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多波長旋光測試儀的制作方法

文檔序號(hào):6198266閱讀:330來源:國知局
專利名稱:多波長旋光測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種光學(xué)測試儀,特別是一種多波長旋光測試儀。
(二)技術(shù)背景目前我國只有單波長旋光測試儀,這類儀器缺點(diǎn)1、只有單波長鈉燈等作為光源;2、靠人眼判斷以暗視場均勻做出判斷是否消光,誤差大,不靈敏;3、在消光位置附近,檢偏器沿正向或反向旋轉(zhuǎn)相同角度時(shí)出現(xiàn)的結(jié)果相同,這使測量誤差變?yōu)榕袛嗾`差的兩倍,因此這種儀器只能達(dá)到度的量級(jí);4、只能測量固定長度液體,且無法計(jì)算旋光色散。對于固體物質(zhì)的旋光測量,特別是對于大旋光性晶體物質(zhì),過去一直沒有有效的測量儀器。

發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本實(shí)用新型提供一種設(shè)計(jì)合理、制造容易、使用方便、測量精度高、既可測量多波長光,變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率,又可測雙折射率的多波長旋光測試儀。
一種多波長旋光測試儀,由光源、準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器組成,準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器安裝在機(jī)殼內(nèi)一個(gè)水平平臺(tái)上,偏檢器和起偏器安裝在被測樣品架的左右兩測,三者光軸在同一條水平線上。
所述的偏檢器和起偏器均為波長范圍為190nm-900nm、無吸收的偏光鏡。
所述的光源為溴鎢燈和氘燈。
本實(shí)用新型改變了傳統(tǒng)旋光儀只能測單波長光的缺點(diǎn),波長范圍從190nm到900nm均可測量;測量時(shí),將被測樣品置于被測樣品架上。在測量過程中,光源可根據(jù)波長范圍從190nm到900nm之間的變化,自動(dòng)切換溴鎢燈和氘燈;接收器可直接與計(jì)算機(jī)連接,能立刻得出測量直接結(jié)果,方便、可靠、準(zhǔn)確;既可以當(dāng)光度計(jì)用,又可以當(dāng)旋光儀用,測量范圍擴(kuò)大,避免重復(fù)性購買儀器,做到一機(jī)多用、活用;可測量變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率;不但能測旋光率,還同時(shí)測出旋光色散,還可以測雙折射。
旋光測量原理根據(jù)光學(xué)原理,旋光就是當(dāng)線偏振光通過某些透明物質(zhì)后,其振動(dòng)面旋轉(zhuǎn)了一個(gè)角度φ,而旋光率ρ為ρ=φ/d=πλ0(n1-nr)---(1)]]>式中λo為光波在真空中的波長,圓偏振光波的折射率nr,nl,d透明物質(zhì)厚度。傳統(tǒng)的測量原理是測出φ,d是已知就能算出旋光率ρ。本實(shí)用新型中,固定φ為90°或90°的倍數(shù),也就是當(dāng)線偏振光通過某些透明物質(zhì)后找出透過率極大或極小值,隨著波長變化,符合以下規(guī)律φ(λ)=ρ(λ)d=m180°-90°(m=1,2,3...)(2)將出現(xiàn)最小值。符合以下規(guī)律φ(λ)=ρ(λ)d=m180°(m=1,2,3...) (3)將出現(xiàn)最大值。由此可以算出旋光率ρ。
雙折射測量原理設(shè)兩偏振片平行p1∥p2,被測晶片光軸方向位于p1,p2透振方向同側(cè),其干涉光強(qiáng)為I=I1[1-12sin22θ(1-cosδ)]---(4)]]>式中I1為入射光的強(qiáng)度,θ為被測晶體光軸與偏振片偏振方向的夾角,δ為o光和e光的位相差,可寫為δ=2πλ(ne-no)·d=2πλ·Δn·d---(5)]]>當(dāng)δ=2nπ時(shí)光強(qiáng)達(dá)到最大值,當(dāng)δ=(2n+1)π時(shí)光強(qiáng)達(dá)到最小值,經(jīng)計(jì)算得出Δn=λ1λ22(λ1-λ2)d---(6)]]>式中λ1>λ2,代表相鄰的極大、極小波長值。
本實(shí)用新型具有設(shè)計(jì)合理、制造容易、使用方便、測量精度高、可測量多波長光、既可測量變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率,又可測雙折射率的特點(diǎn)。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本實(shí)用新型旋光測量時(shí)光透過率極大、極小值曲線。
圖3是本實(shí)用新型雙折射測量時(shí)光透過率極大、極小值曲線。
其中,1、光源,2斬光器,3、準(zhǔn)直鏡,4、參比池,5、接收器,6、被測樣品架,7、偏檢器,8、起偏器。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)如圖1所示,由光源1、準(zhǔn)直鏡3、參比池4、斬光器2、被測樣品架6和接收器5組成,準(zhǔn)直鏡3、參比池4、斬光器2、被測樣品架6和接收器5安裝在機(jī)殼內(nèi)一個(gè)水平平臺(tái)上,偏檢器7和起偏器8安裝在被測樣品架6的左右兩測,三者光軸在同一條水平線上。偏檢器7和起偏器8均為波長范圍為190nm-900nm、無吸收的偏光鏡;光源1為溴鎢燈和氘燈。
權(quán)利要求1.一種多波長旋光測試儀,由光源、準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器組成,準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器安裝在機(jī)殼內(nèi)一個(gè)水平平臺(tái)上,其特征在于,偏檢器和起偏器安裝在被測樣品架的左右兩測,三者光軸在同一條水平線上。
2.如權(quán)利要求1所述的多波長旋光測試儀,其特征在于,所述的偏檢器和起偏器均為波長范圍為190nm-900nm、無吸收的偏光鏡。
3.如權(quán)利要求1所述的多波長旋光測試儀,其特征在于,所述的光源為溴鎢燈和氘燈。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種多波長旋光測試儀,由光源、準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器組成,準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器安裝在機(jī)殼內(nèi)一個(gè)水平平臺(tái)上,偏檢器和起偏器安裝在被測樣品架的左右兩測,三者光軸在同一條水平線上;偏檢器和起偏器均為波長范圍為190nm-900nm、無吸收的偏光鏡;光源為溴鎢燈和氘燈。本實(shí)用新型既可以當(dāng)光度計(jì)用,又可以當(dāng)旋光儀用,測量范圍擴(kuò)大,避免重復(fù)性購買儀器,做到一機(jī)多用、活用,具有設(shè)計(jì)合理、制造容易、使用方便、測量精度高、既可測量多波長下變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率,又可測雙折射率的特點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01N21/17GK2738242SQ20042009747
公開日2005年11月2日 申請日期2004年11月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月9日
發(fā)明者魏愛儉 申請人:山東大學(xué)
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