專利名稱：深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭及其測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及凹曲面上非連續(xù)導(dǎo)電膜層相對電阻測量的應(yīng)用，尤其是在凹球形上測 量金屬網(wǎng)柵膜的相對電阻的測量工具及測量方法。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)測試導(dǎo)線電阻的方法是把萬用表撥至電阻檔位、用兩支表筆分別接觸導(dǎo)線兩 端測得電阻值，連續(xù)薄膜電阻則多采用四探針法來測量其面電阻。也有人根據(jù)方塊電阻的 定義，將兩條銅箔平行放置在導(dǎo)電膜上，中間形成一個(gè)方形區(qū)域，用萬用表測量兩條銅箔間 電阻視為所測膜層的面電阻。目前，國內(nèi)外已出現(xiàn)以感應(yīng)磁流或感應(yīng)電流為原理的非接觸 面電阻測量儀器。然而，上述方法均不能用在深凹曲面導(dǎo)電網(wǎng)格膜層電阻測量上。利用兩條銅箔測量膜層方塊電阻的辦法不僅要求銅箔與膜層緊密接觸(盡量減 小接觸電阻)，而且要求曲面可近似展開成平面。由于深凹曲面空間的限制，非接觸面電阻 測量儀器也不能用于深凹曲面導(dǎo)電網(wǎng)格膜層電阻測量上。

發(fā)明內(nèi)容
為了初步實(shí)現(xiàn)深凹曲面導(dǎo)電網(wǎng)格膜層的電阻測量，本申請人提出采用兩個(gè)球形測 頭、配上萬用表，用平面與曲面測值比對分析來測量深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格膜層相對電阻，并 設(shè)計(jì)出深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭。本發(fā)明的目的是設(shè)計(jì)一個(gè)可隨凹面曲率自動(dòng)微調(diào)接觸面積、可通過連桿，來控制 接觸應(yīng)力的電阻測頭及其測量方法。本發(fā)明深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭，由三個(gè)安裝在卡簧上的球頭電 極、通過壓簧調(diào)節(jié)接觸應(yīng)力的滑桿、為電極和滑桿提供支撐和運(yùn)動(dòng)導(dǎo)向的外套、與外界構(gòu)成 絕緣的絕緣柱和與外機(jī)構(gòu)連接的連桿構(gòu)成。該電阻接觸測量頭包括電極1、卡簧2、滑桿3、壓簧4、外套5、絕緣柱6、連桿7 ；各部件的位置及連接關(guān)系電極1安裝在卡簧2上，并且可隨凹面曲率微調(diào)與待測導(dǎo)電網(wǎng)格接觸面積，支撐卡 簧2通過壓簧4調(diào)節(jié)接觸應(yīng)力的滑桿3、外套5為電極1和滑桿3提供支撐和運(yùn)動(dòng)導(dǎo)向，絕 緣柱6支撐壓簧4，由連桿7將電阻接觸測量頭和與外機(jī)構(gòu)連接。電極1為球頭，電極1尾端有一個(gè)小孔8可焊接導(dǎo)線，外套5在對應(yīng)位置有一小孔 可引出導(dǎo)線、有一凹槽為走線槽9。本發(fā)明的有益效果深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭為實(shí)現(xiàn)深凹球面上金屬網(wǎng)柵薄膜的相對電阻測量提供了可行的工藝裝備，其結(jié)構(gòu)簡單、操作便捷，成本低廉， 便于推廣。


圖1是深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭結(jié)構(gòu)剖視圖。其中電極1、卡簧 2、滑桿3、壓簧4、外套5、絕緣柱6、連桿7、小孔8 ；圖2是外套仰視圖。其中外套5、小孔8。圖3是卡簧2的俯(仰)視圖。
