專利名稱：使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及磁盤驅(qū)動(dòng)器中的磁頭領(lǐng)域，尤其涉及一種使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法。
背景技術(shù)：
包含多個(gè)旋轉(zhuǎn)磁盤的硬盤驅(qū)動(dòng)器被普遍用來(lái)將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在其磁盤表面的磁性媒介上，而記錄磁頭則用作在旋轉(zhuǎn)磁盤表面上進(jìn)行磁性記錄信息。通常，若干個(gè)磁頭形成晶圓，而該晶圓將被切成單獨(dú)的長(zhǎng)形條。每一長(zhǎng)形條上包括多個(gè)獨(dú)立的記錄磁頭。這些長(zhǎng)形條上最終會(huì)被鋸成單一的磁頭元件，這些磁頭元件則被安裝于硬盤驅(qū)動(dòng)器的磁頭折片組合上。一般情況下，長(zhǎng)形條上的每一磁頭在鋸成單一元件之前都要進(jìn)行測(cè)試以確保磁頭符合制造規(guī)格。例如，磁頭上的讀頭包括的磁阻元件具有一個(gè)磁阻高度，該磁阻高度必須被研磨至一個(gè)預(yù)定值。通常，其研磨量由磁頭在研磨前及研磨后的電阻變化來(lái)決定。單一磁頭在研磨后，其電阻應(yīng)與預(yù)定的電阻值相符。在長(zhǎng)形條被切成單一元件之前，每一個(gè)磁頭必須經(jīng)由一測(cè)量器對(duì)其電阻進(jìn)行測(cè)量。一種常見(jiàn)的用于測(cè)量電阻的測(cè)量器包括一探針板，該探針板具有多個(gè)針腳，這些針腳同時(shí)與每一磁頭切割部表面上的兩個(gè)電性研磨導(dǎo)向(electrical lappingguide,ELG) 觸點(diǎn)接觸，這些針腳通過(guò)連接器與一測(cè)量板連接，以在長(zhǎng)形條的每一磁頭上形成電流回路， 從而將每一磁頭的電阻測(cè)量出來(lái)。而探針板的類型則因長(zhǎng)形條的類型不同而不同。現(xiàn)今， 常見(jiàn)的長(zhǎng)形條類型分別有分路型(shimting-type)長(zhǎng)形條及飛米型(femto-type)長(zhǎng)形條。 在分路型長(zhǎng)形條的內(nèi)部，每一磁頭的一個(gè)極均連接起來(lái)以形成一公共端，亦即，在分路型長(zhǎng)形條內(nèi)有一個(gè)公共端為各磁頭所公用。而在飛米型長(zhǎng)形條的內(nèi)部連線中，各個(gè)磁頭是相互獨(dú)立的。因此，基于兩種長(zhǎng)形條的內(nèi)部接線不同，用于測(cè)量其上磁頭電阻的探針板也不一樣。一種標(biāo)準(zhǔn)探針板用于測(cè)量飛米型長(zhǎng)形條的磁頭電阻，而另一種分路探針板則用于測(cè)量分路型長(zhǎng)形條。標(biāo)準(zhǔn)探針板具有兩排針腳及一連接器，該兩排針腳用于分別接觸飛米長(zhǎng)形條上磁頭切割部表面上的兩ELG觸點(diǎn)，而連接器則與針腳連接后與測(cè)量板相連。而分路探針板只有一排針腳及一連接器，同樣，連接器與針腳連接后與測(cè)量板相連。分路探針板的其中一個(gè)針腳被施加一個(gè)電壓；余下的針腳則與磁頭切割部表面上的ELG觸點(diǎn)接觸，同時(shí)被施加另一電壓，以使構(gòu)成電流回路，從而測(cè)出磁頭的電阻。通常情況下，為節(jié)省開(kāi)支，兩種類型的長(zhǎng)形條均在同一測(cè)量設(shè)備上進(jìn)行測(cè)量。因此，兩種類型的探針板會(huì)被頻繁拆卸及更換，而這種拆卸及更換過(guò)程復(fù)雜，而且十分耗時(shí)。 因此，機(jī)器的停工期顯得過(guò)長(zhǎng)，同時(shí)亦增耗了人力資源。此外，在頻繁的拆卸更換過(guò)程中，探針板容易受損，從而縮短探針板的壽命。因此，亟待一種改進(jìn)的使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法以克服上述缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法，其可縮減機(jī)器的停工期及人力資源，并可避免探針板的頻繁拆卸及更換，從而避免探針板受損。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法，所述長(zhǎng)形條的類型包括飛米型長(zhǎng)形條及分路型長(zhǎng)形條，所述飛米型長(zhǎng)形條包括一排磁頭，每一所述磁頭具有一前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)及一后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)，所述分路型長(zhǎng)形條包括至少一組磁頭及至少一個(gè)與該組磁頭相連的公共測(cè)試觸點(diǎn)，所述分路型長(zhǎng)形條的每一磁頭具有一測(cè)試觸點(diǎn)，所述測(cè)量器包括一探針板，所述探針板具有一排前針腳及一排后針腳，所述方法包括(1)將所述長(zhǎng)形條放置于所述測(cè)量器上；(2)判斷所述長(zhǎng)形條的類型，若為飛米型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟(3)- )；若為分路型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟(5)-(6)；(3)所述前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸所述探針板的前針腳，所述后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸所述后針腳；(4)向所述前針腳施加第一電壓，并向所述后針腳施加不等于第一電壓的第二電壓，從而測(cè)出磁頭電阻；(5)所述分路型長(zhǎng)形條的公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸所述探針板的一個(gè)所述前針腳，所述磁頭的測(cè)試觸點(diǎn)分別接觸余下的所述前針腳；(6)向與所述測(cè)試觸點(diǎn)接觸的所述前針腳施加第三電壓，并向與所述公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸的所述前針腳施加不等于第三電壓的第四電壓，從而測(cè)出磁頭電阻。在一個(gè)實(shí)施例中，在將所述長(zhǎng)形條放置于所述測(cè)量器之前還包括將長(zhǎng)形條信息存儲(chǔ)至一數(shù)據(jù)庫(kù)。較佳地，所述長(zhǎng)形條信息包括長(zhǎng)形條的類型信息及磁頭的個(gè)數(shù)信息。較佳地，判斷所述長(zhǎng)形條的類型之后，還包括訪問(wèn)并調(diào)用所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的長(zhǎng)形條 fn息ο較佳地，所述探針板具有10個(gè)前針腳及10個(gè)后針腳。較佳地，所述長(zhǎng)形條還包括形成在每一所述磁頭旁的切割部。較佳地，所述前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)和所述后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)形成于所述飛米型長(zhǎng)形條的切割部上。較佳地，所述測(cè)試觸點(diǎn)形成于所述分路型長(zhǎng)形條的切割部上。在一個(gè)實(shí)施例中，所述第一電壓為+IV，所述第二電壓為0V，所述第三電壓為+IV， 所述第四電壓為0V。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的方法在不需要更換探針板的情況下，可以測(cè)量?jī)煞N不同類型的長(zhǎng)形條。因此，機(jī)器的停工期被縮短，而同時(shí)人力成本亦被縮減。由于探針板無(wú)需更換，因此探針板受損的幾率大大降低，從而延長(zhǎng)探針板的壽命。而且本發(fā)明的測(cè)量方法易于操作及執(zhí)行，因此其應(yīng)用范圍很廣，能為本領(lǐng)域的制造商帶來(lái)良好的經(jīng)濟(jì)效益。通過(guò)以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明的實(shí)施例。


圖1為飛米型長(zhǎng)形條的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為分路型長(zhǎng)形條的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為測(cè)量長(zhǎng)形條的磁頭電阻的公共測(cè)量器的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為探針板的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為本發(fā)明使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法的一個(gè)實(shí)施例的流程圖。圖6為本發(fā)明使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法的另一實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面將參考附圖闡述本發(fā)明幾個(gè)不同的最佳實(shí)施例，其中不同圖中相同的標(biāo)號(hào)代表相同的部件。如上所述，本發(fā)明的實(shí)質(zhì)在于使用公共的測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法，該方法包括判斷所述長(zhǎng)形條的類型，若為飛米型長(zhǎng)形條，則所述前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸所述探針板的前針腳，所述后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸所述后針腳，繼而向所述前針腳施加第一電壓，并向所述后針腳施加不等于第一電壓的第二電壓，從而測(cè)出磁頭電阻；若為分路型長(zhǎng)形條，則所述分路型長(zhǎng)形條的公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸所述探針板的一個(gè)所述前針腳，所述磁頭的測(cè)試觸點(diǎn)分別與余下的所述前針腳接觸，繼而向與所述測(cè)試觸點(diǎn)接觸的所述前針腳施加第三電壓，并向與所述公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸的所述前針腳施加不等于第三電壓的第四電壓，從而測(cè)出磁頭電阻。