專(zhuān)利名稱(chēng)：旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器，例如車(chē)輪速度傳感器或機(jī)動(dòng)車(chē)輛的發(fā)動(dòng)機(jī)轉(zhuǎn)速傳感器。
背景技術(shù)：
例如日本專(zhuān)利公開(kāi)No2000-180460所公開(kāi)的，一種組成車(chē)輪速度傳感器的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器包括檢測(cè)部分，其檢測(cè)磁波動(dòng)并轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。對(duì)于檢測(cè)部分，采用了如下的結(jié)構(gòu)例如，其中，在霍爾集成電路(Hall IC)后設(shè)置施加偏置磁場(chǎng)的磁體，并且來(lái)自Hall IC的引線終端被連接至襯底上的電路。
在上述的傳統(tǒng)旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器中，為Hall IC施加偏置磁場(chǎng)的磁體應(yīng)該相對(duì)檢測(cè)目標(biāo)定位在Hall IC之后。因此，來(lái)自Hall IC的引線終端應(yīng)該圍繞(繞行)該磁體延伸。隨后，引線終端以細(xì)長(zhǎng)的方式被連接到襯底上的電路。
近來(lái)，每個(gè)機(jī)動(dòng)車(chē)輛制造商都在致力于減少元件的數(shù)量，尺寸和重量。也已經(jīng)對(duì)車(chē)輪速度傳感器提出了如此的要求。隨著車(chē)輪速度傳感器被制造得更小，用以容納元件的體積和容納元件的方法也逐漸受到限制。就拿車(chē)輪速度傳感器來(lái)說(shuō)，為了在有限的空間內(nèi)布置元件，在許多情況下引線終端要經(jīng)受各種彎曲(成形)過(guò)程以便布置。
圖11A和圖11B示出了一例。此處，Hall IC2安裝在磁體托架10的前方。來(lái)自Hall IC2的引線終端5首先從Hall IC2懸垂下來(lái)，然后沿著構(gòu)成磁體裝入孔12的底部的側(cè)壁表面延伸。接下來(lái)，引線終端5在側(cè)壁的端部處向襯底1一側(cè)彎曲，并然后插入檢測(cè)電路3的通孔3a以便連接。引線終端因而呈現(xiàn)杯形。通過(guò)將如圖9A所示的直的Hall IC2的引線終端5彎曲成如圖9B和圖9C所示的杯形，制成帶有杯形引線終端5的Hall IC2。由于引線終端5很薄并易于變形，故在處理過(guò)程中可能會(huì)有偏差，或者引線終端5在運(yùn)送和連接的過(guò)程中趨于再次發(fā)生變形。例如，引線終端5可能會(huì)以圖10A和圖10B的點(diǎn)劃線所示的形式變形。
如上所述，當(dāng)引線終端5在其不是規(guī)定的形狀下附連到托架10和襯底1上時(shí)，如圖11A和圖11B所示，引線終端5的端部被彎曲，而不能正確地引入檢測(cè)電路3的通孔3a(圖11A)中。此外，如果試圖用力插入引線終端5，引線終端5可能與通孔偏離，這會(huì)不利地影響Hall IC2的模制部分的質(zhì)量(圖11B)。如此的彎曲和偏離會(huì)導(dǎo)致不良的連接和缺陷。而且，例如由于要糾正這樣的缺陷，即需要再次連接，而可操作性被降低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器，其中，當(dāng)Hall IC布置在規(guī)定位置時(shí)，引線終端呈現(xiàn)規(guī)定的形狀。
為了解決上述問(wèn)題，在根據(jù)本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器中，當(dāng)Hall IC布置在規(guī)定位置時(shí)，引線終端被兩個(gè)元件夾持，以便能夠經(jīng)受變形，從而獲得規(guī)定的形狀。如果引線終端5被兩個(gè)元件所夾持，其會(huì)被固定到位。所以，將引線終端保持固定的形狀，并且可以在例如附連到襯底的過(guò)程中平順地將其插入通孔。這例如在自動(dòng)裝配中是有益的。
