進(jìn)行測量的期間內(nèi)發(fā)光。為了容易地供電，該電源供應(yīng)單元120包含電連接器122，并通過該電連接器122供電至該發(fā)光二極管模塊10。于此，該電連接器122可依據(jù)該些光源12的尺寸及標(biāo)準(zhǔn)而改變，該電源供應(yīng)單元120亦可依據(jù)該發(fā)光二極管模塊10的該些光源12設(shè)置數(shù)個電連接器122，以依據(jù)測量需求而供電。
[0094]該電源供應(yīng)單元120依序供電至該些安裝部112上的一些欄位所排列的該發(fā)光二極管模塊10,以符合該發(fā)光二極管模塊10的發(fā)光需求。本實施例中，該電源供應(yīng)單兀120所供應(yīng)的電源具有額定電流，額定電流符合該發(fā)光二極管模塊10的發(fā)光需求。本實施例中，該額定電流可被設(shè)定，以使該發(fā)光二極管模塊10的中心點的亮度值的范圍介于100與170之間。
[0095]該發(fā)光二極管模塊10的該些光源12接收供電，并發(fā)出具有預(yù)定亮度的光。擴散板132設(shè)置于該擷取單元130與作為該測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊10之間，于下述說明。
[0096]該擴散板132擴散從該些光源12所發(fā)出的光，以避免僅有發(fā)光二極管14的一部分發(fā)亮地顯示于該擷取目標(biāo)。該擴散板132也可擴散從該些光源12所發(fā)出的光，以均勻顯示該光源12所照射的該擷取目標(biāo)的亮度，以對準(zhǔn)光源12的光軸(執(zhí)行步驟S130)。
[0097]圖9為設(shè)置擴散板132的示意圖。該擴散板132可完全覆蓋于該發(fā)光二極管模塊10上，但可選擇地，如圖9所示，該擴散板132可僅覆蓋于該光源12，以從該發(fā)光二極管模塊10的該些光源12擷取。
[0098]在本實施例中，該擴散板132與透鏡16之間分隔預(yù)定距離，該預(yù)定距離介于
0.75mm與2.25mm之間,其依據(jù)使用者的需求而定。然,該發(fā)光二極管模塊10的每一個預(yù)定距離可為相同的。同時，該光源12的該測試位置可設(shè)置屏蔽膜，以避免外部光源影響該擷取目標(biāo)。執(zhí)行步驟S140，擷取該發(fā)光二極管模塊10的該些光源12，以輸出該擷取目標(biāo)。該擷取單元130用于擷取該些光源12。
[0099]該擷取單元130在該發(fā)光二極管模塊10接收供電并發(fā)光時擷取該發(fā)光二極管模塊10的每一個光源12，以輸出該擷取目標(biāo)。因此，該擷取單元130也可連接該電源供應(yīng)單元120，以在兩者之間傳輸信號。該擷取單元130也可接收由該電源供應(yīng)單元120所供應(yīng)的所需電力。
[0100]本實施例中，該擷取目標(biāo)可為可決定其亮度的黑白影像，且該黑白影像可被色彩化，以增加辨識率。該擷取單元130可為數(shù)碼相機或相機模塊，以于擷取后立即輸出該擷取目標(biāo)為圖片。因此，該擷取單元130所輸出的該擷取目標(biāo)可為圖片(如:jpg或tif)，該圖片具有預(yù)定像素尺寸(如，1024x768)。
[0101]本實施例中，該擷取單元130可為使用靜態(tài)擷取(pickup)裝置的相機，例如:電荷耦合元件(CXD)或互補金屬氧化半導(dǎo)體(CMOS)，其能依據(jù)使用者需求調(diào)整曝光時間。再參閱圖6，本實施例的該擷取單元130可包含一對相機，該一對相機相互同步鎖定，以改善擷取效率。該擷取單元130的該些相機可依據(jù)使用者需求而變化數(shù)量。
[0102]該擷取單元130可設(shè)置于該些光源12上，并位于該光源12的該測試位置。該傳輸單元140可設(shè)置于本體110上，并位于該光源12的該測量位置，以固定并傳輸該擷取單元130。該傳輸單元140傳輸擷取該發(fā)光二極管模塊10的該擷取單元130至作為該測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊10的該光源12的上方。該傳輸單元140可依據(jù)需求而使該擷取單兀130于X、Y、Z軸方向移動?？捎讦丁ⅵ?、Ζ軸方向上設(shè)置數(shù)個滑軌，以使該傳輸單兀140傳輸該擷取單元130。
[0103]相對地，當(dāng)操作者設(shè)置該發(fā)光二極管模塊10及操作該擷取單元130及該傳輸單元140時，該傳輸單元140沿X軸方向傳輸該擷取單元130，該擷取單元130從該發(fā)光二極管模塊10的一側(cè)移動至其另一側(cè)以進(jìn)行擷取。待該發(fā)光二極管模塊10被測量后，該傳輸單元140沿著Y軸方向傳輸該擷取單元130，該擷取單元130對該發(fā)光二極管模塊10的每一欄位進(jìn)行擷取。
