專利名稱：光源檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光源檢測(cè)裝置，特別涉及一種檢測(cè)發(fā)光二極管光源的光源檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的發(fā)光二極管光源檢測(cè)裝置通常包括測(cè)試臺(tái)、旋轉(zhuǎn)座以及用于檢測(cè)發(fā)光二極 管光源的測(cè)試針。旋轉(zhuǎn)座連接于測(cè)試臺(tái)底面，該測(cè)試臺(tái)的頂面開設(shè)有一個(gè)固定形狀的凹槽，用于放置發(fā)光二極管光源。轉(zhuǎn)動(dòng)旋轉(zhuǎn)座可將測(cè)試針從測(cè)試臺(tái)上表面穿設(shè)而出并與發(fā)光二極管光源的電極接觸，從而進(jìn)行光源檢測(cè)。然而由于測(cè)試臺(tái)上用于放置發(fā)光二極管光源的凹槽其形狀及尺寸已經(jīng)固定，故該檢測(cè)裝置只適用于檢測(cè)一定形狀和尺寸的發(fā)光二極管光源。此外由于發(fā)光二極管光源裝設(shè)于凹槽內(nèi)，如果測(cè)試臺(tái)采用的材料不具備良好的熱傳導(dǎo)性，則發(fā)光二極管光源產(chǎn)生的熱量不易快速消散，從而對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生不良影響。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種能夠檢測(cè)多種形狀及尺寸發(fā)光二極管的光源檢測(cè)裝置。一種用于檢測(cè)發(fā)光二極管光源的光源檢測(cè)裝置，包括基座、升降臺(tái)，所述基座上設(shè)有電極，該升降臺(tái)上形成有導(dǎo)電區(qū)域，所述升降臺(tái)內(nèi)裝設(shè)有測(cè)試針，該測(cè)試針穿設(shè)于升降臺(tái)并與導(dǎo)電區(qū)域連接固定，所述發(fā)光二極管光源包括發(fā)光二極管和電路板，該電路板上設(shè)有電路結(jié)構(gòu)，該發(fā)光二極管裝設(shè)于電路板上并與電路結(jié)構(gòu)形成電性連接，該發(fā)光二極管光源裝設(shè)于升降臺(tái)上并與導(dǎo)電區(qū)域電性連接，所述升降臺(tái)由彈性元件固定于基座上，通過下壓該升降臺(tái)使測(cè)試針與基座上的電極接觸形成電性連接。將發(fā)光二極管光源固定于升降臺(tái)上，并利用彈性元件以及外力共同作用改變升降臺(tái)的高度，從而控制測(cè)試針與基座上的電極的導(dǎo)通與斷開，進(jìn)而對(duì)升降臺(tái)上裝設(shè)的發(fā)光二極管光源進(jìn)行檢測(cè)，并且不對(duì)裝設(shè)的發(fā)光二極管光源的形狀和尺寸進(jìn)行過多限制，故該光源檢測(cè)裝置可用來檢測(cè)多種形狀和尺寸的發(fā)光二極管光源。下面參照附圖，結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。


圖I為本發(fā)明實(shí)施方式提供的光源檢測(cè)裝置的側(cè)視示意圖。圖2為圖I中的光源檢測(cè)裝置的俯視示意圖。圖3為圖I中的光源檢測(cè)裝置裝設(shè)有發(fā)光二極管光源的側(cè)視示意圖。圖4為圖3中的光源檢測(cè)裝置的俯視示意圖。主要元件符號(hào)說明
權(quán)利要求
1.一種用于檢測(cè)發(fā)光二極管光源的光源檢測(cè)裝置，包括基座、升降臺(tái)以及固定元件，所述基座上設(shè)有電極，該升降臺(tái)上形成有導(dǎo)電區(qū)域，其特征在干所述升降臺(tái)內(nèi)裝設(shè)有測(cè)試針，該測(cè)試針穿設(shè)于升降臺(tái)并與導(dǎo)電區(qū)域連接固定，所述發(fā)光二極管光源包括發(fā)光二極管和電路板，該電路板上設(shè)有電路結(jié)構(gòu)，該發(fā)光二極管裝設(shè)于電路板上并與電路結(jié)構(gòu)形成電性連接，該發(fā)光二極管光源裝設(shè)于升降臺(tái)上并與導(dǎo)電區(qū)域電性連接，所述升降臺(tái)由弾性元件支撐于基座上，所述固定元件壓持于電路板上并通過下壓該升降臺(tái)使弾性元件壓縮，從而使測(cè)試針與基座上的電極接觸形成電性連接。