此種設(shè)計(jì)，使得機(jī)器的停工期被縮短， 同時(shí)縮減人力成本。由于探針板無(wú)需更換，因此探針板受損的幾率大大降低，從而延長(zhǎng)探針板的壽命。圖1為飛米型長(zhǎng)形條100的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，其包括多個(gè)排列布置的磁頭 101以及形成在每一磁頭101旁邊的切割部110。具體地，每一切割部110上形成有一前 ELG觸點(diǎn)102及一后ELG觸點(diǎn)103。具體地，該前ELG觸點(diǎn)在磁頭101的內(nèi)部與磁頭101的一個(gè)極相連，而后ELG觸點(diǎn)103則在內(nèi)部與磁頭101的另一個(gè)極相連。如圖所示，前ELG觸點(diǎn)102與后ELG觸點(diǎn)103被分離放置。圖2為分路型長(zhǎng)形條200的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，其包括一組排列布置的磁頭 201以及形成在每一磁頭201旁邊的切割部210。每一磁頭201的一個(gè)極在內(nèi)部相連接成一公共端，該公共端與一外部公共測(cè)試觸點(diǎn)203相連。較佳地，該公共測(cè)試觸點(diǎn)203形成在其中一個(gè)切割部210的表面上。具體地，每隔9個(gè)磁頭則放置一個(gè)此種公共測(cè)試觸點(diǎn)203， 因此，在一個(gè)分路型長(zhǎng)形條200上則會(huì)有多個(gè)公共測(cè)試觸點(diǎn)203。在其余的分割部210的表面上則形成有一個(gè)測(cè)試觸點(diǎn)204，這些測(cè)試觸點(diǎn)在磁頭201的內(nèi)部與其另一極相連。圖3為測(cè)量長(zhǎng)形條的磁頭電阻的公共測(cè)量器300。該公共測(cè)量器300包括一為長(zhǎng)形條而提供的工作平臺(tái)301、對(duì)長(zhǎng)形條實(shí)施測(cè)量動(dòng)作的測(cè)量裝置303以及與測(cè)量裝置303 相連的測(cè)量板305。具體地，該測(cè)量裝置303通過(guò)一導(dǎo)線307與測(cè)量板305相連。具體地， 該工作平臺(tái)301包括支撐長(zhǎng)形條的裝載臺(tái)310以及控制該裝載臺(tái)310左右移動(dòng)的X軸馬達(dá)312。該測(cè)量裝置303包括固定件311、支撐件313及探針板315，以上元件皆裝配在一起并與一 Z軸馬達(dá)317相連。如圖4所示，該探針板315包括基板321、形成于基板321上的連接器323、一排前針腳325及一排后針腳327。具體地，前針腳325及后針腳327的個(gè)數(shù)均為10。每一針腳均與連接器323連接，繼而通過(guò)導(dǎo)線307與測(cè)量板305相連。在此，前針腳325被安排以從 1至19的奇數(shù)序號(hào)按順序排列，而后針腳327則被安排以從2至20的偶數(shù)序號(hào)按順序排列。圖5為本發(fā)明使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法的一個(gè)實(shí)施例的流程圖。該方法包括以下步驟步驟501，將長(zhǎng)形條放置于測(cè)量器上。步驟502，判斷長(zhǎng)形條的類型。具體地，為飛米型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟(503)至 (504)；若為分路型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟505至506。在此需要說(shuō)明的是，對(duì)長(zhǎng)形條的類型進(jìn)行判斷的方法為常規(guī)的判斷方法，其實(shí)現(xiàn)方式可以是先在控制系統(tǒng)中存儲(chǔ)長(zhǎng)形條的類型信息，在控制系統(tǒng)獲取到外部的長(zhǎng)形條類型信息后，與內(nèi)部的長(zhǎng)形條類型信息進(jìn)行對(duì)比判斷，繼而輸出判斷結(jié)果。步驟503，前ELG觸點(diǎn)分別接觸探針板的前針腳，后ELG觸點(diǎn)分別接觸后針腳。步驟504，向前針腳施加第一電壓，并向后針腳施加不等于第一電壓的第二電壓， 從而測(cè)出磁頭電阻，測(cè)量過(guò)程結(jié)束。在本實(shí)施例中，第一電壓為+IV，第二電壓為0V，即將后針腳接地。步驟505，分路型長(zhǎng)形條的公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸探針板的一個(gè)前針腳，磁頭的測(cè)試觸點(diǎn)分別接觸余下的前針腳。步驟506，向與測(cè)試觸點(diǎn)接觸的前針腳施加第三電壓，并向與公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸的前針腳施加不等于第三電壓的第四電壓，從而測(cè)出磁頭電阻，測(cè)量過(guò)程結(jié)束。