[0104]下面說明該擷取目標(biāo)被輸出至該比較單元150，其中該比較單元150可利用該擷取目標(biāo)決定該發(fā)光二極管模塊10的光軸狀態(tài)。于此自輸出的擷取目標(biāo)可含有該擷取單元130所產(chǎn)生的雜訊，例如:熱噪點，接著執(zhí)行步驟S144，移除該擷取目標(biāo)的雜訊。
[0105]圖10為擷取單元130輸出擷取目標(biāo)的示意圖。請參閱圖10，于擷取目標(biāo)，從該光源12發(fā)出的光借助通過該擴散板132被擴散于一定預(yù)定擴散系數(shù)。為了利用該擷取目標(biāo)決定該光軸，獲得該擷取目標(biāo)的不同的亮度(執(zhí)行步驟S150)。
[0106]圖11為決定光軸的流程圖。首先，執(zhí)行步驟S151，設(shè)定用于測量亮度的測量線。再參閱圖10，顯示為處于水平位置的測量線A通過中心點C。于該測量線A測量該擷取目標(biāo)之亮度。首先于步驟S151中，水平地通過該光源12的中心軸的該測量線A被設(shè)定于該擷取目標(biāo)，然后執(zhí)行步驟S152，沿著該測量線A測量亮度。用于測量亮度的起始點可為該測量線A的中心點C。從中心點C被測量的亮度也可從該中心軸的兩端進(jìn)行。于此該中心點C可等同于該光源12的中心軸。
[0107]待于該測量線A上的亮度被測量后，執(zhí)行步驟S153，亮度被顯示于圖像。然后執(zhí)行步驟S154，該測量線A相對于該中心軸旋轉(zhuǎn)一個預(yù)定角度(如0.5度)，再測量該測量線A上的亮度。接著執(zhí)行步驟S155，該測量線A上的亮度被重復(fù)測量，直到該測量線A轉(zhuǎn)回至原始位置。
[0108]然后，執(zhí)行步驟S156，該使用者將于步驟S152及步驟S154所測量的亮度顯示于該圖像。待亮度被顯示后，該使用者相互連結(jié)該些亮度值。
[0109]圖12為亮度測量值的示意圖，其中該些亮度值相互連接形成預(yù)定曲線。圖12顯示該些亮度值于單一測量線。于圖12中，X軸表示為擷取單元與位于擷取目標(biāo)的測量線的中心軸間的距離，Y軸表示亮度值。于此該X軸的負(fù)值表示擷取單元位于該中心軸的左側(cè)。
[0110]執(zhí)行步驟S157，該使用者于圖像中獲得亮度曲線的斜率，當(dāng)該斜率位于預(yù)定范圍內(nèi)時，該使用者可決定該對應(yīng)點為反射點。反射點為曲線從凸?fàn)顟B(tài)改變?yōu)榘紶顟B(tài)，或從凹狀態(tài)改變?yōu)橥範(fàn)顟B(tài)，當(dāng)光軸狀態(tài)為正常時，一對反射點可分別被顯示于相對于中心點的兩側(cè)的相同位置上，并具有相同斜率。根據(jù)本發(fā)明的實施例，亮度曲線的斜率被測量，然后利用該斜率獲得反射點，以決定光軸狀態(tài)。執(zhí)行步驟S157，斜率是指被測量的該些像素的該些亮度值的變化。該斜率被獲得如下述。
[0111]圖13為圖12的Al區(qū)段的局部揭示；其中亮度值的依據(jù)像素的位置而有所變化。在圖13中，來自光源12的a點的亮度值不同于其附近的b點的亮度值。于此，a點和b點的亮度值差異可通過計算斜率的方式而擴大取得，不過a點和b點的亮度值可以是相鄰的。通過取得像素于位置上的差異dx和亮度值的差異dy，接著通過微分即可取得斜率。此斜率可以用于和步驟S157-1中的參考斜率做比較；于此，參考斜率可以依據(jù)用戶的需求(例如產(chǎn)品的光軸精準(zhǔn)度)而做調(diào)整設(shè)定，不過于此實施例中，參考斜率的絕對值介于0.1?0.3。
[0112]在這里，當(dāng)微分值的絕對值在預(yù)定范圍內(nèi)時，相應(yīng)的位置可能被確定為偏折點(inflection point)。然而,為了降低擷取單元130的錯誤或是光源12的透鏡的缺陷所產(chǎn)生的錯誤，步驟S157-2會進(jìn)行多次比較；當(dāng)斜率(微分值)為參考斜率的范圍內(nèi)時，于步驟S157-3就會決定此相應(yīng)位置為偏折點。于此，斜率的絕對值和參考斜率的比較次數(shù)可為15?30次。
[0113]為了避免確定偏折點時存在錯誤，步驟S157-2會將斜率與參考斜率比較數(shù)次，而當(dāng)其比較次數(shù)小于步驟S157-5當(dāng)中所設(shè)定的次數(shù)，在步驟S157-7中其就會通過測量相鄰像素的亮度值而取得斜率，然后再次確定偏折點。
