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繼電器銜鐵行程檢測裝置及方法

文檔序號:5940372閱讀:642來源:國知局
專利名稱:繼電器銜鐵行程檢測裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種行程的檢測裝置,特別是用于檢驗(yàn)繼電器銜鐵行程的檢測裝置。
技術(shù)背景
電磁繼電器中銜鐵行程的大小影響繼電器吸合或釋放的性能。電磁繼電器磁路在組裝過程中,由于各零件存在著公差,以及各個裝配模具的差異,磁路組裝后,銜鐵行程誤差無法檢測。目前仍沒有專門檢測銜鐵行程大小的檢測儀器,從而影響繼電器的技術(shù)性能。CN202041140U提出一種檢測繼電器銜鐵超行程的塞規(guī),通過插入銜鐵與鐵芯之間的第一塞片檢測銜鐵超行程的下限值,然后使第一塞片和第二塞片同時插到銜鐵與鐵芯之間, 檢測銜鐵超行程的上限值,此方檢測到的只是數(shù)值范圍,無法得到精確值,再是塞規(guī)的厚度是一定的,同時塞進(jìn)二塊塞規(guī),并不一定是超行程的上限值,上限值可能大于或小于塞規(guī)的 2倍,因此塞規(guī)方法解決不了繼電器銜鐵行程測驗(yàn)實(shí)質(zhì)問題。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于,針對上述技術(shù)現(xiàn)狀,設(shè)計(jì)一種電磁繼電器銜鐵行程的檢測裝置及其檢測方法,用于電磁繼電器生產(chǎn)過程中挑選銜鐵行程合格的產(chǎn)品,以達(dá)到提高電磁繼電器的合格率、可靠性和生產(chǎn)效率。
本發(fā)明采用的技術(shù)解決方案為繼電器銜鐵行程檢測裝置,它包括底板、支架、磁路托塊、磁鐵和百分表,支架垂直豎立在底板上,磁路托塊放在底板上,百分表安裝在支架上,所述的百分表測量頭與磁路托塊上表面垂直,所述磁路托塊的上表面中間設(shè)可夾緊繼電器的軛鐵和銜鐵的水平槽,所述磁路托塊的水平槽下設(shè)放置可移動磁鐵的拱形腔。
繼電器銜鐵行程的檢測方法,其特征包括以下步驟a、根據(jù)繼電器軛鐵大小尺寸調(diào)節(jié)磁路托塊中間水平槽的寬度,并把繼電器的軛鐵和銜鐵夾緊在磁路托塊水平凹槽中的水平位置;b、在磁路托塊下未放磁鐵時,銜鐵與鐵芯未吸合,用百分表的測量頭接觸銜鐵尾部,百分表指針或顯示器數(shù)值為初始值,按表上的清零按鈕為零值;C、再將磁鐵放入磁路托塊的拱形腔內(nèi),使銜鐵與鐵芯吸合,并再用百分表測量頭接觸銜鐵尾部,百分表指針或顯示的數(shù)值即為繼電器銜鐵的行程值。
本發(fā)明利用電磁繼電器中的銜鐵在磁場作用下,銜鐵的頭端與鐵芯吸合時,銜鐵的尾端會抬起,其抬起的高度與銜鐵頭端與鐵芯相吸合的距離相對應(yīng),即抬起的高度與銜鐵與鐵芯吸合行程相對應(yīng),這種檢測銜鐵動作的行程,檢測直觀快速,適合生產(chǎn)線上快速挑選行程合格的銜鐵,剔除不合格銜鐵在生產(chǎn)線上裝配使用,以提高繼電器的質(zhì)量和可靠性。


圖1為本發(fā)明立體結(jié)構(gòu)圖,其中圖Ia為圖1的A部放大圖。
圖2為磁路末閉合狀態(tài)測量示意圖,其中圖加為圖2的B部放大圖。
圖3為磁路閉合狀態(tài)測量示意圖,其中圖3a為圖3的C部放大圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本發(fā)明實(shí)施例作進(jìn)一步說明。
