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芯片測(cè)試電路系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):5828870閱讀:421來(lái)源:國(guó)知局

專(zhuān)利名稱(chēng)::芯片測(cè)試電路系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
:本實(shí)用新型涉及集成電路領(lǐng)域的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),特別涉及一種通過(guò)短接芯片管腳來(lái)測(cè)試芯片功能是否正常的芯片測(cè)試電路系統(tǒng)。
背景技術(shù)
:為了確保芯片能正常運(yùn)作,當(dāng)芯片制造完成以后,必須對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于芯片最基本的測(cè)試,是根據(jù)芯片設(shè)計(jì)的規(guī)格和功能來(lái)檢測(cè)芯片在特定的條件下所作出的反應(yīng)。對(duì)于遙控集成電路一類(lèi)的芯片,最基本的測(cè)試在于通過(guò)短接芯片不同的管腳使一信號(hào)點(diǎn)與另一信號(hào)點(diǎn)連接,然后檢測(cè)芯片的輸出是否符合設(shè)定的要求。傳統(tǒng)測(cè)試電路系統(tǒng)中,當(dāng)需要將不同信號(hào)點(diǎn)進(jìn)行這樣的連接時(shí),采用的是由電子繼電器實(shí)現(xiàn)的鍵盤(pán)矩陣,通過(guò)電子繼電器的機(jī)械閉合來(lái)實(shí)現(xiàn)信號(hào)點(diǎn)的連接。對(duì)于少數(shù)信號(hào)點(diǎn)的連接采用這種方法尚可,但對(duì)于幾十個(gè)甚至上百個(gè)連接點(diǎn)的實(shí)現(xiàn),采用電子繼電器就顯得比較困難。一方面,電子繼電器的價(jià)格較貴,使用壽命有限;另一方面,電子繼電器所需的驅(qū)動(dòng)電流較大,需要相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電路支持,電路結(jié)構(gòu)繁瑣,功耗也大,給電源模塊的驅(qū)動(dòng)能力提出了很高的要求。
實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此,本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種芯片測(cè)試電路系統(tǒng),其實(shí)現(xiàn)信號(hào)點(diǎn)連接的鍵盤(pán)矩陣不采用電子繼電器,而是采用結(jié)構(gòu)更簡(jiǎn)單更容易控制的器件。為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案如下一種芯片測(cè)試電路系統(tǒng),包括一控制單元和一用于連接待測(cè)芯片的鍵盤(pán)矩陣,所述鍵盤(pán)矩陣用于實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片不同管腳之間的短接,其特征在于所述鍵盤(pán)矩陣由復(fù)數(shù)個(gè)模擬開(kāi)關(guān)模塊組成。所述控制單元提供控制信號(hào)給所述鍵盤(pán)矩陣,以實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片不同管腳之間的短接。所述控制單元通過(guò)一數(shù)據(jù)采集通道采集待測(cè)芯片的一輸出信號(hào),并以此判斷待測(cè)芯片是否正常工作。所述控制單元為單片機(jī)。所述復(fù)數(shù)個(gè)模擬開(kāi)關(guān)模塊為復(fù)數(shù)個(gè)多路轉(zhuǎn)換器4051。所述復(fù)數(shù)個(gè)多路轉(zhuǎn)換器4051的公共I/0口連接在一起,每一個(gè)多路轉(zhuǎn)換器4051的芯片使能輸入端和三個(gè)通道選通輸入端接收所述控制單元的控制信號(hào),多路轉(zhuǎn)換器4051的獨(dú)立I/O口用于連接待測(cè)芯片的管腳。所述芯片測(cè)試電路系統(tǒng)還包括為所述控制單元和復(fù)數(shù)個(gè)模擬開(kāi)關(guān)模塊供電的電源模塊。本實(shí)用新型中,用廉價(jià)的具有開(kāi)關(guān)功能的集成電路來(lái)代替較昂貴的電子繼電器實(shí)現(xiàn)鍵盤(pán)矩陣,用以短接待測(cè)芯片的不同管腳,使待測(cè)芯片輸出對(duì)應(yīng)的信號(hào)??刂茊卧ㄟ^(guò)數(shù)據(jù)采集通道采集該輸出信號(hào),可以判斷出該輸出信號(hào)是否符合芯片功能設(shè)計(jì),從而判斷芯片工作是否正常,達(dá)到芯片檢測(cè)的目的。本實(shí)用新型所述芯片測(cè)試電路系統(tǒng),特別涉及一種通過(guò)短接芯片管腳來(lái)測(cè)試芯片功能是否正常的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),如遙控集成電路一類(lèi)的芯片。本實(shí)用新型具體可采用多路轉(zhuǎn)換器4051實(shí)現(xiàn)鍵盤(pán)矩陣的芯片測(cè)試電路系統(tǒng)。