電源負載測試裝置制造方法
【專利摘要】一種電源負載測試裝置，用于對一被測電源進行動態(tài)負載測試，所述電源負載測試裝置包括依次電性連接的主控制器、函數發(fā)生器以及電流檢測電路，所述函數發(fā)生器用于輸出一方波信號；所述拉載電路用于根據所述方波信號動態(tài)地改變所述被測電源的輸出電流；所述電流檢測電路還電性連接至所述主控制器，所述電流檢測電路用于配合所述主控制器檢測所述輸出電流的斜率，所述主控制器用于將檢測到的所述輸出電流的斜率與一預設斜率值進行比較，并根據比較結果相應控制所述函數發(fā)生器調整所述方波信號，直到所述輸出電流的斜率與所述預設斜率值相等。
【專利說明】電源負載測試裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電源負載測試裝置，尤其涉及一種用于電腦VRM的電源負載測試
>J-U ρ?α裝直。
【背景技術】
[0002]電腦的電壓調節(jié)模塊(Voltage Regulator Module, VRM)在實際使用中，其所帶的負載一般是動態(tài)負載，即，VRM的負載是隨時變化的，相應地，VRM的輸出電流也隨負載的變化而呈動態(tài)變化。例如，電腦在進入某些游戲程序時，VRM所帶的負載會明顯增大，相應地VRM的輸出電流也明顯增大。
[0003]在對VRM進行動態(tài)測試時，一般在VRM的輸出端連接一個電子負載，所述電子負載通過模擬實際使用情況改變VRM的輸出電流實現對VRM的動態(tài)負載測試。VRM進行動態(tài)測試時，其在電子負載的作用下，輸出電流的波形一般可簡化為圖1所示的方波波形，VRM的輸出電流從O上升到Il的上升時間為tl，其中，輸出電流的斜率，即電子負載的拉載斜率為:11與上升時間tl的比值。根據負載的不同，VRM的拉載斜率也不同，有時，VRM需要較大的拉載斜率來驅動負載。
[0004]目前的電子負載的拉載斜率一般在IA/μs左右，并且是固定的，無法滿足某些VRM對較大拉載斜率的需求。
【發(fā)明內容】
[0005]針對上述問題，有必要 提供一種可提供較大拉載斜率的電源負載測試裝置。
[0006]一種電源負載測試裝置，用于對一被測電源進行動態(tài)負載測試，所述電源負載測試裝置包括依次電性連接的主控制器、函數發(fā)生器以及電流檢測電路，所述函數發(fā)生器用于輸出一方波信號；所述拉載電路用于根據所述方波信號動態(tài)地改變所述被測電源的輸出電流；所述電流檢測電路還電性連接至所述主控制器，所述電流檢測電路用于配合所述主控制器檢測所述輸出電流的斜率，所述主控制器用于將檢測到的所述輸出電流的斜率與一預設斜率值進行比較，并根據比較結果相應控制所述函數發(fā)生器調整所述方波信號，直到所述輸出電流的斜率與所述預設斜率值相等。
[0007]如此，所述的電源負載測試裝置通過主控制器控制函數發(fā)生器對方波信號的波形進行調節(jié)，從而可通過拉載電路相應調節(jié)該電源負載測試裝置的拉載斜率，從而可根據需要獲得較大的拉載斜率。此外，根據鍵盤電路輸入的不同的預設斜率值，所述電源負載測試裝置還可相應得到不同的拉載斜率，因此，具有較好的通用性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0008]圖1為現有VRM在進行動態(tài)測試時的輸出電流波形圖。
[0009]圖2為本發(fā)明較佳實施方式的電源負載測試裝置的功能模塊圖。
[0010]圖3為圖2所示電源負載測試裝置的電路圖。[0011]主要元件符號說明
【權利要求】
1.一種電源負載測試裝置，用于對一被測電源進行動態(tài)負載測試，其特征在于:所述電源負載測試裝置包括依次電性連接的主控制器、函數發(fā)生器、拉載電路以及電流檢測電路，所述函數發(fā)生器用于輸出一方波信號；所述拉載電路用于根據所述方波信號動態(tài)地改變所述被測電源的輸出電流；所述電流檢測電路還電性連接至所述主控制器，所述電流檢測電路用于配合所述主控制器檢測所述輸出電流的斜率，所述主控制器用于將檢測到的所述輸出電流的斜率與一預設斜率值進行比較，并根據比較結果相應控制所述函數發(fā)生器調整所述方波信號，直到所述輸出電流的斜率與所述預設斜率值相等。
2.如權利要求1所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述控制器通過控制所述函數發(fā)生器改變所述方波信號的幅值和/或上升時間以及下降時間來調節(jié)所述輸出電流的斜率。
