專利名稱：用于檢測(cè)金屬蓋的缺陷的設(shè)備、系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)待檢查元件(特別是金屬蓋)的缺陷的設(shè)備、設(shè)有所述設(shè)備的用于檢測(cè)缺陷的系統(tǒng)和相關(guān)的操作方法。更具體地，本發(fā)明涉及用于檢測(cè)蓋的設(shè)備，特別是用于聽、罐或其它種類的主要指定用來裝食物的金屬容器的金屬蓋，所述設(shè)備是特別為檢測(cè)在蓋的不同部分中的諸如劃痕、污染物、凹痕、二次入口(re-entrance)等的表面缺陷而研制和實(shí)現(xiàn)的。
背景技術(shù)：
下面，本說明書將陳述用于聽的金屬蓋的檢測(cè)，但顯而易見的是，不 應(yīng)認(rèn)為本說明書局限于該特定的應(yīng)用。如眾所周知的，諸如豆類、蔬菜、肉類等不同種類的食品被保存在金屬容器或罐內(nèi)。所述罐通常被由保護(hù)膜覆蓋的大致平坦的金屬蓋封閉。所述膜適于防止在食品和金屬蓋之間的接觸，以便防止金屬的氧化物可能接觸裝在容器內(nèi)的食品。必須考慮到罐常常經(jīng)受顯著的機(jī)械應(yīng)力。此外，經(jīng)常出現(xiàn)食品保存很長(zhǎng)時(shí)間、往往甚至多年的情況。這意味著置于所述聽上的所述蓋必須具有非常嚴(yán)格的構(gòu)造和質(zhì)量特性，以便防止諸如表面或邊緣凹痕的可能的機(jī)械缺陷允許空氣進(jìn)入容器內(nèi)，從而破壞裝在其中的產(chǎn)品，或防止蓋金屬氧化物可能接觸食品。存在用于檢查金屬蓋等并能夠丟棄有缺陷的蓋的不同的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括傳送帶，在該傳送帶上傳送將接受檢查的所述蓋；容納框架，該容納框架優(yōu)選地設(shè)置在可處于非工作位置和工作位置的所述傳送帶上方，在該容納框架上放置將接受檢查的蓋；光源，該光源設(shè)置在所述容納框架的內(nèi)部以照亮蓋。所述系統(tǒng)通常還包括用于檢測(cè)受檢查的蓋的視頻裝置，該視頻裝置與所述光源和所述檢測(cè)裝置連接并處理圖像，以便檢測(cè)所述蓋上的缺陷。本領(lǐng)域的技術(shù)人員熟知的反復(fù)出現(xiàn)的問題是允許檢測(cè)每種缺陷的問題，特別是表面劃痕和卷曲凹痕。根據(jù)已知技術(shù)的用于檢查蓋的設(shè)備在歐洲專利EP 0729572B1中有所描述，該設(shè)備涉及視頻檢測(cè)系統(tǒng)，該視頻檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)置有用于生成沿不同波長(zhǎng)的照明的LED陣列，并設(shè)置有用于所述LED陣列的固定裝置，使得LED陣列可照亮將接受檢查的樣品或元件；和合適的電源裝置，該電源裝置可基于波長(zhǎng)啟動(dòng)所述LED，以便從所有LED或僅從一部分LED生成光或照明，這樣的波長(zhǎng)在至少第一波長(zhǎng)和第二波長(zhǎng)之間進(jìn)行選擇。所述系統(tǒng)還設(shè)置有視頻檢測(cè)裝置，該視頻檢測(cè)裝置可接收從將接受檢查的元件漫射的光。所述視頻檢測(cè)裝置還包括絕緣裝置，該絕緣裝置實(shí)質(zhì)上涉及濾波裝置，其可以將所接收的光辨別為第一波長(zhǎng)和第二波長(zhǎng)。所述濾波裝置基本上為光學(xué)型。所描述的系統(tǒng)提高了已知系統(tǒng)的可靠性，因?yàn)樗试S通過所述電源裝置在不同和連續(xù)的時(shí)間間隔用不同的波長(zhǎng)照亮將接受檢查的蓋，所述電源裝置基于波長(zhǎng)類型進(jìn)行區(qū)分。然而，應(yīng)當(dāng)指出，所述系統(tǒng)在主要檢測(cè)蓋劃痕和棱紋時(shí)具有不同的問題。