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自上電測(cè)試夾具的制作方法

文檔序號(hào):6007751閱讀:226來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):自上電測(cè)試夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種自上電測(cè)試夾具,特別是涉及一種可以自行上電,防止帶電操作的測(cè)試夾具。
背景技術(shù)
隨著生產(chǎn)過(guò)程的不斷自動(dòng)化,生產(chǎn)線也需要更加自動(dòng)化,更省時(shí),操作更簡(jiǎn)單的生產(chǎn)制具,從而減少生產(chǎn)線的工時(shí),以及減少操作流程的復(fù)雜性。但是在模塊的生產(chǎn)過(guò)程中,如果要控制測(cè)試夾具的上電時(shí)序,操作員必須手動(dòng)的控制電源開(kāi)關(guān)按鈕。因而這種電源控制方式,極大增加了生產(chǎn)線的工時(shí),增加了操作員的操作流程。而且如果操作員一時(shí)疏忽,忘記關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)按鈕,會(huì)導(dǎo)致模塊在測(cè)試夾具上的熱插拔,因而有可能會(huì)損壞測(cè)試的模塊,導(dǎo)致模塊生產(chǎn)不良率的增加。針對(duì)上述問(wèn)題,大部分人都會(huì)考慮增加生產(chǎn)線的操作規(guī)范,來(lái)減少這種熱插拔的現(xiàn)狀。但是僅僅靠人為的自律永遠(yuǎn)是不可靠的,也是不可行的,所以這種方式并不能真正的解決上述熱插拔的問(wèn)題,此外采用上述方式還增加了生產(chǎn)線的操作流程,并增加了工時(shí),從而減少了生產(chǎn)效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是為了克服現(xiàn)有模塊測(cè)試技術(shù)中電源未關(guān)閉所導(dǎo)致的模塊熱插拔的缺陷,提供一種自上電測(cè)試夾具,通過(guò)對(duì)接入測(cè)試夾具模塊的自動(dòng)上電,解決了模塊測(cè)試中的熱插拔問(wèn)題。本發(fā)明是通過(guò)下述技術(shù)方案來(lái)解決上述技術(shù)問(wèn)題的本發(fā)明提供了一種自上電測(cè)試夾具,包括一測(cè)試單元以及一電源,其特點(diǎn)是所述自上電測(cè)試夾具還包括一夾具接口,用于與外部的一模塊電連接,并具有一控制端、一信號(hào)端和一電源端,其中所述信號(hào)端與所述測(cè)試單元電連接;一 Pmos管,具有一柵極、一源極以及一漏極,其中所述柵極與所述控制端電連接,所述源極與所述電源電連接,所述漏極與所述電源端電連接。較佳地,所述Pmos管的柵極和源極之間電連接一第一電阻。用于防止漏電所導(dǎo)致的所述Pmos管導(dǎo)通的情況。較佳地,所述源極還通過(guò)一第一電解電容與地電連接。防止電源的輸出中產(chǎn)生的電壓波紋對(duì)模塊測(cè)試的影響。較佳地,所述源極還通過(guò)一第一瞬態(tài)抑制二極管與地電連接。從而防止靜電對(duì)電源輸出的影響。較佳地,所述源極還通過(guò)一第一電容與地電連接。較佳地,所述第一電容與一第二電阻并聯(lián)。與第一電容共同對(duì)電源的輸出進(jìn)行濾波。
較佳地,所述漏極還通過(guò)一第二瞬態(tài)抑制二極管與地電連接。防止靜電對(duì)電源端輸入的影響。較佳地,所述漏極還通過(guò)一第二電容與地電連接。較佳地,所述第二電容與一第三電阻并聯(lián)。與第二電容共同對(duì)電源端的輸入進(jìn)行濾波較佳地,所述漏極還通過(guò)一第二電解電容與地電連接。防止電源端輸入中產(chǎn)生的電壓波紋對(duì)模塊測(cè)試的影響。 較佳地,所述信號(hào)端通過(guò)一排線與所述測(cè)試單元電連接。本發(fā)明的積極進(jìn)步效果在于本發(fā)明的自上電測(cè)試夾具,通過(guò)在夾具接口與電源之間接入一 Pmos管,從而使得測(cè)試夾具僅在模塊接入夾具時(shí)才會(huì)自動(dòng)上電。因而克服了人工開(kāi)關(guān)電源可能導(dǎo)致的模塊熱插拔的問(wèn)題,進(jìn)一步的簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程,提高了生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試效率,所以提高了生產(chǎn)效率。


圖I為本發(fā)明的自上電測(cè)試夾具的第一實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)圖。圖2為用于測(cè)試的模塊的示意圖。圖3為本發(fā)明的自上電測(cè)試夾具的第二實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)圖。圖4為本發(fā)明的自上電測(cè)試夾具的第三實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)圖
