專利名稱：一種晶體測(cè)量夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種晶體測(cè)量夾具，尤其是一種用于測(cè)量小尺寸晶體的夾具。
背景技術(shù)：
如

圖1所示，目前在測(cè)量石英晶體產(chǎn)品6的過程中，使用的測(cè)量夾具本體1上設(shè)有兩根探針(即第一探針2和第二探針3 )，這種測(cè)量夾具的缺陷是測(cè)量小尺寸的晶體產(chǎn)品的時(shí)候，當(dāng)?shù)谝惶结?和第二探針3落下并與晶體產(chǎn)品6上的第一焊盤4和第二焊盤5相接觸時(shí)，非常容易將 品打翻或?qū)⒕w產(chǎn)品從測(cè)量定位的載盤中彈出，造成晶體產(chǎn)品6
損壞。綜上所述，實(shí)有必要設(shè)計(jì)一種新的晶體測(cè)量夾具以克服上述缺陷。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于，提供一種新的晶體測(cè)量夾具，使用其測(cè)量小尺寸晶體產(chǎn)品時(shí)不致打翻或損壞晶體產(chǎn)品。
為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的晶體測(cè)量夾具是這樣設(shè)計(jì)的
一種晶體測(cè)量夾具，其包括夾具本體以及可在所述夾具本體上平滑移動(dòng)的第一探針和第二探針，該晶體測(cè)量夾具還包括第三探針，所述第三探針可在所述夾具本體的上下方向平滑移動(dòng)，并且所述第三探針比第一探針和第二探針更加向下突出。
作為優(yōu)選實(shí)施方式，所述第一探針和第二探針可在所述夾具本體的上下方向平滑移動(dòng)。
作為優(yōu)選實(shí)施方式，所述第三探針比第 一 探針或第二探針向下突出的高度是0. 5-1. 5mm。
本實(shí)用新型的有益效果是，在晶體測(cè)量過程中避免了打翻或彈出待測(cè)量的產(chǎn)品，不致造成拋料和浪費(fèi)。以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。
圖l是現(xiàn)有的晶體測(cè)量夾具示意圖2是現(xiàn)有的晶體測(cè)量夾具與待測(cè)量產(chǎn)品的配合示意圖3是本實(shí)用新型的晶體測(cè)量夾具示意圖4是本實(shí)用新型的晶體測(cè)量夾具與待測(cè)量產(chǎn)品的配合示意圖。
具體實(shí)施方式
需要說明的是，下面描述中使用的詞語"前"、"后"、"左"、"右"、"上"和"下"指的是附圖中的方向。
請(qǐng)結(jié)合參閱圖3和圖4,本實(shí)用新型的晶體測(cè)量夾具包括夾具本體1以及可在所述夾具本體1上平滑移動(dòng)的第一探針2、第二探針3和第三探針7,所述第一探針2、第二探針3可在所述夾具本體1的上下方向平滑移動(dòng)；所述第三探針7也在所述夾具本體1的上下方向彈性平滑移動(dòng)。所述第一探針2和第二探針3的高度相同，所述第三探針7比第一探針2和第二探針3更加向下突出。優(yōu)選地，所述第三探針7比第一探針2或第二探針3向下突出的高度是0. 5-1. 5mm。
測(cè)量晶體產(chǎn)品時(shí)，本實(shí)用新型的晶體測(cè)量夾具向下接觸測(cè)量的產(chǎn)品的時(shí)候，所述第三探針7預(yù)先接觸產(chǎn)品6,起到固定的作用；然后第一探針2和第二探針3再分別接觸晶體產(chǎn)品6上的第一焊盤4和第二焊盤5;在測(cè)量完畢抬起本實(shí)用新型的晶體測(cè)量夾具的時(shí)候，則先抬起第一探針2和第二探針3，所述第三探針7最后抬起，這樣就避免了晶體產(chǎn)品6被打翻或從測(cè)量定位的載盤中彈出。
上述實(shí)施例僅供說明本實(shí)用新型之用，而并非是對(duì)本實(shí)用新型的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型公開范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范疇。
權(quán)利要求1. 一種晶體測(cè)量夾具，其包括夾具本體以及可在所述夾具本體上平滑移動(dòng)的第一探針和第二探針，其特征在于該晶體測(cè)量夾具還包括第三探針，所述第三探針可在所述夾具本體的上下方向平滑移動(dòng)，并且所述第三探針比第一探針和第二探針更加向下突出。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體測(cè)量夾具，其特征在于所述第一探 針和第二探針可在所述夾具本體的上下方向平滑移動(dòng)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的晶體測(cè)量夾具，其特征在于所述第 三探針比第一探針或第二探針向下突出的高度是0. 5-1. 5mm。
專利摘要一種晶體測(cè)量夾具，其包括夾具本體以及可在所述夾具本體上平滑移動(dòng)的第一探針和第二探針，該晶體測(cè)量夾具還包括第三探針，所述第三探針可在所述夾具本體的上下方向平滑移動(dòng)，并且所述第三探針比第一探針和第二探針更加向下突出。本實(shí)用新型的有益效果是，在晶體測(cè)量過程中避免了打翻或彈出待測(cè)量的產(chǎn)品，不致造成拋料和浪費(fèi)。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201307127SQ200820130220
公開日2009年9月9日 申請(qǐng)日期2008年12月10日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月10日
發(fā)明者張光信, 楊立新 申請(qǐng)人:北京康特電子股份有限公司