專利名稱：一種測試適配器的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及集成電路測試系統(tǒng)，特別是指一種基于測試系統(tǒng)V93000的測試適配器。
背景技術：
V93000為大規(guī)模SOC(System on Chip)集成電路測試系統(tǒng)，測試系統(tǒng)提供大規(guī)模的多點測試，可測試用于各種終端產(chǎn)品(從數(shù)字電視到無線通信設備)的片上系統(tǒng)(SOC)器件和系統(tǒng)級封裝(SiP)器件。V93000測試速度快、測試精度高、通道數(shù)多，對于集成電路芯片XC95144XL的測試具有重要意義，但集成電路芯片XC95144XL無法直接在測試系統(tǒng)V93000上完成配置和測試，需要設計V93000專用適配器完成集成電路芯片XC95144XL的配置和測試，目前還沒有基于V93000測試系統(tǒng)的XC95144XL測試適配器。
實用新型內(nèi)容有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種基于測試系統(tǒng)V93000的測試適配器，提高被測器件XC95144XL的測試精度和測試效率?；谏鲜瞿康谋緦嵱眯滦吞峁┑囊环N基于測試系統(tǒng)V93000的測試適配器，包括配置電源、JTAG接口和2個V93000連接器；代碼下載狀態(tài)下，所述配置電源向被測器件XC95144XL和所述JTAG接口供電，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸入線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端連接，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸出線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸出端連接，所述JTAG接口的時鐘線與被測器件XC95144XL的時鐘端連接，所述JTAG接口的模式選擇線與被測器件XC95144XL的模式選擇端連接；EDA代碼通過所述JTAG接口下載至被測器件XC95144XL中，完成邏輯功能配置；測試狀態(tài)下，測試系統(tǒng)V93000通過所述其中一個V93000連接器向被測器件XC95144XL提供電壓；測試系統(tǒng)通過所述另一個V93000連接器的各數(shù)字通道與被測器件XC95144XL的信號管腳——對應連接。進一步地，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸出線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸出端連接，與所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸入線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端連接構成JTAG鏈。進一步地，所述EDA代碼通過所述JTAG鏈下載至被測器件XC95144XL中。從上面所述可以看出，本實用新型提供的測試適配器，通過將代碼下載至被測器件XC95144XL中，實現(xiàn)被測器件XC95144XL的測試前配置；在測試系統(tǒng)上對被測器件XC95144XL進行測試，實現(xiàn)被測器件XC95144XL的功能測試覆蓋率更大、效率更高，提高測試精度和測試效率。

圖I為本實用新型實施例的一種測試適配器的電路示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本實用新型進一步詳細說明。圖I為本實用新型實施例的一種測試適配器的電路示意圖。如圖I所示，測試適配器包括配置電源、JTAG接口和2個V93000連接器，其中，配置電源向被測器件和JTAG接口供電。配置電源外接5V/3A的直流電源，通過電壓轉換模塊生成3路電源電壓，分別是為被測器件XC95144XL提供核電壓VCCINT和IO端口電壓VCCI0、為JTAG接口提供接口電壓 VCCJ。代碼下載狀態(tài)下，JTAG接口的數(shù)據(jù)輸入線TDI與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端TDI連接，JTAG接口的數(shù)據(jù)輸出線TDO與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸出端TDO連接，JTAG接口的時鐘線TCK與被測器件XC95144XL的時鐘端TCK連接，JTAG接口的模式選擇線 TMS與被測器件XC95144XL的模式選擇端TMS連接；EDA代碼通過JTAG接口下載至被測器件XC95144XL，完成邏輯功能配置。JTAG接口的數(shù)據(jù)輸出線TDO與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸出端TDO連接，與JTAG接口的數(shù)據(jù)輸入線TDI與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端TDI連接構成JTAG鏈，EDA代碼通過JTAG鏈下載至被測器件XC95144XLXC95144XL中。