[0114]當(dāng)確定的次數(shù)等于或高于步驟S157-5的設(shè)定時，接著于步驟S157-6比較該些次數(shù)是否大于或等于整體過程中所有確定的次數(shù)。當(dāng)該些確定次數(shù)大于或等于整體過程中所有確定的次數(shù)時，偏折點就會于步驟S157-8被確定，并因此顯示單元160顯示光軸已對準(zhǔn)。換句話說，當(dāng)確定次數(shù)少于比較過程中的設(shè)定值，斜率就會持續(xù)的被測量。
[0115]在上述的方法中，比較次數(shù)和確定次數(shù)可以依據(jù)用戶的需求而做調(diào)整，例如產(chǎn)品的精確度。
[0116]圖14揭示了擷取目標(biāo)上的偏折點B，其中此偏折點B是在以中心點C為基準(zhǔn)而持續(xù)轉(zhuǎn)動之下，通過持續(xù)測量亮度而獲得。如圖14所示，當(dāng)偏折點B位于一個同心圓狀的光源，可確定光源對準(zhǔn)了 二極管透鏡的光軸。
[0117]在這里，如上所述，兩個偏折點可能會在中心點的兩側(cè)被獲得，但是依據(jù)用來比較的參考斜率，一個偏折點只會在中心點的一側(cè)被獲得，在這種情況下，光源的光軸可確認(rèn)在偏折點的方向上存在錯誤。用戶可通過使用顯示單元160而被告知這個錯誤。
[0118]此外，就算是兩個偏折點被獲得于中心點的兩側(cè)，一個接續(xù)的比較將被執(zhí)行。用戶將依據(jù)光源的規(guī)格和偏折點的位置而比較偏折點的一個參考位置，并且確定差異是否介于一個預(yù)定的錯誤范圍。當(dāng)差異介于一個預(yù)定范圍，則可確定光源的光軸已對準(zhǔn)，但是當(dāng)差異超出錯誤范圍，則可確定光源的光軸沒有對準(zhǔn)。
[0119]當(dāng)光軸沒有對準(zhǔn)，則可確定在方向上存在錯誤，偏折點相較于所取得的兩個偏折點的有更高的位置。在光軸的狀態(tài)被確定之后，顯示單元160就會顯示光軸的狀態(tài)。當(dāng)光軸被測量時，錯誤可能因LED模塊生產(chǎn)上的誤差而產(chǎn)生。
[0120]換句話說，當(dāng)透鏡16的高度可能因生產(chǎn)上的誤差而發(fā)生變化，擴散片132與透鏡16之間的距離就會被測量，而此距離和預(yù)設(shè)值做比較，并且將擴散片132基于與預(yù)設(shè)值的距離差異而做移動調(diào)整。
[0121]同時，圖11所示的方法可更進(jìn)一步包含步驟S159的補償。
[0122]首先，為了獲得補償值，準(zhǔn)備數(shù)個LED模塊10為參考樣品。于此，LED模塊10的準(zhǔn)備數(shù)量盡可能的多，且在本實施例中準(zhǔn)備了 300個LED模塊10。此外，若LED模塊10也可設(shè)定序號而進(jìn)行以下的操作。在這里，所準(zhǔn)備的LED模塊10可相同或相異于光軸測量目標(biāo)的LED模塊10。并且，LED模塊10的透鏡16的高度誤差也被測量，若高度誤差相對設(shè)計值為土 100微米或更高，則此LED模塊10可排除于參考樣品之外。
[0123]當(dāng)LED模塊10準(zhǔn)備完成，LED模塊10的偏心就會通過偏心測量標(biāo)準(zhǔn)裝置做測量，并且做紀(jì)錄。此時可以利用LED模塊10的序號做紀(jì)錄。測量LED模塊10偏心的偏心測量標(biāo)準(zhǔn)裝置是一個2D的表面光源測量裝置，已為相關(guān)領(lǐng)域所熟知，因此此處省略其細(xì)節(jié)。
[0124]圖15為使用偏心測量標(biāo)準(zhǔn)裝置測量偏心并確定光軸，其中LED模塊10已按照偏心而遞減排列。同時，圖15中，基于部分LED模塊10已因缺陷而排除，LED模塊10的數(shù)量小于或等于300。
[0125]在圖15中，Y軸表示偏心的差異百分比，PM表示LED模塊10設(shè)計值以及偏心測量標(biāo)準(zhǔn)裝置所測量偏心之間的差異，以及指出步驟S150所取得關(guān)于LED模塊10設(shè)計值以及偏心測量標(biāo)準(zhǔn)裝置所測量偏心之間的差異。
[0126]為了匹配步驟S150對于偏心測量標(biāo)準(zhǔn)值的偏心測量方法，需要使用一個預(yù)設(shè)的值。于此，補償值根據(jù)下面的方程式(I)，可以計算出對應(yīng)的LED模塊10。
[0127]y=ax+b (I)
[0128]在這里，y表示補償值，a表示補償增益值，X表示實際測量值，b表示第一組和第二組的補償偏移值。方程式I所算出的補償值是一個臨時性的數(shù)值，并且可以應(yīng)用于做為參考樣品的LED模塊10。