此外，所述系統(tǒng)具有生產(chǎn)率問題，因?yàn)橛上到y(tǒng)進(jìn)行的檢測(cè)的次數(shù)等于可由發(fā)光源發(fā)射的波長(zhǎng)的數(shù)量，并且可選擇電源裝置，從而降低控制速度。很顯然這樣的程序較長(zhǎng)，需要太多的時(shí)間。用于檢測(cè)不同類型的缺陷的另外的解決方案使用多個(gè)照相機(jī)。然而，在這樣的情況下，出現(xiàn)了處理時(shí)間的顯著增加，并且在任何情況下，在實(shí)證分析的基礎(chǔ)上已經(jīng)注意到，這種解決方案也不可靠。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題，因此本發(fā)明的目的是提供一種用于檢查蓋的設(shè)備，該設(shè)備可同時(shí)檢測(cè)不同種類的缺陷，而不需要在不同的時(shí)間間隔期間啟動(dòng)不同種類的照明。本發(fā)明的另外的目的是建議一種用于檢查蓋的緊湊的設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明，通過檢測(cè)設(shè)備可獲得這些和其它結(jié)果，該檢測(cè)設(shè)備可在頻率范圍內(nèi)發(fā)射輻射束，使得由合適的用于照亮將接受檢查的蓋的照明裝置發(fā)出的每個(gè)輻射束實(shí)現(xiàn)光路，該光路相對(duì)于將接受檢查的蓋的表面形成與相關(guān)的發(fā)射頻率成正比或反比的入射角。因此，本發(fā)明的特定目的是一種用于檢測(cè)將接受檢查的元件(特別是金屬蓋)的缺陷的設(shè)備，該設(shè)備包括用于照亮將接受檢查的元件的裝置；用于采集圖像的圖像采集單元，例如照相機(jī)等，其能檢測(cè)被所述照明裝置照亮的所述將接受檢查的元件的圖像；用于處理由所述圖像采集單元采集的圖像的單元，其適于檢測(cè)所述缺陷，其特征在于，所述照明裝置根據(jù)包括在預(yù)先設(shè)定的范圍內(nèi)的兩個(gè)或更多個(gè)頻率發(fā)射輻射束，所述輻射束中的每一個(gè)根據(jù)光路照亮所述將接受檢查的元件，個(gè)體化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之間的相對(duì)于所述將接受檢查的元件的表面的入射角，所述照明裝置設(shè)置成使得通過由照明裝置發(fā)射的所述輻射束中的每一個(gè)的光路實(shí)現(xiàn)的入射角相對(duì)于相關(guān)發(fā)射頻率成正比或反比。總是根據(jù)本發(fā)明，所述最小掠入射角對(duì)應(yīng)于由所述照明裝置在所述設(shè)定范圍的較低頻率下發(fā)射的輻射束。還是根據(jù)本發(fā)明，所述照明裝置包括多個(gè)用于發(fā)射所述輻射束的LED，所述LED設(shè)置成使得由所述LED中的每一個(gè)發(fā)射的輻射束光路的入射角相對(duì)于發(fā)射頻率成正比或反比。此外，根據(jù)本發(fā)明，所述照明裝置包括漫射體，該漫射體具有大致半球形狀，其凹面朝下，在頂部處設(shè)置有孔，所述圖像采集單元通過該孔檢測(cè)所述將接受檢查的元件的圖像，并且其中所述第一照明裝置的所述LED被分組成第一、第二和第三LED組件，所述第一LED組件按照環(huán)狀排列安裝在所述漫射體外部，以便掠射照亮所述將接受檢查的元件，并且適于在第一最小頻率下，優(yōu)選地在紅色域內(nèi)發(fā)射；所述第二 LED組件按照環(huán)狀排列安裝在所述漫射體外部，以便照亮所述將接受掠散射檢查的元件，并且適于在第二中間頻率下，優(yōu)選地在綠色域內(nèi)發(fā)射；所述第三LED組件包括按照環(huán)狀排列安裝在所述漫射體上方的第一LED組件和垂直布置在所述漫射體上方的第二 LED組件，以便照亮所述將接受散射檢查的元件，并且適于在第三中間頻率下，優(yōu)選地在藍(lán)色域內(nèi)發(fā)射?？