專利名稱：發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是關(guān)于一種點(diǎn)測裝置，尤指一種用于運(yùn)行于太陽能板與待檢測的晶圓 之間的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置。
背景技術(shù)：
發(fā)光二極管(LED)的技術(shù)日益成熟，應(yīng)用的領(lǐng)域也越來越多。LED市場成長初期， 主要應(yīng)用于車燈及交通號志。進(jìn)入LED市場成長后期，開始應(yīng)用于照明，如住宅領(lǐng)域所使 用的壁燈、夜燈、輔助照明燈、庭園燈或閱讀燈等；設(shè)施領(lǐng)域所使用的緊急指示燈或醫(yī)院用 病床燈；商店領(lǐng)域所使用聚光燈，崁燈，桶燈或燈條及戶外領(lǐng)域所使用的建筑外觀燈或太陽 能燈。LED最近廣泛運(yùn)用于顯示器的背光源。由上述可知，發(fā)光二極管可以快速成長，主要在于發(fā)光二極管具有高亮度、高功 率、壽命提升，改善演色性，提升發(fā)光效率、低價(jià)格化等優(yōu)點(diǎn)。但維持發(fā)光二極管的質(zhì)量亦相 當(dāng)重要，因此發(fā)光二極管制造完成后，必須檢測發(fā)光二極管的發(fā)光特性，以判斷發(fā)光二極管 的質(zhì)量是否良好。發(fā)光二極管主要成長于晶圓上，再利用雷射切割形成復(fù)數(shù)LED晶粒于晶圓上。LED 晶粒進(jìn)行檢測時(shí)，則是以兩組針壓組件，分別致能此LED晶粒位于同一側(cè)面兩電極，使得受 測的單顆LED晶粒發(fā)光，并利用積分球吸收LED晶粒感測LED晶粒的發(fā)光特性，如主波長、 發(fā)光強(qiáng)度、光通量、色溫、工作電壓、反向電壓等信息，從而判別該LED晶粒的好壞。積分球是具有高反射性內(nèi)表面的空心球體，用來對處于球內(nèi)或放在球外并靠近某 個窗口處的試樣對光的散射或發(fā)射進(jìn)行收集的一種高效率器件。積分球置于晶圓上吸收 LED晶粒所發(fā)出的光源進(jìn)行感測，因積分球?yàn)橐磺蝮w，積分球只需稍微靠近晶圓的LED晶 粒，即可吸收LED晶粒所發(fā)出的大部分光源，不過由于積分球體積大，將會阻礙、影響機(jī)臺 內(nèi)部移動結(jié)構(gòu)的運(yùn)行。使用太陽能板搜集LED晶粒所發(fā)出的光源，光源有可能從太陽能板周圍散失，進(jìn) 而使太陽能板的檢測準(zhǔn)確度大幅降低，因此必須使太陽能板非?？拷A，以免LED晶粒 的光源從太陽能板的周圍散失。為了使太陽能板能與晶圓十分靠近，必須改良探針本體的厚度。有鑒于上述問題，本實(shí)用新型提供一種發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，具有扁形的本 體，有效地縮短太陽能板與晶圓間的距離，使太陽能板能搜集設(shè)于晶圓的發(fā)光二極管所發(fā) 出的大部分光源，并依據(jù)所搜集的光源檢測發(fā)光二極管的發(fā)光特性，如此可大幅提升太陽 能板的檢測準(zhǔn)確度。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的，在于提供是在于提供一種發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，主要用 于太陽能板與晶圓之間，本實(shí)用新型的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置有效地縮短太陽能板與待 測晶圓間的距離，使太陽能板能搜集晶圓的點(diǎn)測發(fā)光二極管晶粒所發(fā)出的大部分光源，并依據(jù)所搜集的光源檢測晶粒的發(fā)光特性，如此可大幅提升檢測準(zhǔn)確度。為實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的目的及解決其技術(shù)問題是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的本實(shí)用新型公開了一種發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，用于運(yùn)行于一太陽能板與待檢 測的一晶圓之間，該發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置包含一本體；一延伸臂，以一端橋接于該本體；一探針，設(shè)于該延伸臂的另一端；以及一傳感器，設(shè)于該本體的另一端。本實(shí)用新型中，其中該延伸臂更包含一與該本體連接的固定裝置；以及一分別與該固定裝置以及供設(shè)置探針的座體。本實(shí)用新型中，其中該傳感器包含一荷重感測裝置，感測該探針與該晶圓的接觸荷重，以注入一電流至該晶圓。本實(shí)用新型中，其中荷重感測裝置為一彈性體。本實(shí)用新型具有的有益效果本實(shí)用新型所述探針點(diǎn)測該晶圓的一發(fā)光二極管晶 粒，該傳感器偵測該探針是否接觸待測發(fā)光二極管晶粒，以注入電流至該發(fā)光二極管晶粒， 使該發(fā)光二極管晶粒發(fā)出一光源，該太陽能板搜集該光源進(jìn)行檢測該發(fā)光二極管晶粒的發(fā) 光特性，據(jù)以判斷該發(fā)光二極管晶粒是否符合標(biāo)準(zhǔn)。