在此，后針腳被關(guān)閉使用，即，無(wú)任何電流被施加至其上。在本實(shí)施例中，奇數(shù)1-17號(hào)的針腳被施加+IV 的第三電壓，而19號(hào)針腳則與公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸并被施加OV的第四電壓，即將該19號(hào)針腳接地。本發(fā)明的方法能在判斷長(zhǎng)形條的類型后執(zhí)行不同的測(cè)量動(dòng)作。本方法無(wú)需更換探針板而可測(cè)量?jī)煞N不同類型的長(zhǎng)形條，這縮短了機(jī)器的停工期，及減少人力成本。同時(shí)，探針板受損的可能性大大降低，從而延長(zhǎng)探針板的壽命。圖6為本發(fā)明使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法的另一個(gè)實(shí)施例的流程圖。該方法包括以下步驟步驟601，將長(zhǎng)形條信息存儲(chǔ)至一數(shù)據(jù)庫(kù)。具體地，該長(zhǎng)形條信息包括長(zhǎng)形條的類型信息及磁頭的個(gè)數(shù)信息。步驟602，將長(zhǎng)形條放置于測(cè)量器上。步驟603，判斷長(zhǎng)形條的類型。具體地，為飛米型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟604至606 ； 若為分路型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟607至609。步驟604，訪問(wèn)并調(diào)用所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的長(zhǎng)形條信息。在此步驟，該長(zhǎng)形條信息包含-類型飛米型長(zhǎng)形條；磁頭數(shù)目10。步驟605，前ELG觸點(diǎn)分別接觸探針板的前針腳，后ELG觸點(diǎn)分別接觸后針腳。
步驟606，向前針腳施加第一電壓，并向后針腳施加不等于第一電壓的第二電壓， 從而測(cè)出磁頭電阻，測(cè)量過(guò)程結(jié)束。在本實(shí)施例中，第一電壓為+2V，第二電壓為+IV。需要指出的是，本發(fā)明并不限于上述電壓值，只要兩者存在電壓差即可形成電流回路。步驟607，訪問(wèn)并調(diào)用所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的長(zhǎng)形條信息。在此步驟，該長(zhǎng)形條信息包含-類型分路型長(zhǎng)形條；磁頭數(shù)目9，傀儡磁頭數(shù)目1。步驟608，分路型長(zhǎng)形條的公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸探針板的一個(gè)前針腳，磁頭的測(cè)試觸點(diǎn)分別接觸余下的前針腳。步驟609，向與測(cè)試觸點(diǎn)接觸的前針腳施加第三電壓，并向與公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸的前針腳施加不等于第三電壓的第四電壓，從而測(cè)出磁頭電阻，測(cè)量過(guò)程結(jié)束。在本實(shí)施例中，后針腳被關(guān)閉使用，即，無(wú)任何電流被施加至其上。奇數(shù)1-17號(hào)的針腳被施加+2V的第三電壓，而19號(hào)針腳則與公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸并被施加+IV的第四電壓。需要指出的是，每種類型的長(zhǎng)形條的磁頭個(gè)數(shù)并不限于上述實(shí)施例，長(zhǎng)形條上可布置更多的磁頭。當(dāng)需要測(cè)量下一組磁頭時(shí)，只需控制長(zhǎng)形條進(jìn)行精準(zhǔn)的向前移動(dòng)及定位則可。如上所述，本發(fā)明使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法，能判斷長(zhǎng)形條的類型，繼而執(zhí)行不同的測(cè)量動(dòng)作。針對(duì)兩種類型的長(zhǎng)形條，執(zhí)行兩種不同的測(cè)量方法以在磁頭上形成電流回路，從而測(cè)出每一磁頭的電阻值。本方法能縮短機(jī)器的停工期， 并減少人力成本。同時(shí)，探針板受損的可能性大大降低，從而延長(zhǎng)探針板的壽命。而且本發(fā)明的測(cè)量方法易于操作及執(zhí)行，因此其應(yīng)用范圍很廣，能為本領(lǐng)域的制造商帶來(lái)良好的經(jīng)濟(jì)效益。