偸歉鶕?jù)本發(fā)明，所述照明裝置還包括分光鏡，所述分光鏡設(shè)置在所述漫射體上方，反射由在所述將接受檢查的元件上的所述第二 LED組件發(fā)射的輻射束，并允許通過所述圖像采集單元檢測(cè)所述將接受檢查的元件的圖像。還是根據(jù)本發(fā)明，所述設(shè)備包括在底部處開放的保護(hù)罩，在保護(hù)罩內(nèi)設(shè)置有所述圖像采集單元和所述照明裝置，所述照明裝置被置于所述圖像采集單元下方。有利地，根據(jù)本發(fā)明，所述圖像處理單元可根據(jù)所述兩個(gè)或多個(gè)頻率中的每一個(gè)進(jìn)行圖像數(shù)字過濾，以便自動(dòng)識(shí)別每個(gè)過濾圖像的所述缺陷。本發(fā)明的另一個(gè)目的是一種用于檢測(cè)將接受檢查的元件(特別是金屬蓋)上的缺陷的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括傳送帶，在該傳送帶上傳送所述將接受檢查的元件；立柱，該立柱基本上相對(duì)于所述傳送帶垂直；滑板，該滑板與所述立柱滑動(dòng)聯(lián)接；用于檢測(cè)所述將接受檢查的元件的缺陷的設(shè)備，該設(shè)備固定到所述滑板，使得所述設(shè)備可具有相對(duì)于所述傳送 帶抬起的靜止位置以及在將高于所述將接受檢查的元件的降低模式下的工作位置，以便照亮所述將接受檢查的元件并采集圖像，其特征在于，用于檢測(cè)缺陷的所述設(shè)備是如上面所限定的設(shè)備。本發(fā)明的又一目的是一種用于檢測(cè)將接受檢查的元件(特別是金屬蓋)的缺陷的方法，該方法包括以下步驟(a)照亮所述將接受檢查的元件；(b)采集所述將接受檢查的元件的圖像；(C)處理在所述步驟(b)期間采集的所述將接受檢查的元件的圖像；其特征在于，在所述步驟(a)期間，所述將接受檢查的元件被根據(jù)包括在預(yù)先設(shè)定的間隔內(nèi)的兩個(gè)或多個(gè)頻率的輻射束照亮，所述輻射束中的每一個(gè)根據(jù)光路照亮所述將接受檢查的元件，個(gè)體化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之間的相對(duì)于所述將接受檢查的元件的表面的入射角，由所述發(fā)射的輻射束中的每一個(gè)的光路組成的入射角與相關(guān)發(fā)射頻率成正比或反比?？偸歉鶕?jù)本發(fā)明，在所述設(shè)定范圍的較低頻率下、在所述步驟(a)期間發(fā)射的所述輻射束對(duì)應(yīng)于所述入射角。


現(xiàn)將參照附圖根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例來描述本發(fā)明，目的在于說明而不是限制。圖I示出了根據(jù)本發(fā)明的用于檢測(cè)將接受檢查的元件上、特別是蓋上的缺陷的設(shè)備;圖2示出了圖I的設(shè)備的剖面圖；圖3示出了設(shè)置有根據(jù)圖I的檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)系統(tǒng)；圖4示出了根據(jù)圖3的系統(tǒng)的截面的透視圖；以及圖5-8示出了由根據(jù)本發(fā)明的檢測(cè)設(shè)備在蓋上檢測(cè)到的缺陷。在不同的視圖中將使用相同的附圖標(biāo)記來指示相同或類似的部件。
