專利名稱：一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明對(duì)符合法測(cè)量活度的原理進(jìn)行了全新闡述，并將符合法應(yīng)用于放射性氣體 核素活度測(cè)量中，屬于放射性核素活度測(cè)量范疇，具體涉及到一種氣體放射性活度測(cè)量方 法及測(cè)量裝置。
背景技術(shù)：
對(duì)于氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量，國(guó)內(nèi)外采用長(zhǎng)度補(bǔ)償法測(cè)量。長(zhǎng)度補(bǔ)償法的基本原 理是采用兩根長(zhǎng)度不同但其它條件均相同的內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管記錄管內(nèi)放射性核素發(fā)射 的粒子，以兩根管子體積差之中的氣體比活度作為待測(cè)氣體核素的放射性比活度。其具體 做法是對(duì)單根計(jì)數(shù)管作壁效應(yīng)、下閾、死時(shí)間、本底等因素校正后，將長(zhǎng)管和短管測(cè)量的計(jì) 數(shù)率相減，相當(dāng)于端效應(yīng)校正后得到電場(chǎng)均勻分布空間體積(均勻效率體積)的計(jì)數(shù)率，此 計(jì)數(shù)率與其體積之比就是氣體核素的比活度。該方法在理論上存在缺陷，表現(xiàn)在假定均勻 效率體積內(nèi)探測(cè)效率為100%，實(shí)驗(yàn)中這個(gè)條件隨著β射線的能量增高很可能無法得到保 證，從而得到的比活度偏低。此外，修正項(xiàng)太多，而且壁效應(yīng)和下閾修正項(xiàng)的解決方法也有 待商榷。符合法絕對(duì)測(cè)量放射性活度已經(jīng)有六十多年，但沒有應(yīng)用于氣體核素活度絕對(duì)測(cè) 量，主要是國(guó)內(nèi)外公知的符合方法原理是從級(jí)聯(lián)事件本身敘述，在理論上沒有完全正確認(rèn) 識(shí)符合方法原理，導(dǎo)致符合法應(yīng)用范圍受到限制，沒有將符合法用于氣體核素活度絕對(duì)測(cè) 量中。符合法測(cè)量氣體核素活度與長(zhǎng)度補(bǔ)償法比較有許多優(yōu)點(diǎn)，盡管國(guó)外文獻(xiàn)報(bào)道過一些 采用符合技術(shù)來分析氣體核素組分和利用核素分支比相對(duì)測(cè)量活度，但沒有采用符合法絕 對(duì)測(cè)量氣體核素活度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量方法及裝置，其解決了現(xiàn) 有長(zhǎng)度補(bǔ)償法對(duì)某些高能β射線氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量比活度可能偏低的技術(shù)問題，同 時(shí)也是氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量的新方法。本發(fā)明的技術(shù)解決方案為一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量方法，其特殊之處在于其包括以下步驟1]建立氣體核素符合測(cè)量裝置將內(nèi)充氣β射線探測(cè)器置于Y射線探測(cè)器內(nèi) (中心部位)，并與符合儀分別連接；2]樣品制備將氣體核素樣品和工作氣體在混氣裝置中混合均勻后，充入內(nèi)充氣 β射線探測(cè)器內(nèi)，使混合氣體壓力保持在1. 5 2. 0個(gè)大氣壓；3]裝置調(diào)試采用示波器觀察各道信號(hào)是否正常和下閾設(shè)置是否合理，下閾設(shè)置 確保不讓噪聲進(jìn)入測(cè)量道；4]裝置性能參數(shù)測(cè)定對(duì)裝置進(jìn)行坪曲線測(cè)量、本底測(cè)量和符合分辨時(shí)間測(cè)量；5]測(cè)量氣體放射性體源，并計(jì)算比活度
5. 1] β道和Y道計(jì)數(shù)率的本底扣除采用下列公式扣除測(cè)量的β道和Y道計(jì)數(shù)率的本底N0 = N'廠NebNy =N' Y-NYb式中Ne、NY分別表示扣除本底計(jì)數(shù)率后β道和Y道的計(jì)數(shù)率；Ν、、Ν\分別表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的β道和Y道計(jì)數(shù)率；Neb、NYb分別表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量的β道和、道的本底計(jì)數(shù)率；5. 2]符合道計(jì)數(shù)率的本底及偶然符合的扣除采用下列校正公式對(duì)符合道計(jì)數(shù)率進(jìn)行本底和偶然符合的扣除Nc = N' c-Ncb-2 · τ · N' e · N' γ式中Ν。表示扣除本底和偶然符合后的符合道計(jì)數(shù)率；N"。表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的符合道計(jì)數(shù)率；Ncb表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量符合道的本底計(jì)數(shù)率；τ表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量的符合分辨時(shí)間；N、、分別表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的β道和Y道計(jì)數(shù)率；5. 