專利名稱：具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法及其設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法及其設(shè)備，具體地說，涉及一種在進(jìn)行高壓測(cè)試前，可以提供檢測(cè)所有接觸接點(diǎn)的接觸狀況的測(cè)試設(shè)備以及測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
一般電氣零件或電氣零件的成品(如電熱器、吹風(fēng)機(jī)、光耦合器、電容器等)在出廠前，必須使用耐壓機(jī)進(jìn)行高電壓量測(cè)，也就是進(jìn)行零件的質(zhì)量檢驗(yàn)，以確認(rèn)是否符合安全規(guī)格的耐電壓條件。
然而，在實(shí)際進(jìn)行高電壓測(cè)試時(shí)，如果待測(cè)元件與測(cè)試設(shè)備接觸不佳時(shí)，接觸接點(diǎn)間將會(huì)發(fā)生電弧光。因此，長(zhǎng)期測(cè)試使用下來，將破壞測(cè)試設(shè)備的接觸點(diǎn)而影響測(cè)試設(shè)備的壽命。再者，又因?yàn)椴涣嫉慕佑|狀態(tài)，可能導(dǎo)致高電壓沒有確實(shí)傳送到待測(cè)元件，而發(fā)生將耐電壓不良制品錯(cuò)誤判定為優(yōu)良制品。此外，對(duì)高壓產(chǎn)生設(shè)備而言，因?yàn)榻佑|不良所產(chǎn)生的弧光會(huì)對(duì)設(shè)備本身或其它附屬的測(cè)試設(shè)備都將造成干擾，進(jìn)而影響設(shè)備的可靠度以及穩(wěn)定性，進(jìn)而影響測(cè)試結(jié)果的可靠性。雖然，目前已有類似具備開路偵測(cè)技術(shù)的高壓測(cè)量設(shè)備問世。然而現(xiàn)有技術(shù)中，如果以直流方式進(jìn)行高壓量測(cè)，多是利用待測(cè)元件瞬間充電電流特性，而對(duì)于低容量待測(cè)元件則無法確認(rèn)高壓是否連接正常。另外，現(xiàn)有技術(shù)中，另一種以交流方式進(jìn)行測(cè)試時(shí)，同樣也有低容量待測(cè)元件無法偵測(cè)的問題。舉例說明，請(qǐng)參閱圖1，圖I為常用的以阻抗測(cè)試方式的多點(diǎn)高壓掃描裝置。如圖I所示，常用設(shè)備是利用電壓表V和電流表I來進(jìn)行接觸點(diǎn)連接測(cè)試，在測(cè)試進(jìn)行中需要在對(duì)每一接觸點(diǎn)測(cè)量其電壓和/或電流后，再由控制單元(圖中未示出)判斷測(cè)量的值是否正常。如果經(jīng)過判斷后，不在正常值的范圍內(nèi)，則通報(bào)為接觸不良。因此，上述常用測(cè)試設(shè)備因?yàn)橥ㄟ^電壓表V或電流表I進(jìn)行測(cè)量，其測(cè)量和判斷速度過慢，每一接點(diǎn)往往需要IOOms (微秒)的反應(yīng)時(shí)間，實(shí)際測(cè)量以10個(gè)線圈為例，其往往約需要I秒到I. 2秒才可以得知結(jié)果。因此，常用設(shè)備在多接點(diǎn)測(cè)試下來，所耗費(fèi)的時(shí)間驚人，影響生產(chǎn)效率，白白地增加成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，以便能夠在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，以低能量的微電流對(duì)待測(cè)元件兩端進(jìn)行開路檢查，并在確認(rèn)正常以后再執(zhí)行高壓測(cè)試，以確保高壓測(cè)試的有效性，進(jìn)而達(dá)到提高測(cè)試可靠度的要求。并且，本發(fā)明利用導(dǎo)通反應(yīng)元件，可以有效提高測(cè)試速度，并可以提供多點(diǎn)快速切換，大幅減少接點(diǎn)回路檢測(cè)所需耗費(fèi)的時(shí)間，來提高生產(chǎn)效率。為了達(dá)到上述的目的，本發(fā)明提供了一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，所述具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備包括一高壓測(cè)試模組；一接點(diǎn)回路檢測(cè)模組，所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組包括一導(dǎo)通反應(yīng)元件；一切換模組，所述高壓測(cè)試模組和所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組電性連接到所述切換模組，所述切換模組用于電性耦接到一待測(cè)元件；以及一控制器，所述控制器電性連接所述高壓測(cè)試模組、所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組和所述切換模組，所述控制器控制所述高壓