專利名稱：便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，特別涉及一種便于 使用多個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，并即時(shí)4全測(cè)測(cè)試機(jī)臺(tái)狀態(tài)的便攜 式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在移動(dòng)電話等便攜式電子裝置的生產(chǎn)過(guò)程中，出廠之前的性能 測(cè)試是必不可少的 一 道工序。傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)包括 一 測(cè)試機(jī)臺(tái)及一 與該測(cè)試機(jī)臺(tái)相連接并預(yù)先安裝了測(cè)試程序的數(shù)據(jù)處理器。測(cè)試時(shí)， 將便攜式電子裝置置于測(cè)試機(jī)臺(tái)上采集相關(guān)測(cè)試數(shù)據(jù)，并使用數(shù)據(jù) 處理器運(yùn)行測(cè)試程序，顯示測(cè)試結(jié)果。
當(dāng)生產(chǎn)規(guī)模較大時(shí)，需要同時(shí)使用多套測(cè)試系統(tǒng)采集測(cè)試數(shù)據(jù)， 最后將所有測(cè)試系統(tǒng)顯示的測(cè)試數(shù)據(jù)集中處理，得到所需的測(cè)試結(jié) 果。由于每套測(cè)試系統(tǒng)在投入使用前均需要安裝測(cè)試程序，且每次 的測(cè)試項(xiàng)目有所變動(dòng)時(shí)，測(cè)試程序及相關(guān)測(cè)試參數(shù)也經(jīng)常需要隨之 改動(dòng)，因此，當(dāng)所需測(cè)試系統(tǒng)數(shù)量較多時(shí)，在所有測(cè)試系統(tǒng)中安裝 測(cè)試程序及設(shè)置測(cè)試參數(shù)需要大量的重復(fù)勞動(dòng)，導(dǎo)致人力和時(shí)間的 浪費(fèi)。另外，由于各套測(cè)試系統(tǒng)彼此之間沒(méi)有聯(lián)系，若有某套測(cè)試 系統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)發(fā)生故障造成測(cè)試數(shù)據(jù)失真則很難及時(shí)發(fā)現(xiàn)，使各 測(cè)試機(jī)臺(tái)的工作狀態(tài)難以掌握，可能導(dǎo)致大量產(chǎn)品需要重新進(jìn)行測(cè) 試的后果，嚴(yán)重地延誤生產(chǎn)過(guò)程。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種可節(jié)省測(cè)試時(shí)間并可及時(shí)檢測(cè)測(cè)試 機(jī)臺(tái)狀態(tài)的便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)。
另外，有必要提供 一 種可節(jié)省測(cè)試時(shí)間并可及時(shí)檢測(cè)測(cè)試機(jī)臺(tái) 狀態(tài)的便攜式電子裝置測(cè)試方法。
一種便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)包 括一數(shù)據(jù)處理器及若干測(cè)試機(jī)臺(tái)，該若干測(cè)試機(jī)臺(tái)同時(shí)與該數(shù)據(jù)處
理器連接；該數(shù)據(jù)處理器包括一數(shù)據(jù)庫(kù)模塊及一數(shù)據(jù)處理模塊，數(shù)
據(jù)庫(kù)模塊儲(chǔ)存測(cè)試參數(shù)，數(shù)據(jù)處理模塊同時(shí)處理各測(cè)試機(jī)臺(tái)采集的 測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試并檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。
一種便攜式電子裝置測(cè)試方法，該方法包括以下步驟提供一 種便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)包括 一 數(shù) 據(jù)處理器及若干測(cè)試機(jī)臺(tái)，該若干測(cè)試機(jī)臺(tái)同時(shí)與該數(shù)據(jù)處理器連 接；該數(shù)據(jù)處理器包括一數(shù)據(jù)庫(kù)模塊及一數(shù)據(jù)處理模塊，數(shù)據(jù)庫(kù)模 塊儲(chǔ)存測(cè)試參數(shù)，數(shù)據(jù)處理模塊同時(shí)處理各測(cè)試機(jī)臺(tái)采集的測(cè)試數(shù) 據(jù)，^人而進(jìn)4亍產(chǎn)品測(cè)試并沖全測(cè)各測(cè)試才幾臺(tái)的狀態(tài)；完成上迷^f更攜式 電子裝置測(cè)試系統(tǒng)的組裝并開(kāi)啟上述便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)中數(shù) 