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖給出本發(fā)明較佳實(shí)施例,以詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案。第一實(shí)施例如圖I所示,本實(shí)施例中的自上電測(cè)試夾具包括一夾具接口 I、一電源2、一測(cè)試單元3以及一 Pmos管4(P型場(chǎng)效應(yīng)管)。其中所述夾具接口 I包括一控制端101、一信號(hào)端102以及一電源端103。所述夾具接口 I用于與如圖2所示的用于測(cè)試的模塊5電連接。其中在本實(shí)施例中所述控制端101與模塊5中的接地腳GND7電連接,即利用接地腳CND7的低電平作為控制端101的控制信號(hào),所述電源端103與模塊5中的電源端VCC電連接,所述模塊5的其他引腳與所述信號(hào)端102電連接。在本實(shí)施例的模塊5為正方形并且所有引腳在正方形的4個(gè)邊上時(shí)均勻分布的,即正方形的各個(gè)邊上的引腳數(shù)相同,所以操作人員在操作過(guò)程中可能將模塊5與夾具接口 I錯(cuò)誤的連接。例如模塊5顛倒的連接等。但是由于本實(shí)施例中所述接地腳CND7與各個(gè)邊上相應(yīng)位置的引腳的類(lèi)型不同,所以采用接地腳CND7時(shí),即使操作人員誤操作,也不會(huì)使得控制端101發(fā)出工作信號(hào),保證了自上電的準(zhǔn)確。雖然本實(shí)施例中采用的正方形的模塊5中接地腳GND7與所述控制端101電連接,但是還可以根據(jù)實(shí)際生產(chǎn)中模塊的實(shí)際構(gòu)成和引腳的分布,選取采用其他不同的引腳以及引腳的信號(hào)與所述控制端101電連接,而不僅限與本實(shí)施例中采用的引腳以及引腳的信號(hào)和模塊連接方式。所述測(cè)試單元3與所述信號(hào)端102電連接,用于信號(hào)的傳輸,其中在本實(shí)施例中所述測(cè)試單元3與所述信號(hào)端102通過(guò)一排線電連接,此外還可以根據(jù)實(shí)際的生產(chǎn)測(cè)試的需要,采用其他種類(lèi)的連接線來(lái)傳輸信號(hào)。本實(shí)施例中所述Pmos管4具有一柵極、一源極以及一漏極,其中所述柵極與所述控制端101電連接,所述源極與一電源2電連接,所述漏極與電源端103電連接。其中所述電源2為一直流電源,此外還可以采用電池等作為電源而不僅限于本實(shí)施例中的電源。本實(shí)施例的工作原理如下當(dāng)需要測(cè)試的模塊5未與夾具接口 I電連接時(shí),由于夾具接口 I的控制端101沒(méi)有輸出,所以此時(shí)Pmos管4是不導(dǎo)通的。所以電源2的電流無(wú)法通過(guò)關(guān)斷的Pmos管4到達(dá)所述電源端103,所以此時(shí)夾具接口 I上未通電。、
當(dāng)需要測(cè)試的模塊5與夾具接口 I正確地電連接,由于模塊5的接地端GND7與所述控制端101電連接,所以此時(shí)控制端101為低電平,所以Pmos管4的柵極上電壓為低電平,Pmos管4導(dǎo)通,此時(shí)電源2與夾具接口 I的電源端103導(dǎo)通,所以此時(shí)的夾具接口 I帶電,從而使模塊5開(kāi)始工作,此后測(cè)試單元3通過(guò)夾具接口 I的信號(hào)端102與模塊5進(jìn)行測(cè)試信號(hào)的傳輸,從而對(duì)模塊5進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)模塊5與夾具接口 I錯(cuò)誤地電連接時(shí),由于與所述控制端101的引腳處于高阻態(tài),所以此時(shí)Pmos管4是不導(dǎo)通的。所以電源2的電流無(wú)法通過(guò)關(guān)斷的Pmos管4到達(dá)所述電源端103,所以此時(shí)夾具接口 I上未通電。由上所述當(dāng)且僅當(dāng)模塊5與夾具正確地電連接時(shí),通過(guò)對(duì)Pmos管4的控制使得夾具接口 I上電,所以實(shí)現(xiàn)了本發(fā)明的自上電測(cè)試夾,并克服了人工開(kāi)關(guān)電源可能導(dǎo)致的模塊熱插拔的問(wèn)題。第二實(shí)施例本實(shí)施例中自上電測(cè)試夾具在第一實(shí)施例中的自上電測(cè)試夾具的基礎(chǔ)上,還包括一電阻6、瞬態(tài)抑制二極管7和8以及電解電容9和10。其中所述電阻6連接于所述Pmos管4的柵極和源極之間,用于防止漏電所導(dǎo)致的所述Pmos管導(dǎo)通的情況。所述電源2通過(guò)瞬態(tài)抑制二極管7與地電連接,從而防止靜電對(duì)電源2輸出的影響。所述電源2還通過(guò)電解電容9與地電連接,因而可以防止電源2的輸出中產(chǎn)生電壓波紋。所述夾具接口 I的電源端103通過(guò)瞬態(tài)抑制二極管8與地電連接,從而防止靜電對(duì)電源端103接收的電源的影響。所述電源端103還通過(guò)電解電容10與地電連接,因而可以防止電源端103接收電壓中產(chǎn)生電壓波紋。本實(shí)施例的工作原理與第一實(shí)施例的工作原理相同,這里就不在贅述,本實(shí)施例通過(guò)穩(wěn)定電源2的輸出與夾具接口 I的電源端103的輸入,從而進(jìn)一步的穩(wěn)定了測(cè)試夾具中電源的穩(wěn)定,提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性。第三實(shí)施例本實(shí)施例中自上電測(cè)試夾具在第二實(shí)施例中的自上電測(cè)試夾具的基礎(chǔ)上,還包括電容11和12以及電阻13和14。其中所述電源2通過(guò)所述電容11與地電連接,所述電阻13與電容11并聯(lián)。因此所述電容11和電阻13構(gòu)成一低頻濾波電路,對(duì)電源2的輸出進(jìn)行濾波,此外所述電解電容9與電阻13還可以構(gòu)成一高頻濾波電路,對(duì)電源2的輸出進(jìn)行濾波,因而通過(guò)上述方式可以進(jìn)一步的穩(wěn)定電源2的輸出。