2.如權(quán)利要求I所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述導(dǎo)電區(qū)域形成于升降臺(tái)遠(yuǎn)離基座的上表面，所述電路結(jié)構(gòu)自電路板裝設(shè)發(fā)光二極管的上表面延伸至與上表面相對(duì)的下表面，所述電路板裝設(shè)于升降臺(tái)的上表面，所述導(dǎo)電區(qū)域與電路板的電路結(jié)構(gòu)相接觸從而形成電性連接。
3.如權(quán)利要求2所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述升降臺(tái)上開設(shè)有盲孔，該盲孔自升降臺(tái)靠近基座的下表面向上開設(shè)直至，該導(dǎo)電區(qū)域自該盲孔露出，所述測(cè)試針穿設(shè)于該盲孔內(nèi)并與導(dǎo)電區(qū)域連接固定。
4.如權(quán)利要求I所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述光源檢測(cè)裝置還包括ー個(gè)支撐柱裝設(shè)于基座上，該支撐柱內(nèi)形成有一個(gè)通孔，該通孔的內(nèi)壁向內(nèi)延伸形成一個(gè)支撐平臺(tái)，該支撐平臺(tái)將該通孔分隔為第一容置區(qū)和第二容置區(qū)，該升降臺(tái)容置于第一容置區(qū)內(nèi)。
5.如權(quán)利要求4所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述支撐平臺(tái)上開設(shè)有小孔，所述測(cè)試針穿設(shè)于該小孔中并與升降臺(tái)的導(dǎo)電區(qū)域連接。
6.如權(quán)利要求5所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述測(cè)試針包括頂端和底端，該底端的面積大于頂端的面積。
7.如權(quán)利要求6所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述彈性元件為彈簧，該彈簧支撐所述升降臺(tái)使升降臺(tái)的下表面距支撐平臺(tái)的上表面的距離與測(cè)試針的底端距基座的電極的距離相等。
8.如權(quán)利要求I所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述固定元件包括絕緣壓板和固定器，該絕緣壓板用于壓持電路板以使升降臺(tái)下降到測(cè)試針與電極接觸的位置，該固定元件用于固定絕緣壓板使該絕緣壓板緊貼于支撐柱的上表面，以使測(cè)試針與電極保持接觸。
9.如權(quán)利要求8所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述絕緣壓板中部設(shè)有孔洞，該孔洞的尺寸小于電路板的尺寸，且大于發(fā)光二極管的尺寸。
10.如權(quán)利要求9所述的光源檢測(cè)裝置，其特征在于所述固定器包括第一旋轉(zhuǎn)條、第ニ旋轉(zhuǎn)條以及將該第一旋轉(zhuǎn)條和第二旋轉(zhuǎn)條樞轉(zhuǎn)連接的中軸，該第一旋轉(zhuǎn)條擋持與絕緣壓板，該第二旋轉(zhuǎn)條固定連接于支撐柱的外壁。
全文摘要
一種用于檢測(cè)發(fā)光二極管光源的光源檢測(cè)裝置，包括基座、升降臺(tái)，所述基座上設(shè)有電極，該升降臺(tái)上形成有導(dǎo)電區(qū)域，所述升降臺(tái)內(nèi)裝設(shè)有測(cè)試針，該測(cè)試針穿設(shè)于升降臺(tái)并與導(dǎo)電區(qū)域連接固定，所述發(fā)光二極管光源包括發(fā)光二極管和電路板，該電路板上設(shè)有電路結(jié)構(gòu)，該發(fā)光二極管裝設(shè)于電路板上并與電路結(jié)構(gòu)形成電性連接，該發(fā)光二極管光源裝設(shè)于升降臺(tái)上并與導(dǎo)電區(qū)域電性連接，所述升降臺(tái)由彈性元件固定于基座上，通過下壓該升降臺(tái)使測(cè)試針與基座上的電極接觸形成電性連接。對(duì)發(fā)光二極管的尺寸和形狀不產(chǎn)生過多的限制性作用，故該光源檢測(cè)裝置可用來檢測(cè)多種形狀和尺寸的發(fā)光二極管光源。
文檔編號(hào)G01R31/44GK102680913SQ201110058159
公開日2012年9月19日 申請(qǐng)日期2011年3月11日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月11日
發(fā)明者張超雄, 柯志勛, 詹勛偉 申請(qǐng)人:展晶科技(深圳)有限公司, 榮創(chuàng)能源科技股份有限公司