具體應(yīng)用時(shí)可將多片4051固定連接成鍵盤(pán)矩陣,也可以按此原理用開(kāi)關(guān)元件集成得到這樣的鍵盤(pán)矩陣。當(dāng)需要實(shí)現(xiàn)大量連接點(diǎn)的時(shí)候,鍵盤(pán)矩陣很容易進(jìn)行擴(kuò)展,而由于開(kāi)關(guān)元件比電子繼電器體積小,實(shí)現(xiàn)鍵盤(pán)矩陣的集成也是完全可能的。進(jìn)行芯片測(cè)試時(shí),將鍵盤(pán)矩陣與待測(cè)芯片連接,控制單元按測(cè)試人員編程設(shè)定的測(cè)試步驟發(fā)出控制信號(hào),使不同多路轉(zhuǎn)換器4051的獨(dú)立I/0口短接,即實(shí)現(xiàn)了待測(cè)芯片不同管腳的短接。待測(cè)芯片內(nèi)部電路響應(yīng)并輸出對(duì)應(yīng)信號(hào)到控制單元,控制單元以此判斷待測(cè)芯片工作是否正常。本實(shí)用新型的有益效果在于用具有開(kāi)關(guān)功能的集成電路來(lái)代替?zhèn)鹘y(tǒng)采用的電子繼電器,簡(jiǎn)化了電路結(jié)構(gòu),使控制更方便,并且具擴(kuò)展能力,應(yīng)用更靈活。采用模擬開(kāi)關(guān)不僅降低了成本,還有利于降低整個(gè)系統(tǒng)的功耗。以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的闡述。圖1為本實(shí)用新型所述芯片測(cè)試電路系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖;圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例的電路原理圖;圖3為多路轉(zhuǎn)換器4051的連線(xiàn)圖;具體實(shí)施方式如圖1所示,一種芯片測(cè)試電路系統(tǒng),包括電源模塊、控制單元、模擬開(kāi)關(guān)模塊和待測(cè)芯片DUT。電源模塊為控制單元和模擬開(kāi)關(guān)模塊供電,控制單元提供控制信號(hào)給模擬開(kāi)關(guān)模塊,通過(guò)模擬開(kāi)關(guān)的連接和斷開(kāi)控制待測(cè)芯片對(duì)應(yīng)管腳的連接和斷開(kāi)。圖2為芯片測(cè)試的電路原理圖,其中待測(cè)芯片DUT為一遙控集成電路芯片。遙控集成電路芯片應(yīng)用于遙控器裝置中,其工作方式就是通過(guò)短接芯片的任意兩個(gè)I/O管腳(PIN3-PIN14)或短接任一I/O管腳(PIN3-PIN14)和接地管腳(PIN1),并通過(guò)芯片內(nèi)部電路響應(yīng)在輸出管腳15上輸出對(duì)應(yīng)信號(hào)。管腳15外接一三極管的基極,該三極管的發(fā)射極接地,集電極連接一紅外發(fā)光二極管的負(fù)極,該紅外發(fā)光二極管的正極接電源+3V。待測(cè)芯片DUT管腳2對(duì)地接一晶振,管腳16接電源+3V,在待測(cè)芯片DUT電源地之間接一電路。按鍵K1K66組成了鍵盤(pán)矩陣,當(dāng)按鍵被按下時(shí),表示將與之連接的待測(cè)芯片DUT的兩個(gè)管腳短接在一起。例如當(dāng)按鍵Kl按下時(shí),連接在Kl上的管腳3和管腳4被短接。此時(shí)輸出管腳15會(huì)輸出與按鍵K1對(duì)應(yīng)的信號(hào),使外部的三極管導(dǎo)通或關(guān)閉,紅外發(fā)光二極管隨之響應(yīng)。當(dāng)三極管導(dǎo)通時(shí)紅外發(fā)光二極管發(fā)出紅外光,反之不發(fā)光??刂茊卧梢圆捎脝纹瑱C(jī),通過(guò)一紅外線(xiàn)接收管采集紅外發(fā)光二極管的發(fā)光信號(hào),以此檢測(cè)待測(cè)芯片DUT是否工作正常。如圖3所示,采用多路轉(zhuǎn)換器4051很容易實(shí)現(xiàn)上述鍵盤(pán)矩陣,多路轉(zhuǎn)換器4051的真值表見(jiàn)下表。<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>其中"*"代表任意,"NONE"表示芯片未選中,不工作。U1U4為四片4051,每片4051有8個(gè)獨(dú)立I/0口(管腳X0X7)用于和待測(cè)芯片管腳連接。管腳INH為芯片使能輸入端,管腳AC為通道選通輸入端,其中C為高位,A為低位。芯片使能輸入端和通道選通輸入端用于接收來(lái)自控制單元的控制信號(hào)。四片4051通過(guò)公共I/O口(管腳X)、正電源管腳VCC、接地管腳GND以及負(fù)電源管腳VEE連接在一起。下面介紹圖3中采用多路轉(zhuǎn)換器4051實(shí)現(xiàn)鍵盤(pán)矩陣的方式-圖中連線(xiàn)方式可用來(lái)實(shí)現(xiàn)PIN1PIN16任意兩信號(hào)點(diǎn)的連接。通過(guò)控制器可以控制建立任意兩片4051的任意兩個(gè)管腳(管腳X0X7)之間的連接,但同一片4051的管腳X0X7不能相連。例如,若要實(shí)現(xiàn)PIN6與PIN7兩信號(hào)點(diǎn)的連接,控制器控制方式如下1.初始狀態(tài)Kl、K2、K3、K4為高,其余管腳狀態(tài)默認(rèn);2.控制l:置1A、1C、2B、2C為高電平,置1B、2A為低電平;3.