專利名稱：一種智能卡測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種智能卡測試設(shè)備，特別是一種能夠同時檢査智能卡帶電老化壽 命、金屬面耐磨強(qiáng)度兩個項(xiàng)目的測試設(shè)備。
背景技術(shù)：
在智能卡測試領(lǐng)域，對智能卡的壽命測試，現(xiàn)在主要有以下幾種方法-擦寫疲勞壽命，該方法是將智能卡插入讀卡器中，通過軟件控制對智能卡存儲單元進(jìn)
行全0、全1或其他方式的數(shù)據(jù)擦寫測試， 一般要求循環(huán)次數(shù)為io萬次。
卡加電次數(shù)，該方法是將智能卡插入讀卡器中，通過軟件對智能卡進(jìn)行反復(fù)上下電，
一般要求循環(huán)次數(shù)為io萬次。
機(jī)械強(qiáng)度測試，該方法是通過點(diǎn)壓力(芯片面積小于4 mm2)或三輪測試(芯片面積 不小于4 mm2)的方法考察智能卡的機(jī)械可靠性。
動態(tài)彎曲測試，實(shí)驗(yàn)依據(jù)GB/T17554. l描述的方法進(jìn)行測試，確定彎曲應(yīng)力對智能卡 的任何有害機(jī)械或功能上的影響。測試完成后，智能卡應(yīng)保持其功能并應(yīng)不出現(xiàn)開裂。
動態(tài)扭曲測試，實(shí)驗(yàn)依據(jù)GB/T17554. l描述的方法進(jìn)行測試，確定彎曲應(yīng)力對智能卡 的任何有害機(jī)械或功能上的影響。測試完成后，智能卡應(yīng)保持其功能并應(yīng)不出現(xiàn)開裂。
但是目前沒有一種設(shè)備，能夠?qū)崿F(xiàn)同時對智能卡帶電老化壽命、金屬面耐磨強(qiáng)度兩個 項(xiàng)目進(jìn)行測試。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型提供一種智能卡測試設(shè)備，用以實(shí)現(xiàn)同時對智能卡帶電老化壽命、金屬面 耐磨強(qiáng)度兩個項(xiàng)目進(jìn)行測試。為了實(shí)現(xiàn)上述測試設(shè)備，本實(shí)用新型設(shè)計一個直流電源系統(tǒng)， 通過控制輸出電壓大小調(diào)節(jié)系統(tǒng)的機(jī)械運(yùn)轉(zhuǎn)速度；設(shè)計一個特殊的機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)，將電能 轉(zhuǎn)化為運(yùn)動動能，實(shí)現(xiàn)夾卡裝置做周期性平面直線運(yùn)動；同時設(shè)計一個讀卡結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)在 智能卡運(yùn)動過程中，實(shí)時給智能卡供電控制智能卡管腳電氣特性狀態(tài)。
本實(shí)用新型包括
直流電源系統(tǒng)；
將電能轉(zhuǎn)化為動能的機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)； 夾卡裝置；智能卡讀卡結(jié)構(gòu)。所述直流電源系統(tǒng)可以調(diào)節(jié)輸出電壓大小，直流電源系統(tǒng)輸出通過機(jī)械軸(2)與機(jī) 械軸(3)相連接，通過調(diào)節(jié)直流電源系統(tǒng)的輸出以控制機(jī)械軸(3)的運(yùn)轉(zhuǎn)速度，從而控 制調(diào)節(jié)整個系統(tǒng)的機(jī)械運(yùn)轉(zhuǎn)速度，使夾卡裝置做速度可調(diào)的周期性平面直線運(yùn)動。