專(zhuān)利名稱(chēng)：電子產(chǎn)品失效分析方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子商情資料庫(kù)系統(tǒng)中多類(lèi)別資料處理的方法。
背景技術(shù)：
在產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程和使用過(guò)程中，產(chǎn)品喪失了規(guī)定的功能稱(chēng)為失效。判斷失效產(chǎn)品的失效模式，查找失效原因和機(jī)理，提出預(yù)防再失效的對(duì)策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱(chēng)為失效分析。目前，對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行失效分析的方法不完善，沒(méi)有統(tǒng)一的失效分析方法，例如 工程師對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行失效分析時(shí)，只進(jìn)行CND (can not duplicate，不能復(fù)制)問(wèn)題判斷或者NTF (no troublefound，未出現(xiàn)故障)的判斷。實(shí)際上，CND和NTF是兩個(gè)不同的問(wèn)題，這種單一的測(cè)試方式使失效分析出現(xiàn)漏洞，降低了電子產(chǎn)品的質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品失效分析方法，能同時(shí)進(jìn)行CND問(wèn)題判斷和NTF問(wèn)題判斷，以防止失效分析出現(xiàn)漏洞。一種電子產(chǎn)品失效分析方法，該方法包括如下步驟從存儲(chǔ)裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進(jìn)行失效復(fù)制驗(yàn)證，以驗(yàn)證所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復(fù)制；當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制時(shí)，對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復(fù)制問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復(fù)制問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于未出故障問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶(hù)造成的問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶(hù)造成的問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測(cè)試程序問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒(méi)有質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，對(duì)電子產(chǎn)品的電路設(shè)計(jì)進(jìn)行分析以得到電路設(shè)計(jì)的問(wèn)題，并發(fā)出工程變更通知。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述電子產(chǎn)品失效分析方法，規(guī)范了電子產(chǎn)品的失效分析步驟， 使得電子產(chǎn)品的失效分析有了統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，提高了失效分析的工作效率，對(duì)電子產(chǎn)品的質(zhì)量有了更大的保證。


圖1是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實(shí)施例的信息流向示意圖。圖2是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實(shí)施例的實(shí)施流程圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示，是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實(shí)施例的信息流向示意圖。在本較佳實(shí)施例中，該電子產(chǎn)品失效分析方法所應(yīng)用的架構(gòu)包括存儲(chǔ)裝置2、失效分析系統(tǒng)1 及顯示裝置3。所述存儲(chǔ)裝置2中存儲(chǔ)有失效電子產(chǎn)品的失效信息，例如電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)。所述失效分析系統(tǒng)1從存儲(chǔ)裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息，根據(jù)所獲取的失效信息對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行失效分析，根據(jù)失效分析的數(shù)據(jù)生成分析報(bào)告，并將分析報(bào)告顯示在顯示裝置3中，以供用戶(hù)查看。所述失效分析系統(tǒng)1包括數(shù)據(jù)獲取單元10、失效分析單元12及報(bào)告生成單元14。所述數(shù)據(jù)獲取單元10用于從存儲(chǔ)裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息。所述失效分析單元12用于根據(jù)所獲取的失效信息進(jìn)行失效復(fù)制驗(yàn)證，以驗(yàn)證所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復(fù)制。例如若所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象為所述失效電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)，當(dāng)對(duì)所述失效電子產(chǎn)品進(jìn)行開(kāi)機(jī)動(dòng)作時(shí)，若所述失效電子產(chǎn)品可以開(kāi)機(jī)，則失效分析單元12判斷所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制；當(dāng)對(duì)所述失效電子產(chǎn)品進(jìn)行開(kāi)機(jī)動(dòng)作時(shí)，若所述失效電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)，則失效分析單元12判斷所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象可以復(fù)制。當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象可以復(fù)制時(shí)，工作人員通知相關(guān)的部門(mén)根據(jù)所獲取的失效信息對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的處理。所述失效分析單元12還用于當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制時(shí)，對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于CND(can not duplicate，不能復(fù)制)問(wèn)題。所述測(cè)試包括，但不限于，POT (power-on test), REL(reliability test), FVS(functional verification system), QT(quickly test), ET(enhancetest)。當(dāng)對(duì)所述失效電路進(jìn)行測(cè)試得到的失效信息與所獲取的失效信息不一致時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效問(wèn)題屬于CND問(wèn)題。