具體實(shí)施例方式根據(jù)附圖1加工并組裝接觸測量頭，通過調(diào)整卡簧2厚度控制電極1扭轉(zhuǎn)角度，通 過選擇不同剛度壓簧4控制電極1與導(dǎo)電網(wǎng)格膜層接觸應(yīng)力。通過外套5為電極1和滑桿3提供運(yùn)動(dòng)導(dǎo)向；絕緣柱6在起絕緣作用的同時(shí)也為 壓簧4提供支撐。采用兩個(gè)球形測頭、配上萬用表，用平面與曲面測值比對分析來測量深凹曲面上 導(dǎo)電網(wǎng)格膜層相對電阻。本發(fā)明深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭的使用方法是測量頭做兩套并 通過連桿連接成一分規(guī)形式，每次測量都固定成一個(gè)角度，角度范圍為5-90°，從外套5的 走線槽9引出的導(dǎo)線與萬用表筆相連，兩個(gè)測量頭引出的導(dǎo)線分別連接兩個(gè)表筆。手持連 桿，用手施壓使測頭電極與凹面隨形并與導(dǎo)電網(wǎng)格膜層接觸良好，測得電阻值，與平面已知 電阻膜層比對測量可實(shí)現(xiàn)曲面導(dǎo)電網(wǎng)格膜層電阻的相對測量。
權(quán)利要求
深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭，其特征在于該電阻接觸測量頭包括電極(1)、卡簧(2)、滑桿(3)、壓簧(4)、外套(5)、絕緣柱(6)、連桿(7)、小孔(8)、走線槽(9)；各部件的位置及連接關(guān)系電極(1)安裝在卡簧(2)上，并且可隨凹面曲率微調(diào)與待測導(dǎo)電網(wǎng)格接觸面積，支撐卡簧(2)通過壓簧(4)調(diào)節(jié)接觸應(yīng)力的滑桿(3)，外套(5)為電極(1)和滑桿(3)提供支撐和運(yùn)動(dòng)導(dǎo)向，絕緣柱(6)支撐壓簧(4)，由連桿(7)將電阻接觸測量頭與外機(jī)構(gòu)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭，其特征在于，所 述電極(1)為球頭，電極(1)尾端有一個(gè)小孔(8)焊接導(dǎo)線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭，其特征在于，所 述外套(5)上設(shè)有一凹槽為走線槽(9)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭的測量方法，其特 征在于測量頭做兩套并通過連桿(7)連接成一分規(guī)形式，從外套(5)的走線槽(9)引出的 導(dǎo)線與萬用表筆相連，兩個(gè)測量頭引出的導(dǎo)線分別連接兩個(gè)表筆，手持連桿(7)，用手施壓 使測頭電極與凹面隨形并與導(dǎo)電網(wǎng)格膜層接觸良好，測得電阻值，與平面已知電阻膜層比 對測量實(shí)現(xiàn)曲面導(dǎo)電網(wǎng)格膜層電阻的相對測量。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭的測量方法，其特 征在于測量頭做兩套并通過連桿(7)連接成一分規(guī)形式，每次測量都固定成一個(gè)角度，角 度范圍為5-90°。
全文摘要
深凹曲面上導(dǎo)電網(wǎng)格相對電阻接觸測量頭及其測量方法。屬于深凹曲面上測量金屬網(wǎng)柵膜的相對電阻的測量工具和方法。電阻接觸測量頭的結(jié)構(gòu)及連接關(guān)系電極安裝在卡簧上，支撐卡簧通過壓簧調(diào)節(jié)接觸應(yīng)力的滑桿，外套為電極和滑桿提供支撐和運(yùn)動(dòng)導(dǎo)向，絕緣柱支撐壓簧，由連桿將電阻接觸測量頭和與外機(jī)構(gòu)連接。測量頭做兩套并通過連桿連接成一分規(guī)形式，從外套導(dǎo)線槽引出的導(dǎo)線與萬用表筆相連，兩個(gè)測量頭引出的導(dǎo)線分別連接兩個(gè)表筆，手持連桿，用手施壓使測頭電極與凹面隨形并與導(dǎo)電網(wǎng)格膜層接觸良好，測得電阻值，與平面已知電阻膜層比對測量，實(shí)現(xiàn)曲面導(dǎo)電網(wǎng)格膜層電阻的相對測量。該測量頭結(jié)構(gòu)簡單、操作便捷，成本低廉，便于推廣。
文檔編號G01R27/02GK101833038SQ20101014477
公開日2010年9月15日 申請日期2010年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月13日
發(fā)明者馮曉國, 梁鳳超, 趙晶麗, 高勁松 申請人:中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所