所述機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了電能到動能的轉(zhuǎn)化；通過機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)，也實(shí)現(xiàn)了運(yùn)動方 式的轉(zhuǎn)化，將機(jī)械軸(2)、機(jī)械軸(3)的機(jī)械圓周運(yùn)動轉(zhuǎn)化為夾卡裝置的平面直線運(yùn)動； 整個測試系統(tǒng)為對稱型設(shè)計,通過對稱型機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)同時對2張智能卡進(jìn)行測試， 提高了測試效率。如圖l所示，直流電源系統(tǒng)通過機(jī)械軸(2)帶動機(jī)械軸(3)和機(jī)械軸(4)轉(zhuǎn)動。 由于機(jī)械軸(4)為偏心軸，即機(jī)械軸(4)的中心軸線和機(jī)械軸(2)、機(jī)械軸(3)的中 心軸線不在一條直線上，從而機(jī)械軸(4)做偏心圓周轉(zhuǎn)動。如圖2所示，擺動裝置中有 一導(dǎo)孔(7)，通過機(jī)械軸(4)的偏心圓周轉(zhuǎn)動，機(jī)械軸(4)在導(dǎo)孔(7)中以導(dǎo)孔(7) 內(nèi)緣作偏心圓周運(yùn)動，從而帶動擺動裝置實(shí)現(xiàn)以鉸鏈(5)為固定點(diǎn)的來回擺動運(yùn)動，擺 動裝置通過鉸鏈(8)帶動夾卡裝置以機(jī)械軸(9)為導(dǎo)軌作平面直線運(yùn)動，從而帶動裝卡 在夾卡裝置中的智能卡以機(jī)械軸(9)為導(dǎo)軌作平面直線運(yùn)動，在智能卡的周期直線運(yùn)動 過程中實(shí)現(xiàn)了同時對智能卡帶電老化壽命與金屬面耐磨強(qiáng)度的測試，如圖3所示。所述智能卡讀卡結(jié)構(gòu)，內(nèi)部包括讀卡器，用以控制智能卡管腳電氣特性狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)在 智能卡運(yùn)動過程中，實(shí)時給智能卡供電控制智能卡管腳電氣特性狀態(tài)。該實(shí)用新型工作原理-本設(shè)備通過直流電源系統(tǒng)供電，機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)將電能轉(zhuǎn)化為運(yùn)動動能；通過機(jī)械運(yùn)動 結(jié)構(gòu)，帶動夾卡裝置做周期性平面直線運(yùn)動；同時讀卡結(jié)構(gòu)實(shí)時給智能卡提供電源，從而 實(shí)現(xiàn)同時實(shí)現(xiàn)對智能卡帶電老化壽命與金屬面耐磨強(qiáng)度的測試。


圖1為本實(shí)用新型的頂視圖 圖2為本實(shí)用新型的正視圖 圖3為本實(shí)用新型的側(cè)視圖具體實(shí)施方式
下面通過具體測試實(shí)例對本實(shí)用新型智能卡測試設(shè)備進(jìn)行詳細(xì)描述a)擰松螺鈕，將夾卡裝置上蓋打開，把待測試智能卡裝到夾卡裝置中，并將智能卡另一端插入讀卡器中，使得智能卡金屬觸點(diǎn)與讀卡器金屬觸點(diǎn)接觸，蓋上上蓋， 鎖緊夾卡裝置上的螺鈕，使得夾卡裝置在做平面直線運(yùn)動過程中上蓋和下蓋不發(fā) 生相對移動；
b) 打開直流電源系統(tǒng)的開關(guān)，給智能卡測試設(shè)備供電；
c) 系統(tǒng)上電后，機(jī)械軸(2)開始按照設(shè)定速度作圓周運(yùn)動，機(jī)械軸(2)帶動機(jī)械 軸(3)和機(jī)械軸(4)轉(zhuǎn)動。由于機(jī)械軸(4)為偏心軸，即機(jī)械軸(4)的中心 軸線和機(jī)械軸(2)、機(jī)械軸(3)的中心軸線不在一條直線上，從而機(jī)械軸(4) 做偏心圓周轉(zhuǎn)動；擺動裝置中有一導(dǎo)孔(7)，機(jī)械軸(4)通過在導(dǎo)孔(7)中作 以導(dǎo)孔(7)內(nèi)邊緣為圓周運(yùn)動帶動擺動裝置實(shí)現(xiàn)以鉸鏈(5)為固定點(diǎn)的來回擺 動運(yùn)動；擺動裝置通過鉸鏈(8)帶動夾卡裝置以機(jī)械軸(9)為導(dǎo)軌作周期性平 面直線運(yùn)動；