測(cè)試模組和所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組啟動(dòng)或關(guān)閉，并控制所述切換模組切換，使所述高壓測(cè)試模組或所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組電性連接到所述待測(cè)元件；其中，進(jìn)行接點(diǎn)回路快速檢測(cè)時(shí)，所述控制器控制所述切換模組切換，使所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組電性連接所述待測(cè)元件，并控制所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組啟動(dòng)檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)結(jié)果呈導(dǎo)通時(shí)，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號(hào)到所述控制器。優(yōu)選地，所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組包括一直流電源，所述切換模組包括多個(gè)輸出端， 所述切換模組用于電性連接到所述待測(cè)元件，每一個(gè)所述輸出端電性連接到一正極接點(diǎn)開關(guān)和一負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)的一端，所述正極接點(diǎn)開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的正電極，所述負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的負(fù)電極，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件電性連接到所述負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)和所述直流電源的負(fù)電極之間。優(yōu)選地，所述正極接點(diǎn)開關(guān)和所述負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)由至少一繼電器構(gòu)成。優(yōu)選地，所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組包括一限流電路，所述限流電路電性連接到所述直流電源和所述多個(gè)輸出端之間。優(yōu)選地，所述限流電路包括一電阻元件，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件包括一光耦合器。優(yōu)選地，所述切換模組包括一第一切換開關(guān)和一第二切換開關(guān)；所述第一切換開關(guān)電性連接到所述直流電源的正電極和所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)之間；所述第二切換開關(guān)電性連接到所述多個(gè)負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)和所述直流電源的負(fù)電極之間，所述第二切換開關(guān)并聯(lián)到所述導(dǎo)通反應(yīng)元件。優(yōu)選地，所述高壓測(cè)試模組包括一高壓變壓器，所述高壓變壓器的兩個(gè)輸出端分別電性連接所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)和所述多個(gè)第二切換開關(guān)。本發(fā)明的另一目的在于提供一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法，所述具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法包括下列步驟(A)啟動(dòng)接點(diǎn)回路快速檢測(cè)；(B)供給微電流到一待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)，并按照順序切換所述各個(gè)接點(diǎn)電性連接到一導(dǎo)通反應(yīng)元件；(C)當(dāng)所述接點(diǎn)導(dǎo)通時(shí)，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號(hào)到一控制器；(D)當(dāng)所述待測(cè)元件的所有接點(diǎn)已經(jīng)確認(rèn)導(dǎo)通時(shí)，結(jié)束所述接點(diǎn)回路快速檢測(cè)；以及(E)啟動(dòng)高壓測(cè)試。優(yōu)選地，步驟(B)是按照順序切換連接所述待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)進(jìn)行供給微電流。