具體實(shí)施例方式參考圖I和圖2，觀察到根據(jù)本發(fā)明的用于檢測(cè)金屬蓋的缺陷的設(shè)備I。特別地，所述設(shè)備I包括在底部處開放的保護(hù)罩20，在保護(hù)罩20內(nèi)設(shè)置有用于照亮將接受檢查的元件的照明裝置30。所述設(shè)備I還包括在所述照明裝置上方且總是設(shè)置在所述保護(hù)罩20內(nèi)的彩色照相機(jī)40。所述彩色照相機(jī)40設(shè)置成拍攝被所述照明裝置30照亮的將接受檢查的元件或蓋的表面的圖像。所述照明裝置30和所述照相機(jī)40連接到合適的處理和控制單元(圖中未示出)，該處理和控制單元包括處理器，該處理器除了協(xié)調(diào)照明和圖像采集操作之外，還處理為了檢測(cè)在將接受檢查的所述蓋或元件上的可能缺陷而采集的圖像。圖2特別地示出了所述照明裝置30的實(shí)施例，所述照明裝置30包括具有大致半球形狀且在頂部設(shè)置有孔32的漫射體31。所述漫射體31是透明的，并且優(yōu)選地由樹脂玻璃構(gòu)成。所述漫射體31的功能將在下文中更好地描述。 所述照明裝置30還包括分成三個(gè)不同組的多個(gè)LED (發(fā)光二極管)，每一個(gè)能夠在相關(guān)頻率下發(fā)射輻射束。特別地，在該實(shí)施例中，提供了用于組33的在紅色域內(nèi)的最小頻 率、用于組34的在綠色域內(nèi)的中間頻率f2和用于組35的在藍(lán)色域內(nèi)的最大頻率f3。所述組33、34和35中的每一個(gè)設(shè)置在特定位置，以便防止所發(fā)射的光束之間的干涉作用，如在下文中更好地描述的。特別地，按照環(huán)形或圓形排列布置在所述漫射體31外部的第一組LED 33可掠射照亮將接受檢查的蓋，即按照最小a角，所述a角是被掠射入射光束或射線相對(duì)于所述將接受檢查的蓋的水平表面?zhèn)€體化的角度。所述第一組LED 33在紅色域內(nèi)的最小頻率4下發(fā)射，并且所述輻射束如果遇到缺陷(例如，劃痕或凹痕)，則被該缺陷散射。這造成通過照相機(jī)40對(duì)所述缺陷的明亮或暗淡的檢測(cè)，也允許檢測(cè)在蓋平面上的小的劃痕或卷曲上的小缺陷。按照環(huán)形或圓形排列布置在所述漫射體31外部的第二組LED 34可以大于所述第一組LED 33的入射角的入射角a掠射漫射照亮所述蓋。所述第二組LED 34設(shè)置成在所提供的三個(gè)頻率中的所述第二頻率f2(即，在綠色域內(nèi)的頻率)下發(fā)射。根據(jù)所遇到的蓋表面(棱紋、卷曲、平面部分)，所述輻射束被反射或漫射。所述第二組LED 34特別適合檢測(cè)在受檢查的物體的棱紋上的缺陷，例如凹痕。最后，第三組LED 35包括按照環(huán)形或圓形排列布置的與所述漫射體31的頂部一致的第一 LED組35'和垂直地設(shè)置在漫射體31上方的第二組LED 35"。由所述第二 LED組35"發(fā)射的輻射束被分光鏡36以相對(duì)于垂直于將接受檢查的蓋的表面的軸線約45°的角度導(dǎo)向至受檢查的蓋上，該方向與所述漫射體31的孔32—致。所述分光鏡36允許從所述第二 LED組35"發(fā)射的輻射束經(jīng)所述照相機(jī)40的觀察孔32通過。由于所述分光器36，照相機(jī)40可檢測(cè)由所述蓋漫射/反射的所有輻射。所述第三組LED 35以大于所述第二組LED 34的入射角的角度a (大致約90° )漫射照亮所述蓋，輻射束大致垂直地導(dǎo)向至所述蓋上。因此，所述輻射束被反射，并且照相機(jī)40檢測(cè)到可能的缺陷，如在采集的圖像中亮背景上的暗斑。在提供的三個(gè)頻率中的最大頻率f3(即，藍(lán)色的那個(gè))下發(fā)射輻射束的所述第三組LED 35可檢測(cè)蓋的平表面上的劃痕和卷曲缺陷。如可觀察到的，LED組33、34和35的布置使得入射角a的增加對(duì)應(yīng)于所發(fā)射輻射的頻率的增加。