專利名稱：顯示裝置的測試系統(tǒng)及測試方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及一種顯示裝置的測試系統(tǒng)及測試方法。
背景技術(shù)：
隨著顯示技術(shù)的發(fā)展，業(yè)者開發(fā)出多種顯示裝置以供消費者選擇，例如， 陰才及射線管顯示裝置、等離子體顯示裝置、場發(fā)射顯示裝置或液晶顯示裝置等等。
一般來說，已知的液晶顯示裝置包含顯示面板及驅(qū)動電路。顯示面板具 有薄膜晶體管基板、彩色濾光片基板及液晶層。其中液晶層設置于薄膜晶體 管基板的電極陣列及彩色濾光片基板的公共電極之間。驅(qū)動電路可控制電極 陣列及公共電極之間的電壓差以使顯示面板顯示畫面。
一般來說，業(yè)者會在上述液晶顯示裝置出廠前作各種檢測，以控管液晶 顯示裝置的品質(zhì)。其中，若在制造顯示裝置過程中，使得電極陣列與公共電 極之間具有雜質(zhì)，將容易導致電極陣列及公共電極短路而使畫面具有壞點
(dead pixel )。是以，業(yè)者會在液晶顯示裝置出廠前對液晶顯示裝置作按壓 檢測，其使顯示面板顯示畫面，并以人工的方式按壓顯示面板以使電極陣列 及公共電極之間具有一外加應力，此時，若電極陣列及公共電極之間具有導 電雜質(zhì)，則此外加應力將導致導電雜質(zhì)分別與電極陣列及公共電極接觸而短 路。如此一來，檢測人員即可由顯示面板所顯示的畫面中檢測出壞點以確保 液晶顯示裝置的品質(zhì)。
然而，按壓檢測需檢測人員花費太多時間執(zhí)行其工作，不僅耗費人力成
也將會導致產(chǎn)品的品質(zhì)不穩(wěn)定。
因此，如何提供一種自動化的顯示裝置的測試系統(tǒng)及測試方法，實屬當 前重要課題之一。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于上述課題，本發(fā)明的目的為提供一種自動化的顯示裝置的測試系 統(tǒng)及測試方法。
緣是，為達上述目的，依據(jù)本發(fā)明的一種顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中顯 示裝置至少具有一顯示面板，測試系統(tǒng)包含控制單元及振動單元?？刂茊卧?br> 控制顯示面板以顯示畫面；振動單元以至少一振動頻率振動顯示面板，而振 動頻率實質(zhì)上趨近于顯示面板的多個自然頻率的其中之一。
另外，為達上述目的，依據(jù)本發(fā)明的一種顯示裝置的測試方法，其中顯 示裝置至少具有一顯示面板，測試方法包含下列步驟首先，控制顯示面板 以顯示畫面；然后，以至少一振動頻率振動顯示面^1,而振動頻率實質(zhì)上趨 近顯示面板的多個自然頻率的其中之一。
承上所述，由于本發(fā)明的顯示裝置的測試系統(tǒng)及測試方法以實質(zhì)上趨近 這些自然頻率的振動頻率振動顯示面板，以使顯示面板共振而造成顯示面板 的特定區(qū)域具有最大應力，所以，控制單元及振動單元的設計可取代已知技 術(shù)以人工的方式按壓顯示面板，不僅可以自動化方式檢測因顯示面板中有導 電雜質(zhì)導致畫面出現(xiàn)壞點的問題來減少人力成本，而且可以統(tǒng)一檢測標準進
而詳急定產(chǎn)品品質(zhì)o


圖1為本發(fā)明的顯示裝置的測試系統(tǒng)中，顯示裝置的分解示意圖2為圖1中顯示面板的A-A，線的剖面示意圖3為本發(fā)明優(yōu)選實施例的測試系統(tǒng)的方塊示意圖4為本發(fā)明優(yōu)選實施例的另一測試系統(tǒng)的方塊示意圖5為本發(fā)明優(yōu)選實施例的再一測試系統(tǒng)的方塊示意圖;以及
圖6為本發(fā)明優(yōu)選實施例的測試方法的流程示意圖。
附圖標記il明
3 顯示裝置
31 顯示面4反
311 薄膜晶體管基板
3111電極陣列
312彩色濾光片基板
3121公共電極
313液晶層
314顯示面
32驅(qū)動單元
33背光模塊
5測試系統(tǒng)
51控制單元
52振動單元
53圖像擷取單元
54顯示單元
55檢測單元
A-A，截線
F0畫面
S10 S20測試方法的步驟
具體實施例方式
以下將參照相關圖示，說明依據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的顯示裝置的測試系
統(tǒng)及測試方法。
