專利名稱：彈簧式測試夾座及具有彈簧式測試夾座的分類機的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種彈簧式測試夾座及具有彈簧式測試夾座的分
類機，特別是指一種用于吸附集成電路元件(ic)的彈簧式測試夾座
及具有彈簧式測試夾座的分類機。
背景技術(shù)：
習(xí)知技術(shù)在測試封裝后的集成電路元件(ic)時，是利用分類機
與設(shè)置其上的測試夾座來移動集成電路元件(IC)。請參考圖1，先前 技術(shù)的固定式測試夾座9的結(jié)構(gòu)主要包含連接管91、彈簧92、氣管93、 底座94、保護罩95及防漏氣環(huán)96等。固定式測試夾座9可利用連接 管91組設(shè)于一集成電路測試分類機中并具有一貫穿的容置空間，及 氣管93是穿設(shè)于固定式測試夾座9的容置空間中，氣管93的一端可 連接一真空氣泵，而另一端可直接接觸一集成電路元件(IC) 10，藉 此當(dāng)真空氣泵動作時，氣管93便會直接吸取該集成電路元件(IC) 10 并與之接觸。然而，實際操作時，分類機同時帶動多個固定式測試夾 座9吸取多個集成電路元件(IC) 10，但各個集成電路元件(IC) 10 的共平面不盡相同，當(dāng)集成電路元件(IC) IO平面位置過低時，常造 成集成電路元件(IC) 10無法被吸取，當(dāng)集成電路元件(IC) 10平 面位置過高時，則可能因固定式測試夾座9過度施壓集成電路元件 (IC) 10而造成損傷，并且無法吸取的集成電路元件(IC) 10亦必 須重測，耗費時間與費用。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述先前技術(shù)不盡理想之處，本發(fā)明的主要目的在于提 供一種彈簧式測試夾座，用于集成電路元件測試。彈簧式測試夾座包 含一夾座本體、 一蓋板、 一吸嘴裝置、 一氣密裝置、 一彈簧以及多個鎖合元件。夾座本體中央部位設(shè)置一環(huán)狀凸緣與第一通孔，蓋板蓋設(shè) 于環(huán)狀凸緣的上方，具有至少一個貫穿的第二通孔對應(yīng)至第一通孔。 吸嘴裝置穿設(shè)于第一通孔與第二通孔之內(nèi)，設(shè)有一環(huán)形的突出部容置 于夾座本體與蓋板之間。彈簧設(shè)置于環(huán)形的突出部與夾座本體之間，
提供一作用力使吸嘴裝置凸出于蓋板的另側(cè)，且吸嘴裝置凸出于蓋板 的一端具有一承靠面用以提供被吸取的集成電路元件的穩(wěn)定支撐。
因此，本發(fā)明的主要目的，在于提供一種彈簧式測試夾座，在環(huán) 形的突出部與夾座本體之間設(shè)置一彈簧，并藉由吸嘴裝置凸出于蓋板 的另側(cè)，且吸嘴裝置凸出于蓋板的一端具有一承靠面用以提供被吸取 的集成電路元件的穩(wěn)定支撐。
本發(fā)明的次要目的，在于提供一種彈簧式測試夾座，在環(huán)形的突 出部與夾座本體之間設(shè)置一彈簧，可以吸取不同共平面的集成電路元 件(IC)，且不會損傷的集成電路元件(IC)。


圖l為一示意圖，是固定式測試夾座結(jié)構(gòu)的先前技術(shù)。
圖2A為一爆炸圖，是根據(jù)本發(fā)明提出的第一較佳實施例，為一 種彈簧式測試夾座。
圖2B為一立體的底視圖，是根據(jù)本發(fā)明提出的第一較佳實施例， 為一種彈簧式測試夾座。
圖3為一示意圖，是根據(jù)本發(fā)明提出的第二較佳實施例，為一種 具有彈簧式測試夾座的分類機。
主要元件符號說明
固定式測試夾座(先前技術(shù)) 9
連接管(先前技術(shù)) 91
彈簧(先前技術(shù)) 92
氣管(先前技術(shù)) 93
底座(先前技術(shù)) 94
保護罩(先前技術(shù)) 95防漏氣環(huán)(先前技術(shù)) 96 集成電路元件(先前技術(shù)) io 彈簧式測試夾座 1
夾座本體 11
內(nèi)凹部 111
環(huán)狀凸緣 12
第一通孔 121
蓋板 13
第二通孔 131
吸嘴裝置 14
突出部 141
開口 1411
承靠面 142
氣密裝置 15
彈簧 16
鎖合元件 17
導(dǎo)引銷 18
分類機 2
真空管路 21
移動平臺 22
集成電路元件 具體實施例方式
由于本發(fā)明是公開一種彈簧式測試夾座，其中所利用的集成電路 元件測試的基本原理，己為相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者所能明了 ， 故以下文中的說明，不再完整描述。同時，以下文中所對照的圖式， 是表達(dá)與本發(fā)明特征有關(guān)的結(jié)構(gòu)示意，并未亦不需要依據(jù)實際尺寸完 整繪制，盍先敘明。