d) 在夾卡裝置的整個運(yùn)動過程中，智能卡被夾緊在夾卡裝置中，跟隨夾卡裝置作周 期性平面直線運(yùn)動，在智能卡的周期直線運(yùn)動過程中同時實(shí)現(xiàn)對智能卡金屬面耐 磨強(qiáng)度測試和帶電老化壽命測試。讀卡器中心線和夾卡裝置的中心線保持在一條 直線，以保證夾卡裝置在作周期性直線運(yùn)動過程中智能卡不發(fā)生彎折。
e) 讀卡結(jié)構(gòu)在探測到智能卡后，立刻向智能卡發(fā)出測試向量，對智能卡進(jìn)行帶電老 化壽命測試，本步驟是一個循環(huán)過程；
f) 按照規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)測試次數(shù)完成后，檢査被測智能卡，通過產(chǎn)品的性能和功能以及 金屬面的外觀質(zhì)量驗(yàn)證智能卡是否符合質(zhì)量要求。
通過實(shí)用新型提出的智能卡的測試設(shè)備，可以對智能卡可靠性進(jìn)行嚴(yán)格地考核，能夠 提前發(fā)現(xiàn)由于智能卡結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)設(shè)計可靠性問題而導(dǎo)致的生產(chǎn)測試成品率的低下，或者智 能卡內(nèi)所存儲的數(shù)據(jù)易丟失等問題，實(shí)現(xiàn)同時實(shí)現(xiàn)對智能卡帶電老化壽命與金屬面耐磨強(qiáng) 度的測試。并且通過對稱性的結(jié)構(gòu)設(shè)計，可以一次對多個智能卡進(jìn)行測試，提高了工作效 率。
本實(shí)施例僅供說明本實(shí)用新型之用，而非對本實(shí)用新型的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù) 人員，在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下，還可以作出各種變換或變化，因此所 有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本實(shí)用新型的范疇由各權(quán)力要求限定。
權(quán)利要求1、一種智能卡測試設(shè)備，用于對智能卡進(jìn)行測試，其特征在于該設(shè)備包括直流電源系統(tǒng)(1)；將電能轉(zhuǎn)化為動能的機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)；夾卡裝置(11)；智能卡讀卡結(jié)構(gòu)(16)；其中所述直流電源系統(tǒng)(1)根據(jù)智能卡測試的需要，控制輸出電流大小以調(diào)節(jié)測試設(shè)備的機(jī)械運(yùn)轉(zhuǎn)速度；所述機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)由機(jī)械軸(2)、機(jī)械軸(3)、機(jī)械軸(4)、機(jī)械軸(9)以及擺動裝置(6)組成；所述智能卡讀卡結(jié)構(gòu)(16)實(shí)現(xiàn)實(shí)時給智能卡供電以控制智能卡管腳電氣特性狀態(tài)；直流電源系統(tǒng)(1)的輸出與機(jī)械軸(2)相連接，直流電源系統(tǒng)(1)通過機(jī)械軸(2)帶動機(jī)械軸(3)轉(zhuǎn)動，機(jī)械軸(2)和機(jī)械軸(3)轉(zhuǎn)動帶動機(jī)械軸(4)做偏心圓周轉(zhuǎn)動，通過機(jī)械軸(4)的偏心圓周轉(zhuǎn)動帶動擺動裝置(6)實(shí)現(xiàn)以鉸鏈(5)為固定點(diǎn)的來回擺動運(yùn)動，通過擺動裝置(6)的擺動帶動夾卡裝置(11)在機(jī)械軸(9)上作周期平面直線運(yùn)動。