優(yōu)選地，步驟(E)后包括下列步驟(F)按照順序切換連接所述待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)并供給高電壓；(G)結(jié)束高壓測(cè)試。本發(fā)明通過提供一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法及其設(shè)備，確保高壓測(cè)試的有效性，進(jìn)而達(dá)到提高測(cè)試可靠度的要求，可以減少高壓測(cè)試時(shí)的弧光發(fā)生，并可以提供多點(diǎn)快速切換，大幅減少接點(diǎn)回路檢測(cè)所需要耗費(fèi)的時(shí)間，來提高生產(chǎn)效率。本發(fā)明僅僅需要對(duì)現(xiàn)有高壓測(cè)試設(shè)備進(jìn)行部分改裝即可，不需要重新購(gòu)置全新整套設(shè)備，大幅降低設(shè)備成本。


圖I為常用的以阻抗測(cè)試方式的多點(diǎn)高壓掃描裝置；圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的一優(yōu)選的實(shí)施例的設(shè)備的系統(tǒng)架構(gòu)圖；圖3為根據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的一優(yōu)選的實(shí)施例的設(shè)備的電路示意圖；圖4為根據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的一優(yōu)選的實(shí)施例的方法的流程圖。附圖標(biāo)記說明如下高壓測(cè)試模組2、高壓變壓器21、接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3、導(dǎo)通反應(yīng)元件31、光耦合器311、光發(fā)射單元312、光偵測(cè)單元313、直流電源32、限流電路33、電阻元件331、切換模組
4、待測(cè)元件5、控制器6、繼電器7、輸出端CHI、CH2、CH3、CH4、導(dǎo)通訊號(hào)Ci、電流表I、第一切換開關(guān)SW1、第二切換開關(guān)SW2、切換開關(guān)SW3、正極接點(diǎn)開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+、負(fù)極接 點(diǎn)開關(guān)S1-、S2-、S3-、S4-、電壓表V、啟動(dòng)接點(diǎn)回路快速檢測(cè)S I、按照順序切換連接該待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)進(jìn)行供給微電流，并按照順序切換各個(gè)接點(diǎn)電性連接到一光耦合器S2、接點(diǎn)導(dǎo)通時(shí)，該光耦合器輸出一導(dǎo)通訊號(hào)到一控制器S3、所有接點(diǎn)是否導(dǎo)通S4、檢查并調(diào)整未導(dǎo)通的接點(diǎn)S5、啟動(dòng)高壓測(cè)試S6、按照順序切換連接該待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)并供給高電壓S7。
具體實(shí)施例方式為使審查員能進(jìn)一步了解本發(fā)明的結(jié)構(gòu)、特征及其它目的，現(xiàn)結(jié)合所附較佳實(shí)施例附以附圖詳細(xì)說明如下，本附圖所說明的實(shí)施例僅用于說明本發(fā)明的技術(shù)方案，并非限定本發(fā)明。其中相同組件將以相同的附圖標(biāo)記加以說明。請(qǐng)同時(shí)參閱圖2和圖3，圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的一優(yōu)選的實(shí)施例的設(shè)備的系統(tǒng)架構(gòu)圖，圖3為根據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的一優(yōu)選的實(shí)施例的設(shè)備的電路示意圖。其中，圖2中主要顯示有高壓測(cè)試模組2、接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3、切換模組4、待測(cè)元件5和控制器6。在本實(shí)施例中，高壓測(cè)試模組2包括高壓變壓器21，高壓變壓器21用于提供高壓測(cè)試所需要的高電壓，并可以是交流電壓或經(jīng)過整流濾波的直流電壓。另外，待測(cè)元件5是執(zhí)行測(cè)試時(shí)的被測(cè)試裝置，可以是待測(cè)變壓器或其它形式的待測(cè)零件或裝置。另外，接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3包括導(dǎo)通反應(yīng)元件31、直流電源32和限流電路33。本實(shí)施例所采用的導(dǎo)通反應(yīng)元件31為光耦合器311，當(dāng)然本發(fā)明不以光耦合器311為限制，導(dǎo)通反應(yīng)元件31也可以是磁耦合器、繼電器、或其他等效元件。