專利名稱：一種pcb板耐壓測(cè)試輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于印制線路板制作技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及的是一種PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置。
背景技術(shù)：
電子設(shè)備的安全性是決定其質(zhì)量的各要素中最重要的部分，而耐壓測(cè)試是決定電子產(chǎn)品安全性的重要依據(jù)，與電子設(shè)備密切相關(guān)的線路板在產(chǎn)品完成后通常都需要進(jìn)行耐壓測(cè)試，以確保產(chǎn)品的安全。目前PCB板在進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)，首先是將PCB板放置于耐壓測(cè)試儀旁邊的絕緣膠片上，然后設(shè)置耐壓測(cè)試參數(shù)和調(diào)試耐壓測(cè)試儀，之后再將PCB板放置于測(cè)試針座上進(jìn)行 耐壓測(cè)試，這種測(cè)試方式PCB板與其它物體之間的接觸機(jī)會(huì)較多，容易造成PCB板表面的刮花；而且測(cè)試過程中PCB板電力接觸處容易外露，人身安全無法保證。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置，以解決目前PCB板耐壓測(cè)試過程中所遇到的PCB板面刮花和人身安全無法保證的問題。本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的。一種PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置，包括絕緣底座(I)和安裝在絕緣底座(I)上的測(cè)試盒(2)，所述絕緣底座(I)上設(shè)置有一接地探針孔(101)，所述測(cè)試盒(2)由導(dǎo)電底板(201)和設(shè)置在導(dǎo)電底板(201)上的絕緣邊框(202)構(gòu)成，所述測(cè)試盒(2)內(nèi)放置有待測(cè)PCB板(3)，所述導(dǎo)電底板(201)上設(shè)置有一測(cè)試端探針孔(203)。其中所述接地探針孔(101)與耐壓測(cè)試儀(4)的接地探針(401)連接；所述測(cè)試端探針孔(203)與耐壓測(cè)試儀(4)的第一測(cè)試探針(402)連接；所述待測(cè)PCB板(3)與耐壓測(cè)試儀(4)的第二測(cè)試探針(403)連接。本實(shí)用新型首先將待測(cè)PCB板放入測(cè)試盒中，然后將耐壓測(cè)試儀的接地探針插入PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置的接地探針孔中，將第一測(cè)試探針插入PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置的測(cè)試端探針孔中，之后開啟耐壓測(cè)試儀，并將第二測(cè)試探針與待測(cè)PCB板接觸，進(jìn)行耐壓測(cè)試。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型將待測(cè)PCB板放入測(cè)試盒中，整個(gè)測(cè)試過程可避免人身與測(cè)試裝置的接觸，保證了人身安全；同時(shí)減少了 PCB板與其它物體之間的接觸，減少了PCB板表面刮花的問題。

圖I為本實(shí)用新型PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置與耐壓測(cè)試儀的連接狀態(tài)示意圖。圖中標(biāo)識(shí)說明絕緣底座I、接地探針孔101、測(cè)試盒2、導(dǎo)電底板201、絕緣邊框202、測(cè)試端探針孔203、待測(cè)PCB板3、耐壓測(cè)試儀4、接地探針401、第一測(cè)試探針402、第二測(cè)試探針403。
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。請(qǐng)參閱圖I所示，圖I為本實(shí)用新型PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置與耐壓測(cè)試儀的連接狀態(tài)示意圖。本實(shí)用新型提供的是一種PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置，主要用于解決目前PCB板耐壓測(cè)試過程中所遇到的PCB板面刮花和人身安全無法保證的問題。其中該P(yáng)CB板耐壓測(cè)試輔助裝置主要由絕緣底座I和測(cè)試盒2構(gòu)成，所述絕緣底座I采用5mm厚的絕緣材制作而成，在絕緣底座I上還設(shè)置有一個(gè)由導(dǎo)電銅箔制作而成半徑為2mm的接地探針孔101 ;測(cè)試盒2安裝在絕緣底座I上，其外形數(shù)據(jù)為1210*510*125mm ;由導(dǎo)電底板201和安裝在導(dǎo)電底板201上的絕緣邊框202構(gòu)成；導(dǎo)電底板201采用4mm厚的導(dǎo)電金屬(不銹鋼)制作而成，絕緣邊框202采用5mm厚的絕緣材制作而成，在導(dǎo)電底板201上設(shè)置有一個(gè)半徑為2mm的測(cè)試端探針孔203。采用本實(shí)用新型裝置進(jìn)行耐壓測(cè)試具體方式如下首先將待測(cè)PCB板3放置在測(cè)試盒2中，然后將耐壓測(cè)試儀4的接地探針401插入到絕緣底座I上的接地探針孔101中，將耐壓測(cè)試儀4的第一測(cè)試探針402插入到導(dǎo)電底板201上的測(cè)試端探針孔203中；之后開啟耐壓測(cè)試儀4，按照客戶的耐壓測(cè)試要求對(duì)耐壓測(cè)試儀的電流、電壓、測(cè)試時(shí)間進(jìn)行設(shè)置，并將耐壓測(cè)試儀4的第二測(cè)試探針403與待測(cè)PCB板3接觸，進(jìn)行耐壓測(cè)試，，對(duì)應(yīng)記錄相關(guān)的測(cè)試參數(shù)和測(cè)試結(jié)果。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置，其特征在于包括絕緣底座(I)和安裝在絕緣底座(I)上的測(cè)試盒(2)，所述絕緣底座⑴上設(shè)置有一接地探針孔(101)，所述測(cè)試盒⑵由導(dǎo)電底板(201)和設(shè)置在導(dǎo)電底板(201)上的絕緣邊框(202)構(gòu)成，所述測(cè)試盒(2)內(nèi)放置有待測(cè)PCB板(3)，所述導(dǎo)電底板(201)上設(shè)置有一測(cè)試端探針孔(203)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置，其特征在于所述接地探針孔(101)與耐壓測(cè)試儀(4)的接地探針(401)連接；所述測(cè)試端探針孔(203)與耐壓測(cè)試儀(4)的第一測(cè)試探針(402)連接；所述待測(cè)PCB板(3)與耐壓測(cè)試儀(4)的第二測(cè)試探針(403)連接。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置，包括絕緣底座和安裝在絕緣底座上的測(cè)試盒，所述絕緣底座上設(shè)置有一接地探針孔，所述測(cè)試盒由導(dǎo)電底板和設(shè)置在導(dǎo)電底板上的絕緣邊框構(gòu)成，所述測(cè)試盒內(nèi)放置有待測(cè)PCB板，所述導(dǎo)電底板上設(shè)置有一測(cè)試端探針孔。本實(shí)用新型首先將待測(cè)PCB板放入測(cè)試盒中，然后將耐壓測(cè)試儀的接地探針插入PCB板耐壓測(cè)試輔助裝置的接地探針孔中，將第一測(cè)試探針插入到測(cè)試端探針孔中，之后開啟耐壓測(cè)試儀，并將第二測(cè)試探針與待測(cè)PCB板接觸，進(jìn)行耐壓測(cè)試。與現(xiàn)有技術(shù)相比，整個(gè)測(cè)試過程可避免人身與測(cè)試裝置的接觸，保證了人身安全；同時(shí)減少了PCB板與其它物體之間的接觸，減少了PCB板表面刮花的問題。
文檔編號(hào)G01R31/16GK202649390SQ20122030265
公開日2013年1月2日 申請(qǐng)日期2012年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月26日
發(fā)明者溫滄, 張軍 申請(qǐng)人:深圳市星河電路有限公司