3]活度計(jì)算采用下列公式計(jì)算一次符合測(cè)量時(shí)氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度<formula>formula see original document page 5</formula>式中Α表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度；Ne、NY分別表示扣除本底計(jì)數(shù)率后β道和Y道的計(jì)數(shù)率；Nc表示扣除本底和偶然符合后的符合道計(jì)數(shù)率；5. 4]比活度計(jì)算采用下列公式計(jì)算氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的比活度可以<formula>formula see original document page 5</formula>式中AV表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的比活度；A表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度；V表示計(jì)數(shù)管的體積。上述內(nèi)充氣β射線探測(cè)器為氣體計(jì)數(shù)管，所述、射線探測(cè)器為NaI (Tl)探測(cè)器。一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量裝置，包括Y射線探測(cè)器、放置在Y射線探測(cè) 器內(nèi)的內(nèi)充氣β射線探測(cè)器、設(shè)置在、射線探測(cè)器外的鉛屏蔽體、用于對(duì)內(nèi)充氣β射線 探測(cè)器和Y射線探測(cè)器進(jìn)行計(jì)數(shù)的符合法測(cè)量單元；所述內(nèi)充氣β射線探測(cè)器內(nèi)充入氣 體核素樣品和工作氣體的混合氣體。上述測(cè)量裝置還包括用于移動(dòng)氣體計(jì)數(shù)管的移動(dòng)裝置。上述內(nèi)充氣β射線探測(cè)器為氣體計(jì)數(shù)管，所述、射線探測(cè)器為NaI (Tl)探測(cè)器。上述NaI (Tl)探測(cè)器為環(huán)型NaI (Tl)探測(cè)器；所述氣體計(jì)數(shù)管為內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管。本發(fā)明的技術(shù)效果為
1、本發(fā)明對(duì)符合方法原理在認(rèn)識(shí)上突破后，將符合法應(yīng)用于氣體核素活度絕對(duì)測(cè) 量，將內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管置于環(huán)型NaI (Tl)探測(cè)器內(nèi)，保證了 Y探測(cè)器觀察點(diǎn)抽樣的均勻 性，并設(shè)計(jì)建立了相應(yīng)的裝置開展了氣體活度絕對(duì)測(cè)量。2、符合方法測(cè)量氣體核素時(shí)，采用雙探測(cè)器的符合測(cè)量具有突出優(yōu)點(diǎn)，與長(zhǎng)度補(bǔ)償法相比，雙探測(cè)器符合測(cè)量時(shí)有下面優(yōu)點(diǎn)(1)不需要做死時(shí)間修正(包括探測(cè)器的死時(shí) 間)；(2)不需要做計(jì)數(shù)管甄別下閾的修正；(3)不需要做計(jì)數(shù)管壁效應(yīng)的修正；(4)不需要 做計(jì)數(shù)管端效應(yīng)的修正。上面四個(gè)方面的修正對(duì)于單探測(cè)器的長(zhǎng)度補(bǔ)償法測(cè)量來說，修正 量都是絕對(duì)影響測(cè)量結(jié)果，是必須要修正的，而且應(yīng)該盡量作到準(zhǔn)確修正，但對(duì)于雙探測(cè)器 的符合測(cè)量來說，這些校正都不用做，雖然內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管沒有記錄到由于上面四個(gè)因 素影響的衰變事件，但是另一個(gè)NaI (Tl)探測(cè)器記錄到這些衰變事件的部分Y射線，根據(jù) 符合方法原理在數(shù)學(xué)上的概率統(tǒng)計(jì)理論可知，這些因素僅僅造成兩個(gè)觀察點(diǎn)抽到樣品數(shù)目 的減少，這些修正本身就體現(xiàn)在符合測(cè)量過程中，所以沒有必要另外做專門修正。
圖1是本發(fā)明符合法測(cè)量氣體核素活度裝置示意圖；附圖標(biāo)記如下1-內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管，2-環(huán)型NaI (Tl)探測(cè)器，3_鉛屏蔽體，4_升 降支架，5-高壓電源，6-前置放大器，7-放大器，8-單道分析器，9-相加器，10-延遲儀， 11-符合儀，12-定標(biāo)器，13-DCC工控機(jī)。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明方法的數(shù)學(xué)理論基礎(chǔ)符合測(cè)量方法的基本原理是基于事件之間的概率關(guān)系，當(dāng)對(duì)一個(gè)樣本空間Ntl進(jìn)行 兩次隨機(jī)獨(dú)立抽樣，在分別記錄抽樣結(jié)果N0和\的同時(shí)，記錄兩次抽樣的相同結(jié)果N。，那 么兩次獨(dú)立抽樣的概率分別為 <formula>formula see original document page 6</formula>