參看圖1所示,銜鐵行程檢測裝置包括百分表1、支架2、磁路托架7、底板8和側(cè)板 9,百分表的表?xiàng)U垂直穿過表盤與支撐橫桿3垂直固定,支架2的上端與支撐橫桿3垂直連接,支架2的下端與水平的底板8垂直固定,底板8上放置磁路托架7,底板8的一側(cè)設(shè)側(cè)面靠板9,所述底板8為長方體,磁路托架7為正立方體,立方形體的表面粗燥度為0. 8,立方體的上下表面平行度為1 μ m,側(cè)面垂直度為1.5 μ m,所述靠板9與磁路托架7的接觸面的粗燥度為0. 8,垂直度為1. 5 μ m,以提高測量精和可靠性。
參看圖Ia所示,磁路托架7中間設(shè)縱向水平槽15,水平槽下為圓弧拱形腔16,磁路托架7的上表面的前側(cè)設(shè)二條與所述水平槽15相垂直的卡槽19。所述的水平槽15和圓弧拱形腔16相連通用來放置繼電器的磁路組件,如圖la、圖2 a、圖3 a所示,磁路組件的軛鐵6頭端放置在水平槽15上,L形軛鐵6的頭端寬度比水平槽15寬,因此是擱在水平槽 15上,而L形軛鐵6的尾端寬度比水平槽15寬度小,因此L形軛鐵6尾部的伸進(jìn)圓弧形拱形腔16內(nèi),并用水平槽的兩邊夾緊,設(shè)在磁路托架7前側(cè)面上二相平行的卡槽19與軛鐵6 頭端底面的凸塊13相對應(yīng)卡扣住,使擱放在底板8上的磁路托塊7的前后左右都被夾住卡緊,在受到表頭4向下移壓時,不上下左右位移,以使測量數(shù)值精確可靠。銜鐵5的尾部設(shè)凸包14搭在軛鐵6的頭端,百分表測量頭4與銜鐵5尾部的凸包14對準(zhǔn),通過移動磁路托架7沿側(cè)面靠板9移動調(diào)整測量點(diǎn)與測量頭4相對準(zhǔn)。
參看圖2和圖加所示,當(dāng)繼電器軛鐵5和銜鐵6放入磁路托塊7中間的水平槽15 中夾緊,在磁路托塊7中間的拱形腔18內(nèi)末放磁鐵20時,磁路組件中的銜鐵5頭部未與鐵芯12吸合,銜鐵5尾部與軛鐵6頭部相貼緊,百分表測量頭4測得的值為起始值,若按清零按鈕11清零則為零值。參看圖3和圖3a所示,若在磁路托塊7的中間拱形腔16內(nèi)放進(jìn)磁鐵20,磁路組件中的銜鐵5尾部與鐵芯12吸合,相當(dāng)于線圈通電使銜鐵5頭部與鐵芯12吸合,銜鐵5尾部翹起脫離軛鐵6頭部,百分表測量頭4被抬高的值由數(shù)碼顯示器10顯示,即為銜鐵5動作行程值。多次測量誤差在0.1 μ m。檢測一個樣品時間不超過1秒鐘,達(dá)到快速、準(zhǔn)確、直觀的效果。
以下結(jié)合圖2和圖3簡述利用本發(fā)明檢測繼電器銜鐵行程的方法。
a、根據(jù)軛鐵6尾部的寬度值調(diào)節(jié)磁路托塊7中間的水平槽15的寬度,使軛鐵6尾部寬度值稍大于磁路托塊7中間水平槽15寬度,以便繼電器磁路部分可以順利放入。將被測繼電器軛鐵和銜鐵放置于磁路托塊7的圓弧拱形腔16內(nèi),使軛鐵6下表面上的4個凸包 13正好卡在磁路托塊7上表面的橫向凹槽19內(nèi),使軛鐵6內(nèi)表面與磁路托塊7的上表面貼平并且托住。
b、在未將磁鐵20放入磁路托塊7內(nèi)時,銜鐵5與鐵芯12處于未吸合狀態(tài),此時用杠桿百分表1伸出的測量頭4壓緊銜鐵5的尾部的上表面,使銜鐵5尾部凸包14接觸軛鐵 6的上表面,并按動杠桿百分表1上的清零按鈕11將數(shù)值清零。
