專利名稱：測量顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于測量例如液晶顯示器(LCD)、薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)和有機發(fā)光二級管(OLED)的顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備，更具體而言，本發(fā)明涉及一種用于測量顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備，該設(shè)備能迅速且精確地測量與亮度減小和壽命相關(guān)的特性。
背景技術(shù)：
隨著信息和通信工業(yè)的進步，移動電話、音響、監(jiān)測器、數(shù)字靜態(tài)攝像機、大屏幕電視等已經(jīng)被廣泛使用，因此，已經(jīng)開發(fā)和生產(chǎn)出了各種顯示面板，例如液晶顯示器(LCD，Liquid Crystal Display)、薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD，Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)和有機發(fā)光二級管(OLED，Organic Light Emitting Diode)。
然而，由于這些顯示器盡管有很多優(yōu)點，也存在弊端，所以為了改善這些弊端，嘗試了各種努力。
例如，上述OLED有各種優(yōu)點，例如發(fā)射特性、高效率、寬視角、高響應速度、低功耗等，然而，它也存在弊端，例如與空氣中的水分和氧氣反應而造成器件劣化、電極氧化造成的壽命縮短等。
為了解決這些問題，就要求在顯示面板的顯像過程中找到并觀測這些問題，以提高各種特性和壽命。為此，有必要提供一種用于觀測顯示面板的設(shè)備。
A.B.Chwang等人和K，Yamashita等人已經(jīng)使用采納了有機發(fā)光顯示器的驅(qū)動理論的亮度計或用采納了有發(fā)光二極管的測量設(shè)備測量了器件的電流、電壓和亮度之間的關(guān)系，且已經(jīng)據(jù)此觀測了密封器件的壽命(A.B.Chwang等人，Applied Physics Letters(應用物理快報)83(2003)，413頁；和K，Yamashita等人，Journal of Physics DApplied Physics(物理雜志D應用物理)，34，(2001)，740頁)此外，韓國專利申請No.10-2001-0075499公開了一種使用可在x、y和z軸方向移動的亮度計測量亮度隨電流和電壓變化而變化的方法。
然而，這些方法由于是使用例如亮度計或發(fā)光二極管的光學儀器部分地測量顯示面板，從而不能詳細觀測到顯示面板的整個表面，并且當為了觀測大屏幕顯示面板的特點而沿x軸或y軸掃描時，上述光學儀器將會間歇地測量，從而導致難于在短時間內(nèi)進行分析。此外，由于不可能詳細區(qū)別和分析嚴重影響器件壽命的原因，例如顯示面板中產(chǎn)生并生長的暗點、發(fā)射表面的邊緣衰減、電功率波動引起的均勻性波動等，因此導致難于找到能提高器件壽命的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種測量顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備，該設(shè)備可以觀測和測量顯示面板的整個表面以及一部分像素。
本發(fā)明還涉及一種測量顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備，該設(shè)備可以從顯示面板的亮度和畫面數(shù)字數(shù)據(jù)產(chǎn)生各種物理參數(shù)，并用所述參數(shù)分析顯示面板的壽命。
本發(fā)明的一個方面是提供一種測量顯示面板畫面和壽命的設(shè)備，該設(shè)備包括腔體，其中具有至少一個待測顯示面板，并用于均一地保持內(nèi)部部分的溫度和濕度條件；至少一個相機，該相機安置在所述腔內(nèi)，并用于獲得顯示面板的圖像信號；偏壓電源和測量部件，用于依據(jù)控制信號而提供測量所需的脈沖偏置電壓和電流，以及在顯示面板被驅(qū)動時測量電壓和電流以轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)；用于把通過相機獲得的圖像信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換器；和控制及數(shù)據(jù)處理部件，用于通過接收來自偏壓電源和測量部件及轉(zhuǎn)換器的數(shù)字數(shù)據(jù)而生成參數(shù)，并使用所述參數(shù)分析顯示面板的壽命。