圖1是本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置的立體圖；圖2是本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的使用狀態(tài)圖；圖號簡單說明1發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置 10本體100延伸臂12探針14固定裝置 16座體2太陽能板 3晶圓31發(fā)光二極管晶粒
具體實(shí)施方式
為使對本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征及所達(dá)成的功效有更進(jìn)一步的了解與認(rèn)識，用以較 佳的實(shí)施例及配合詳細(xì)的說明，說明如下請參閱圖1及圖2，是本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置的 立體圖及本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例的使用狀態(tài)圖。如圖所示，本實(shí)施例提供一種發(fā)光二 極管晶粒點(diǎn)測裝置1，本實(shí)施例的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1主要用于運(yùn)行于一太陽能板2 及待檢測的一晶圓3之間。而本實(shí)施例的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1為扁形，其目的使發(fā) 光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1可伸入太陽能板2與待測晶圓3之間所形成的空間內(nèi)進(jìn)行點(diǎn)測作 業(yè)，太陽能板2越靠近待測晶圓3則能有效提高檢測機(jī)臺的檢測準(zhǔn)確度。其主要因?yàn)樘?能板2為一平板，越靠近待測對象時(shí)可視為完全搜集設(shè)于晶圓3的一發(fā)光二極管晶粒31所發(fā)射的光源。由上述可知，太陽能板2與晶圓3間的距離小，用以防止晶圓3的發(fā)光二極管 晶粒31所發(fā)射的光源從太陽能板2周圍大量散失。為了克服上述問題，本實(shí)施例的發(fā)光二 極管晶粒點(diǎn)測裝置1必須為扁形，如此有效縮短太陽能板2與晶圓3間的距離，以使太陽能 板2搜集發(fā)光二極管晶粒31所發(fā)出的大部分光源，以提升檢測機(jī)臺的檢測準(zhǔn)確度。本實(shí)施例的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1包含一本體10及一探針12，探針12設(shè)于 扁形的本體10的一端，探針12將點(diǎn)測設(shè)于晶圓3的每一發(fā)光二極管晶粒31，以檢測每一發(fā) 光二極管晶粒31的發(fā)光特性，如主波長、發(fā)光強(qiáng)度、光通量、色溫、工作電壓、反向電壓等， 并依據(jù)檢測結(jié)果判斷發(fā)光二極管晶粒31是否符合標(biāo)準(zhǔn)。復(fù)參閱圖1，為了固定本實(shí)施例的探針12于本體10上，探針12設(shè)置于一延伸臂 100上，延伸臂100于此實(shí)施例分別包括有座體16及固定裝置14，透過固定裝置14的一端 固定于本體10，其另一端供設(shè)有探針12的座體16固定。而延伸臂100亦可設(shè)計(jì)為獨(dú)立形 態(tài)，直接橋接于本體10及探針12之間。值得一提的是，無論是延伸臂100或座體16的縱面距離及面積均較以往設(shè)計(jì)小， 其目的在于減少阻礙發(fā)光二極管晶粒31受測發(fā)光時(shí)、被太陽能板2接收時(shí)所受的阻礙，影 響受測準(zhǔn)確度。本實(shí)施例的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1進(jìn)行該些發(fā)光晶粒31檢測時(shí)，發(fā)光二極管 晶粒點(diǎn)測裝置1將設(shè)計(jì)為固定位置，晶圓3設(shè)置于一承載平臺，承載平臺透過一定位系統(tǒng)控 制移動，使設(shè)于晶圓3的發(fā)光二極管晶粒31移動至發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1的探針12 下，探針12點(diǎn)測發(fā)光二極管晶粒31，接著注入一電流至發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1接通發(fā) 光二極管晶粒31，利用太陽能板2搜集發(fā)光二極管晶粒31所發(fā)出的光源，檢測發(fā)光二極管 晶粒31的發(fā)光特性，進(jìn)而判斷發(fā)光二極管晶粒31是否符合標(biāo)準(zhǔn)。在此一提，該發(fā)光二極管 晶粒點(diǎn)測裝置1亦可為可移動的設(shè)計(jì)，透過精密的定位系統(tǒng)隨該承載平臺所載晶圓上的發(fā) 光二極管晶粒31的位置而移動。實(shí)行發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1及承載平臺相對位移進(jìn) 行定位的方式亦可。