更具體地，根據(jù)本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器包括面對(duì)檢測(cè)目標(biāo)的Hall IC；放置在Hall IC后并施加偏置磁場(chǎng)的磁體；以及，設(shè)置有檢測(cè)電路的襯底。來(lái)自Hall IC的引線終端繞過(guò)所述磁體而引導(dǎo)至襯底。由于檢測(cè)目標(biāo)的旋轉(zhuǎn)而引起的磁波動(dòng)被Hall IC轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)，其隨后經(jīng)過(guò)引線終端被傳送至襯底上的檢測(cè)電路。在保持磁體的磁體托架中，形成引導(dǎo)引線終端的凹陷的引導(dǎo)件，并且設(shè)置了限定繞行路徑的元件，該繞行路徑是通過(guò)與磁體托架接合以將引線終端壓到引導(dǎo)件上而限定的。在這種結(jié)構(gòu)中，利用磁體托架和限定元件構(gòu)成上述用以?shī)A持和保持所述引線終端的兩個(gè)元件。
優(yōu)選地，在旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器中，采用如下結(jié)構(gòu)，其中，磁體托架包括在其一個(gè)表面?zhèn)壬祥_(kāi)口的用于磁體的裝入孔，以及在其另一表面?zhèn)壬祥_(kāi)口的用于Hall IC的裝入孔，而引線終端以如下方式遵循杯形繞行路徑，即其從HallIC懸垂，沿著構(gòu)成裝入孔的底部的側(cè)壁表面延伸，并在側(cè)壁端部處彎曲并升起到襯底的一側(cè)，然后插入襯底上的通孔內(nèi)以便連接。


參照附圖，結(jié)合下文對(duì)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明，本發(fā)明的前述和其他的目的、特征、方面和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更易于理解，圖中
圖1A是一實(shí)施例中的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的剖視圖；圖1B是檢測(cè)目標(biāo)的正視圖；圖2A是一實(shí)施例中的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的正視圖；圖2B是一實(shí)施例中的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的后視圖；圖3A至圖3D是示出該實(shí)施例旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的裝配過(guò)程的剖視圖；圖4A是正在組裝的該實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的底視圖；圖4B是正在組裝的該實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的正視圖；圖5A是一部分被移除的該實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的底視圖；圖5B是一部分被移除的該實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的頂視圖；圖6是Hall IC的透視圖；圖7A是磁體托架和基底托架的透視圖；圖7B是壓緊元件的透視圖；圖8是示出該實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器的動(dòng)作的剖視圖；圖9A是示出形成引線終端前的Hall IC的頂視圖；圖9B是形成后的Hall IC的正視圖；圖9C是形成后的Hall IC頂視圖；圖10A是示出Hall IC的引線終端具有缺陷的正視圖；圖10B是示出Hall IC的引線終端具有缺陷的頂視圖；圖11A和圖11B說(shuō)明了當(dāng)Hall IC的引線終端具有缺陷時(shí)的問(wèn)題。
具體實(shí)施例方式