C、將磁鐵20放入磁路托塊7的圓弧拱形腔16中,使之產(chǎn)生磁場,銜鐵5與鐵芯12 因磁場關(guān)系處于吸合狀態(tài),再將杠桿百分表1伸出的測量頭4壓在銜鐵5的尾部,此時杠桿百分表盤10的顯示值為繼電器銜鐵的行程。
權(quán)利要求
1.繼電器銜鐵行程檢測裝置,其特征在于包括底板、支架、磁路托塊、磁鐵和百分表, 支架垂直豎立在底板上,磁路托塊放在底板上,百分表安裝在支架上,所述的百分表測量頭與磁路托塊上表面垂直,所述磁路托塊的上表面中間設(shè)可夾緊繼電器的軛鐵和銜鐵的水平槽,所述磁路托塊的水平槽下設(shè)放置可移動磁鐵的拱形腔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼電器銜鐵行程檢測裝置,其特征是所述磁路托塊(7)中間設(shè)縱向水平槽(15),所述縱向水平槽下為與縱向水平槽(15)相連通的縱向圓弧拱形腔 (18)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼電器銜鐵行程檢測裝置,其特征是所述磁路托塊(7)的上表面前側(cè)設(shè)二條與所述水平槽(15)相垂直的水平卡槽(19)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼電器銜鐵行程檢測裝置,其特征是所述底板(8)和磁路托塊(7)為表面粗燥度為0.8,上下表面的平行度為1 μ m,側(cè)面垂直度為1. 5μπι的立方體。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼電器銜鐵行程檢測裝置的檢測方法,其特征包括以下步驟a、根據(jù)繼電器軛鐵大小尺寸調(diào)節(jié)磁路托塊中間水平槽的寬度,并把繼電器的軛鐵和銜鐵夾緊在磁路托塊水平凹槽中的水平位置;b、在磁路托塊下未放磁鐵時,銜鐵與鐵芯未吸合,用百分表的測量頭接觸銜鐵尾部,百分表指針或顯示器數(shù)值為初始值,按表上的清零按鈕為零值;C、再將磁鐵放入磁路托塊的圓弧拱形腔內(nèi),使銜鐵與鐵芯吸合,并再用百分表測量頭接觸銜鐵尾部,百分表指針或顯示的數(shù)值即為繼電器銜鐵的行程值。
全文摘要
繼電器銜鐵行程檢測裝置,包括底板、支架、磁路托塊、磁鐵和百分表,支架垂直豎立在底板上,磁路托塊放在底板上,百分表安裝在支架上,所述百分表測量頭與磁路托塊上表面垂直,所述磁路托塊的上表面中間設(shè)可夾緊繼電器的軛鐵和銜鐵的水平槽,所述磁路托塊的水平槽下設(shè)放置可移動磁鐵的拱形腔。檢測方法是利用電磁繼電器中的銜鐵在磁場作用下,銜鐵的頭端與鐵芯吸合時,銜鐵的尾端會抬起,其抬起的高度與銜鐵頭端與鐵芯相吸合的距離相對應(yīng),即抬起的高度與銜鐵與鐵芯吸合行程相對應(yīng),這種檢測銜鐵動作的行程,檢測直觀快速,適合生產(chǎn)線上快速挑選行程合格的銜鐵,剔除不合格銜鐵在生產(chǎn)線上裝配使用,以提高繼電器的質(zhì)量和可靠性。
文檔編號G01R31/327GK102519337SQ20121000280
公開日2012年6月27日 申請日期2012年1月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月6日
發(fā)明者華國平, 唐峰, 張立軍 申請人:寧波金海電子有限公司
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