此外所述夾具接口 I的電源端103通過(guò)所述電容12與地電連接,所述電阻14與電容12并聯(lián)。因此所述電容12和電阻14構(gòu)成一低頻濾波電路,對(duì)電源端103的輸入進(jìn)行濾波,此外所述電解電容10與電阻14還可以構(gòu)成一高頻濾波電路,對(duì)電源端103的輸入進(jìn)行濾波,因而通過(guò)上述方式可以進(jìn)一步的穩(wěn)定電源端103的輸入。本實(shí)施例的工作原理與第二實(shí)施例的工作原理相同,這里就不在贅述,本實(shí)施例相對(duì)于第二實(shí)施例進(jìn)一步的穩(wěn)定了電源2的輸出與夾具接口 I的電源端103的輸入,從而進(jìn)一步的提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性。雖然以上描述了本發(fā)明的具體實(shí)施方式
,但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,這些僅是舉例說(shuō)明,本發(fā)明的保護(hù)范圍是由所附權(quán)利要求書(shū)限定的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不背 離本發(fā)明的原理和實(shí)質(zhì)的前提下,可以對(duì)這些實(shí)施方式做出多種變更或修改,但這些變更和修改均落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種自上電測(cè)試夾具,包括一測(cè)試單元以及一電源,其特征在于,所述自上電測(cè)試夾具還包括 一夾具接口,用于與外部的一模塊電連接,并具有一控制端、一信號(hào)端和一電源端,其中所述信號(hào)端與所述測(cè)試單元電連接; 一 Pmos管,具有一柵極、一源極以及一漏極,其中所述柵極與所述控制端電連接,所述源極與所述電源電連接,所述漏極與所述電源端電連接。
2.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述Pmos管的 柵極和源極之間電連接一第一電阻。
3.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述源極還通過(guò)一第一電解電容與地電連接。
4.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述源極還通過(guò)一第一瞬態(tài)抑制二極管與地電連接。
5.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述源極還通過(guò)一第一電容與地電連接。
6.如權(quán)利要求5所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述第一電容與一第二電阻并聯(lián)。
7.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述漏極還通過(guò)一第二瞬態(tài)抑制二極管與地電連接。
8.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述漏極還通過(guò)一第二電容與地電連接。
9.如權(quán)利要求8所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述第二電容與一第三電阻并聯(lián)。
10.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述漏極還通過(guò)一第二電解電容與地電連接。
11.如權(quán)利要求I所述的自上電測(cè)試夾具,其特征在于,所述信號(hào)端通過(guò)一排線與所述測(cè)試單元電連接。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種自上電測(cè)試夾具,包括一測(cè)試單元、一電源、一夾具接口,用于與外部的一模塊電連接,并具有一控制端、一信號(hào)端和一電源端,其中所述信號(hào)端與所述測(cè)試單元電連接;以及一Pmos管,具有一柵極、一源極以及一漏極,其中所述柵極與所述控制端電連接,所述源極與所述電源電連接,所述漏極與所述電源端電連接。本發(fā)明的自上電測(cè)試夾具,通過(guò)在夾具接口與電源之間接入一Pmos管,從而使得測(cè)試夾具僅在模塊接入夾具時(shí)才會(huì)自動(dòng)上電。因而克服了人工開(kāi)關(guān)電源可能導(dǎo)致的模塊熱插拔的問(wèn)題,進(jìn)一步的簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程,提高了生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試效率,所以提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號(hào)G01R1/04GK102735882SQ20111008879
公開(kāi)日2012年10月17日 申請(qǐng)日期2011年4月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月8日
發(fā)明者周璟 申請(qǐng)人:希姆通信息技術(shù)(上海)有限公司
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