將參照附圖1A至圖8描述本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例。本實(shí)施例中的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器構(gòu)成車(chē)輪速度傳感器P。
車(chē)輪速度傳感器P包括檢測(cè)部分D，其用以檢測(cè)磁波動(dòng)并轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)；以及固定部分F，其用以將車(chē)輪速度傳感器P附連至例如車(chē)輛的主體上。在檢測(cè)部分D內(nèi)，如圖1A所示，在Hall IC2后設(shè)置有用以施加偏置磁場(chǎng)的磁體4。來(lái)自Hall IC2的引線終端5連接至襯底1的檢測(cè)電路3上。
如圖1A和圖1B所示，包括Hall IC2的速度傳感器P設(shè)置成面對(duì)旋轉(zhuǎn)的檢測(cè)目標(biāo)B。在車(chē)輪速度傳感器P內(nèi)，由于檢測(cè)目標(biāo)B的旋轉(zhuǎn)導(dǎo)致的偏置磁場(chǎng)的波動(dòng)被Hall IC2和檢測(cè)電路3檢測(cè)到，并被轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字電信號(hào)。該電信號(hào)通過(guò)中繼端子6利用電纜7(線束)傳送至外部設(shè)備，例如，各種控制器。對(duì)于施加偏置磁場(chǎng)的車(chē)輪速度傳感器P，可以將由諸如鐵的鐵磁材料制成的編碼器用作檢測(cè)目標(biāo)B，該材料自身不磁化。
與Hall IC2和磁體4一起將襯底1安置在圓柱狀金屬殼8內(nèi)。如圖2A和圖2B所示，在來(lái)自檢測(cè)電路3的中繼端子6連接至電纜7的同時(shí)，應(yīng)用樹(shù)脂模制涂層9和支架9a，以便附連至主體上。
襯底1由包含玻璃纖維的環(huán)氧樹(shù)脂板構(gòu)成。在襯底1上安裝如電阻器、電容器等的電子器件，以組成檢測(cè)電路3。在襯底1的規(guī)定位置處形成通孔3a。配裝到外殼8的開(kāi)口內(nèi)的基底托架11是樹(shù)脂模制的。在模制基底托架的過(guò)程中插入中繼端子6。
放置在外殼8的尖端部分內(nèi)的磁體托架10和基底托架11整體地模制(參見(jiàn)圖7A)。磁體托架10包括在一表面?zhèn)?圖1中為上側(cè))開(kāi)口的用于磁體4的裝入孔12；以及在另一表面?zhèn)?在圖1中的下側(cè))開(kāi)口的用于Hall IC2的裝入孔13。如圖6所示，Hall IC2的引線終端5形成為杯形，并連接至襯底1上的檢測(cè)電路3。此處，如圖1A所示，引線終端5從Hall IC2懸垂下來(lái)，沿著構(gòu)成磁體裝入孔12底部的側(cè)壁表面10a延伸，在所述側(cè)壁端部處彎曲并上升至襯底1的一側(cè)，并且被插入檢測(cè)電路3的通孔3a內(nèi)，以便連接。
如圖5A和圖7A所示，將引線終端5的尖端部分配裝到設(shè)置在磁體托架10內(nèi)的磁體裝入孔12的側(cè)壁表面上的凹陷的引導(dǎo)件14內(nèi)，并且被壓緊元件15的壓緊突起15a壓緊和約束。凹陷的引導(dǎo)件14在引線終端5沿著構(gòu)成用于磁鐵4的裝入孔12的底部的側(cè)壁表面10a延伸的方向上延伸，以到達(dá)Hall IC2的內(nèi)壁下端的角部13a，所述側(cè)壁表面10a位于磁鐵托架10的下表面?zhèn)取?br> 本實(shí)施例具有上述的結(jié)構(gòu)，現(xiàn)在描述裝配步驟。如圖3A所示，磁體4和Hall IC2被裝入磁體托架10內(nèi)，Hall IC2的引線終端5事先經(jīng)受彎曲處理以得到如圖6所示的形狀。然后，如圖3B所示，將壓緊元件15配裝到磁體托架10上，如圖3B中的點(diǎn)劃線所示。此處，即使引線終端5未處于規(guī)定的杯形形狀，例如，如果其底部5a開(kāi)口變大，如圖8所示，引線終端5仍將得到圖3B所示的形狀，這是因?yàn)槠浔话枷莸囊龑?dǎo)件14引導(dǎo)并隨著壓緊元件15的安裝而被壓緊突起15a約束。