本發(fā)明優(yōu)選實施例的顯示裝置的測試系統(tǒng)用以測試一顯示裝置，請同時
參照圖1及圖2所示，顯示裝置3以但不限于液晶顯示裝置為例，并具有顯 示面板31、驅(qū)動單元32及背光模塊33。
顯示面板31至少具有薄膜晶體管基板311 、彩色濾光片基板312及液晶 層313。其中液晶層313設置于彩色濾光片基板312的公共電極3121及薄膜 晶體管基板311的電極陣列3111之間。背光模塊313可提供背光源至顯示 面板31，且驅(qū)動單元32可控制公共電極3121及電極陣列3111之間的電壓 差以驅(qū)動顯示面板31。
請參照圖3所示，測試系統(tǒng)5包含控制單元51及振動單元52?？刂茊?元51控制驅(qū)動單元32及背光模塊33以使顯示面板31顯示畫面F0。
振動單元52以至少一振動頻率振動顯示面板31，而振動頻率實質(zhì)上趨 近于顯示面板的多個自然頻率的其中之一，以使顯示面板31產(chǎn)生共振而造 成顯示面板31的顯示面314形成有一應力分布，而應力分布具有至少一最
大應力。在本實施例中，振動單元52的振動方向與顯示面314呈垂直，換 言之，最大應力施加于顯示面板31的電極陣列3111及公共電極3121(如圖2 所示)之間。
承上，本發(fā)明的測試系統(tǒng)5以實質(zhì)上趨近這些自然頻率的振動頻率振動 顯示面板31,以使顯示面板31的特定區(qū)域具有最大應力，來取代現(xiàn)有技術(shù) 以人工的方式按壓顯示面板31,不僅可以自動化方式檢測因顯示面板31中 有導電雜質(zhì)導致畫面出現(xiàn)壞點的問題來減少人力成本，而且可以統(tǒng)一4企測標
準進而穩(wěn)定產(chǎn) 品品質(zhì)。
除此之外，當振動頻率趨近于顯示面板31的不同的自然頻率時，在顯 示面314上應力分布亦不相同。換言之，實際測試時，振動單元52可以多
頻率)振動顯示面板31，以便以不同的應力分布來測試顯示面314的不同區(qū)域。
另外，振動單元52可以由人員控制，或者由控制單元51控制，例如， 在本實施例中，控制單元51可控制振動單元52的振動頻率的大小。
再者，請參照圖4所示，測試系統(tǒng)5還包含圖像擷取單元53及顯示單 元54,其中，圖像擷取單元53擷取顯示面板31所顯示的畫面F0，且顯示 單元54顯示所擷取的畫面F0,此時，測試人員可由顯示單元54觀看畫面 是否有壞點以得知顯示面314形成極大應力的區(qū)域中電極陣列3111及公共 電極3121之間(如圖2所示)是否有導電雜質(zhì)。
又，請參照圖5所示，測試系統(tǒng)5還包含檢測單元55,其中，圖像擷取 單元53擷取顯示面板31所顯示的畫面F0,且檢測單元55依據(jù)所擷取的畫 面FO產(chǎn)生檢測結(jié)果，其中檢測結(jié)果可透過熒幕顯示或透過列表輸出。此時， 測試人員可由檢測結(jié)果直接得知顯示面314形成最大應力的區(qū)域中電極陣列 3111及〃>共電極3121(如圖2所示)是否有導電雜質(zhì)。例如，檢測單元55可 比對門搵壞點數(shù)量與所擷取的畫面F0的壞點數(shù)量，若當所擷取的畫面F0的 壞點數(shù)量低于門檻壞點數(shù)量時，則檢測單元55輸出一"pass"的檢測結(jié)果；反 的，若當所擷取的畫面FO的壞點數(shù)量高于門檻壞點數(shù)量時，則檢測單元55 輸出一"fail"的檢測結(jié)果。
最后，在此值得一提的是，控制單元51可以微控制器(Micro-Controller Unit,MCU)來實現(xiàn)；振動單元52可以石茲動、電動或機械振動等方式而設計； 圖像擷取單元53可為電荷耦合器(Charge-Coupled Device, CCD)或互補式金 屬氧化物半導體(Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS)等元件； 顯示單元54可為熒幕；檢測單元55可以微控制器來實現(xiàn)；顯示面板31的 多個自然頻率可以理論計算、模擬計算或?qū)嶒灥确绞蕉弥?br> 請參照圖6所示，依據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的顯示裝置的測試方法，其中， 顯示裝置至少具有一顯示面板，測試方法至少包含步驟S10 S20。
步驟S10控制顯示面板以顯示畫面。
步驟S20以至少一振動頻率振動顯示面板，而振動頻率實質(zhì)上趨近顯示 面板的多個自然頻率的其中之一。
