專利名稱：閃爍活度計的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于核技術(shù)應(yīng)用、計量器具領(lǐng)域，具體涉及一種閃爍活度計。
背景技術(shù)：
活度計為測量放射性活度的儀器，它廣泛應(yīng)用于核科研教學(xué)、核技術(shù)應(yīng)用，特別是核醫(yī)療機構(gòu)等。
現(xiàn)有活度計的探測器為電離室，其探測方法是將待測的放射源置入密封電離室，通過大約800v的高電壓將正負(fù)離子分開，以形成直流信號輸出，直流信號大小與放射源的活度在一定范圍內(nèi)成線性，輸出的直流信號通過放大器放大，再進行數(shù)據(jù)處理及顯示，可測得放射源的活度。現(xiàn)有的活度計存在的問題是由于電離室靈敏度較低，所以該活度計的探測器一般采用充以高氣壓、質(zhì)量數(shù)較大氣體的密封電離室，又由于電離室的復(fù)合效應(yīng)，線性范圍比較窄，為了擴大線性范圍就需要較高的工作電壓，這種活度計原則上只能測量光子，而不能測量α、β帶電粒子，高氣壓電離室器壁比較厚，因而測量光子的截止能閾較高，對測量發(fā)射低能光子核素的效率也比較低。因為它能測量核素的種類很多，需要用更多的標(biāo)準(zhǔn)源來標(biāo)定刻度系數(shù)所以價格昂貴，又因為該活度計電離室需要真空密封，加工工藝難度大，費用高，中小型醫(yī)院接受困難。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對現(xiàn)有的活度計工作電壓高，需要充高壓氣體，測量粒子種類少，截止能閾高以及成本高等問題，提供一種能夠測量多種粒子、活度范圍較大的活度計。
一種閃爍活度計，包括探頭支架，另外在支架上設(shè)有分壓電阻，分壓電阻上設(shè)有光電倍增管，在光電倍增管上設(shè)有閃爍體，在探頭支架下面設(shè)有與光電倍增管的陽極相連接的信號輸出接頭和通過分壓電阻與光電倍增管相連的高壓接頭。
通過上述解決方案可以看出，由于探測器探頭用的是閃爍晶體，而不是器壁比較厚的電離室，這樣一來對待測核素的截止能閾以及工作電壓均降低，也可測量α、β帶電粒子，對測量發(fā)射低能光子核素的效率也比較高，由于使用了光電倍增管，且可以測出脈沖信號，使得探測器的靈敏度提高。根據(jù)測量核素種類的不同可以選用不同晶體作為探測器來測量，這樣大大降低了成本，對于中小型、縣級醫(yī)院更經(jīng)濟、實用。


附圖是閃爍活度計側(cè)面剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中，1.探頭蓋、2.閃爍體、3.光電倍增管、4.探頭壁、5.探頭支架、6.信號輸出接頭、7.高壓接頭、8.晶體井、9.待測放射源、10.分壓電阻。
具體實施例方式
下面將結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步的闡述。
如圖所示在探頭支架5上設(shè)有由分壓電阻10、光電倍增管3和閃爍體2順次緊密連接組成的組合體，該組合體置于圓柱環(huán)形的探頭壁4內(nèi)，探頭壁4上設(shè)有探頭蓋1，探頭壁4和探頭蓋1使用的材料和以往活度計中外殼使用的材料相同，只是由于不需要承受高壓氣體的壓力，所以其厚度可以大大減小。上面所說的分壓電阻10是用來對光電倍增管分壓的。光電倍增管3選用的通用的型號的光陰極與閃爍體相接，閃爍體2可以選用有機閃爍體，也可以選用無機閃爍體。所使用的閃爍體2為固體時其大小尺寸按照固定規(guī)格制造，并且在閃爍體2上設(shè)有一個凹槽，該凹槽稱為晶體井8。待測放射源9就置于晶體井8中。當(dāng)使用的閃爍體2為液體時，將裝有液態(tài)的閃爍體2的容器直接放在由光電倍增管3和探頭壁4組成的空腔內(nèi)，并且閃爍體2的使用量要沒過待測放射源9。另外在探頭支架5的預(yù)留孔中還引出兩個接頭，這兩個接頭分別是信號輸出接頭6和高壓接頭7。光電倍增管(3)的陽極通過信號輸出接頭6與計算機相連接，高壓接頭(7)接300V～500V的高壓電，該電壓為光電倍增管的工作電壓。
