專利名稱：條帶測試分選機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體測試封裝設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種條帶測試分選機(jī)。
背景技術(shù)：
在半導(dǎo)體測試封裝行業(yè)中，條帶測試分選機(jī)是一種對(duì)晶體管進(jìn)行測試、并根據(jù)測試結(jié)果將晶體管中的合格產(chǎn)品篩選出的一種設(shè)備。其工作過程為晶體管由 UV(ultraviolet紫外線)膜框上料，晶體管進(jìn)行批號(hào)確定和方向定位后進(jìn)入到測試平臺(tái)上，該測試平臺(tái)通過設(shè)置在其上的χ-γ-ζ方向的驅(qū)動(dòng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)測試平臺(tái)移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)將測試平臺(tái)上的晶體管與設(shè)置在測試平臺(tái)上方的蓋板上的測試針對(duì)準(zhǔn)，當(dāng)晶體管與測試針對(duì)準(zhǔn)后，測試平臺(tái)在驅(qū)動(dòng)馬達(dá)的作用下向上移，實(shí)現(xiàn)測試針與晶體管的管腳對(duì)位接觸，并對(duì)晶體管進(jìn)行檢測，上述蓋板的上表面設(shè)置的測試板和測試主機(jī)主要是控制測試針進(jìn)行工作，并將檢測結(jié)果進(jìn)行記錄，檢測完畢后，根據(jù)測試結(jié)果，采用機(jī)械手把晶體管中合格的產(chǎn)品選出，再進(jìn)行光檢，以便進(jìn)入下一工序進(jìn)行編帶。上述條帶測試分選機(jī)在工作的過程中，需要將測試針和晶體管進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)后才能實(shí)現(xiàn)測試針對(duì)晶體管的檢測，雖然上述蓋板上設(shè)置有光檢裝置，通過光檢裝置對(duì)準(zhǔn)一定的位置后進(jìn)行調(diào)節(jié)實(shí)現(xiàn)測試針與晶體管之間的對(duì)準(zhǔn)，但是，在實(shí)際的對(duì)準(zhǔn)過程中，光檢裝置也是需要多次調(diào)整后才能對(duì)準(zhǔn)其工作時(shí)需要對(duì)準(zhǔn)的位置，從而實(shí)現(xiàn)測試針與晶體管對(duì)準(zhǔn)，這無疑降低了晶體管與測試針之間的對(duì)準(zhǔn)效率，進(jìn)而降低了條帶測試分選機(jī)的工作效率。

實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型提供了一種條帶測試分選機(jī)，以提高條帶測試分選機(jī)的對(duì)準(zhǔn)效率，從而提高整個(gè)條帶測試分選機(jī)的工作效率。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型實(shí)施例提供如下技術(shù)方案一種條帶測試分選機(jī)，包括蓋板，其下表面上設(shè)置有測試座和光檢裝置，所述測試座上設(shè)置有測試針；設(shè)置在所述蓋板的下方的測試平臺(tái)，該測試平臺(tái)的引線框上設(shè)置有晶體管，且設(shè)置有十字定位架，當(dāng)測試針與所述晶體管對(duì)準(zhǔn)時(shí)，所述十字定位架的中心與所述光檢裝置的檢測中心重合。優(yōu)選的，上述條帶測試分選機(jī)中，所述光檢裝置為攝像機(jī)。優(yōu)選的，上述條帶測試分選機(jī)中，所述引線框上設(shè)置有四組晶體管，且每組晶體管的數(shù)量為四個(gè)，且圍成正方形區(qū)域，所述十字定位架設(shè)置在所述正方形區(qū)域的中心。由上述技術(shù)方案可知，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)中，在測試平臺(tái)的條帶上的引線框上設(shè)置有十字定位架，當(dāng)條帶測試分選機(jī)上的測試針與所述晶體管處于對(duì)準(zhǔn)狀態(tài)時(shí)，蓋板上的光檢裝置檢測中心與十字定位架的中心重合，即處于對(duì)準(zhǔn)狀態(tài)。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)通過在引線框上設(shè)置十字定位架，起到參照物的作用，在對(duì)準(zhǔn)的過程中，只要光檢裝置的檢測中心直接對(duì)準(zhǔn)設(shè)置在引線框上的十字定位架的中心即可實(shí)現(xiàn)測試針與晶體管之間的對(duì)準(zhǔn)，所以在對(duì)準(zhǔn)的過程中，只需將光檢裝置的檢測中心對(duì)準(zhǔn)在十字定位架的中心即可，提高了條帶測試分選機(jī)在工作過程中測試針與晶體管的對(duì)準(zhǔn)效率，進(jìn)而提高了條帶測試分選機(jī)的工作效率。

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1中提供的條帶測試分選機(jī)中測試平臺(tái)上的條帶的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種條帶測試分選機(jī)，提高了條帶測試分選機(jī)的對(duì)準(zhǔn)效率，進(jìn)而提高了整個(gè)條帶測試分選機(jī)的工作效率。請參考附圖1-2，圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖， 圖2為圖1中條帶測試分選機(jī)中測試平臺(tái)上的條帶的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)，包括蓋板3，其下表面上設(shè)置有測試座4和光檢裝置(圖中未示出)，所述測試座4上設(shè)置有測試針5 ；設(shè)置在所述蓋板3的下方的測試平臺(tái)1，該測試平臺(tái)1的條帶2的引線框21上設(shè)置有晶體管211，且設(shè)置有十字定位架212，所述測試針5與所述晶體管211處于對(duì)準(zhǔn)狀態(tài)時(shí)，光檢裝置的檢測中心與十字定位架212的中心重合，上述測試平臺(tái)1設(shè)置有可驅(qū)動(dòng)其沿著X-Y-Z方向移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置(圖中未示出)。