該設(shè)備還可以包括第一開關(guān)部件，用于根據(jù)控制和數(shù)據(jù)處理部件提供的第一控制信號而選擇性地連接偏壓電源和測量部件與顯示面板；以及一個第二開關(guān)部件，用于根據(jù)控制和數(shù)據(jù)處理部件提供的第二控制信號而選擇性地連接相機與轉(zhuǎn)換器。
所述控制信號可以由控制和數(shù)據(jù)處理部件提供。
所述脈沖偏置電壓可以包括作用于顯示面板的持續(xù)時間為第一時間的第一電壓；和當顯示面板被驅(qū)動時用于測量電流和操作相機、持續(xù)時間為第二時間的第二電壓。第一時間可以比第二時間長，且第一電壓可以比第二電壓高。
所述脈沖偏置電流可以包括作用于顯示面板的持續(xù)時間為第一時間的第一電流；和當顯示面板被驅(qū)動時用于測量電壓和操作相機、持續(xù)時間為第二時間的第二電流。第一時間可以比第二時間長，且第一電流可以比第二電流大。
此外，所述脈沖偏置電壓可以包括作用于顯示面板的持續(xù)時間為第一時間的第一電壓；作用于顯示面板的持續(xù)時間為第二時間的第二電壓；和當顯示面板被驅(qū)動時用于測量電流和操作相機、持續(xù)時間為第三時間的第三電壓。第一電壓可以比第二電壓高，且第三電壓可以等于或高于第二電壓。
此外，所述脈沖偏置電流可以包括作用于顯示面板的持續(xù)時間為第一時間的第一電流；作用于顯示面板的持續(xù)時間為第二時間的第二電流；和當顯示面板被驅(qū)動時用于測量電壓和操作相機、持續(xù)時間為第三時間的第三電流。第一電流可以比第二電流大，且第三電流可以等于或大于第二電流。
所述相機依靠偏壓電源和測量部件所供給的電壓而工作，且其包括透鏡和用于調(diào)整入射光量的濾光器。
所述參數(shù)可以包括平均光亮度(L)、光亮度RMS(均方根)糙度(roughness)(dL)、電壓(V)、暗明區(qū)域比(R，RN)、依賴于畫面亮區(qū)的邊緣衰減量的邊緣衰減深度(D)、孤立暗點的數(shù)目、暗點的成核速率(N’)、和暗點的生長速率(G’)。


通過參考附圖詳細地描述示范性實施例可以使本發(fā)明的上述及其他特點和優(yōu)點對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員更為明顯。
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明用于測量顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備的示意圖；圖2A和2B是示出由圖1中所示的偏壓電源和測量部件提供來測量的偏置電壓的示例的電流和電壓波形；圖3A和3B是通過圖1中所示的相機獲得的顯示面板的照片；圖4是時間與例如平均光亮度(L)和光亮度RMS糙度(dL)的參數(shù)的曲線圖；圖5是時間與例如電壓(V)和暗明區(qū)域比(R，RN)的參數(shù)的曲線圖；
圖6是時間與例如孤立暗點數(shù)目和依賴于畫面明亮部分的邊緣衰減的邊緣衰減深度(D)的參數(shù)的曲線圖；圖7是時間與例如暗點的成核速率(N’)和暗點的生長速率(G’)的參數(shù)的曲線圖；圖8A和8B是示出由圖1中所示的偏壓電源和測量部件提供來測量的偏置電壓的另一個示例的電流和電壓波形；圖9是當偏置電流應用時測量到的直方圖；以及圖10是依賴于通過圖9的結(jié)果獲得的電流的波峰的半高寬(FWHM)的曲線圖。
具體實施例方式
下面將參考附圖示出本發(fā)明的示范性實施例，更充分地描述本發(fā)明。然而，本發(fā)明可以具體表達為不同形式，且不應該被解釋為限于此處給出的實施例。而是為了使本公開徹底、完全，并充分地將本發(fā)明的范圍傳達給本領(lǐng)域的技術(shù)人員而提供這些實施例。
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明用于測量顯示面板畫面和壽命的設(shè)備的示意圖。