據(jù)處理器及各測(cè)試機(jī)臺(tái)的電源；對(duì)上述便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)進(jìn) 行初始化；將待測(cè)試的便攜式電子裝置置于各測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)，進(jìn)行產(chǎn) 品測(cè)試工作；各測(cè)試機(jī)臺(tái)將測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng) 一 傳送至數(shù)據(jù)處理模塊進(jìn)行 分析處理，得出測(cè)試結(jié)果并檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)中多 個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)只需連接到同一個(gè)數(shù)據(jù)處理器，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于組裝； 本發(fā)明提供的便攜式電子裝置測(cè)試方法使用同 一 個(gè)數(shù)據(jù)處理器即可 同時(shí)控制多個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試工作，安裝測(cè)試程序及設(shè)置測(cè) 試參數(shù)可以在該數(shù)據(jù)處理器上統(tǒng)一設(shè)置，明顯地節(jié)省了勞動(dòng)時(shí)間， 同時(shí)便于通過(guò)相互比較來(lái)檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。


圖1為本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)方塊圖。
圖2為本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例中數(shù)據(jù)處理 器的功能模塊圖。
圖3為本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例中任一測(cè)試 機(jī)臺(tái)與數(shù)據(jù)處理器相連接的方塊圖。
圖4為本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試方法較佳實(shí)施例的工作步驟
流程圖。
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參閱圖1,本發(fā)明便攜式電于裝置測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例包括 一數(shù)據(jù)處理器1及若干測(cè)試機(jī)臺(tái)2。數(shù)據(jù)處理器1為計(jì)算機(jī)等數(shù)據(jù)
處理裝置，該數(shù)據(jù)處理器1與所有測(cè)試機(jī)臺(tái)2連接。
請(qǐng)參閱圖2，數(shù)據(jù)處理器1包括一網(wǎng)卡10、 一輸入/輸出模塊 11、 一數(shù)據(jù)庫(kù)模塊12、 一數(shù)據(jù)處理模塊13、 一指令模塊14及一顯 示模塊15。網(wǎng)卡10將各測(cè)試機(jī)臺(tái)2同時(shí)與數(shù)據(jù)處理器1連接，使 數(shù)據(jù)處理器1與所有測(cè)試機(jī)臺(tái)2構(gòu)成一局域網(wǎng)。輸入/輸出模塊11 用于在數(shù)據(jù)處理器1與各測(cè)試機(jī)臺(tái)2之間傳輸數(shù)據(jù)及指令。數(shù)據(jù)庫(kù) 模塊12用于安裝初始測(cè)試程序、設(shè)置及儲(chǔ)存測(cè)試參數(shù)。數(shù)據(jù)處理模 塊13用于處理各測(cè)試機(jī)臺(tái)2采集的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試并同時(shí) 檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)2的狀態(tài)。指令模塊14用于對(duì)各測(cè)試機(jī)臺(tái)2進(jìn)行遠(yuǎn) 程控制。顯示模塊15用于顯示測(cè)試結(jié)果及各測(cè)試機(jī)臺(tái)2的狀態(tài)。
請(qǐng)一并參閱圖3，每一測(cè)試機(jī)臺(tái)2包括一數(shù)據(jù)采集裝置22及一 與該數(shù)據(jù)釆集裝置22相連接的接口 24。數(shù)據(jù)采集裝置22包括一測(cè) 試電源221、 一測(cè)試治具222及 一 萬(wàn)用表223 。其中測(cè)試電源221 與測(cè)試治具222相連接，測(cè)試治具222與萬(wàn)用表223相連接，萬(wàn)用 表223與接口 24相連接。每一接口 24均與數(shù)據(jù)處理器1的網(wǎng)卡10 相連接，可在測(cè)試機(jī)臺(tái)2與數(shù)據(jù)處理器l之間傳輸數(shù)據(jù)及指令。