為了判斷發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1的探針12是否接觸到設(shè)于晶圓3的發(fā)光二 極管晶粒31，發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1更包含一傳感器18，傳感器18設(shè)于本體10的另 一端。傳感器18用以判斷發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1的探針12與設(shè)于晶圓3的發(fā)光二極 管晶粒31間的接觸。傳感器18為一荷重感測裝置，當(dāng)發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1的探針 12與設(shè)于晶圓3的發(fā)光二極管晶粒31接觸時(shí)，發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1的探針12與設(shè) 于晶圓3的發(fā)光二極管晶粒31之間的接觸荷重會增加，荷重感測裝置感測到發(fā)光二極管晶 粒點(diǎn)測裝置1的探針12與設(shè)于晶圓3的發(fā)光二極管晶粒31之間的接觸荷重，會觸動一供 電裝置，供電裝置會提供電流至發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置1的探針12及設(shè)于晶圓3的發(fā)光 二極管晶粒31，以接通發(fā)光二極管晶粒31，發(fā)光二極管晶粒31所發(fā)出的光源利用太陽能板 2搜集，太陽能板2依據(jù)所接收的光源檢測發(fā)光二極管晶粒31的發(fā)光特性是否符合標(biāo)準(zhǔn)。 上述荷重感測裝置于本實(shí)施例中使用一彈性體。由上述可知，本實(shí)用新型提供一種發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，本實(shí)用新型的發(fā)光 二極管晶粒點(diǎn)測裝置用于運(yùn)行于太陽能板及晶圓之間，其特點(diǎn)在于具有扁形的本體。因?yàn)?太陽能板距離晶圓太遠(yuǎn)時(shí)，大部分設(shè)于晶圓的發(fā)光二極管晶粒所發(fā)出的光源從太陽能板周 圍散失，導(dǎo)致太陽能板無法搜集大部分發(fā)光二極管晶粒所發(fā)出的光源，進(jìn)而使太陽能板的檢測準(zhǔn)確度大幅降低，所以必須縮短太陽能板與晶圓間的距離。因此本實(shí)用新型提供一種 具有扁形本體的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，縮短太陽能板與晶圓間的距離，使太陽能板能 搜集由發(fā)光二極管晶粒所發(fā)出的大部分光源，進(jìn)而提升太陽能板的檢測準(zhǔn)確度。 綜上所述，僅為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例而已，并非用來限定本實(shí)用新型實(shí)施 的范圍，凡依本實(shí)用新型權(quán)利要求范圍所述的形狀、構(gòu)造、特征及精神所為之均等變化與修 飾，均應(yīng)包括于本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求一種發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，用于運(yùn)行于一太陽能板與待檢測的一晶圓之間，其特征在于，該發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置包含一本體；一延伸臂，以一端橋接于該本體；一探針，設(shè)于該延伸臂的另一端；以及一傳感器，設(shè)于該本體的另一端。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，其特征在于，其中該延伸臂更包含 一與該本體連接的固定裝置；以及一分別與該固定裝置以及供設(shè)置探針的座體。
3.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，其特征在于，其中該傳感器包含 一荷重感測裝置，感測該探針與該晶圓的接觸荷重，以注入一電流至該晶圓。
4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，其特征在于，其中荷重感測裝置為 一彈性體。
專利摘要本實(shí)用新型是關(guān)于一種發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置，該發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置用于運(yùn)行于一太陽能板與待檢測的一晶圓之間，該發(fā)光二極管晶粒點(diǎn)測裝置是包含一本體、一延伸臂、一探針及一傳感器，該延伸臂的一端橋接于該本體，該探針設(shè)于該延伸臂的另一端，該傳感器設(shè)于該本體的另一端。本實(shí)用新型的特征在于該本體是呈扁形而可供運(yùn)行于該太陽能板及該晶圓之間，縮短該太陽能板與該晶圓之間的距離，使該太陽能板搜集該發(fā)光二極管所發(fā)出的大部分光源，進(jìn)而提升檢測準(zhǔn)確率。
文檔編號G01M11/02GK201725009SQ20102016409
公開日2011年1月26日 申請日期2010年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月16日
發(fā)明者李聰明, 溫俊熙 申請人:致茂電子(蘇州)有限公司