盡管襯底1如圖3B和圖3C所示地安裝，引線終端5仍能夠平順地插入襯底1的通孔3a，這是因?yàn)橐€終端5的底部5a位于規(guī)定的位置。如圖3C和圖5B所示，引線終端5通過(guò)焊接C連接至襯底1的檢測(cè)電路3。此外，如圖3C所示，中繼端子6也通過(guò)焊接C連接至襯底1的檢測(cè)電路3。所以，得到如圖4A和圖4B所示的狀態(tài)。此后，如圖3D所示，通過(guò)順次配裝蓋16，并施加外殼8和樹(shù)脂模制涂層9來(lái)得到車(chē)輪速度傳感器P。
如上所述的，根據(jù)本發(fā)明，當(dāng)Hall IC2被布置在規(guī)定位置時(shí)，引線終端呈現(xiàn)出規(guī)定的形狀。所以，當(dāng)附連至Hall IC時(shí)，引線終端總是布置在相同的位置，而無(wú)需考慮引線終端形狀的變動(dòng)或由處理后的變形所引起的變動(dòng)。結(jié)果，附連至襯底的元件夾持件的操作將變得穩(wěn)定，并可得到改進(jìn)的可操作性和穩(wěn)定的質(zhì)量。
盡管詳細(xì)地描述和示出了本發(fā)明，但是應(yīng)該清楚地認(rèn)識(shí)到，其僅僅作為圖示和說(shuō)明，而并不用以限制，本發(fā)明的精神和范圍僅由后附的權(quán)利要求書(shū)的條款所限定。
權(quán)利要求
1.一種旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器，包括面對(duì)檢測(cè)目標(biāo)(B)的霍爾集成電路(2)，位于霍爾集成電路(2)之后并施加偏置磁場(chǎng)的磁體(4)以及設(shè)置有檢測(cè)電路(3)的襯底(1)，該傳感器以如下方式構(gòu)成即來(lái)自所述霍爾集成電路(2)的引線終端(5)繞行所述磁體(4)，以引導(dǎo)至所述襯底(1)，并且由于所述檢測(cè)目標(biāo)(B)的旋轉(zhuǎn)而引起的磁波動(dòng)利用所述霍爾集成電路(2)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)，并通過(guò)所述引線終端(5)傳送至所述襯底(1)上的檢測(cè)電路(3)，其特征在于，在夾持所述磁體(4)的磁體托架(10)內(nèi)形成引導(dǎo)所述引線終端(5)的凹陷引導(dǎo)件(14)，以及提供了壓緊元件(15)，該壓緊元件通過(guò)接合到磁體托架(10)上以將引線終端(5)壓到引導(dǎo)件(14)上來(lái)限定所述繞行路徑。
2.如權(quán)利要求1所述的旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器，其中，所述磁體托架(10)包括在一表面?zhèn)壬祥_(kāi)口的用于所述磁體(4)的裝入孔(12)和在另一表面?zhèn)壬祥_(kāi)口的用于所述霍爾集成電路(2)的裝入孔(13)，并且所述引線終端(5)以如下方式形成杯形繞行路徑即所述引線終端(5)從所述霍爾集成電路(2)懸垂，沿著構(gòu)成所述裝入孔(12)底部的側(cè)壁表面延伸，在所述側(cè)壁端部處彎曲并升高至所述襯底(1)的一側(cè)，并插入襯底(1)上的通孔(3a)內(nèi)，以便連接。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種旋轉(zhuǎn)檢測(cè)傳感器，包括面對(duì)檢測(cè)目標(biāo)(B)的Hall IC(2)，位于Hall IC(2)之后并施加偏置磁場(chǎng)的磁體(4)和設(shè)置有檢測(cè)電路(3)的襯底(1)。該傳感器以如下方式構(gòu)成來(lái)自所述Hall IC(2)的引線終端(5)繞行磁體(4)，以引導(dǎo)至所述襯底(1)。在夾持所述磁體(4)的磁體托架(10)內(nèi)形成引導(dǎo)所述引線終端(5)的凹陷引導(dǎo)件(14)，并設(shè)置壓緊元件(15)。因而，可將引線終端(5)的尖端部分保持在規(guī)定的位置，并且更易于執(zhí)行附連至襯底的操作。
文檔編號(hào)G01D11/24GK1451968SQ0311017
公開(kāi)日2003年10月29日 申請(qǐng)日期2003年4月15日 優(yōu)先權(quán)日2002年4月16日
發(fā)明者巖下隆樹(shù) 申請(qǐng)人:住友電氣工業(yè)株式會(huì)社