以上所揭露的僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來(lái)限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法，所述長(zhǎng)形條的類型包括飛米型長(zhǎng)形條及分路型長(zhǎng)形條，所述飛米型長(zhǎng)形條包括一排磁頭，每一所述磁頭具有一前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)及一后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)，所述分路型長(zhǎng)形條包括至少一組磁頭及至少一個(gè)與該組磁頭相連的公共測(cè)試觸點(diǎn)，所述分路型長(zhǎng)形條的每一磁頭具有一測(cè)試觸點(diǎn)， 所述測(cè)量器包括一探針板，所述探針板具有一排前針腳及一排后針腳，所述方法包括(1)將所述長(zhǎng)形條放置于所述測(cè)量器上；(2)判斷所述長(zhǎng)形條的類型，若為飛米型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟(3)-(4)；若為分路型長(zhǎng)形條，則執(zhí)行步驟(5)-(6)；(3)所述前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸所述探針板的前針腳，所述后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸所述后針腳；(4)向所述前針腳施加第一電壓，并向所述后針腳施加不等于第一電壓的第二電壓，從而測(cè)出磁頭電阻；(5)所述分路型長(zhǎng)形條的公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸所述探針板的一個(gè)所述前針腳，所述磁頭的測(cè)試觸點(diǎn)分別接觸余下的所述前針腳；(6)向與所述測(cè)試觸點(diǎn)接觸的所述前針腳施加第三電壓，并向與所述公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸的所述前針腳施加不等于第三電壓的第四電壓，從而測(cè)出磁頭電阻。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在將所述長(zhǎng)形條放置于所述測(cè)量器之前還包括將長(zhǎng)形條信息存儲(chǔ)至一數(shù)據(jù)庫(kù)。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于所述長(zhǎng)形條信息包括長(zhǎng)形條的類型信息及磁頭的個(gè)數(shù)信息。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，判斷所述長(zhǎng)形條的類型之后，還包括訪問(wèn)并調(diào)用所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的長(zhǎng)形條信息。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述探針板具有10個(gè)前針腳及10個(gè)后針腳。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述長(zhǎng)形條還包括形成在每一所述磁頭旁的切割部。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所述前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)與所述后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)形成于所述飛米型長(zhǎng)形條的切割部上。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所述測(cè)試觸點(diǎn)與所述公共測(cè)試觸點(diǎn)形成于所述分路型長(zhǎng)形條的切割部上。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一電壓為+IV，所述第二電壓為0V，所述第三電壓為+IV，所述第四電壓為OVo
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種使用公共測(cè)量器測(cè)量不同類型長(zhǎng)形條的磁頭電阻的方法，包括判斷長(zhǎng)形條的類型，若為飛米型(femto-type)長(zhǎng)形條，則前電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸探針板的前針腳，后電性研磨導(dǎo)向觸點(diǎn)分別接觸后針腳；向前針腳施加第一電壓，并向后針腳施加不等于第一電壓的第二電壓。若為分路型(shunting-type)長(zhǎng)形條，則將分路型長(zhǎng)形條的公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸探針板的一個(gè)前針腳，磁頭的測(cè)試觸點(diǎn)分別接觸余下的前針腳；向與測(cè)試觸點(diǎn)接觸的前針腳施加第三電壓，并向與公共測(cè)試觸點(diǎn)接觸的前針腳施加不等于第三電壓的第四電壓。本發(fā)明可縮減機(jī)器的停工期及人力資源，并可避免探針板的頻繁拆卸及更換，從而避免探針板受損。
文檔編號(hào)G01R27/02GK102213732SQ20101014463
公開(kāi)日2011年10月12日 申請(qǐng)日期2010年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月31日
發(fā)明者劉劍 申請(qǐng)人:新科實(shí)業(yè)有限公司