本實施例的測試方法已于本發(fā)明優(yōu)選實施例的顯示裝置的測試系統(tǒng) 5(如圖3至圖5所示)中詳述，在此容不贅述。
承上所述，由于本發(fā)明的顯示裝置的測試系統(tǒng)及方法以實質(zhì)上趨近這些 自然頻率的振動頻率振動顯示面板，以使顯示面板的特定區(qū)域具有最大應 力，來取代現(xiàn)有技術(shù)以人工的方式按壓顯示面板，不僅可以自動化方式檢測 因顯示面板中有導電雜質(zhì)導致畫面出現(xiàn)壞點的問題來減少人力成本，而且可 以統(tǒng)一4全測標準進而穩(wěn)定產(chǎn)品品質(zhì)。
以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發(fā)明的精神與范 疇，而對其進行的等同修改或變更，均應包含于所附的權(quán)利要求中。
權(quán)利要求
1、一種顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中該顯示裝置至少具有一顯示面板，該測試系統(tǒng)包含控制單元，其控制該顯示面板以顯示畫面；以及振動單元，其以至少一振動頻率振動該顯示面板，而該振動頻率實質(zhì)上趨近于該顯示面板的多個自然頻率的其中之一。
2、 如權(quán)利要求1所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中該控制單元系控制 該振動頻率。
3、 如權(quán)利要求1所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中該顯示裝置還具有 驅(qū)動單元，該控制單元控制該驅(qū)動單元以驅(qū)動該顯示面板。
4、 如權(quán)利要求1所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中當該顯示面板依據(jù) 該振動頻率而振動時，該顯示面板的顯示面形成有一應力分布，該應力分布 具有至少一最大應力。
5、 如權(quán)利要求4所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中該振動單元的振動 方向與該顯示面呈垂直。
6、 如權(quán)利要求1所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，還包含 圖像擷取單元，其當該顯示面板依據(jù)該振動頻率而振動時，擷取該畫面。
7、 如權(quán)利要求6所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，還包含 顯示單元，其顯示所擷取的該畫面。
8、 如權(quán)利要求6所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，還包含 檢測單元，其依據(jù)所擷取的該畫面產(chǎn)生檢測結(jié)果。
9、 如權(quán)利要求6所述的顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中該圖像擷取單元為 電荷耦合器或互補式金屬氧化物半導體。
10、 一種顯示裝置的測試方法，其中該顯示裝置至少具有一顯示面板， 該測試方法包含控制該顯示面^1以顯示畫面；以及以至少一振動頻率振動該顯示面4反，而該振動頻率實質(zhì)上趨近該顯示面 板的多個自然頻率的其中之一。
11、 如權(quán)利要求10所述的顯示裝置的測試方法其中當該顯示面板依據(jù) 該振動頻率而振動時，該顯示面4反的顯示面形成有一應力分布，該應力分布 具有至少一最大應力。
全文摘要
一種顯示裝置的測試系統(tǒng)，其中顯示裝置至少具有一顯示面板，測試系統(tǒng)包含控制單元及振動單元。控制單元控制顯示面板以顯示畫面；振動單元以至少一振動頻率振動顯示面板，而振動頻率實質(zhì)上趨近于顯示面板的多個自然頻率的其中之一。此外，本發(fā)明亦提供一種顯示裝置的測試方法。
文檔編號G01R31/00GK101354485SQ20071013691
公開日2009年1月28日 申請日期2007年7月23日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月23日
發(fā)明者林傳杰, 王涌鋒, 鐘振豐 申請人:奇美電子股份有限公司