為了一致地保持測量條件，將測量顯示面板亮度和畫面的光學相機110安置在恒定溫度和濕度的腔體100內(nèi)，該腔體100能夠得到從低溫和干燥到高溫和高濕度的氣氛。為了同時測量多個顯示面板，可以將多個相機110以陣列型式排列。所述相機110包括光學透鏡，且可以在透鏡上附帶用于調(diào)整光量的濾光器。例如，可以使用1/3英寸的黑/白或彩色電荷耦合器件(CCD，Charge Coupled Device)或互補型金屬氧化物半導體(CMOS，ComplementaryMetal-Oxide Semiconductor)相機，還可以使用能觀測到顯示面板的整個表面的焦距為35mm的廣角透鏡或可以局部觀測顯示面板的某些像素部分的焦距為35mm的放大透鏡。
通過一個平臺(未示出)將待測顯示面板10進行排列且安置在相機110前面。該顯示面板可以是LCD、TFT-LCD、OLED顯示器等。
從偏壓電源和測量部件120向顯示面板10的電極，例如陽極和陰極提供用于測量的脈沖偏置電壓和電流。即對于電壓驅(qū)動例如LCD或等離子顯示面板(Plasma Display Panel，PDP)的顯示面板的情形，向顯示面板10的電極供給脈沖電壓，而對于電流驅(qū)動的例如OLED的顯示面板的情形，向顯示面板10的電極供給脈沖電流。
通過包括多個開關(guān)和/或繼電器的開關(guān)部件130將偏置電壓和電流選擇性地供給顯示面板10的預定陽極和陰極。例如，偏壓電源和測量部件120通過開關(guān)部件130將偏置電壓供給預定顯示面板10，或根據(jù)來自控制和數(shù)據(jù)處理部件140的控制信號將偏置電壓依次供給多個顯示面板10。此外，偏壓電源和測量部件120測量來自供應有偏置電壓的顯示面板的電壓和電流，并將該電壓和電流轉(zhuǎn)換為計算機可分析的數(shù)字數(shù)據(jù)，以將該數(shù)據(jù)傳送給控制和數(shù)據(jù)處理部件140。
同時，由相機110拍攝的顯示面板10的圖像信號被開關(guān)部件150選擇性地傳送給轉(zhuǎn)換器160。此時，開關(guān)部件150根據(jù)提供自控制和數(shù)據(jù)處理部件140的控制信號工作，以將從預定顯示面板10獲得的圖像信號傳送給轉(zhuǎn)換器160，或者將從多個顯示面板10獲得的圖像信號依次傳送給轉(zhuǎn)換器160。
轉(zhuǎn)換器160將圖像信號轉(zhuǎn)換為計算機可分析的數(shù)字數(shù)據(jù)以傳送給控制和數(shù)據(jù)處理部件140?？刂坪蛿?shù)據(jù)處理部件140存儲從轉(zhuǎn)換器160收到的數(shù)字數(shù)據(jù)和從偏壓電源和測量部件120收到的數(shù)字數(shù)據(jù)，并分析該數(shù)據(jù)以產(chǎn)生各種物理參數(shù)，從而利用該參數(shù)測量顯示面板的特征和壽命。此外，分析結(jié)果根據(jù)亮度等被圖形化處理為例如柱狀圖、等高線圖、三維圖等圖像以提供給用戶。所述這些參數(shù)產(chǎn)生和圖形處理過程可以通過已有的程序或者根據(jù)用戶要求依次進行，并且所存儲的圖像信號的數(shù)字數(shù)據(jù)可以作為圖形文件或動畫文件提供。
下文中將描述利用上述配置的測量設(shè)備測量顯示面板壽命的方法。
實施例一待測顯示面板是有機發(fā)光二極管(OLED)。所述OLED包括陽極、空穴注入層、空穴輸運層、發(fā)射層、電子輸運層、電子注入層和形成在透明襯底上的陰極。
陽極由透明氧化物例如銦錫氧化物(Indium Tin Oxide，ITO)形成，且陰極形成為2nm的LiF和75nm的Al的層疊結(jié)構(gòu)?？昭ㄝ斶\層是由20nm的4，4’，4”-三(N-3(3-甲基苯基)-N-苯胺基)三苯胺(MTDATA)制成的，發(fā)射層是由40nm的N，N’-二苯基-N，N’-二(3-甲基苯基)-二(3-甲基)-(1，1’-二苯基)-4，4’-二胺(TPD)制成的，且電子輸運層是由60nm的Alq3制成的。
OLED具有4mm2的二極管顯示面板發(fā)射區(qū)域，且其是在表面未形成鈍化層的狀態(tài)下測量的。
首先，根據(jù)控制和數(shù)據(jù)處理部件140所提供的控制信號，使恒定溫度和濕度腔體100中的溫度和濕度均一地保持在18℃和40％，使得待測顯示面板能維持在穩(wěn)定的物理狀態(tài)。
把顯示面板10安置在恒定溫度和濕度腔體100中的平臺上之后，將相機110安置在顯示面板10的前面。在本實施例中，1/3英寸的黑/白CCD相機附帶有可以觀測到顯示面板的整個表面的焦距為35mm的廣角透鏡和用于調(diào)整透過透鏡的入射光總量的中性濾光器。所述濾光器用于減少顯示面板所發(fā)的光以獲得最佳畫面。