另外，直流電源32主要在進(jìn)行接點(diǎn)回路快速檢測(cè)時(shí)，供給微電流。當(dāng)然本發(fā)明不以直流電源32為限制，可以是任意形式的電源如交流電源。本實(shí)施例所采用的限流電路33為電阻元件331，限流電路33主要用于限制或調(diào)整直流電源32供給的測(cè)試電流。然而，本實(shí)施例的光耦合器311主要由光發(fā)射單元312和光偵測(cè)單元313組成，并且整合到同一個(gè)封裝內(nèi)，它們之間除了光束之外不會(huì)有任何電氣或?qū)嶓w連接。其中，光發(fā)射單元312為發(fā)光二極體(LED)，光偵測(cè)單元313為光電二極體或光電晶體。然而，光耦合器311主要原理是以光作為媒體來進(jìn)行電信號(hào)的傳輸，其平時(shí)可以維持電信號(hào)輸入與輸出間有良好的隔離作用，運(yùn)作時(shí)則可以使電信號(hào)通過隔離層進(jìn)行電信號(hào)的傳輸。因此，本實(shí)施例所采用的光耦合器311主要具備以下眾多優(yōu)點(diǎn)完全電性隔離，在信號(hào)轉(zhuǎn)換的過程中，可以避免雜訊干擾；并由于光耦合器311的輸入端屬于電流型工作的低阻元件，因此具有很強(qiáng)的共模抑制能力，所以在長(zhǎng)線傳輸資訊中作為終端隔離元件可以大大提高信噪比；此外，反應(yīng)速率快，響應(yīng)速度快，光耦合器311的時(shí)間常數(shù)通常在微秒甚至毫微秒；并且，無觸點(diǎn)不會(huì)產(chǎn)生火花、壽命長(zhǎng)、體積小、并且耐沖擊；另外，不受暫態(tài)的影響，不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)和交換尖波；再者，由于“光”傳輸?shù)膯蜗蛐?，所以信?hào)從光發(fā)射單兀312單向傳輸?shù)焦鈧蓽y(cè)單元313時(shí)，不會(huì)出現(xiàn)反饋現(xiàn)象，其輸出信號(hào)也不會(huì)影響輸入端。此外，圖中另外顯示有一切換模組4，并且高壓測(cè)試模組2和接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3電性連接到切換模組4，切換模組4電性耦接到待測(cè)元件5。本實(shí)施例的切換模組4包括有多個(gè)輸出端CHI、CH2、CH3和CH4，都電性連接到待測(cè)元件5，每一輸出端CHI、CH2、CH3和CH4都電性連接有正極接點(diǎn)開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+和負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)SI-、S2-、S3-、S4-的一端。在本實(shí)施例中，所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+和所述多個(gè)負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)SI-、S2-、S3-、S4-由繼電器7構(gòu)成，因此具有穩(wěn)定特性和提供快速切換各個(gè)接點(diǎn)導(dǎo)通的功效。另外，所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)S I+、S2+、S3+、S4+的另一端電性耦接到直流電源32的正電極，其中穿插限流電路33和第一切換開關(guān)SW1。所述多個(gè)負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)SI-、S2-、 S3-、S4-的另一端電性耦接到直流電源32的負(fù)電極，并且光耦合器311的光發(fā)射單元312電性連接到所述多個(gè)負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)SI-、S2-、S3-、S4-和直流電源32的負(fù)電極之間。再者，切換模組4也包括第一切換開關(guān)SWl和第二切換開關(guān)SW2，切換模組4主要用于切換測(cè)試種類，也就是切換接點(diǎn)回路快速檢測(cè)或高壓測(cè)試。其中，第一切換開關(guān)SWl電性連接到直流電源32的正電極和所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+之間；第二切換開關(guān)SW2電性連接到所述多個(gè)負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)S1-、S2-、S3-、S4-和直流電源32的負(fù)電極之間，并且第二切換開關(guān)SW2并聯(lián)到光耦合器311。此外，高壓變壓器21的兩個(gè)輸出端分別電性連接所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+和第二切換開關(guān)SW2。