請(qǐng)參閱圖4，本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試方法的較佳實(shí)施例即 使用該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)對(duì)便攜式電子裝置產(chǎn)品進(jìn)行性能測(cè) 試。該本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試方法的較佳實(shí)施例主要包括以下 步驟
對(duì)本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行組裝，將所有測(cè)試機(jī)臺(tái) 2的接口 24均連接至數(shù)據(jù)處理器1的網(wǎng)卡10上(步驟Sl )。
完成組裝后，開(kāi)啟該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)中數(shù)據(jù)處理器1 及各測(cè)試機(jī)臺(tái)2的電源(步驟S2)。
開(kāi)始對(duì)該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行初始化(步驟S3);其 具體方法是通過(guò)數(shù)據(jù)處理器1的數(shù)據(jù)庫(kù)模塊12安裝初始測(cè)試程序
(步驟S301)并i殳置測(cè)試參數(shù)(步驟S302 )?？梢岳斫?，若該便攜 式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)并非初次使用，測(cè)試程序已經(jīng)儲(chǔ)存在系統(tǒng)內(nèi)， 則步驟S301可以省略，直接執(zhí)行步驟S302即可完成系統(tǒng)初始化。 系統(tǒng)初始化完成后，即可開(kāi)始產(chǎn)品測(cè)試工作(步驟S4 )。開(kāi)啟 各測(cè)試電源221 (步驟S401),分別將多個(gè)待測(cè)試的便攜式電子裝 置產(chǎn)品以正確的方式安放于各測(cè)試機(jī)臺(tái)2的測(cè)試治具222內(nèi)(步驟 S402 )，然后通過(guò)指令模塊14操縱各測(cè)試治具222及各萬(wàn)用表223， 令各萬(wàn)用表223通過(guò)測(cè)試治具222依次接通產(chǎn)品內(nèi)部待測(cè)試的各類 電路，按照測(cè)試程序采集產(chǎn)品內(nèi)部各類電路的電壓、電流及電阻等 測(cè)試數(shù)據(jù)(步驟S403 )。
每一測(cè)試機(jī)臺(tái)2將產(chǎn)品的測(cè)試數(shù)據(jù)采集完畢后，即通過(guò)接口 24 將測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)一傳送至輸入/輸出模塊11,然后輸入/輸出模塊11將 各測(cè)試機(jī)臺(tái)2采集的測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至數(shù)據(jù)處理模塊13進(jìn)行分析處理
(步驟S5 ),數(shù)據(jù)處理模塊13同時(shí)將各測(cè)試機(jī)臺(tái)2采集的測(cè)試數(shù)據(jù) 與數(shù)據(jù)庫(kù)模塊12內(nèi)儲(chǔ)存的測(cè)試參數(shù)進(jìn)行比較，若產(chǎn)品測(cè)試數(shù)據(jù)未超 過(guò)測(cè)試參數(shù)規(guī)定的合格范圍，則該產(chǎn)品可以通過(guò)測(cè)試，反之則不能 通過(guò)測(cè)試。
在對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)，數(shù)據(jù)處理模塊13也將各測(cè)試機(jī)臺(tái)2 采集的同類測(cè)試數(shù)據(jù)及得出的測(cè)試結(jié)果互相進(jìn)行比較以檢測(cè)各測(cè)試 機(jī)臺(tái)2的狀態(tài)(步驟S501 ),若某測(cè)試機(jī)臺(tái)2采集的測(cè)試數(shù)據(jù)與其 他測(cè)試機(jī)臺(tái)2采集的同類測(cè)試數(shù)據(jù)存在超過(guò)預(yù)先設(shè)定的測(cè)試參數(shù)范 圍的較大偏差，或測(cè)試結(jié)果表明該測(cè)試機(jī)臺(tái)2的測(cè)試通過(guò)率與其他 測(cè)試機(jī)臺(tái)2的測(cè)試通過(guò)率存在較大偏差，則通過(guò)顯示模塊15顯示該 測(cè)試機(jī)臺(tái)2狀態(tài)異常(步驟S502 )，此時(shí)可以通過(guò)指令模塊14操縱 該測(cè)試機(jī)臺(tái)暫時(shí)停止工作(步驟S503 ),以防止較大數(shù)量的產(chǎn)品出 現(xiàn)測(cè)試失誤，也可提醒操作人員及時(shí)地進(jìn)行檢測(cè)及維修以及時(shí)排除 故障(步驟S504 )，維修成功后可返回步驟S4，繼續(xù)完成以下各步 驟的測(cè)試工作。
