一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，包括固定在設(shè)備上的由多個(gè)測(cè)試探針組成的測(cè)試爪，所述測(cè)試爪的數(shù)量為兩個(gè)，其中一個(gè)測(cè)試爪位于待測(cè)工件的上方，用于與測(cè)試管腳的上端面接觸；另一個(gè)測(cè)試爪位于待測(cè)工件的下方，用于與測(cè)試管腳的下端面接觸，兩個(gè)測(cè)試爪中相應(yīng)的測(cè)試探針相互導(dǎo)通。在一個(gè)具體的實(shí)施例中，所述每個(gè)測(cè)試爪中測(cè)試探針的數(shù)量為三個(gè)。本實(shí)用新型的測(cè)試機(jī)構(gòu)，使得當(dāng)其中一個(gè)測(cè)試爪中的某個(gè)測(cè)試探針與其對(duì)應(yīng)的管腳接觸不良時(shí)，可以采用另一個(gè)測(cè)試爪中相應(yīng)的測(cè)試探針，從而保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，降低了誤判率。
【專利說(shuō)明】一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電子元器件的測(cè)試分選機(jī)，更準(zhǔn)確地說(shuō)，涉及一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]測(cè)試分選機(jī)是一種對(duì)電子元器件進(jìn)行分選測(cè)試的儀器，其一般包括上料機(jī)構(gòu)、取料機(jī)構(gòu)、測(cè)試分選機(jī)構(gòu)等等。以三極管測(cè)試分選機(jī)為例，采用測(cè)試爪接觸三極管的三個(gè)管腳，導(dǎo)通來(lái)獲得測(cè)試的數(shù)據(jù)，以判斷是否合格。但是現(xiàn)有的測(cè)試分選機(jī)中，會(huì)經(jīng)常出現(xiàn)某個(gè)爪與相應(yīng)的管腳接觸不良的問(wèn)題，造成測(cè)試結(jié)果與實(shí)際不符，從而影響測(cè)試的結(jié)果。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題，提供了一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述的目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，包括固定在設(shè)備上的由多個(gè)測(cè)試探針組成的測(cè)試爪，所述測(cè)試爪的數(shù)量為兩個(gè)，其中一個(gè)測(cè)試爪位于待測(cè)工件的上方，用于與測(cè)試管腳的上端面接觸；另一個(gè)測(cè)試爪位于待測(cè)工件的下方，用于與測(cè)試管腳的下端面接觸，兩個(gè)測(cè)試爪中相應(yīng)的測(cè)試探針相互導(dǎo)通。
[0005]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，所述每個(gè)測(cè)試爪中測(cè)試探針的數(shù)量為三個(gè)。
[0006]本實(shí)用新型的測(cè)試機(jī)構(gòu)，使得當(dāng)其中一個(gè)測(cè)試爪中的某個(gè)測(cè)試探針與其對(duì)應(yīng)的管腳接觸不良時(shí)，可以采用另一個(gè)測(cè)試爪中相應(yīng)的測(cè)試探針來(lái)替代，從而保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，降低了誤判率。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0007]圖1示出了本實(shí)用新型測(cè)試機(jī)構(gòu)的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0008]為了使本實(shí)用新型解決的技術(shù)問(wèn)題、采用的技術(shù)方案、取得的技術(shù)效果易于理解，下面結(jié)合具體的附圖，對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】做進(jìn)一步說(shuō)明。
[0009]參考圖1，本實(shí)用新型提供的一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，包括固定在設(shè)備上的由多個(gè)測(cè)試探針組成的測(cè)試爪，通過(guò)測(cè)試爪上的每個(gè)測(cè)試探針與元器件的每個(gè)管腳分別接觸導(dǎo)通，來(lái)檢測(cè)該電子元器件是否合格。
[0010]本實(shí)用新型的測(cè)試機(jī)構(gòu)中，測(cè)試爪的數(shù)量為兩個(gè)，其中一個(gè)測(cè)試爪I位于待測(cè)工件2的上方，用于與測(cè)試管腳的上端面接觸；另一個(gè)測(cè)試爪3位于待測(cè)工件2的下方，用于與測(cè)試管腳的下端面接觸。兩個(gè)測(cè)試爪中相應(yīng)的測(cè)試探針相互導(dǎo)通。以測(cè)試三極管為例，所述每個(gè)測(cè)試爪中測(cè)試探針的數(shù)量為三個(gè)，其中，測(cè)試爪1、3中用于導(dǎo)通三極管B極管腳的測(cè)試探針連通在一起(或共同連接在測(cè)試設(shè)備的同一端上)，用于導(dǎo)通三極管E極管腳的兩個(gè)測(cè)試探針導(dǎo)通、用于導(dǎo)通三極管C極管腳的兩個(gè)測(cè)試探針導(dǎo)通，這樣的結(jié)構(gòu)，使得當(dāng)其中一個(gè)測(cè)試爪中的某個(gè)測(cè)試探針與其對(duì)應(yīng)的管腳接觸不良時(shí)，可以采用另一個(gè)測(cè)試爪中相應(yīng)的測(cè)試探針，從而保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，降低了誤判率。
[0011]本實(shí)用新型已通過(guò)優(yōu)選的實(shí)施方式進(jìn)行了詳盡的說(shuō)明。然而，通過(guò)對(duì)前文的研讀，對(duì)各實(shí)施方式的變化和增加也是本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員所顯而易見的。 申請(qǐng)人:的意圖是所有這些變化和增加都落在了本實(shí)用新型權(quán)利要求所保護(hù)的范圍中。
[0012]相似的編號(hào)通篇指代相似的元件。為清晰起見，在附圖中可能有將某些線、層、元件、部件或特征放大的情況。
[0013]本文中使用的術(shù)語(yǔ)僅為對(duì)具體的實(shí)施例加以說(shuō)明，其并非意在對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行限制。除非另有定義，本文中使用的所有術(shù)語(yǔ)(包括技術(shù)術(shù)語(yǔ)和科學(xué)術(shù)語(yǔ))均與本實(shí)用新型所屬領(lǐng)域的一般技術(shù)人員的理解相同。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，包括固定在設(shè)備上的由多個(gè)測(cè)試探針組成的測(cè)試爪，其特征在于:所述測(cè)試爪的數(shù)量為兩個(gè)，其中一個(gè)測(cè)試爪位于待測(cè)工件的上方，用于與測(cè)試管腳的上端面接觸；另一個(gè)測(cè)試爪位于待測(cè)工件的下方，用于與測(cè)試管腳的下端面接觸，兩個(gè)測(cè)試爪中相應(yīng)的測(cè)試探針相互導(dǎo)通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試機(jī)構(gòu)，其特征在于:所述每個(gè)測(cè)試爪中測(cè)試探針的數(shù)量為三個(gè)。
【文檔編號(hào)】B07C5/344GK203778364SQ201320830660
【公開日】2014年8月20日 申請(qǐng)日期:2013年12月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月16日
【發(fā)明者】陽(yáng)天賜, 勞建音 申請(qǐng)人:深圳市三浦半導(dǎo)體有限公司