因此，在進(jìn)行接點(diǎn)回路快速檢測(cè)時(shí)，第一切換開關(guān)SWl呈短路狀態(tài)，而第二切換開關(guān)SW2呈開路狀態(tài)。反之，在進(jìn)行高壓測(cè)試時(shí)，第一切換開關(guān)SWl呈開路狀態(tài)，而第二切換開關(guān)SW2呈短路狀態(tài)?？刂破?電性連接高壓測(cè)試模組2、接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3和切換模組4。控制器6主要控制高壓測(cè)試模組2和接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3啟動(dòng)或關(guān)閉，并控制切換模組4切換，使高壓測(cè)試模組2或接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3電性連接到待測(cè)元件5。其中，當(dāng)進(jìn)行接點(diǎn)回路快速檢測(cè)時(shí)，控制器6控制切換模組4切換，使接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3電性連接待測(cè)元件5，并控制接點(diǎn)回路檢測(cè)模組3啟動(dòng)檢測(cè)。當(dāng)檢測(cè)結(jié)果呈導(dǎo)通時(shí)，光耦合器311的光偵測(cè)單元313輸出導(dǎo)通訊號(hào)Ci到控制器6。在本實(shí)施例中，光耦合器311提供了快速的接點(diǎn)回路的接觸檢查判斷結(jié)果，因此當(dāng)執(zhí)行切換動(dòng)作的SI S4完成切換的同時(shí)，接點(diǎn)回路的接觸檢查結(jié)果也已經(jīng)完整呈現(xiàn)。因此，在確認(rèn)所有接點(diǎn)都導(dǎo)通時(shí)，便結(jié)束接點(diǎn)回路快速檢測(cè)，隨后進(jìn)行高壓測(cè)試，可以大幅提高接點(diǎn)檢測(cè)速率。然而，進(jìn)行高壓測(cè)試時(shí)，控制器6控制切換模組4切換，使高壓測(cè)試模組2電性連接到待測(cè)元件5，并控制高壓測(cè)試模組2啟動(dòng)，以進(jìn)行測(cè)試。請(qǐng)參閱圖4，圖4為根據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的一優(yōu)選的實(shí)施例的方法的流程圖。本發(fā)明提供的一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法，包括下列步驟首先，啟動(dòng)一接點(diǎn)回路快速檢測(cè)，如圖中所示的步驟SI。接著，供給微電流到待測(cè)元件5的各個(gè)接點(diǎn)，即按照順序切換連接待測(cè)元件5的各個(gè)接點(diǎn)進(jìn)行供給微電流，并按照順序切換各個(gè)接點(diǎn)電性連接到導(dǎo)通反應(yīng)元件31，本實(shí)施例采用的是光耦合器311，如圖中所示的步驟S2。其中，當(dāng)一接點(diǎn)導(dǎo)通時(shí)，光耦合器311便輸出導(dǎo)通訊號(hào)Ci到控制器6，如圖中所示的步驟S3。隨后，依序檢測(cè)所有接點(diǎn)，并確認(rèn)所有接點(diǎn)是否都已經(jīng)導(dǎo)通，如圖中所示的步驟S4。假如，控制器6通報(bào)有接點(diǎn)接觸不良并沒有導(dǎo)通時(shí)，操作者便進(jìn)行檢查并調(diào)整所述未導(dǎo)通的接點(diǎn)，如圖中所示的步驟S5。接著，在檢查并調(diào)整接點(diǎn)后，又按照順序重復(fù)步驟S2、S3和S4，當(dāng)待測(cè)元件5的所有接點(diǎn)都已經(jīng)確認(rèn)導(dǎo)通時(shí)，便結(jié)束接點(diǎn)回路快速檢測(cè)并啟動(dòng)高壓測(cè)試，如圖中所示的步驟S6。其中，在進(jìn)行高壓測(cè)試時(shí)，按照順序切換連接待測(cè)元件5的各個(gè)接點(diǎn)并供給高電壓。最后，結(jié)束高壓測(cè)試。簡(jiǎn)單地說，本發(fā)明的方法是利用測(cè)試前，先針對(duì)所有需要測(cè)試的接點(diǎn)以高速掃描方式做接觸確認(rèn)，在確認(rèn)連接正常后再進(jìn)行高壓測(cè)試。其中，當(dāng)以接點(diǎn)回路快速檢測(cè)時(shí)，如果發(fā)現(xiàn)待測(cè)元件5的接點(diǎn)有連接不正常的情況時(shí)，則通知控制器6連接失敗。此時(shí)，操作員可介入檢查或調(diào)整，并做第二次接點(diǎn)回路快速檢測(cè)。當(dāng)確認(rèn)無法正常連接時(shí)，則進(jìn)行下一個(gè)待測(cè)元件5的測(cè)試。 因此，本實(shí)施例利用光耦合器311導(dǎo)通原理進(jìn)行接觸確認(rèn)，并以繼電器7切換不同腳位，當(dāng)確認(rèn)所有需要測(cè)試的腳位接觸有效后，再執(zhí)行高壓測(cè)試，以提高交/直流電壓測(cè)試設(shè)備的使用可靠度。