兩次獨(dú)立抽樣后相同事件發(fā)生的概率為<formula>formula see original document page 6</formula>
根據(jù)事件之間的概率關(guān)系，如果兩次抽樣完全獨(dú)立，且每次抽樣的隨機(jī)均勻性很 好，那么有<formula>formula see original document page 6</formula>
所以<formula>formula see original document page 6</formula>
從上面可以看出，符合方法認(rèn)識(shí)事物理論上應(yīng)該遵循的三個(gè)基本條件1、兩次抽樣(即兩個(gè)觀察點(diǎn))必須獨(dú)立，否則認(rèn)識(shí)會(huì)出現(xiàn)很大偏差。2、兩次抽樣要盡量保證隨機(jī)均勻性，至少其中一次抽樣要保證。
3、為了提高認(rèn)識(shí)的可靠性，在保證隨機(jī)均勻性的同時(shí)，兩次抽樣(即兩個(gè)觀察點(diǎn))的數(shù)目在IO4以上。對(duì)于氣體核素活度測(cè)量來說，本發(fā)明方法將氣體核素在一段時(shí)間內(nèi)的總衰變看作 一個(gè)樣本空間，計(jì)數(shù)管作為一個(gè)觀察點(diǎn)來抽樣，環(huán)形NaI (Tl)探測(cè)器2作為另一個(gè)觀察點(diǎn)來 抽樣，采用符合儀11來記錄兩個(gè)觀察點(diǎn)的相同事件，根據(jù)符合方法原理，就可以得到氣體 核素在這段時(shí)間內(nèi)的總衰變數(shù)，也就得到了活度。本發(fā)明測(cè)量裝置包括用于探測(cè)β射線的計(jì)數(shù)管和用于測(cè)量Y射線的環(huán)型 NaI (Tl)探測(cè)器2，計(jì)數(shù)管形狀為圓柱體型，管壁為黃銅材料制作，外徑為Φ45，圓柱外觀總 長(zhǎng)114mm(不含進(jìn)氣閥附件尺寸)，體積為155. 9ml ；環(huán)型NaI (Tl)探測(cè)器2內(nèi)徑為Φ 100_， 外徑為Φ 300mm，長(zhǎng)為400mm。內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管1置于環(huán)型NaI (Tl)探測(cè)器2內(nèi)，整個(gè)探 測(cè)器置于鉛屏蔽體3內(nèi)。原則上氣體計(jì)數(shù)管相對(duì)環(huán)型NaI (Tl)探測(cè)器2形成的立體角越大越好，如果能將 氣體計(jì)數(shù)管置于球型Y探測(cè)器內(nèi)，保證氣體計(jì)數(shù)管相對(duì)球型Y探測(cè)器形成的立體角為 4 π，則是理想的裝置探測(cè)條件。本發(fā)明所采用的處理電路為包括依次連接的高壓電源5、前置放大器6、放大器 7、相加器9、單道分析器8、符合儀11、延遲儀10、單道分析器8、放大器7、前置放大器6、高 壓電源5，與符合儀11并聯(lián)有定標(biāo)器12和DCC工控機(jī)13。本發(fā)明方法具體步驟如下裝置建立在完全理解符合方法原理后，按照?qǐng)D1建立氣體核素符合測(cè)量裝置。將氣體計(jì)數(shù) 管置于環(huán)型NaI (Tl)的中心部位，目的是保證NaI (Tl)探測(cè)器觀察點(diǎn)對(duì)計(jì)數(shù)管內(nèi)核衰變事 件的抽樣均勻，這樣更接近符合法測(cè)量的理想條件。樣品制備將氣體核素樣品和工作氣體在混氣裝置中混合均勻后，充入氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)，通常 使壓力保持在1. 5 2. 0個(gè)大氣壓比較適合測(cè)量。這部分內(nèi)容屬于氣體樣品制備，在氣體 混合和分氣裝置中進(jìn)行，技術(shù)難度不大，屬于常規(guī)技術(shù)。裝置調(diào)試采用示波器觀察各道信號(hào)是否正常和下閾設(shè)置是否合理，下閾設(shè)置確保不要讓噪 聲進(jìn)入測(cè)量道。裝置參數(shù)測(cè)定包括坪曲線測(cè)量、本底測(cè)量和符合分辨時(shí)間測(cè)量(不用測(cè)量死時(shí)間)，這部分內(nèi)容 在原來符合測(cè)量實(shí)驗(yàn)中也測(cè)定，屬于公知內(nèi)容。測(cè)量氣體放射性體源，并計(jì)算比活度1] β道和Υ道計(jì)數(shù)率的本底扣除采用下列公式扣除測(cè)量的β道和Y道計(jì)數(shù)率的本底
<formula>formula see original document page 7</formula>式中Ne、NY分別表示扣除本底計(jì)數(shù)率后β道和Y道的計(jì)數(shù)率；N、、分別表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的β道和Y道計(jì)數(shù)率；