[0129]方程式I中使用的補償增益值a和補償偏移值b可通過線性回歸分析，根據(jù)使用的偏心測量標(biāo)準(zhǔn)裝置以及步驟S150而獲得的值之間的關(guān)系。換言之，在方程式I中，X可以是一個獨立的變量，y可以是因變量。因此，補償增益值a和偏移補償值b可以通過應(yīng)用由y = ax + b表示的方程式I進(jìn)行線性回歸分析。由于線性回歸分析是眾所周知的，其細(xì)節(jié)不于本文所詳述。
[0130]圖16為偏心量測量的不意圖，該偏心量測量于偏心量測量并使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置決定光軸期間內(nèi)，該些偏心量已補償一個補償值。請參閱圖16，借助補償臨時補償值，于步驟S150所測量到的偏心量近似于該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置所測量到的偏心量。當(dāng)該臨時補償值補償后所得的結(jié)果為落入該參考樣本的偏心量的5%以內(nèi)，該臨時偏心量設(shè)為參考偏心量并可用于受測的發(fā)光二極管，以確認(rèn)光軸。換句話說，當(dāng)臨時補償值補償后所得的結(jié)果超過該參考樣本的偏心量的5%時，決定臨時補償值具有誤差，所以臨時補償值重新設(shè)定。
[0131]圖17為偏心量測量的不意圖，該偏心量測量于偏心量測量并使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置決定光軸的期間內(nèi)，該些偏心量分類為第一群組Gl與第二群組G2 ;請參閱圖17，其揭示的參考樣本不同于圖15所示的參考樣本。作為參考樣本的發(fā)光二極管模塊10分類為該第一群組Gl與該第二群組G2，在這里，該第一群組Gl包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的100%至85%的該些參考樣本，以及該第二群組G2包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的84%至60%的該些參考樣本。
[0132]第一補償值yl與第二補償值y2分別用以補償該第一群組Gl與該第二群組G2的該些參考樣本的測量值，在這里，該第一補償值yl與該第二補償值12分別為臨時補償值。該第一補償值yl與該第二補償值y2可依據(jù)下列方程式(2)設(shè)定。
[0133]yl=alx+bl
[0134]y2=a2x+b2 (2)
[0135]在這里，yl與y2分別為第一補償值與該第二補償值，al為第一群組Gl與第二群組G2的補償增益值，a2為第三群組G3的補償增益值，x為實際測量值，bl為該第一群組Gl與該第二群組G2的補償偏移量，以及b2為第三群組G3的補償偏移量。
[0136]在方程式(2)中，其利用上述方程式(I)所提及的線性回歸分析計算出補償增益值與補償偏移量，因此，方程式(2)的結(jié)果不會與方程式(I)的結(jié)果重復(fù)。此外，依據(jù)方程式(2)所求得的該第一補償值yl與該第二補償值y2分別補償于該第一群組Gl與該第二群組G2。
[0137]圖18為圖17所示的該第一群組Gl與該第二群組G2已補償一個補償值的示意圖。請參閱圖18，借助補償方程式(2)所求得的該第一補償值yl與該第二補償值y2，于步驟S150所測量到的該些偏心量近似于該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量結(jié)果。
[0138]再參閱圖18，借助補償一個補償值至該第一群組Gl與該第二群組G2所得的測量值，可獲得相同于該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的偏心量測量結(jié)果。當(dāng)補償臨時補償值所得的結(jié)果落入該參考樣本的偏心量的5%以內(nèi)時，該臨時補償值設(shè)定為參考補償值并可補償至受測的發(fā)光二極管，以驗證光軸。換句話說，當(dāng)補償臨時補償值所得的結(jié)果超出該參考樣本的偏心量的5%時，決定該臨時補償值具有誤差，所以重新設(shè)定臨時補償值。
[0139]圖19為偏心量測量的不意圖，該偏心量測量于偏心量測量并使用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置決定光軸的期間內(nèi)，該些偏心量分類為第一群組Gl至第三群組G3。請參閱圖19，其參考樣本不同于圖15或圖17的參考樣本。作為該些參考樣本的該發(fā)光二極管模塊10分為第一群組Gl至第三群組G3。