所述偏壓電源和測量部件120根據(jù)來自控制和數(shù)據(jù)處理部件140的控制信號，通過開關(guān)部件130向目標顯示面板10的陽極和陰極提供測量所需的脈沖偏置電壓V1和V2。此時，如圖2A和2B所示，偏壓電源和測量部件120提供具有恒定周期的脈沖電壓V1和V2以及電流I1和I2。
電壓V1是以時間T1作用于所述顯示面板10的陽極的偏置電壓，且電壓V2在所述顯示面板10被驅(qū)動時供給，用于電流測量和操作相機10，持續(xù)時間為T2。此外，電流I1是以時間T1流向所述顯示面板10的陽極的偏置電流，且電流I2在所述顯示面板10被驅(qū)動時供給，用于電壓測量和操作相機10，持續(xù)時間為T2。在此過程中，時間T1比時間T2長，電壓V1比電壓V2高，且電流I1比電流I2大。
例如，0.2mA的電流I1和0.01mA的電流I2以預定周期供給所述顯示面板10的陽極。電流I1用于加速(accelerate)器件的壽命，而電流I2在測量驅(qū)動電壓和相機110拍攝顯示面板時提供。
在第一次供給電流I1之后每隔30秒將電流I2供給顯示面板10，且相機110拍攝該顯示面板10。此時，電流I2的供應時間大致不超過0.01秒。在3000秒以后，相機110每隔300秒拍攝一次顯示面板。
偏置電壓的大小和周期可以隨著待測顯示面板的驅(qū)動類型和特性而變化。
相機110拍攝的圖像信號依照開關(guān)部件150的操作被選擇性地傳送到轉(zhuǎn)換器160，且在轉(zhuǎn)換器160處轉(zhuǎn)換成計算機可分析的數(shù)字數(shù)據(jù)以傳送到控制和數(shù)據(jù)處理部件140。圖3A和3B示出了所述相機110所拍攝的畫面。
圖3A是在測量開始時獲得的畫面，圖3B是24小時后所獲得的畫面。盡管開始時發(fā)射表面保持均勻狀態(tài)，但隨著驅(qū)動時間的繼續(xù)，產(chǎn)生了暗點A和邊緣衰減B，而使發(fā)射表面不規(guī)則。
控制和數(shù)據(jù)處理部件140分析來自轉(zhuǎn)換器160的畫面的數(shù)字數(shù)據(jù)以及來自偏壓電源和測量部件120的電壓和電流的數(shù)字數(shù)據(jù)以產(chǎn)生下述參數(shù)。
圖4是時間與例如平均光亮度(L)和光亮度均方根(RMS)糙度(dL)的參數(shù)的曲線圖；平均光亮度L是圖3A和3B所示畫面中的每一個像點的發(fā)射值之和除以總面積所得的值，且光亮度RMS糙度dL是平均光亮度L的標準偏差值。盡管平均光亮度L是隨時間減小的，但是光亮度RMS糙度dL是先減小后增加的。
圖5是時間與例如電壓(V)和暗明區(qū)域比(R，RN)的參數(shù)的曲線圖。
顯示面板的暗區(qū)是由其中產(chǎn)生和生長的暗點以及發(fā)射表面的邊緣衰減引起的。暗區(qū)定義為其像點亮度不超過L的初始測量值L0的60％的區(qū)域，R是暗區(qū)與總區(qū)域的比值，且RN是被暗點變暗的區(qū)域與總區(qū)域的比值。隨著時間的繼續(xù)，電壓V1先降低后增加，且比值R和RN持續(xù)減小。
圖6是時間與例如孤立的暗點數(shù)目和依賴于畫面明亮部分邊緣衰減的邊緣衰減深度(D)的參數(shù)的曲線圖；邊緣衰減深度D是左右表面的平均值，且沿著孤立的暗點數(shù)目N繪制的擬合曲線F是用Avrami公式(參看S.H.Kim等人，Synthetic Metals，111-112(2000)，253頁)計算的結(jié)果。隨著時間的繼續(xù)，邊緣衰減深度D增加，且孤立暗點的數(shù)目N沿著S型曲線增加。
圖7是時間與例如暗點的成核速率(N’)和暗點的生長速率(G’)的參數(shù)的曲線圖；暗點的成核速率N’意為在所測畫面中單位時間內(nèi)產(chǎn)生的暗點數(shù)目，且用Avrami擬合線示出。
暗點的生長速率G’意為所拍攝畫面的暗點總面積除以暗點數(shù)目，取商的平方根，然后除以3.14159后所得的值。隨著時間的繼續(xù)，暗點的成核速率N，先增加后降低，暗點的生長速率G’先保持某個狀態(tài)然后在暗點成核速率N’減小的同時增加。這意味著當暗點產(chǎn)生且暗點數(shù)目增加時，暗點的平均尺寸沒有增加，而當暗點不再繼續(xù)產(chǎn)生時，暗點的平均尺寸增加。
因此，可以通過分析這些參數(shù)而精確分析顯示面板亮度的減小及壽命，而且可以明確找出例如暗點的影響壽命特性的原因。
實施例2盡管采用與實施例中相同的顯示面板10，且在相同條件下進行測量，但相機110由附帶有能觀測到顯示面板整個表面的焦距為35mm的廣角透鏡的1/3英寸黑/白CCD相機組成。即，如圖8A核8B所示，與實施例1中采用濾光器以減少顯示面板發(fā)射的光不同，實施例2未采用濾光器，并可以在不采用濾光器的情形通過改變偏壓電源和測量部件120所提供的偏置電壓V1、V2和V3的脈沖類型進行測量。