Neb、NYb分別表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量的β道和Y道的本底計(jì)數(shù)率；2]符合道計(jì)數(shù)率的本底及偶然符合的扣除采用下列校正公式對(duì)符合道計(jì)數(shù)率進(jìn)行本底和偶然符合的扣除Nc = N' c-Ncb-2 · τ · N' e · N' γ式中Ν。表示扣除本底和偶然符合后的符合道計(jì)數(shù)率；N"。表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的符合道計(jì)數(shù)率；Ncb表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量符合道的本底計(jì)數(shù)率；τ表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量的符合分辨時(shí)間；N、、分別表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的β道和Y道計(jì)數(shù)率；3]活度計(jì)算采用下列公式計(jì)算一次符合測(cè)量時(shí)氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度<formula>formula see original document page 8</formula>式中Α表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度；Ne、NY分別表示扣除本底計(jì)數(shù)率后β道和Y道的計(jì)數(shù)率；Nc表示扣除本底和偶然符合后的符合道計(jì)數(shù)率；4]比活度計(jì)算采用下列公式計(jì)算氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的比活度可以<formula>formula see original document page 8</formula>
式中AV表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的比活度；A表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度；V表示計(jì)數(shù)管的體積。本發(fā)明測(cè)量結(jié)果的驗(yàn)證自2007年4月開始，申請(qǐng)人開展符合法絕對(duì)測(cè)量氣體核素活度的實(shí)驗(yàn)研究，實(shí)驗(yàn) 中測(cè)量了兩種氣體核素，分別是133Xe和87Kr,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明對(duì)于133Xe的測(cè)量，符合法和長(zhǎng) 度補(bǔ)償法測(cè)量結(jié)果是一致的，具體測(cè)量結(jié)果符合法為119. 3(1 士0. 8% )Bq · ml—1，長(zhǎng)度補(bǔ)償 法為119. 0(1 士0. 8% )Bq ^Γ1。對(duì)于87Kr的測(cè)量，符合法與長(zhǎng)度補(bǔ)償法測(cè)量的比活度結(jié)果 有較大偏差，相差約10%，符合法測(cè)量的比活度結(jié)合HPGe探測(cè)器測(cè)量87Kr的402kev γ射 線的強(qiáng)度，得到87Kr的402kev γ射線的發(fā)射幾率與文獻(xiàn)值一致，表明符合法測(cè)量87Kr的活 度是正確的，此外，通過分析可知，長(zhǎng)度補(bǔ)償法在測(cè)量87Kr時(shí)，由于87Kr發(fā)射的β射線能量 高達(dá)3. 4MeV,導(dǎo)致計(jì)數(shù)管中心均勻電場(chǎng)內(nèi)的探測(cè)效率無法達(dá)到100 %，使得長(zhǎng)度補(bǔ)償法測(cè) 量的比活度偏低(測(cè)量結(jié)果有問題)，而對(duì)于符合法來說，即使計(jì)數(shù)管中心均勻電場(chǎng)內(nèi)的探 測(cè)效率小于100%，由于有另一個(gè)觀察點(diǎn)的探測(cè)器NaI (Tl)的測(cè)量，根據(jù)符合測(cè)量原理，測(cè) 量結(jié)果是可靠的，理論分析和實(shí)驗(yàn)結(jié)果完全一致。
權(quán)利要求
一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量方法，其特征在于其包括以下步驟1]建立氣體核素符合測(cè)量裝置將內(nèi)充氣β射線探測(cè)器置于γ射線探測(cè)器內(nèi)(中心部位)，并與符合儀11分別連接；2]樣品制備將氣體核素樣品和工作氣體在混氣裝置中混合均勻后，充入內(nèi)充氣β射線探測(cè)器內(nèi)，使混合氣體壓力保持在1.5～2.0個(gè)大氣壓；3]裝置調(diào)試采用示波器觀察各道信號(hào)是否正常和下閾設(shè)置是否合理，下閾設(shè)置確保不讓噪聲進(jìn)入測(cè)量道；4]裝置性能參數(shù)測(cè)定對(duì)裝置進(jìn)行坪曲線測(cè)量、本底測(cè)量和符合分辨時(shí)間測(cè)量；5]測(cè)量氣體放射性體源，并計(jì)算比活度5.1]β道和γ道計(jì)數(shù)率的本底扣除采用下列公式扣除測(cè)量的β道和γ道計(jì)數(shù)率的本底Nβ＝N′β-NβbNγ＝N′γ-Nγb式中Nβ、Nγ分別表示扣除本底計(jì)數(shù)率后β道和γ道的計(jì)數(shù)率；N`β、N`γ分別表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的β道和γ道計(jì)數(shù)率；Nβb、Nγb分別表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