[0140]在這里，該第一群組Gl包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的100%至90%的發(fā)光二極管模塊，該第二群組G2包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的89%至80%的發(fā)光二極管模塊，第三群組G3包含受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的79%至60%的發(fā)光二極管模塊。
[0141]第一補償值y I至第三補償值y3分別補償于第一群組Gl至第三群組G3的參考樣本的測量值。在這里，第一補償值yl至第三補償值y3為臨時補償值。第一補償值yl至第三補償值y3可依據(jù)下列方程式(3)進(jìn)行設(shè)定。
[0142]yl=alx+bl
[0143]y2=a2x+b2
[0144]y3=a3x+b3 (3)
[0145]在這里，yl、y2與y3為第一補償值至第三補償值，al為該第一群組Gl的補償增益值，a2為該第二群組G2的補償增益值，a3為該第三群組G3的補償增益值，x為實際距尚，bl為該第一群組Gl的補償偏移量，b2為該第二群組G2的補償偏移量，b3為第三群組G3的補償偏移量。
[0146]在方程式(3)中，其利用線性回歸分析計算出補償增益值與補償偏移量，因此，方程式(3)的結(jié)果不會與方程式(I)及方程式(2)的結(jié)果重復(fù)。
[0147]圖20為補償一個補償值于圖19的第一群組Gl至第三群組G3的示意圖。參閱圖20，借助補償一個補償值至該第一群組Gl至該第三群組G3所得的測量值，可獲得相同于該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的偏心量測量的測量結(jié)果。
[0148]特別是，萬一其中一個群組具有一個高偏心量差異，例如圖17所示的該第二群組G2，或圖19所示的該第三群組G3，則依據(jù)群組補償一個補償值相較于整體補償一個補償值可獲得較準(zhǔn)確測量值。
[0149]當(dāng)補償該臨時補償值所得的結(jié)果落入該參考樣本的偏心量的5%以內(nèi)時，該臨時補償值設(shè)定為參考補償值，以用后續(xù)光軸測量的步驟中。換而言之，當(dāng)補償該臨時補償值所得的結(jié)果超出該參考樣本的偏心量的5%時，決定用于測量作為光軸測量目標(biāo)的發(fā)光二極管模塊的裝置具有誤差。在本實施例中，該裝置的設(shè)定值整體重置，以重新測量光軸。
[0150]由上述可知，當(dāng)在決定光軸的期間內(nèi)所測量到的偏心量補償一個補償值，該偏心量會近似于偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置所測量到的偏心量。
[0151]綜上所述，本發(fā)明為一種用于測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法，在通過擴散板擷取包含發(fā)光二極管與透鏡的光源所發(fā)出的光做為擷取目標(biāo)之后，利用測量該擷取目標(biāo)的中心點兩側(cè)的亮度可測量到光源的光軸，其為驗證目標(biāo)。另外，當(dāng)轉(zhuǎn)動通過該擷取目標(biāo)的測量線至預(yù)定角度(例如:0.5度)時，借助計算該中心點兩側(cè)的亮度比可測量該光源的該光軸。
[0152]以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用來限定本發(fā)明實施的范圍，舉凡依本發(fā)明申請專利范圍所述的形狀、構(gòu)造、特征及精神所作的均等變化與修飾，均應(yīng)包括于本發(fā)明的申請專利范圍內(nèi)。
[0153]本發(fā)明具有新穎性、創(chuàng)造性并可供產(chǎn)業(yè)利用，應(yīng)符合我國專利法所規(guī)定的專利申請要件無疑，爰依法提出發(fā)明專利申請，祈鈞局早日賜準(zhǔn)專利，至感為禱。
【權(quán)利要求】
