一種數(shù)控機床用磁尺的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種數(shù)控機床零部件，具體涉及數(shù)控機床用磁尺。
【背景技術(shù)】
[0002]數(shù)控機床是一種裝有程序控制系統(tǒng)的自動化機床，該控制系統(tǒng)能夠邏輯地處理具有控制編碼或其他符號指令規(guī)定的程序，并將其譯碼，用代碼化的數(shù)字表示，通過信息載體輸入數(shù)控裝置。經(jīng)運算處理由數(shù)控裝置發(fā)出各種控制信號，控制機床的動作，按圖紙要求的形狀和尺寸，自動地將零件加工出來。數(shù)控機床較好地解決了復(fù)雜、精密、小批量、多品種的零件加工問題，是一種柔性的、高效能的自動化機床。數(shù)控機床上用于位置檢測裝置的部件是磁尺，現(xiàn)有的磁尺結(jié)構(gòu)設(shè)計存在缺陷，檢測結(jié)果不準(zhǔn)確，存在誤差較大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的問題是提供一種結(jié)構(gòu)設(shè)計合理、適于位置檢測的數(shù)控機床用磁尺。
[0004]為了解決上述問題，本發(fā)明提供了一種數(shù)控機床用磁尺，包括尺座，所述尺座上設(shè)有凹槽，所述凹槽內(nèi)設(shè)有磁尺，所述磁尺為柱狀磁尺，所述凹槽的直徑與磁尺的直徑相等，所述磁尺包括非導(dǎo)磁層和磁性薄膜層，所述磁性薄膜層包覆于非導(dǎo)磁層上。
[0005]作為本發(fā)明的進一步改進，所述凹槽為金屬材質(zhì)的凹槽，所述凹槽的高度與磁尺的高度相同。所述凹槽上設(shè)有限位凸臺，所述限位凸臺對稱設(shè)置。所述凹槽或磁尺的長度為500_。所述非導(dǎo)磁層為銅材質(zhì)層，所述磁性薄膜層為鐵鈷合金材質(zhì)層。所述凹槽為低碳鋼材質(zhì)的凹槽，用于屏蔽信號。
[0006]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，適于位置檢測裝置的檢測用，檢測結(jié)果穩(wěn)定精確，且成本低廉適于大規(guī)模工業(yè)化生產(chǎn)。
【附圖說明】
[0007]圖1為本發(fā)明的數(shù)控機床用磁尺的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0008]圖2為本發(fā)明的數(shù)控機床用磁尺的磁尺截面示意圖。
[0009]圖中:1-尺座，2-凹槽，3-磁尺，4-非導(dǎo)磁層，5-磁性薄膜層，6-限位凸臺。
【具體實施方式】
[0010]下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明做進一步的解釋說明。
[0011]如圖1和圖2所示，一種數(shù)控機床用磁尺，包括尺座1，尺座I上設(shè)有凹槽2，凹槽2內(nèi)設(shè)有磁尺3，磁尺3為柱狀磁尺，凹槽2的直徑與磁尺3的直徑相等，磁尺3包括非導(dǎo)磁層4和磁性薄膜層5，磁性薄膜層5包覆于非導(dǎo)磁層4上。凹槽2為金屬材質(zhì)的凹槽，凹槽2的高度與磁尺3的高度相同。凹槽2上設(shè)有限位凸臺6，限位凸臺6對稱設(shè)置。凹槽2或磁尺3的長度為500mm。非導(dǎo)磁層4為銅材質(zhì)層，磁性薄膜層5為鐵鈷合金材質(zhì)層。
【主權(quán)項】
1.一種數(shù)控機床用磁尺，其特征在于:包括尺座(1)，所述尺座(I)上設(shè)有凹槽(2)，所述凹槽(2 )內(nèi)設(shè)有磁尺(3 )，所述磁尺(3 )為柱狀磁尺，所述凹槽(2 )的直徑與磁尺(3 )的直徑相等，所述磁尺(3)包括非導(dǎo)磁層(4)和磁性薄膜層(5)，所述磁性薄膜層(5)包覆于非導(dǎo)磁層(4)上。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)控機床用磁尺，其特征在于:所述凹槽(2)為金屬材質(zhì)的凹槽，所述凹槽(2)的高度與磁尺(3)的高度相同。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)控機床用磁尺，其特征在于:所述凹槽(2)上設(shè)有限位凸臺(6)，所述限位凸臺(6)對稱設(shè)置。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)控機床用磁尺，其特征在于:所述凹槽(2)或磁尺(3)的長度為500mm。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)控機床用磁尺，其特征在于:所述非導(dǎo)磁層(4)為銅材質(zhì)層，所述磁性薄膜層(5)為鐵鈷合金材質(zhì)層。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種數(shù)控機床用磁尺，包括尺座（1），所述尺座（1）上設(shè)有凹槽（2），所述凹槽（2）內(nèi)設(shè)有磁尺（3），所述磁尺（3）為柱狀磁尺，所述凹槽（2）的直徑與磁尺（3）的直徑相等，所述磁尺（3）為非導(dǎo)磁層（4）和磁性薄膜層（5），所述磁性薄膜層（5）包覆于非導(dǎo)磁層（4）上。本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)設(shè)計合理、適于位置檢測的優(yōu)點。
【IPC分類】B23Q17/22
【公開號】CN105710725
【申請?zhí)枴緾N201410716080
【發(fā)明人】紀(jì)篩小
【申請人】紀(jì)篩小