當(dāng)要對某種放射源進行檢測的時候，首先選擇閃爍體2。一般來說測量帶電粒子的時候閃爍體2選用有機閃爍體，測量γ射線的時候閃爍體2選用無機閃爍體，但唯一的特例是硫化鋅被用來測量帶電粒子。根據(jù)經(jīng)驗在測量不同的射線的時候，選用的閃爍體2也不同，測量α射線閃爍體2可以選用硫化鋅(銀)晶體、蒽晶體或者塑料閃爍體中的任意一種；測量β射線閃爍體2可以選用蒽晶體、三聯(lián)苯晶體、塑料閃爍體或者液體閃爍體中的任意一種；測量γ射線閃爍體2可以選用碘化鈉(鉈)晶體、碘化銫(鉈)晶體或者鍺酸鉍晶體；測量中子閃爍體2可以選用碘化鋰(銪)晶體、塑料閃爍體或者液體閃爍體中的任意一種。上面所述的塑料閃爍體和液體閃爍體選用的是可以從市場上買到任何一個型號。根據(jù)選擇的閃爍體2，將待測放射源9放到閃爍體2的晶體井8中或置于液態(tài)的閃爍體2內(nèi)。通過高壓接頭7和分壓電阻10對光電倍增管3加電壓300～500V。由待測放射源9發(fā)出的射線透過閃爍體2時，使其發(fā)生閃爍現(xiàn)象，發(fā)出光子，這些光子打擊在光電倍增管3的光陰極上將使光陰極放出光電子。因為光電倍增管3各倍增電極被光電子轟擊時會打出3～6倍的光電子，而在各倍增極上又依次加有遞增的正電壓，所以光陰極發(fā)出的電子將在倍增極間不斷加速與增殖，產(chǎn)生足夠大的信號，以形成直流信號或脈沖信號輸出；當(dāng)待測放射源9的活度很小的時候測量的是脈沖信號，當(dāng)待測放射源9的活度很大的時候測量的是直流信號，直流信號或脈沖信號大小與放射源的活度在一定范圍內(nèi)成線性，輸出的直流信號或脈沖信號通過放大后，就可以經(jīng)由信號輸出接頭6輸出給計算機進行數(shù)據(jù)處理及顯示，所得到的數(shù)據(jù)即為放射源的活度。
權(quán)利要求
1.一種閃爍活度計，包括探頭支架(5)，其特征在于支架(5)上設(shè)有分壓電阻(10)，分壓電阻(10)上設(shè)有光電倍增管(3)，在光電倍增管(3)上設(shè)有閃爍體(2)，在探頭支架(5)下面設(shè)有與光電倍增管(3)的陽極相連接的信號輸出接頭(6)和通過分壓電阻與光電倍增管(3)相連的高壓接頭(7)。
2.如權(quán)利要求1所述的閃爍活度計，其特征在于在分壓電阻(10)、光電倍增管(3)和閃爍體(2)外面設(shè)有探頭壁(4)；在探頭壁(4)上設(shè)有探頭蓋(1)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的閃爍活度計，其特征在于所說的閃爍體(2)是硫化鋅(銀)晶體或葸晶體或者塑料閃爍體或三聯(lián)苯晶體或液體閃爍體或碘化鈉(鉈)晶體或碘化銫(鉈)晶體或鍺酸鉍晶體或用碘化鋰(銪)晶體中的一種。
全文摘要
本發(fā)明屬于核技術(shù)應(yīng)用、計量器具領(lǐng)域，具體涉及一種閃爍活度計。該活度計包括探頭支架，另外在支架上設(shè)有分壓電阻，分壓電阻上設(shè)有光電倍增管，在光電倍增管上設(shè)有閃爍體，在探頭支架下面設(shè)有與光電倍增管的陽極相連接的信號輸出接頭和通過分壓電阻與光電倍增管相連的高壓接頭。由于探測器探頭用的是閃爍晶體，而不是器壁比較厚的電離室，這樣一來對待測核素的截止能閾以及工作電壓均降低，也可測量α、β帶電粒子，對測量發(fā)射低能光子核素的效率也比較高，由于使用了光電倍增管，且可以測出脈沖信號，使探測器的靈敏度提高。根據(jù)測量核素種類的不同可以選用不同晶體作為探測器來測量，大大降低了成本，對于中小型、縣級醫(yī)院更經(jīng)濟、實用。
文檔編號G01T1/20GK1952689SQ20051010921
公開日2007年4月25日 申請日期2005年10月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月19日
發(fā)明者姚歷農(nóng), 顏素娟, 張文在, 綦杰 申請人:原子高科股份有限公司