1.一種測量發(fā)光二極管模塊的光源的光軸的方法，該發(fā)光二極管模塊為光軸測量目標(biāo)，該光源包含發(fā)光二極管與透鏡，其特征在于，該方法包含如下步驟: 置放該發(fā)光二極管模塊于驗證位置； 供電至該發(fā)光二極管； 擴散該發(fā)光二極管經(jīng)由該透鏡所發(fā)出的光； 輸出擷取目標(biāo)，該擷取目標(biāo)取自于該光源的擴散光；以及 依據(jù)該擷取目標(biāo)中心點兩側(cè)的亮度計算偏折點，以決定該光源的光軸。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該方法還包含: 移除該擷取目標(biāo)的雜訊。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該擴散光的步驟是利用擴散板設(shè)置于該發(fā)光二極管模塊的前面所達(dá)成的。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該決定該光軸的步驟包含: 設(shè)定測量線于該擷取目標(biāo)上； 測量該測量線上的亮度； 顯示該測量的亮度； 轉(zhuǎn)動該測量線至預(yù)定角度； 重復(fù)該亮度測量的步驟直到該測量線回到起始位置； 重新顯示該測量的亮度； 獲得該重新顯不的売度的斜率； 當(dāng)該斜率相較于參考斜率為落入預(yù)定范圍時決定偏折點；以及 補償一個補償值至該光軸測量目標(biāo)上。
5.如權(quán)利要求4所述方法，其特征在于，該亮度是測量于該中心點的正向與反向。
6.如權(quán)利要求4或5所述的方法，其特征在于，該亮度是測量于像素單元中。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，該亮度的斜率為亮度變化量與像素位置的微分值。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，該參考斜率的絕對值為0.1至0.3。
9.如權(quán)利要求6或7所述的方法，其特征在于，該斜率與該參考斜率比較數(shù)次。
10.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，該補償補償值的步驟包含: 制備數(shù)個發(fā)光二極管模塊，以獲得該補償值，該些發(fā)光二極管模塊作為參考樣本； 測量該些參考樣本的其中一個發(fā)光二極管模塊的擴散板與透鏡之間的距離并獲得測量距尚; 利用偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置測量該些參考樣本的其中一個發(fā)光二極管模塊的偏心量； 在決定該光軸的期間內(nèi)計算該受測的發(fā)光二極管模塊的該偏心量上的臨時補償值；以及 補償該補償值于作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊； 其中，當(dāng)該補償值所補償?shù)钠牧繛樵撔﹨⒖紭颖镜陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%以內(nèi)時，設(shè)定該臨時補償值為參考補償值并以該參考補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊上。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，當(dāng)該測量距離等于或高于誤差范圍時，具有該測量距離的該發(fā)光二極管模塊排除為該光軸測量目標(biāo)，并制備一個新的發(fā)光二極管模塊。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于，該誤差范圍為±100微米。
13.如權(quán)利要求10或12所述方法，其特征在于，還包含如下步驟: 獲得該測量距離與設(shè)定距離之間的差異； 依據(jù)該差異移動該擴散板。
14.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，計算該臨時補償值的步驟還包含: 依據(jù)方程式I計算對應(yīng)于該發(fā)光二極管模塊的補償值，該方程式I為y=ax+b，其中y為補償值，a為補償增益值，X為實際測量值，以及b為第一群組與第二群組的補償偏移量。
15.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，當(dāng)該補償值所補償?shù)钠牧扛哂谠撔﹨⒖紭颖镜陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%時，還包含如下步驟: 將該些參考樣本的該些發(fā)光二極管模塊分類為第一群組與第二群組； 在決定該光軸的期間內(nèi)針對受測的該發(fā)光二極管模塊的偏心量計算該第一群組與該第二群組的該些發(fā)光二極管模塊的偏心量上的補償值； 將該臨時補償值補償至作 為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊的該偏心量上；以及當(dāng)該補償值所補償?shù)钠牧繛樵撔﹨⒖紭颖镜陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%以內(nèi)時，設(shè)定該臨時補償值為參考補償值并以該參考補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊上。