因此，本發(fā)明具備以下優(yōu)點(diǎn)I、提供高壓測(cè)試前的開路偵測(cè)；2、利用繼電器7，可以快速多接點(diǎn)切換；3、超高速接點(diǎn)回路快速掃瞄檢測(cè)，其中光耦合器311平均反應(yīng)時(shí)間僅僅需要50 y s (毫秒)，完成10個(gè)線圈回路只需要0. 2秒，相同測(cè)試條件的傳統(tǒng)電阻法測(cè)試則約需要I I. 2秒；4、可以減少高壓測(cè)試時(shí)的弧光發(fā)生，以提高測(cè)試接點(diǎn)的使用壽命，并提高測(cè)試設(shè)備本身和其他設(shè)備的可靠度；5、以簡(jiǎn)易的接觸測(cè)試電路，來確保執(zhí)行高壓測(cè)試的有效性,成本相對(duì)低廉、穩(wěn)定并且檢修容易；6、可以有效減少誤判所造成的測(cè)試失誤；7、可以適用于低容量的待測(cè)元件，如電感類產(chǎn)品；8、對(duì)現(xiàn)有高壓測(cè)試設(shè)備進(jìn)行部分改裝即可，無需重新購(gòu)置全新整套設(shè)備，大幅降低設(shè)備成本。需要聲明的是，上述發(fā)明內(nèi)容及具體實(shí)施例意在證明本發(fā)明所提供的技術(shù)方案的實(shí)際應(yīng)用，不應(yīng)解釋為對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員在本發(fā)明的精神和原理內(nèi)，當(dāng)可作各種修改、等同替換或改進(jìn)。本發(fā)明的保護(hù)范圍以所附權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備包括 一高壓測(cè)試模組； 一接點(diǎn)回路檢測(cè)模組，所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組包括一導(dǎo)通反應(yīng)元件； 一切換模組，所述高壓測(cè)試模組和所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組電性連接到所述切換模組，所述切換模組用于電性耦接到一待測(cè)元件；以及 一控制器，所述控制器電性連接所述高壓測(cè)試模組、所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組和所述切換模組，所述控制器控制所述高壓測(cè)試模組和所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組啟動(dòng)或關(guān)閉，并控制所述切換模組切換，使所述高壓測(cè)試模組或所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組電性連接到所述待測(cè)元件； 其中，進(jìn)行接點(diǎn)回路快速檢測(cè)時(shí)，所述控制器控制所述切換模組切換，使所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組電性連接所述待測(cè)元件，并控制所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組啟動(dòng)檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)結(jié)果呈導(dǎo)通時(shí)，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號(hào)到所述控制器。
2.如權(quán)利要求I所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組包括一直流電源，所述切換模組包括多個(gè)輸出端，所述切換模組用于電性連接到所述待測(cè)元件，所述每個(gè)輸出端電性連接到一正極接點(diǎn)開關(guān)和一負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)的一端，所述正極接點(diǎn)開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的正電極，所述負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的負(fù)電極，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件電性連接到所述負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)和所述直流電源的負(fù)電極之間。