請參考圖2A與圖2B，是根據(jù)本發(fā)明所提供的第一較佳實施例， 是一種彈簧式測試夾座1，用于集成電路元件測試。彈簧式測試夾座
6l包含有一夾座本體ll、 一蓋板B、 一吸嘴裝置14、 一氣密裝置15、 一彈簧16以及多個鎖合元件17 (例如螺絲、定位銷)，將蓋板13
固定于夾座本體ll。
夾座本體11中央部位設(shè)置一環(huán)狀凸緣12，環(huán)狀凸緣12中央設(shè)有 第一通孔121。蓋板13蓋設(shè)于環(huán)狀凸緣12之上，具有至少一個貫穿 的第二通孔131，對應(yīng)至環(huán)狀凸緣12的第一通孔121。氣密裝置15 設(shè)置于吸嘴裝置14與夾座本體11之間，藉以提供足夠的氣密使吸嘴 裝置14得以吸取一集成電路元件。
吸嘴裝置14穿設(shè)于第一通孔121與第二通孔131之內(nèi)，并且進 一步設(shè)有一環(huán)形的突出部141以容置于夾座本體11與蓋板13之間， 以利吸嘴裝置14的固定。彈簧16設(shè)置于環(huán)形的突出部141與夾座本 體11之間，當(dāng)彈簧式測試夾座1尚未吸取集成電路元件時，彈簧16 可提供一作用力使吸嘴裝置14凸出于蓋板13的另側(cè)；當(dāng)彈簧式測試 夾座1下壓并接觸到集成電路元件的狀態(tài)時，此時彈簧16可提供足 夠的緩沖，使吸嘴裝置14往后縮回，避免過度施力而壓壞集成電路 元件，同時亦可確保吸嘴裝置14與集成電路元件之間的氣密，使真 空吸取作用得以順利進行。同時，當(dāng)吸嘴裝置14往后縮回，此時吸 嘴裝置14凸出于蓋板13的另側(cè)，因為其具有一承靠面142，而此承 靠面142便可以提供被吸取的集成電路元件的穩(wěn)定支撐。當(dāng)分類機實 際操作肘，多個彈簧式測試夾座1同時吸取多個集成電路元件，可藉 彈簧16及吸嘴裝置14的作用，使不同平面的集成電路元件可以有效 的被吸取，且不致?lián)p傷。
上述的吸嘴裝置14介于突出部141與夾座本體11的直徑小于突 出部141與蓋板13之間的直徑，并且其凸出于蓋板13的一端的承靠 面142為呈近似的矩形截面。
為了容納吸嘴裝置14的環(huán)形的突出部141，夾座本體11進一歩 可設(shè)置一內(nèi)凹部111。
上述的彈簧式測試夾座1，進一步可包含一導(dǎo)引銷18，設(shè)置于夾 座本體11上，而吸嘴裝置14的突出部141上亦設(shè)有一開口 1411，藉 以容許導(dǎo)引銷18于開口 1411內(nèi)移動，故此導(dǎo)引銷18將可導(dǎo)引吸嘴裝置14進行不回轉(zhuǎn)的直線運動，以利集成電路元件被吸取與移動時， 其方位的穩(wěn)定不變。
請參考圖3，是根據(jù)本發(fā)明所提供的第二較佳實施例，為一種具 有彈簧式測試夾座的分類機2，用于集成電路元件3測試，主要包含 有一真空管路21、 一移動平臺22及夾固于此移動平臺22的至少一個 彈簧式測試夾座1。當(dāng)進行集成電路元件3測試時，彈簧式測試夾座 1經(jīng)由真空管路21可吸取集成電路元件3。此移動平臺22可移動集 成電路元件3至適當(dāng)?shù)奈恢眠M行測試。其中彈簧式測試夾座1的結(jié)構(gòu) 與特征如前述第一較佳實施例所述。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并非用以限定本發(fā)明的權(quán)利 范圍。同時以上的描述，對于熟知本技術(shù)領(lǐng)域的專門人士應(yīng)可明了及 實施，因此其它未脫離本發(fā)明所揭示的精神下所完成的等效改變或修 飾，均應(yīng)包含在權(quán)利要求書中。
權(quán)利要求
1、一種彈簧式測試夾座，用于集成電路元件測試，包含一夾座本體，其中央部位設(shè)置一環(huán)狀凸緣與環(huán)狀凸緣中央的第一通孔；一蓋板，蓋設(shè)于該環(huán)狀凸緣的上方，具有至少一個貫穿的第二通孔對應(yīng)至該環(huán)狀凸緣的第一通孔；一吸嘴裝置，用以吸取一集成電路元件；一氣密裝置，設(shè)置于該吸嘴裝置與該夾座本體之間；一彈簧；以及多個鎖合元件，將該蓋板固定于該夾座本體；其特征在于該吸嘴裝置穿設(shè)于該第一通孔與該第二通孔之內(nèi)，設(shè)有一環(huán)形的突出部容置于該夾座本體與該蓋板之間，該彈簧設(shè)置于該環(huán)形的突出部與該夾座本體之間，提供一作用力使該吸嘴裝置凸出于該蓋板的另側(cè)，且該吸嘴裝置凸出于該蓋板的一端具有一承靠面用以提供被吸取的集成電路元件的穩(wěn)定支撐。