電壓V1是作用于顯示面板10的陽極的最大偏置電壓，持續(xù)時間為T11；電壓V3是作用于顯示面板10的陽極的最小偏置電壓，持續(xù)時間為T12；且電壓V2作用于當顯示面板10被驅(qū)動時測量電流及操作相機110，持續(xù)時間為T13。此外，電流I1是流向顯示面板10的陽極的最大偏置電流，持續(xù)時間為T11；電流I3是流向顯示面板10的陽極的最小偏置電流，持續(xù)時間為T12；且電流I2用于當顯示面板10被驅(qū)動時測量電壓及操作相機110，持續(xù)時間為T13。在此過程中，電壓V1比電壓V3高，電壓V2等于或高于電壓V3，電流I1比電流I3大，且電流I2等于或大于電流I3。
例如，0.2mA的電流I1和0mA的電流I3以預定周期(例如，50Hz)供給所述顯示面板的陽極，且0.01mA的電流I2在相機拍攝顯示面板10時通過改變脈沖周期供給使得顯示面板10的亮度立刻降低，因此不采用濾光器而獲得了具有適當亮度的畫面。
圖9是當1mA的偏置電流I1供給顯示面板10的陽極時測量到的直方圖。該柱狀圖以統(tǒng)計分布的形式描繪了通過相機110獲得的畫面中每個像素點的發(fā)射值。線A1是從實施例2得到的結(jié)果，且線B1是從實施例1得到的結(jié)果?？梢圆徊捎脼V光器而僅變化脈沖周期來獲得相似的結(jié)果。
圖10是根據(jù)通過圖9的結(jié)果而獲得的電流的波峰的半高寬(FWHM，F(xiàn)ullWidth at Half Maximum)的曲線圖，且偏置電流I1在0.05mA到7mA范圍內(nèi)供給。線A2是從實施例2得到的結(jié)果，線B2是從實施例1得到的結(jié)果。在兩種情況下，顯示出基本上相等的值和趨勢。
如上文中可以看出的一樣，本發(fā)明從顯示面板的亮度和圖像數(shù)字數(shù)據(jù)產(chǎn)生了各種參數(shù)，且利用這些參數(shù)明確分析了壽命以及例如暗點和邊緣衰減的亮度減小的原因。因此，可以容易地分析，甚至是在不規(guī)則發(fā)射狀態(tài)的情況下，還可以精確分析從大屏幕顯示面板到具有微米尺寸的像素，以及可以根據(jù)觀測者的意愿選擇性地分析例如邊緣或中心的一個部分。
所述用于測量顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備能夠用于各種顯示面板，而無論其類型如何，并且能夠同步和快速地測量和分析多個顯示面板。
盡管參考特定示范性實施例描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應該理解，在不脫離所附權(quán)利要求書及其等同方案中所限定的本發(fā)明的精神和范圍的條件下，可以對本發(fā)明做出各種修改和變化。
相關(guān)申請的交叉引用本申請要求于2004年9月8日提交的韓國專利申請No.2004-71871的優(yōu)先權(quán)，在此將其公開的整個內(nèi)容引用作為參考。
權(quán)利要求
1.一種用于測量顯示的面板畫面和壽命的設(shè)備，包括腔體，所述腔體具有至少一個設(shè)置于其中的待測顯示面板，且用于均一地保持內(nèi)部部分的溫度和濕度條件；至少一個相機，所述相機安置于所述腔體內(nèi)以獲得所述顯示面板的圖像信號；偏壓電源和測量部件，用于根據(jù)控制信號提供測量所需的脈沖偏置電壓和電流，并在所述顯示面板被驅(qū)動時測量電壓和電流以轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)；用于將所述相機獲得的圖像信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換器；和控制和數(shù)據(jù)處理部件，用于通過接收從所述偏壓電源和測量部件以及所述轉(zhuǎn)換器得到的數(shù)字數(shù)據(jù)而產(chǎn)生參數(shù)，并用所述參數(shù)分析所述顯示面板的壽命。
2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，進一步包括第一開關(guān)部件，用于根據(jù)所述控制和數(shù)據(jù)處理部件所提供的第一控制信號選擇性地連接所述偏壓電源和測量部件和所述顯示面板；和第二開關(guān)部件，用于根據(jù)所述控制和數(shù)據(jù)處理部件所提供的第二控制信號選擇性地連接所述相機和所述轉(zhuǎn)換器。