16.如權(quán)利要求15所述的方法,其特征在于,該第一群組包含發(fā)光二極管模塊受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的100%至85%，以及該第二群組包含發(fā)光二極管模塊受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的84%至60%。
17.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，還包含如下步驟: 依據(jù)方程式2計算對應(yīng)于該第一群組的第一補償值以及對應(yīng)于該第二群組的第二補償值，該方程式2為yl=alx+bl與y2=a2x+b2,其中yl與y2分別為第一補償值與第二補償值，al為該第一群組與該第二群組的補償增益值，a2為第三群組的補償增益值，X為實際距尚，bl為該第一群組與該第二群組的補償偏移量，b2為該第三群組的補償偏移量。
18.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，當(dāng)該補償值所補償?shù)脑撈牧扛哂谠撔﹨⒖紭颖局械陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%時，還包含如下步驟: 將該些參考樣本的發(fā)光二極管模塊重新分類為第一至第三群組； 在決定該光軸的期間內(nèi)針對受測的該發(fā)光二極管模塊的偏心量計算該第一群組至第三群組的該些發(fā)光二極管模塊的偏心量的一臨時補償值； 將該臨時補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊的該偏心量上；以及當(dāng)該補償值所補償?shù)钠牧繛樵撔﹨⒖紭颖镜陌l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%以內(nèi)時，設(shè)定該臨時補償值為參考補償值并以該參考補償值補償至作為該光軸測量目標(biāo)的該發(fā)光二極管模塊上。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于，該第一群組包含發(fā)光二極管模塊受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的100%至90%，該第二群組包含發(fā)光二極管模塊受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的89%至80%，第三群組包含發(fā)光二極管模塊受測量的偏心量為該偏心量測量標(biāo)準(zhǔn)裝置的測量值的79%至60%。
20.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于，依據(jù)方程式3計算對應(yīng)于該第一群組的第一補償值、對應(yīng)于該第二群組的第二補償值以及對應(yīng)于該第三群組的第三補償值，該方程式3為yl=alx+bl、y2=a2x+b2與y3=a3x+b3,其中yl、y2與y3分別為該第一群組、該第二群組與該第三群組的補償值，al為該第一群組的補償增益值，a2為該第二群組的補償增益值，a3該第三群組的補償增益值，X為實際距離，bl為該第一群組的補償偏移量，b2為該第二群組的補償偏移量，以及b3為該第三群組的補償偏移量。
21.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于， 當(dāng)該補償值所補償?shù)脑撈牧扛哂谠撔﹨⒖紭颖局械乃霭l(fā)光二極管模塊的偏心量的5%時，還包含重新設(shè)定該發(fā)光二極管模塊的測量設(shè)備。
【文檔編號】G01B11/27GK103808257SQ201310156340
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2013年4月28日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月8日
【發(fā)明者】徐承煥, 趙章桓, 表政澈, 魏相玉 申請人:徐承煥