量的β道和γ道的本底計(jì)數(shù)率；5.2]符合道計(jì)數(shù)率的本底及偶然符合的扣除采用下列校正公式對(duì)符合道計(jì)數(shù)率進(jìn)行本底和偶然符合的扣除Nc＝N′c-Ncb-2·τ·N′β·N′γ式中Nc表示扣除本底和偶然符合后的符合道計(jì)數(shù)率；N`c表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的符合道計(jì)數(shù)率；Ncb表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量符合道的本底計(jì)數(shù)率；τ表示裝置性能參數(shù)測(cè)定時(shí)測(cè)量的符合分辨時(shí)間；N`β、N`γ分別表示氣體核素測(cè)量時(shí)測(cè)量的β道和γ道計(jì)數(shù)率；5.3]活度計(jì)算采用下列公式計(jì)算一次符合測(cè)量時(shí)氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度 <mrow><mi>A</mi><mo>=</mo><mfrac> <mrow><msub> <mi>N</mi> <mi>β</mi></msub><mo>·</mo><msub> <mi>N</mi> <mi>γ</mi></msub> </mrow> <msub><mi>N</mi><mi>c</mi> </msub></mfrac> </mrow>式中A表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度；Nβ、Nγ分別表示扣除本底計(jì)數(shù)率后β道和γ道的計(jì)數(shù)率；Nc表示扣除本底和偶然符合后的符合道計(jì)數(shù)率；5.4]比活度計(jì)算采用下列公式計(jì)算氣體計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的比活度可以 <mrow><msub> <mi>A</mi> <mi>v</mi></msub><mo>=</mo><mfrac> <mi>A</mi> <mi>V</mi></mfrac> </mrow>式中Av表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的比活度；A表示計(jì)數(shù)管內(nèi)氣體核素的活度；V表示計(jì)數(shù)管的體積。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量，其特征在于所述內(nèi)充氣β 射線探測(cè)器為氣體計(jì)數(shù)管，所述Y射線探測(cè)器為NaI (Tl)探測(cè)器。
3.一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量裝置，其特征在于包括Y射線探測(cè)器、放置在 Y射線探測(cè)器內(nèi)的內(nèi)充氣β射線探測(cè)器、設(shè)置在Y射線探測(cè)器外的鉛屏蔽體、用于對(duì)內(nèi)充 氣β射線探測(cè)器和Y射線探測(cè)器進(jìn)行計(jì)數(shù)的符合法測(cè)量單元；所述內(nèi)充氣β射線探測(cè)器 內(nèi)充入氣體核素樣品和工作氣體的混合氣體。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量，其特征在于所述測(cè)量裝置 還包括用于移動(dòng)氣體計(jì)數(shù)管的移動(dòng)裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量裝置，其特征在于所述 內(nèi)充氣β射線探測(cè)器為氣體計(jì)數(shù)管，所述Y射線探測(cè)器為NaI (Tl)探測(cè)器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量裝置，其特征在于所述 NaI(Tl)探測(cè)器為環(huán)型NaI (Tl)探測(cè)器；所述氣體計(jì)數(shù)管為內(nèi)充氣正比計(jì)數(shù)管。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種放射性氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量方法及裝置，其包括以下步驟1]建立氣體核素符合測(cè)量裝置2]樣品制備3]裝置調(diào)試4]裝置性能參數(shù)測(cè)定，5]測(cè)量氣體放射性體源，并計(jì)算比活度，本發(fā)明解決了現(xiàn)有長(zhǎng)度補(bǔ)償法對(duì)某些高能β射線氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量比活度可能偏低的技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種氣體核素活度絕對(duì)測(cè)量的新方法。
文檔編號(hào)G01T1/18GK101806910SQ201010168740
公開日2010年8月18日 申請(qǐng)日期2010年5月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月11日
發(fā)明者代義華, 劉杰, 師全林, 李謀, 白濤, 鐘振原 申請(qǐng)人:西北核技術(shù)研究所