2、 如權(quán)利要求1所述的智能卡測試設(shè)備，其特征在于機(jī)械軸(4)為偏心軸，機(jī)械軸(4) 的中心軸線和機(jī)械軸(2)、機(jī)械軸(3)的中心軸線不在一條直線上。
3、 如權(quán)利要求1所述的智能卡測試設(shè)備，其特征在于擺動裝置(6)通過鉸鏈(5)和鉸 鏈(8)分別與基座(18)、夾卡裝置(11)連接，。
4、 如權(quán)利要求1所述的智能卡測試設(shè)備，其特征在于擺動裝置(6)中有一導(dǎo)孔(7)， 機(jī)械軸(4)在導(dǎo)孔(7)中作偏心圓周運(yùn)動帶動擺動裝置(6)實(shí)現(xiàn)以鉸鏈(5)為固定點(diǎn)的 來回擺動運(yùn)動。
5、 如權(quán)利要求l所述的智能卡測試設(shè)備，其特征在于夾卡裝置(11)進(jìn)一步包括 螺鈕(15);上蓋(12); 下蓋(14); 鉸鏈(13) 引孔(10);所述螺鈕(15)固定在上蓋(12)表面，所述上蓋(12)和下蓋(14)通過鉸鏈(13) 連接，通過擰緊螺鈕(15)鎖緊上蓋(12)和下蓋(14)，使得被測智能卡鎖緊在夾卡裝置(11) 中，不能進(jìn)行相對移動，所述引孔(10)和機(jī)械軸(9)配合，夾卡裝置(11)以機(jī)械軸(9) 為導(dǎo)軌作周期平面直線運(yùn)動。
6、 如權(quán)利要求1所述的智能卡測試設(shè)備，其特征在于智能卡讀卡結(jié)構(gòu)(16)內(nèi)部包括讀 卡器(17)，用以控制智能卡管腳電氣特性狀態(tài)，讀卡器(17)中心線和夾卡裝置(11)的中 心線保持在一條直線，以保證夾卡裝置(11)在作周期性直線運(yùn)動過程中智能卡不發(fā)生彎折。
7、 如權(quán)利要求1所述的智能卡測試設(shè)備，其特征在于智能卡測試設(shè)備為對稱型設(shè)計，電能轉(zhuǎn)化為動能的機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)、夾卡裝置(11)和智能卡讀卡結(jié)構(gòu)(16)分別有2套，可以 實(shí)現(xiàn)對2張智能卡同時進(jìn)行測試。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種智能卡測試設(shè)備，主要針對智能卡在生產(chǎn)和使用過程中，可能存在的物理結(jié)構(gòu)被破壞或數(shù)據(jù)異常丟失等失效現(xiàn)象而提出的一種測試設(shè)備。該設(shè)備實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有測試方案中所沒有描述的測試項(xiàng)目，能夠同時對智能卡進(jìn)行帶電老化壽命、金屬面耐磨強(qiáng)度兩個項(xiàng)目進(jìn)行測試。該設(shè)備所包括的主要結(jié)構(gòu)如下直流電源系統(tǒng)；機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)；夾卡裝置；智能卡讀卡結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型提出的智能卡的測試設(shè)備，對智能卡可靠性進(jìn)行嚴(yán)格地考核，能夠提前發(fā)現(xiàn)由于智能卡結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)設(shè)計可靠性問題而導(dǎo)致的生產(chǎn)測試成品率的低下，或者智能卡內(nèi)所存儲的數(shù)據(jù)易丟失等問題。
文檔編號G01R31/00GK201170793SQ200720173418
公開日2008年12月24日 申請日期2007年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月28日
發(fā)明者吳彩峰, 寧 高 申請人:北京中電華大電子設(shè)計有限責(zé)任公司