因此，輻射束從最小入射頻率開始傳播，并將缺陷檢測(cè)為暗背景上的亮斑(最小入射角、所選發(fā)射范圍的最小頻率)，在最大入射頻率下，將缺陷檢測(cè)為亮背景上的暗斑(最大入射角、所選發(fā)射范圍的最大頻率)，從而避免發(fā)射的不同輻射束之間的干涉作用，否則，在來自所有方向(所有入射角)的各種頻率的發(fā)射的情況中將出現(xiàn)干涉，并且允許由所有組LED 33,34和35同時(shí)照明并因而由照相機(jī)40檢測(cè)，從而獲得有效而快速的檢測(cè)。必須考慮到，由根據(jù)三種照明頻率電子過濾圖像的所述處理和控制單元進(jìn)行的缺陷監(jiān)測(cè)允許所述處理器容易地檢測(cè)缺陷。設(shè)備I還可工作，以將最大頻率(藍(lán)色)輻射束發(fā)射LED定位成具有最小入射角a，S卩，掠射，并將最小頻率(紅色)輻射束發(fā)射LED定位成具有最大入射角a，即漫射。然而，優(yōu)選的是將所述第一組33的紅色LED (最小頻率)定位成具有最小掠射入射角a，因?yàn)樗黾t色LED更明亮，因而需要較低功率以便在可能的缺陷上獲得輻射漫射的足夠亮度。、因此，所述定位是優(yōu)選的，因?yàn)樗试S獲得能量?jī)?yōu)化。必須注意到，所述漫射體31可用于漫射由所述LED發(fā)射的光，以便防止每個(gè)LED的聚光照明。現(xiàn)在參照?qǐng)D3和4，觀察到系統(tǒng)50包括傳送帶60，在傳送帶60上設(shè)置有將接受檢查的蓋70 ;立柱80，在立柱80上可滑動(dòng)地聯(lián)接有滑板81，所述檢測(cè)設(shè)備I固定在滑板81上。所述系統(tǒng)50設(shè)有例如機(jī)械或液壓裝置的裝置，以沿著所述立柱80垂直地移動(dòng)所述滑板81，以使所述設(shè)備I處于靜止位置，其中所述設(shè)備I處在抬起位置；和工作位置，其中所述設(shè)備I處在所述將接受檢查的蓋70上方的放下位置，使得蓋被照亮，并且可檢測(cè)到圖像。在此圖中可注意到蓋70的不同部分，即中部71、圓形棱紋72和邊緣卷曲73。圖5-8示出了由照相機(jī)40拍攝并由所述處理和控制單元(在圖中未示出)處理的圖像，該圖像可個(gè)體化受檢查的蓋70的缺陷。從所述圖中還可觀察到檢測(cè)的缺陷-圖5示出了沒有處理或過濾的帶有缺陷的蓋70的照相機(jī)40的圖像；-圖6示出了蓋70，其中綠色和藍(lán)色輻射束分量的效果被過濾，并且在平面中部上觀察到劃痕，該劃痕穿過棱紋72和始終在平面中部71上的點(diǎn)狀凹痕；-圖7示出了圖5的蓋70，其中紅色和藍(lán)色輻射束分量的效果被過濾，并且觀察到在卷曲73上的劃痕和缺陷，該缺陷未在圖6中示出；以及-圖8示出圖5的蓋70，其中紅色和綠色輻射束分量的效果被過濾，并且觀察到在卷曲73上的劃痕和缺陷，該缺陷在圖6中不可見，并且在圖7中更好地顯現(xiàn)。必須注意到，通過圖6的過濾檢測(cè)到的點(diǎn)狀凹痕在此圖中未被檢測(cè)到。上述情況證明，在不同頻率下的不同照明可更好地顯示不同類型的缺陷。顯然，可使用的頻率也可變化到可見光范圍以外，從而也可以使用在紅外和/或紫外頻率下的輻射束。為了說明而非限制的目的根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例已經(jīng)描述了本發(fā)明，但應(yīng)當(dāng)理解的是，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以不脫離如所附權(quán)利要求書限定的相關(guān)范圍而引進(jìn)各種變型和/或修改。
權(quán)利要求