3.如權利要求1所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述拉載電路包括電壓跟隨器、第一金屬氧化物半導體場效應晶體管以及負載電阻，所述電壓跟隨器的同相輸入端電性連接至所述函數發(fā)生器的輸出端，用于接收所述方波信號，所述電壓跟隨器的輸出端電性連接至所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的柵極，所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的漏極電性連接至所述被測電源的輸出端，所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極通過所述負載電阻接地，且所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極與所述負載電阻之間的節(jié)點電性連接至所述電壓跟隨器的反相輸入端。
4.如權利要求3所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述拉載電路還包括濾波電阻以及濾波電容，所述電壓跟隨器的反相輸入端依次通過所述濾波電阻以及濾波電容電性連接至所述電壓跟隨器的輸出端。
5.如權利要求3所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述拉載電路還包括第一限流電阻，所述第一限流電阻電性連接至所述電壓跟隨器的反相輸入端與所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極及所述負載電阻之間的節(jié)點之間，用于防止所述電壓跟隨器的反相輸入端上的電流對所述輸出電流的測試造成影響。
6.如權利要求3所述的電源 負載測試裝置，其特征在于:所述拉載電路還包括NPN型三極管、PNP型三極管、第一電源以及第二電源，所述電壓跟隨器的輸出端電性連接至所述NPN型三極管及所述PNP型三極管的基極，所述NPN型三極管的集電極電性連接至所述第一電源；發(fā)射極電性連接至所述PNP型三極管的發(fā)射極，且所述NPN型三極管以及PNP型三極管的發(fā)射極之間的節(jié)點電性連接至所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的柵極；所述PNP型三極管的集電極電性連接至所述第二電源；所述NPN型三極管以及PNP型三極管用于增強所述方波信號對第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的驅動能力，避免所述方波信號失真無法正常驅動第一金屬氧化物半導體場效應晶體管。
7.如權利要求3所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述電流檢測電路包括運算放大器，所述運算放大器的的同相輸入端電性連接至所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極與所述負載電阻之間的節(jié)點，所述運算放大器的反相輸入端電性連接至所述負載電阻與地之間的節(jié)點，所述運算放大器的輸出端電性連接至主控制器，所述運算放大器用于將所述負載電阻上流過的所述輸出電流放大后轉換成相應的電壓信號輸出至所述主控制器，所述主控制器根據該電壓信號相應計算出所述輸出電流，從而根據所述輸出電流的變化判斷出所述輸出電流的斜率。
8.如權利要求7所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述電壓跟隨器及運算放大器均包括控制端，所述使能電路包括第二金屬氧化物半導體場效應晶體管、第三電源以及第二限流電阻，所述第二金屬氧化物半導體場效應晶體管的柵極電性連接至所述主控制器，源極接地，漏極通過所述第二限流電阻電性連接至所述第三電源；所述第二金屬氧化物半導體場效應晶體管的漏極與所述第二限流電阻之間的節(jié)點還電性連接至所述電壓跟隨器的控制端和/或所述運算放大器的控制端，所述主控制器通過控制所述第二金屬氧化物半導體場效應晶體管的導通或截止，以改變所述電壓跟隨器的控制端和/或所述運算放大器的控制端的電平狀態(tài)，從而控制所述電壓跟隨器和/或所述運算放大器開始工作或停止工作。
9.如權利要求1所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述電源負載測試裝置還包括電性連接至所述主控制器的鍵盤電路，所述鍵盤電路用于輸入所述預設斜率值。
10.如權利要求9所述的電源負載測試裝置，其特征在于:所述電源負載測試裝置還包括電性連接至所述主控制器的顯示器，所述顯示器用于在所述主控制器的控制下顯示所述鍵盤電路輸入的所述預設`斜率值。
【文檔編號】G01R31/40GK103513191SQ201210206665
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2012年6月21日 優(yōu)先權日:2012年6月21日
【發(fā)明者】李計朝, 白云, 劉丹丹, 童松林 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司