3.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述控制信號是由控制和數(shù)據(jù)處理部件提供的。
4.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述脈沖偏置電壓包括作用于顯示面板、持續(xù)時間為第一時間的第一電壓；和當所述顯示面板被驅(qū)動時用于測量電流和操作所述相機的、持續(xù)時間為第二時間的第二電壓。
5.如權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其中所述第一時間比所述第二時間長，且所述第一電壓比所述第二電壓高。
6.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述脈沖電壓包括作用于顯示面板、持續(xù)時間為第一時間的第一電壓；作用于顯示面板、持續(xù)時間為第二時間的第二電壓；當顯示面板被驅(qū)動時用于測量電流和操作所述相機的、持續(xù)時間為第三時間的第三電壓。
7.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中所述第一電壓比所述第二電壓高，且所述第三電壓等于或高于所述第二電壓。
8.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述脈沖偏置電壓包括作用于顯示面板、持續(xù)時間為第一時間的第一電流；和當顯示面板被驅(qū)動時用于測量電壓和操作照所述相機的、持續(xù)時間為第二時間的第二電流。
9.如權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述第一時間比所述第二時間長，且所述第一電流比所述第二電流大。
10.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述脈沖偏置電流包括作用于顯示面板、持續(xù)時間為第一時間的第一電流；作用于顯示面板，持續(xù)時間為第二時間的第二電流；和當顯示面板被驅(qū)動時用于測量電壓和操作相機的、持續(xù)時間為第三時間的第三電流。
11.如權(quán)利要求10所述的設(shè)備，其中所述第一電流比所述第二電流大，且所述第三電流等于或大于所述第二電流。
12.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述相機基于所述偏壓電源和測量部件所供給的電壓而工作，且包括透鏡和用于調(diào)整入射光量的濾光器。
13.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述參數(shù)包括平均光亮度(L)、光亮度RMS糙度(dL)、電壓(V)、暗明區(qū)域比(R，RN)、依賴于畫面亮區(qū)的邊緣衰減量的邊緣衰減深度(D)、孤立的暗點的數(shù)目、所述暗點的成核速率(N’)、和所述暗點的生長速率(G’)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種測量顯示面板的畫面和壽命的設(shè)備，該包括腔體，在其中具有至少一個顯示面板，且用于均一地保持內(nèi)部部件的溫度和濕度條件；至少一個相機，安置在所述腔內(nèi)并用于獲得顯示面板的畫面信號；偏壓電源和測量部件，用于依據(jù)控制信號而提供測量所需的脈沖偏置電壓和電流，以及在顯示面板被驅(qū)動時測量電壓和電流以轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)；用于把通過相機獲得的畫面信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換器；和控制及數(shù)據(jù)處理部件，用于通過接收來自偏壓電源和測量部件及轉(zhuǎn)換器的數(shù)字數(shù)據(jù)而生成參數(shù)，并用所述參數(shù)分析顯示面板的壽命。
文檔編號G01N17/00GK1746687SQ20051009814
公開日2006年3月15日 申請日期2005年9月8日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月8日
發(fā)明者梁容碩, 秋惠容, 李定益, 吳知映, 樸相姬, 黃治善, 都梨美, 鄭承默, 金美更 申請人:韓國電子通信研究院