1.一種用于檢測(cè)將接受檢查的元件、特別是金屬蓋(70)的缺陷的設(shè)備(I)，所述設(shè)備(I)包括 用于照亮將接受檢查的元件(70)的裝置(30)； 用于采集圖像的圖像采集單元，例如照相機(jī)(40)等，所述圖像采集單元能檢測(cè)被所述照明裝置(30)照亮的所述將接受檢查的元件(70)的圖像； 用于處理由所述圖像采集單元(40)采集的圖像的單元，所述圖像處理單元適于檢測(cè)所述缺陷； 其特征在于， 所述照明裝置(30)根據(jù)包括在預(yù)先設(shè)定范圍內(nèi)的兩個(gè)或更多個(gè)頻率(f\，f2，f3)發(fā)射輻射束， 所述輻射束中的每一個(gè)根據(jù)光路照亮所述將接受檢查的元件(70)，個(gè)體化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之間的相對(duì)于所述將接受檢查的元件的表面的入射角(a )， 所述照明裝置(30)設(shè)置成使得通過由照明裝置(30)發(fā)射的所述輻射束中的每一個(gè)的所述光路實(shí)現(xiàn)的入射角(a)相對(duì)于所述相關(guān)發(fā)射頻率(f\，f2，f3)成正比或反比。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的設(shè)備(I)，其特征在于，所述最小掠入射角(a)對(duì)應(yīng)于由所述照明裝置在所述設(shè)定范圍的較低頻率下(f\)發(fā)射的所述輻射束。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的設(shè)備(I)，其特征在于，所述照明裝置(30)包括多個(gè)用于發(fā)射所述輻射束的LED，所述LED設(shè)置成使得由所述LED中的每一個(gè)發(fā)射的輻射束光路的入射角(a)相對(duì)于所述發(fā)射頻率成正比或反比。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的設(shè)備(I)，其特征在于，所述照明裝置(30)包括 漫射體(31)，所述漫射體具有大致半球形狀，其凹面朝下，在頂部處設(shè)置有孔，所述圖像采集單元通過所述孔檢測(cè)所述將接受檢查的元件(70)的圖像， 并且其中，所述第一照明裝置(39)的所述LED被分組成第一、第二和第三LED組件(33，34，35)，所述第一 LED組件(33)按照環(huán)狀排列安裝在所述漫射體(31)外部，以便掠射照亮所述將接受檢查的元件(30)，并且適于在第一最小頻率(f\)下，優(yōu)選地在紅色域內(nèi)發(fā)射，所述第二 LED組件(34)按照環(huán)形排列安裝在所述漫射體外部，以便照亮將接受掠散射檢查的所述元件(70)，并且適于在第二中間頻率(f3)下，優(yōu)選地在綠色域內(nèi)發(fā)射，所述第三LED組件(35)包括按照環(huán)狀排列安裝在所述漫射體(31)上方的第一 LED組件(35’)和垂直布置在所述漫射體(31)上方的第二 LED組件(35”)，以便照亮所述將接受散射檢查的元件(70)，并且適于在第三中間頻率(f3)下，優(yōu)選地在藍(lán)色域內(nèi)發(fā)射。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備(1)，其特征在于，所述照明裝置(30)還包括分光鏡(36)，所述分光鏡設(shè)置在所述漫射體(31)上方，反射由在所述將接受檢查的元件(70)上的所述第二 LED組件(35”)發(fā)射的所述輻射束，并允許通過所述圖像采集單元(40)檢測(cè)所述將接受檢查的元件(70)的圖像。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的設(shè)備(I)，其特征在于，所述設(shè)備包括在底部處開放的保護(hù)罩(20)，所述保護(hù)罩內(nèi)設(shè)置有所述圖像采集單元(40)和所述照明裝置(30)，所述照明裝置被置于所述圖像采集單元(40)下方。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的設(shè)備(I)，其特征在于，所述圖像處理單元可根據(jù)所述兩個(gè)或多個(gè)頻率(fi，f2, f3)中的每一個(gè)進(jìn)行圖像數(shù)字過濾，以便自動(dòng)識(shí)別每個(gè)過濾圖像的所述缺陷。