每個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試結(jié)杲通過(guò)顯示模塊15進(jìn)行顯示(步驟S505 )。 在測(cè)試機(jī)臺(tái)2正常工作的情況下，一個(gè)產(chǎn)品測(cè)試完畢后，系統(tǒng)可由 人工操作或程序自動(dòng)判斷是否還有待測(cè)試產(chǎn)品(步驟S6)。若還有
其他待測(cè)試產(chǎn)品，則返回步驟S402，向測(cè)試治具222內(nèi)安放下一個(gè) 產(chǎn)品開(kāi)始新一輪測(cè)試，如此重復(fù)步驟S402至步驟S505,直至沒(méi)有 剩余的待測(cè)產(chǎn)品，即可結(jié)束本次測(cè)試工作。
可以理解，測(cè)試機(jī)臺(tái)2上的數(shù)據(jù)采集裝置22還可以裝配測(cè)力計(jì)、 傳感器、影像感測(cè)器等測(cè)量裝置，這樣即可使用本發(fā)明便攜式電子 裝置測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例及本發(fā)明便攜式電子裝置測(cè)試方法較佳實(shí) 施例來(lái)進(jìn)行便攜式電子裝置的結(jié)構(gòu)力學(xué)測(cè)試及帶有拍攝功能的便攜 式電子裝置的光學(xué)性能測(cè)試，只要將上述各種測(cè)量裝置均通過(guò)接口 24與數(shù)據(jù)處理器1相連，使上述各種測(cè)量裝置采集的各類測(cè)試數(shù)據(jù) 均可以通過(guò)數(shù)據(jù)處理器1進(jìn)行處理及顯示即可。
權(quán)利要求
1.一種便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，包括一數(shù)據(jù)處理器，其特征在于該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)一步包括若干測(cè)試機(jī)臺(tái)，該若干測(cè)試機(jī)臺(tái)分別與該數(shù)據(jù)處理器連接；該數(shù)據(jù)處理器包括一數(shù)據(jù)庫(kù)模塊及一數(shù)據(jù)處理模塊，數(shù)據(jù)庫(kù)模塊儲(chǔ)存測(cè)試參數(shù)，數(shù)據(jù)處理模塊同時(shí)處理各測(cè)試機(jī)臺(tái)采集的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試并檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。
2. 如權(quán)利要求1所述的便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于 所述數(shù)據(jù)處理器進(jìn)一步包括一輸入/輸出模塊、 一指令模塊及一顯示 模塊；輸入/輸出模塊用于在數(shù)據(jù)處理器與各測(cè)試機(jī)臺(tái)之間傳輸數(shù)據(jù) 及指令，指令模塊用于對(duì)各測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，顯示模塊用于 顯示測(cè)試數(shù)據(jù)及各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。
3. 如權(quán)利要求1所述的便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于 所述數(shù)據(jù)處理器進(jìn)一步包括一 網(wǎng)卡，該網(wǎng)卡分別與所有測(cè)試機(jī)臺(tái)相 連接。
4. 如權(quán)利要求3所述的便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于 所述測(cè)試機(jī)臺(tái)包括一數(shù)據(jù)采集裝置及一接口 ，該數(shù)據(jù)采集裝置與該 接口相連接。
5. 如權(quán)利要求4所述的便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于 所述數(shù)據(jù)采集裝置包括一測(cè)試電源、 一測(cè)試治具及一萬(wàn)用表，其中 測(cè)試電源與測(cè)試治具相連接，測(cè)試治具與萬(wàn)用表相連接。
6. 如權(quán)利要求5所述的便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于 所述數(shù)據(jù)采集裝置通過(guò)所述萬(wàn)用表與所述接口相連接，接口與所述 網(wǎng)卡相連接。