控制2:置K1、K2為f氏電平,置K3、K4為高電平。又如,若要實(shí)現(xiàn)PIN10與PIN15兩信號(hào)點(diǎn)的連接,控制器控制方式如下1.初始狀態(tài)Kl、K2、K3、K4為高電平,其余管腳狀態(tài)默認(rèn);2.控制l:置3A、4C、4B為高電平,置3B、3C、4A為低電平。3.控制2:置K3、K4為低電平,置K1、K2為高電平。通過(guò)以上方式,只要預(yù)先將4051的管腳X0X7與待測(cè)芯片的待測(cè)管腳連接,通過(guò)控制器控制不同4051管腳X0X7兩兩之間的連接,就能實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片對(duì)應(yīng)待測(cè)管腳兩兩之間的連接。當(dāng)需要增加連接點(diǎn)的數(shù)目或?qū)崿F(xiàn)多個(gè)連接點(diǎn)同時(shí)相連時(shí),只要通過(guò)管腳X進(jìn)行硬件上的擴(kuò)展,采用相應(yīng)的控制方式即可實(shí)現(xiàn),其實(shí)現(xiàn)原理完全相同,此處不累述。盡管本實(shí)用新型的實(shí)施方案已公開(kāi)如上,但其并不僅僅限于說(shuō)明書(shū)和實(shí)施方式中所列運(yùn)用,它完全可以被適用于各種適合本實(shí)用新型的領(lǐng)域,對(duì)于熟悉本領(lǐng)域的人員而言,可容易地實(shí)現(xiàn)另外的修改,因此在不背離權(quán)利要求及等同范圍所限定的一般概念下,本實(shí)用新型并不限于特定的細(xì)節(jié)和這里示出與描述的圖例。權(quán)利要求1.一種芯片測(cè)試電路系統(tǒng),包括一控制單元和一用于連接待測(cè)芯片的鍵盤(pán)矩陣,所述鍵盤(pán)矩陣用于實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片不同管腳之間的短接,其特征在于所述鍵盤(pán)矩陣由復(fù)數(shù)個(gè)模擬開(kāi)關(guān)模塊組成。2.如權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),其特征在于所述控制單元提供控制信號(hào)給所述鍵盤(pán)矩陣,以實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片不同管腳之間的短接。3.如權(quán)利要求2所述的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),其特征在于所述控制單元通過(guò)一數(shù)據(jù)采集通道采集待測(cè)芯片的一輸出信號(hào),并以此判斷待測(cè)芯片是否正常工作。4.如權(quán)利要求13任一權(quán)利要求所述的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),其特征在于所述控制單元為單片機(jī)。5.如權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),其特征在于所述復(fù)數(shù)個(gè)模擬開(kāi)關(guān)模塊為復(fù)數(shù)個(gè)多路轉(zhuǎn)換器4051。6.如權(quán)利要求5所述的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),其特征在于所述復(fù)數(shù)個(gè)多路轉(zhuǎn)換器4051的公共I/0口連接在一起,每一個(gè)多路轉(zhuǎn)換器4051的芯片使能輸入端和三個(gè)通道選通輸入端接收所述控制單元的控制信號(hào),多路轉(zhuǎn)換器4051的獨(dú)立I/O口用于連接待測(cè)芯片的管腳。7.如權(quán)利要求l所述的芯片測(cè)試電路系統(tǒng),其特征在于所述芯片測(cè)試電路系統(tǒng)還包括為所述控制單元和復(fù)數(shù)個(gè)模擬開(kāi)關(guān)模塊供電的電源模塊。專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)一種芯片測(cè)試電路系統(tǒng),包括一控制單元和一用于連接待測(cè)芯片的鍵盤(pán)矩陣,所述鍵盤(pán)矩陣用于實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片不同管腳之間的短接,其特征在于所述鍵盤(pán)矩陣由復(fù)數(shù)個(gè)模擬開(kāi)關(guān)模塊組成。本實(shí)用新型的有益效果在于用具有開(kāi)關(guān)功能的集成電路來(lái)代替?zhèn)鹘y(tǒng)采用的電子繼電器,簡(jiǎn)化了電路結(jié)構(gòu),使控制更方便,并且具擴(kuò)展能力,應(yīng)用更靈活。采用模擬開(kāi)關(guān)不僅降低了成本,還有利于降低整個(gè)系統(tǒng)的功耗。文檔編號(hào)G01R31/28GK201096869SQ20072018178公開(kāi)日2008年8月6日申請(qǐng)日期2007年10月23日優(yōu)先權(quán)日2007年10月23日發(fā)明者猛江,力賈申請(qǐng)人:蘇州市華芯微電子有限公司
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