8.一種用于檢測(cè)將接受檢查的元件上、特別是金屬蓋(70)上的缺陷的系統(tǒng)(50)，所述系統(tǒng)(50)包括 傳送帶(60)，在所述傳送帶￠0)上傳送所述將接受檢查的元件(70)； 立柱(80)，所述立柱(80)基本上相對(duì)于所述傳送帶￠0)垂直； 滑板(81)，所述滑板(81)與所述立柱(80)滑動(dòng)聯(lián)接；和 用于檢測(cè)所述將接受檢查的元件(70)的缺陷的設(shè)備，所述設(shè)備固定到所述滑板(81)，使得所述設(shè)備可具有相對(duì)于所述傳送帶￠0)抬起的靜止位置以及在將高于所述將接受檢查的元件(70)的降低模式下的工作位置，以便照亮所述將接受檢查的元件(70)并采集所述圖像， 其特征在于，用于檢測(cè)缺陷的所述設(shè)備是如權(quán)利要求1-7中所述的設(shè)備(I)。
9.一種用于檢測(cè)將接受檢查的元件、特別是金屬蓋(70)的缺陷的方法，所述方法包括以下步驟 (a)照亮所述將接受檢查的元件(70)； (b)采集所述將接受檢查的元件(70)的圖像； (c)處理在所述步驟(b)期間采集的所述將接受檢查的元件(70)的圖像； 其特征在于，在所述步驟(a)期間，所述將接受檢查的元件(70)被根據(jù)包括在預(yù)先設(shè)定的間隔內(nèi)的兩個(gè)或多個(gè)頻率(f\，f2, f3)的輻射束照亮，所述輻射束中的每一個(gè)根據(jù)光路照亮所述將接受檢查的元件(70)，個(gè)體化包括在最小掠入射角(a)和最大散射入射角(a)之間的相對(duì)于所述將接受檢查的元件的表面的入射角(a )，由所述發(fā)射的輻射束中的每一個(gè)的光路組成的入射角(a)與相關(guān)發(fā)射頻率(f\，f2，f3)成正比或反比。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，在所述設(shè)定范圍的較低頻率(fl)下、在所述步驟(a)期間發(fā)射的輻射束對(duì)應(yīng)于所述入射角(a)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)將接受檢查的元件、特別是金屬蓋的缺陷的設(shè)備，所述設(shè)備包括用于照亮將接受檢查的元件的裝置(30)；用于采集圖像的諸如照相機(jī)等的圖像采集單元，其能檢測(cè)被所述照明裝置(30)照亮的所述將接受檢查的元件的圖像；用于處理由所述圖像采集單元采集的圖像的單元，其適于檢測(cè)所述缺陷，其中，所述照明裝置(30)根據(jù)包括在預(yù)先設(shè)定的范圍內(nèi)的兩個(gè)或更多個(gè)頻率(f1，f2，f3)發(fā)射輻射束，所述輻射束中的每一個(gè)根據(jù)光路照亮所述將接受檢查的元件，個(gè)體化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之間的相對(duì)于所述將接受檢查的元件的表面的入射角(α)，所述照明裝置(30)設(shè)置成使得通過由照明裝置(30)發(fā)射的所述輻射束中的每一個(gè)的光路實(shí)現(xiàn)的入射角(α)相對(duì)于相關(guān)發(fā)射頻率(f1，f2，f3)成正比或反比。
文檔編號(hào)G01N21/88GK102725625SQ201080049544
公開日2012年10月10日 申請(qǐng)日期2010年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月4日
發(fā)明者M·伯德奇 申請(qǐng)人:伊莫拉Sacmi機(jī)械合作公司