7. —種便攜式電子裝置測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括以 下步驟提供 一 種便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，該便攜式電子裝置測(cè)試系 統(tǒng)包括一數(shù)據(jù)處理器及若干測(cè)試機(jī)臺(tái)，該若千測(cè)試機(jī)臺(tái)分別與該數(shù) 據(jù)處理器連接；該數(shù)據(jù)處理器包括一數(shù)據(jù)庫(kù)模塊及一數(shù)據(jù)處理模塊， 數(shù)據(jù)庫(kù)模塊儲(chǔ)存測(cè)試參數(shù)，數(shù)據(jù)處理模塊同時(shí)處理各測(cè)試機(jī)臺(tái)采集 的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試并檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)；完成上述便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)的組裝并開(kāi)啟上述便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)中數(shù)據(jù)處理器及各測(cè)試機(jī)臺(tái)的電源； 對(duì)上述便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行初始化； 將待測(cè)試的產(chǎn)品置于各測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試工作； 各測(cè)試機(jī)臺(tái)將測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng) 一 傳送至數(shù)據(jù)處理模塊進(jìn)行分析處理，得出測(cè)試結(jié)果并檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。
8. 如權(quán)利要求7所述的便攜式電子裝置測(cè)試方法，其特征在于 所述數(shù)據(jù)處理器進(jìn)一步包括一網(wǎng)卡、 一輸入/輸出模塊、 一指令模塊 及一顯示模塊；網(wǎng)卡將數(shù)據(jù)處理器與所有測(cè)試機(jī)臺(tái)同時(shí)連接；輸入/ 輸出模塊用于在數(shù)據(jù)處理器與各測(cè)試機(jī)臺(tái)之間傳輸數(shù)據(jù)及指令，指 令模塊用于對(duì)各測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，顯示模塊用于顯示測(cè)試數(shù) 據(jù)及各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。
9. 如權(quán)利要求8所述的便攜式電子裝置測(cè)試方法，其特征在于 所述測(cè)試機(jī)臺(tái)包括一數(shù)據(jù)采集裝置及一接口 ，該數(shù)據(jù)采集裝置與該 接口相連接。
10. 如權(quán)利要求9所述的便攜式電子裝置測(cè)試方法，其特征在于 所述數(shù)據(jù)采集裝置包括一測(cè)試電源、 一測(cè)試治具及一萬(wàn)用表，其中 測(cè)試電源與測(cè)試治具相連4妻，測(cè)試治具通過(guò)萬(wàn)用表與所述4妄口相連 接，接口與所述網(wǎng)卡相連接。
全文摘要
一種便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)包括一數(shù)據(jù)處理器及若干測(cè)試機(jī)臺(tái)，該若干測(cè)試機(jī)臺(tái)分別與該數(shù)據(jù)處理器連接；該數(shù)據(jù)處理器包括一數(shù)據(jù)庫(kù)模塊及一數(shù)據(jù)處理模塊，數(shù)據(jù)庫(kù)模塊儲(chǔ)存測(cè)試參數(shù)，數(shù)據(jù)處理模塊同時(shí)處理各測(cè)試機(jī)臺(tái)采集的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試并檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。一種便攜式電子裝置測(cè)試方法即使用該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。該便攜式電子裝置測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于組裝；該便攜式電子裝置測(cè)試方法節(jié)省時(shí)間，同時(shí)便于檢測(cè)各測(cè)試機(jī)臺(tái)的狀態(tài)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101105514SQ20061006164
公開(kāi)日2008年1月16日 申請(qǐng)日期2006年7月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月14日
發(fā)明者弘 單, 輝 牛, 賈鐵山, 魏兆鴻 申請(qǐng)人:深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司