專利名稱：光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的光干涉甲烷檢測(cè)設(shè)備都是采用50年代日本理研設(shè)計(jì)的光路和機(jī)械結(jié)構(gòu)，其原理為雅敏干涉，它由光源、聚光鏡、平面鏡、氣室、折光棱鏡、物鏡、反射棱鏡、負(fù)透鏡等組成。這種結(jié)構(gòu)測(cè)量范圍寬、有一定測(cè)量精度、維護(hù)工作量小，但因光學(xué)系統(tǒng)的成像光程較長(zhǎng)和光學(xué)機(jī)械組合結(jié)構(gòu)件較多，產(chǎn)品體積較大。這種結(jié)構(gòu)由于光源沒有準(zhǔn)直，有雜光，從而容易產(chǎn)生零點(diǎn)漂移和測(cè)量誤差
實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此，本實(shí)用新型目的在提供一種光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，通過結(jié)構(gòu)上的改進(jìn)，得到更好的準(zhǔn)直效果，有效消除雜光，使光干涉甲烷檢測(cè)裝置得到更加理想的干涉成像條紋即測(cè)量精度。本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，包括光源和準(zhǔn)直光路，所述準(zhǔn)直光路設(shè)置于光源的發(fā)射方向上。進(jìn)一步，所述準(zhǔn)直光路沿光線發(fā)射方向，依次包括聚光鏡和準(zhǔn)直鏡，所述準(zhǔn)直鏡設(shè)置于聚光鏡的焦點(diǎn)外。進(jìn)一步，所述聚光鏡為凸透鏡，所述準(zhǔn)直鏡也為凸透鏡。進(jìn)一步，所述準(zhǔn)直鏡為膠合透鏡，所述膠合透鏡由一面凸透鏡和一面凹透鏡組成。進(jìn)一步，所述準(zhǔn)直鏡光心與聚光鏡光心的距離為聚光鏡的焦距加上準(zhǔn)直鏡的焦距。進(jìn)一步，所述聚光鏡和準(zhǔn)直鏡之間還設(shè)置有光欄，所述光欄設(shè)置于聚光鏡的焦點(diǎn)內(nèi)。進(jìn)一步，所述光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)封裝為一體。本實(shí)用新型的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)為兩級(jí)透鏡組成，準(zhǔn)直效果好，可提高成像清晰度，提高檢測(cè)精度，尤其適合使用面陣式圖像傳感器的光干涉甲烷檢測(cè)裝置；結(jié)構(gòu)緊湊，使儀器便攜成為可能。本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)、目標(biāo)和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進(jìn)行闡述，并且在某種程度上，基于對(duì)下文的考察研究對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將是顯而易見的，或者可以從本實(shí)用新型的實(shí)踐中得到教導(dǎo)。本實(shí)用新型的目標(biāo)和其他優(yōu)點(diǎn)可以通過下面的說明書和權(quán)利要求書來實(shí)現(xiàn)和獲得。

圖I本實(shí)用新型光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)的光路結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下將對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述。應(yīng)當(dāng)理解，優(yōu)選實(shí)施例僅為了說明本實(shí)用新型，而不是為了限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。本實(shí)施例的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，包括光源I和準(zhǔn)直光路，所述準(zhǔn)直光路設(shè)置于光源I的發(fā)射方向上。所述準(zhǔn)直光路沿光線發(fā)射方向，依次包括聚光鏡2、光欄3和準(zhǔn)直鏡4，所述光欄3設(shè)置于聚光鏡2的焦點(diǎn)內(nèi)，所述準(zhǔn)直鏡4設(shè)置于聚光鏡2的焦點(diǎn)外。所述聚光鏡2優(yōu)選為凸透鏡，所述準(zhǔn)直鏡4也未凸透鏡，優(yōu)選為膠合透鏡，所述膠合透鏡由一面凸透鏡和一面凹透鏡組成，準(zhǔn)直鏡4光心與聚光鏡2光心的距離為聚光鏡2的焦距I加上膠合透鏡的焦距f。所述光源I發(fā)射出光線，聚光鏡2將光源I發(fā)出的光纖會(huì)聚后發(fā)散，在此過程中，光欄3可將雜光去除，準(zhǔn)直鏡4則對(duì)接收的光線進(jìn)行準(zhǔn)直，試透射出的光線為水平光線。所述光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)中的光源I、聚光鏡2、光欄3和準(zhǔn)直鏡4可封裝為一體。最后說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
權(quán)利要求1.光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，其特征在于包括光源和準(zhǔn)直光路，所述準(zhǔn)直光路設(shè)置于光源的發(fā)射方向上。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，其特征在于所述準(zhǔn)直光路沿光線發(fā)射方向，依次包括聚光鏡和準(zhǔn)直鏡，所述準(zhǔn)直鏡設(shè)置于聚光鏡的焦點(diǎn)外。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，其特征在于所述聚光鏡為凸透鏡，所述準(zhǔn)直鏡也為凸透鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，其特征在于所述準(zhǔn)直鏡為膠合透鏡，所述膠合透鏡由一面凸透鏡和一面凹透鏡組成。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，其特征在于所述準(zhǔn)直鏡光心與聚光鏡光心的距離為聚光鏡的焦距加上準(zhǔn)直鏡的焦距。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，其特征在于所述聚光鏡和準(zhǔn)直鏡之間還設(shè)置有光欄，所述光欄設(shè)置于聚光鏡的焦點(diǎn)內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，其特征在于所述光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)封裝為一體。
專利摘要本實(shí)用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，目的在提供一種光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，通過結(jié)構(gòu)上的改進(jìn)，得到更好的準(zhǔn)直效果，有效消除雜光，使光干涉甲烷檢測(cè)裝置得到更加理想的干涉成像條紋即測(cè)量精度。本實(shí)用新型的光干涉氣體檢測(cè)裝置的光源系統(tǒng)，包括光源和準(zhǔn)直光路，所述準(zhǔn)直光路設(shè)置于光源的發(fā)射方向上；進(jìn)一步，所述準(zhǔn)直光路沿光線發(fā)射方向，依次包括聚光鏡和準(zhǔn)直鏡，所述準(zhǔn)直鏡設(shè)置于聚光鏡的焦點(diǎn)外。本實(shí)用新型的光源系統(tǒng)為兩級(jí)透鏡組成，可提高成像清晰度，提高檢測(cè)精度，尤其適合使用面陣式圖像傳感器的光干涉甲烷檢測(cè)裝置。
文檔編號(hào)G01N21/01GK202676583SQ20122025440
公開日2013年1月16日 申請(qǐng)日期2012年5月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月31日
發(fā)明者張晶, 張小平, 劉佳 申請(qǐng)人:重慶同博測(cè)控儀器有限公司