例如當(dāng)所獲取的失效信息為所述失效電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)，但是對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行開(kāi)機(jī)動(dòng)作時(shí)，失效電子產(chǎn)品可以開(kāi)機(jī)時(shí)， 對(duì)所述失效電子產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試，當(dāng)測(cè)試的結(jié)果為所述失效電子產(chǎn)品存在不良問(wèn)題， 但與所獲取的失效信息不一致，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于CND問(wèn)題。所述失效分析單元12還用于當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否屬于NTF(no trouble found，未出故障)。在本實(shí)施中，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問(wèn)題時(shí)，從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試時(shí)，在所抽查的電子產(chǎn)品中沒(méi)有發(fā)現(xiàn)任何不良問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于 NTF0例如當(dāng)所獲取的失效信息為所述失效電子產(chǎn)品不能開(kāi)機(jī)，但是對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行開(kāi)機(jī)動(dòng)作時(shí)，失效電子產(chǎn)品可以開(kāi)機(jī)時(shí)，從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試，當(dāng)測(cè)試的結(jié)果所述失效電路不存在不良問(wèn)題，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于NTF。所述失效分析單元12還用當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于NTF時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶(hù)造成的問(wèn)題。所述失效分析單元12還用當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶(hù)造成的問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測(cè)試程序問(wèn)題。所述測(cè)試程序的問(wèn)題包括，但不限于， 制造方所使用測(cè)試程序的內(nèi)容，測(cè)試程序的版本，測(cè)試程序的循環(huán)測(cè)試次數(shù)與客戶(hù)方不同。 例如當(dāng)制造方所使用測(cè)試程序的內(nèi)容與客戶(hù)方使用的測(cè)試程序的內(nèi)容不同時(shí)，電子產(chǎn)品可以通過(guò)制造方所使用測(cè)試程序的測(cè)試，但是卻不能通過(guò)客戶(hù)方使用的測(cè)試程序的測(cè)試。所述失效分析單元12還用于當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問(wèn)題。所述制造問(wèn)題包括，但不限于，電子產(chǎn)品上的零件安裝錯(cuò)誤，波峰焊的溫度過(guò)高。所述失效分析單元12還用于當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題。例如某個(gè)零件的額定電壓為1.5V，在電壓為 1. 2V時(shí)能正常工作，但是在電壓大于1. 2時(shí)就不能正常工作。所述失效分析單元12還用于當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒(méi)有質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，對(duì)電子產(chǎn)品的電路設(shè)計(jì)進(jìn)行分析以得到電路設(shè)計(jì)的問(wèn)題，并發(fā)出工程變更通知。所述工程變更通知包括電路設(shè)計(jì)出現(xiàn)問(wèn)題的原因，電路設(shè)計(jì)出現(xiàn)問(wèn)題的現(xiàn)象及解決的方法。所述報(bào)告生成模塊14用于根據(jù)上述分析得到的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告，并將所生成的失效分析報(bào)告顯示在顯示裝置3中，以供用戶(hù)查看。如圖2所示，是本發(fā)明一種電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實(shí)施例的方法流程圖。首先，步驟S10，數(shù)據(jù)獲取單元10從存儲(chǔ)裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息。步驟S11，失效分析單元12對(duì)所述失效電子產(chǎn)品復(fù)制所獲取的失效信息以驗(yàn)證所獲取的失效信息是否能復(fù)制。步驟S12，當(dāng)所獲取的失效信息不能復(fù)制時(shí)，失效分析單元12對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于CND問(wèn)題。當(dāng)對(duì)所述失效電路進(jìn)行測(cè)試得到的失效信息與所獲取的失效信息不一致時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效問(wèn)題屬于 CND問(wèn)題。當(dāng)所獲取的失效信息可以復(fù)制時(shí)，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告。步驟S13，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問(wèn)題時(shí)，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品是否屬于NTF。在本實(shí)施中，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問(wèn)題時(shí)，從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試時(shí)，在所抽查的電子產(chǎn)品中沒(méi)有發(fā)現(xiàn)任何不良問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于NTF。當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于CND 問(wèn)題時(shí)，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告。步驟S14，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于NTF時(shí)，失效分單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶(hù)造成的問(wèn)題。當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于NTF時(shí)，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告。步驟S15，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶(hù)造成的問(wèn)題時(shí)，失效分單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測(cè)試程序問(wèn)題。