測試狀態(tài)下，測試系統(tǒng)通過其中一個V93000連接器向被測器件XC95144XL提供電壓；測試系統(tǒng)通過另一個V93000連接器的各數(shù)字通道與被測器件XC95144XL的信號管腳——對應連接，即V93000連接器的11通道與被測器件XC95144XL的核電壓VCCINT段連接，V93000連接器的12通道與被測器件XC95144XL的IO端口電壓VCCIO端連接，被測器件XC95144XL的所有除了接地、電源之外的管腳都——對應地與V93000連接器的各數(shù)字通道連接，通過PCB布線從V93000連接器處連接到XC95144XL。圖I中標識的是測試被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端TDI、模式選擇端TMS、數(shù)據(jù)輸出端TDO和時鐘端TCK時，通過V93000連接器連接到測試系統(tǒng)的各數(shù)字通道，測試被測器件XC95144XL的其它管腳時，也是通過V93000連接器連接到測試系統(tǒng)的各數(shù)字通道。其中，圖I中的實線為電源配置連接，虛線為測試時被測器件XC95144XL與測試系統(tǒng)的連接關系。在其它實施例中，本實用新型還可以用于同XC95144XL器件封裝形式相同、管腳類型分布相同、具有可編程邏輯功能的器件測試。從上面所述可以看出，本實用新型提供的測試適配器，通過對被測器件XC95144XL進行測試前的電源配置和邏輯功能配置，在測試系統(tǒng)上對被測器件XC95144XL進行快速全面的測試，提高測試精度和測試效率。所屬領域的普通技術人員應當理解以上所述僅為本實用新型的具體實施例而已，并不用于限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權利要求1.一種基于測試系統(tǒng)V93000的測試適配器,其特征在于,包括 配置電源、JTAG接口和2個V93000連接器； 代碼下載狀態(tài)下，所述配置電源向被測器件XC95144XL和所述JTAG接口供電，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸入線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端連接，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸出線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸出端連接，所述JTAG接口的時鐘線與被測器件XC95144XL的時鐘端連接，所述JTAG接口的模式選擇線與被測器件XC95144XL的模式選擇端連接；EDA代碼通過所述JTAG接口下載至被測器件XC95144XL中，完成邏輯功能配置； 測試狀態(tài)下，測試系統(tǒng)V93000通過所述其中一個V93000連接器向被測器件XC95144XL提供電壓；測試系統(tǒng)通過所述另一個V93000連接器的各數(shù)字通道與被測器件XC95144XL的信號管腳對應連接。
2.根據(jù)權利要求I所述的一種測試適配器，其特征在于，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸出線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸出端連接，與所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸入線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端連接構成JTAG鏈。
3.根據(jù)權利要求I或2所述的一種測試適配器，其特征在于，所述EDA代碼通過所述JTAG鏈下載至被測器件XC95144XL中。
專利摘要本實用新型公開了一種基于測試系統(tǒng)V93000的測試適配器，包括配置電源、JTAG接口和2個V93000連接器；代碼下載狀態(tài)下，所述配置電源向被測器件XC95144XL和所述JTAG接口供電，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸入線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸入端連接，所述JTAG接口的數(shù)據(jù)輸出線與被測器件XC95144XL的數(shù)據(jù)輸出端連接，所述JTAG接口的時鐘線與被測器件XC95144XL的時鐘端連接，所述JTAG接口的模式選擇線與被測器件XC95144XL的模式選擇端連接；EDA代碼通過所述JTAG接口下載至被測器件XC95144XL中，完成邏輯功能配置；測試狀態(tài)下，測試系統(tǒng)V93000通過所述其中一個V93000連接器向被測器件XC95144XL提供電壓；測試系統(tǒng)通過所述另一個V93000連接器的各數(shù)字通道與被測器件XC95144XL的信號管腳一一對應連接。通過實施本實用新型，提高被測器件XC95144XL測試精度。
文檔編號G01R31/28GK202631692SQ201220244799
公開日2012年12月26日 申請日期2012年5月28日 優(yōu)先權日2012年5月28日
發(fā)明者石雪梅, 顧穎 申請人:航天科工防御技術研究試驗中心