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的彈簧式測試夾座，其特征在于，進一 步包含一導(dǎo)引銷，設(shè)置于該夾座本體，藉以導(dǎo)引該吸嘴裝置進行不回 轉(zhuǎn)的直線運動。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的彈簧式測試夾座，其特征在于，該吸 嘴裝置介于突出部與夾座本體的直徑小于突出部與蓋板之間的直徑， 以及該吸嘴裝置的突出部設(shè)有一開口，藉以容許該導(dǎo)引銷于該開口內(nèi) 移動。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的彈簧式測試夾座，其特征在于，該吸 嘴裝置凸出于該蓋板的一端呈近似的矩形截面。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的彈簧式測試夾座，其特征在于，該夾 座本體進一歩設(shè)置一內(nèi)凹部以容納該吸嘴裝置的環(huán)形的突出部。
6、 一種具有彈簧式測試夾座的分類機，用于集成電路元件測試， 主要包含有一真空管路、 一移動平臺及夾固于該移動平臺的至少一個彈簧式測試夾座，經(jīng)由該真空管路可使該彈簧式測試夾座吸取一集成 電路元件進行測試，其特征在于，該彈簧式測試夾座包含一夾座本體，其中央部位設(shè)置一環(huán)狀凸緣與環(huán)狀凸緣中央的第一通孔；一蓋板，蓋設(shè)于該環(huán)狀凸緣之上，具有至少一個貫穿的第二通孔 對應(yīng)至該環(huán)狀凸緣的第一通孔；一吸嘴裝置，用以吸取一集成電路元件； 一氣密裝置，設(shè)置于該吸嘴裝置與該夾座本體之間； 一彈簧；以及多個鎖合元件，將該蓋板固定于該夾座本體；其中，該吸嘴裝置穿設(shè)于該第一通孔與該第二通孔之內(nèi)，設(shè)有一 環(huán)形的突出部容置于該夾座本體與該蓋板之間，該彈簧設(shè)置于該環(huán)形 的突出部與該夾座本體之間，提供一作用力使該吸嘴裝置凸出于該蓋 板的另側(cè)，且該吸嘴裝置凸出于該蓋板的一端具有一承靠面用以提供 被吸取的集成電路元件的穩(wěn)定支撐。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的具有彈簧式測試夾座的分類機，其特 征在于，彈簧式測試夾座進一步包含一導(dǎo)引銷，設(shè)置于該夾座本體， 藉以導(dǎo)引該吸嘴裝置進行不回轉(zhuǎn)的直線運動。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的具有彈簧式測試夾座的分類機，其特 征在于，該彈簧式測試夾座的吸嘴裝置介于突出部與夾座本體的直徑 小于突出部與蓋板之間的直徑，以及該彈簧式測試夾座的吸嘴裝置的 突出部設(shè)有一開口，藉以容許該導(dǎo)引銷于該開口內(nèi)移動。
9、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的具有彈簧式測試夾座的分類機，其特 征在于，該彈簧式測試夾座的吸嘴裝置凸出于該蓋板的一端呈近似的 矩形截面。
10、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的具有彈簧式測試夾座的分類機，其特 征在于，該彈簧式測試夾座的夾座本體進一歩設(shè)置一內(nèi)凹部以容納該 吸嘴裝置的環(huán)形的突出部。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種彈簧式測試夾座及具有彈簧式測試夾座的分類機。該彈簧式測試夾座用于集成電路元件測試，包含一夾座本體、一蓋板、一吸嘴裝置、一氣密裝置、一彈簧以及多個鎖合元件。夾座本體中央設(shè)置一環(huán)狀凸緣與第一通孔，蓋板蓋設(shè)于環(huán)狀凸緣的上方，具有至少一個貫穿的第二通孔對應(yīng)至第一通孔。吸嘴裝置穿設(shè)于第一通孔與第二通孔之內(nèi)，設(shè)有一環(huán)形的突出部容置于夾座本體與蓋板之間。彈簧設(shè)置于環(huán)形的突出部與夾座本體之間，提供一作用力使吸嘴裝置凸出于蓋板的另側(cè)，且吸嘴裝置凸出于蓋板的一端具有一承靠面用以提供被吸取的集成電路元件的穩(wěn)定支撐。
文檔編號G01R31/28GK101561451SQ20081009225
公開日2009年10月21日 申請日期2008年4月17日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月17日
發(fā)明者朱華正, 溫進光, 王佩珍 申請人:京元電子股份有限公司