所述測(cè)試程序的問(wèn)題包括，但不限于，制造方所使用測(cè)試程序的內(nèi)容，測(cè)試程序的版本，測(cè)試程序的循環(huán)測(cè)試次數(shù)與客戶(hù)方不同。當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于客戶(hù)造成的問(wèn)題時(shí)，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告。步驟S16，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問(wèn)題。所述制造問(wèn)題包括，但不限于，電子產(chǎn)品上的零件安裝錯(cuò)誤，波峰焊的溫度過(guò)高。當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，至步驟S19 根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告。步驟S17，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問(wèn)題時(shí)，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題。當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于制造問(wèn)題時(shí)，至步驟S19 根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告。
步驟S18，當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒(méi)有質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，失效分析單元12對(duì)電子產(chǎn)品的電路設(shè)計(jì)進(jìn)行分析以得到電路設(shè)計(jì)的問(wèn)題，并發(fā)出工程變更通知。所述工程變更通知包括電路設(shè)計(jì)出現(xiàn)問(wèn)題的原因，電路設(shè)計(jì)出現(xiàn)問(wèn)題的現(xiàn)象及解決的方法。步驟S19，報(bào)告生成模塊14根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告，并將所生成的失效分析報(bào)告顯示在顯示裝置3中，以供用戶(hù)查看。應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，該方法包括如下步驟從存儲(chǔ)裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進(jìn)行失效復(fù)制驗(yàn)證，以驗(yàn)證所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復(fù)制；當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制時(shí)，對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復(fù)制問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復(fù)制問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于未出故障問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶(hù)造成的問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶(hù)造成的問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測(cè)試程序問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒(méi)有質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，對(duì)電子產(chǎn)品的電路設(shè)計(jì)進(jìn)行分析以得到電路設(shè)計(jì)的問(wèn)題，并發(fā)出工程變更通知。
2.如權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，該方法還包括步驟當(dāng)所獲取的失效信息能復(fù)制時(shí)，根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于不能復(fù)制問(wèn)題時(shí)，根據(jù)所述不能復(fù)制問(wèn)題的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品未出故障時(shí)，根據(jù)所述未出故障的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于客戶(hù)造成的問(wèn)題時(shí)，根據(jù)所述客戶(hù)造成的問(wèn)題的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，根據(jù)所述測(cè)試程序問(wèn)題的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于制造問(wèn)題時(shí)，根據(jù)所述制造問(wèn)題的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品屬于電路設(shè)計(jì)問(wèn)題時(shí)，根據(jù)所述電路設(shè)計(jì)問(wèn)題的數(shù)據(jù)生成失效分析報(bào)告。
3.如權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，所述判斷失效電子產(chǎn)品的失效問(wèn)題屬于不能復(fù)制問(wèn)題的方法為當(dāng)對(duì)所述失效電路進(jìn)行測(cè)試得到的失效信息與所獲取的失效信息不一致時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效問(wèn)題屬于不能復(fù)制問(wèn)題。
4.如權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，所述判斷失效電子產(chǎn)品未出故障的方法為從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試時(shí)，在所抽查的電子產(chǎn)品中沒(méi)有發(fā)現(xiàn)任何不良問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品未出故障。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品失效分析方法，該方法包括如下步驟從存儲(chǔ)裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進(jìn)行失效復(fù)制驗(yàn)證，以驗(yàn)證所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復(fù)制；當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制時(shí)，對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復(fù)制問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復(fù)制問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102207527SQ20101013702
公開(kāi)日2011年10月5日 申請(qǐng)日期2010年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月31日
發(fā)明者游永興 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司