3.如權(quán)利要求2所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述正極接點(diǎn)開關(guān)和所述負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)由至少一繼電器構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求2所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述接點(diǎn)回路檢測(cè)模組包括一限流電路，所述限流電路電性連接到所述直流電源和所述多個(gè)輸出端之間。
5.如權(quán)利要求4所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述限流電路包括一電阻元件，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件包括一光耦合器。
6.如權(quán)利要求2所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述切換模組包括一第一切換開關(guān)和一第二切換開關(guān)；所述第一切換開關(guān)電性連接到所述直流電源的正電極和所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)之間；所述第二切換開關(guān)電性連接到所述多個(gè)負(fù)極接點(diǎn)開關(guān)和所述直流電源的負(fù)電極之間，所述第二切換開關(guān)并聯(lián)到所述導(dǎo)通反應(yīng)元件。
7.如權(quán)利要求5所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述高壓測(cè)試模組包括一高壓變壓器，所述高壓變壓器的兩個(gè)輸出端分別電性連接所述多個(gè)正極接點(diǎn)開關(guān)和所述多個(gè)第二切換開關(guān)。
8.一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法，其特征在于，所述高壓測(cè)試方法包括下列步驟 (A)啟動(dòng)接點(diǎn)回路快速檢測(cè)； (B)供給微電流到一待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)，并按照順序切換所述各個(gè)接點(diǎn)電性連接到一導(dǎo)通反應(yīng)元件； (C)當(dāng)所述接點(diǎn)導(dǎo)通時(shí)，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號(hào)到一控制器；(D)當(dāng)所述待測(cè)元件的所有接點(diǎn)已經(jīng)確認(rèn)導(dǎo)通時(shí)，結(jié)束所述接點(diǎn)回路快速檢測(cè)；以及 (E)啟動(dòng)高壓測(cè)試。
9.如權(quán)利要求8所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法，其特征在于，步驟(B)是按照順序切換連接所述待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)進(jìn)行供給微電流。
10.如權(quán)利要求8所述的具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法，其特征在于，步驟(E)后包括下列步驟 (F)按照順序切換連接所述待測(cè)元件的各個(gè)接點(diǎn)并供給高電壓； (G)結(jié)束高壓測(cè)試。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種具有接點(diǎn)回路快速檢測(cè)的高壓測(cè)試方法及其設(shè)備，所述高壓測(cè)試設(shè)備包括一高壓測(cè)試模組、一接點(diǎn)回路檢測(cè)模組、一切換模組以及一控制器。所述高壓測(cè)試方法主要在進(jìn)行高壓測(cè)試以前，先以低能量電壓對(duì)待測(cè)元件兩端進(jìn)行開路檢查，來確認(rèn)所有接點(diǎn)正常連接后，再執(zhí)行高壓測(cè)試，以確保高壓測(cè)試的有效性，進(jìn)而達(dá)到提高測(cè)試可靠度的要求。其中，本發(fā)明利用導(dǎo)通反應(yīng)元件如光耦合器，可以有效提高測(cè)試速度和穩(wěn)定度，并可以提供多點(diǎn)快速切換，大幅減少接點(diǎn)回路檢測(cè)所耗費(fèi)的時(shí)間，提高生產(chǎn)效率。此外，本發(fā)明僅僅需要對(duì)現(xiàn)有高壓測(cè)試設(shè)備進(jìn)行部分改裝即可，無需重新購(gòu)置全新整套設(shè)備，大幅降低設(shè)備成本。
文檔編號(hào)G01R31/02GK102967789SQ201110256208
公開日2013年3月13日 申請(qǐng)日期2011年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月1日
發(fā)明者王耀南, 翁健昆, 董學(xué)祖, 吳南世 申請(qǐng)人:致茂電子股份有限公司