上述驅(qū)動(dòng)裝置優(yōu)選的為驅(qū)動(dòng)馬達(dá)，可以在測試平臺(tái)1上設(shè)置三個(gè)驅(qū)動(dòng)馬達(dá)，分別實(shí)現(xiàn)測試平臺(tái)1在三維空間上的移動(dòng)。本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的條帶測試分選機(jī)在檢測過程中，當(dāng)條帶2被運(yùn)送到測試平臺(tái)1上后，測試平臺(tái)1在驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)測試平臺(tái)1移動(dòng)，而設(shè)置在蓋板3上的光檢裝置進(jìn)行位置定位，當(dāng)光檢裝置的中心與十字定位架的中心重合后，測試針即與晶體管實(shí)現(xiàn)對(duì)準(zhǔn)，對(duì)準(zhǔn)后，測試平臺(tái)1在驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)其向上移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)晶體管與測試針的對(duì)準(zhǔn)接觸以便進(jìn)行檢測。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)中，在測試平臺(tái)1的條帶2上的引線框 21上設(shè)置有十字定位架212，當(dāng)條帶測試分選機(jī)上的測試針5與所述晶體管211處于對(duì)準(zhǔn)狀態(tài)時(shí)，蓋板3上的光檢裝置檢測中心與十字定位架212的中心重合，即處于對(duì)準(zhǔn)狀態(tài)。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)通過在引線框21上設(shè)置十字定位架212，起到參照物的作用，在對(duì)準(zhǔn)的過程中，只要光檢裝置的檢測中心直接對(duì)準(zhǔn)設(shè)置在引線框21上的十字定位架212的中心即可實(shí)現(xiàn)測試針5與晶體管211之間的對(duì)準(zhǔn)，所以在對(duì)準(zhǔn)的過程中，只需將光檢裝置的檢測中心對(duì)準(zhǔn)在十字定位架212的中心即可，提高了條帶測試分選機(jī)在工作過程中測試針與晶體管的對(duì)準(zhǔn)效率，進(jìn)而提高了條帶測試分選機(jī)的工作效率。上述實(shí)施例中提供的條帶測試分選機(jī)中，光檢裝置優(yōu)選的為攝像機(jī)，當(dāng)然也可以為其他的光學(xué)位置檢測裝置。上述實(shí)施例中提供的條帶測試分選機(jī)中，所述引線框21上設(shè)置有四組晶體管，且每組晶體管圍成正方形區(qū)域，所述十字定位架212設(shè)置在所述正方形區(qū)域的中心。當(dāng)然上述引線框上的晶體管具體的排列方式可以為多種形式，并不限于上述分布方式，但是，無論晶體管或者測試針采用什么樣的形式分布，只要保證在光檢裝置的檢測中心與十字定位架 212的中心重合時(shí)，晶體管與測試針是處于對(duì)準(zhǔn)狀態(tài)的。對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本實(shí)用新型將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求1.一種條帶測試分選機(jī)，其特征在于，包括蓋板，其下表面上設(shè)置有測試座和光檢裝置，所述測試座上設(shè)置有測試針； 設(shè)置在所述蓋板的下方的測試平臺(tái)，該測試平臺(tái)的引線框上設(shè)置有晶體管，且設(shè)置有十字定位架，當(dāng)測試針與所述晶體管對(duì)準(zhǔn)時(shí)，所述十字定位架的中心與所述光檢裝置的檢測中心重合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的條帶測試分選機(jī)，其特征在于，所述光檢裝置為攝像機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的條帶測試分選機(jī)，其特征在于，所述引線框上設(shè)置有四組晶體管，且每組晶體管的數(shù)量為四個(gè)，且圍成正方形區(qū)域，所述十字定位架設(shè)置在所述正方形區(qū)域的中心。
專利摘要本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種條帶測試分選機(jī)，包括蓋板，其下表面上設(shè)置有測試座和光檢裝置，測試座上設(shè)有測試針；設(shè)在蓋板的下方的測試平臺(tái)，測試平臺(tái)的引線框上設(shè)有晶體管，且設(shè)置有十字定位架，當(dāng)測試針與所述晶體管對(duì)準(zhǔn)時(shí)，十字定位架的中心與光檢裝置的檢測中心重合。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的條帶測試分選機(jī)通過在引線框上設(shè)置十字定位架，該十字定位架起到參照物的作用，在對(duì)準(zhǔn)的過程中，只要光檢裝置的檢測中心直接對(duì)準(zhǔn)十字定位架的中心即可實(shí)現(xiàn)測試針與晶體管的對(duì)準(zhǔn)，所以對(duì)準(zhǔn)的過程中只要將光檢裝置的檢測中心與十字架的中心對(duì)準(zhǔn)即可，提高了條帶測試分選機(jī)的對(duì)準(zhǔn)工作效率，進(jìn)而提高了整個(gè)條帶測試分選機(jī)的工作效率。
文檔編號(hào)B07C5/342GK201940380SQ20102066403
公開日2011年8月24日 申請日期2010年12月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月16日
發(fā)明者張巍巍 申請人:江陰格朗瑞科技有限公司