專利名稱：一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法。技術(shù)背景
隨著水資源持續(xù)緊張、國家節(jié)水環(huán)保政策的日趨嚴(yán)厲和水價持續(xù)上揚(yáng)，中水回用 已成為北方地區(qū)火力發(fā)電廠新建和擴(kuò)建的前提條件。反滲透作為中水回用深度處理的重要 手段，已獲得廣泛應(yīng)用。由于城市中水水質(zhì)復(fù)雜且經(jīng)常發(fā)生波動，對反滲透系統(tǒng)造成污堵的 情況時有發(fā)生，而一旦反滲透發(fā)生污堵，將對機(jī)組的穩(wěn)定可靠供水造成直接影響。
由于反滲透污堵的影響因素較多，單一從反滲透進(jìn)水水質(zhì)分析無法全面準(zhǔn)確的判 斷造成反滲透污堵的真正原因。而確定反滲透污堵的原因?qū)τ诟倪M(jìn)預(yù)處理、提高反滲透運(yùn) 行穩(wěn)定性，進(jìn)而提高機(jī)組供水穩(wěn)定性極為關(guān)鍵。目前國內(nèi)對于中水回用系統(tǒng)反滲透污堵的 原因分析大都需要將反滲透膜解剖后進(jìn)行光譜分析。這是一種對反滲透膜的破壞性檢查， 不但需要制水系統(tǒng)停運(yùn)，而且反滲透膜價格昂貴，分析成本較高。因此提供一種反滲透系統(tǒng) 污堵的非破壞性查定方法對于降低成本，提高系統(tǒng)連續(xù)運(yùn)行穩(wěn)定性非常必要。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對上述問題，提供一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞 性查定方法。利用等離子體發(fā)射光譜(ICP)技術(shù)對反滲透進(jìn)水、反滲透化學(xué)清洗廢液進(jìn)行元 素分析，對反滲透系統(tǒng)中的污堵物質(zhì)進(jìn)行灼燒減量試驗，并對灼燒后的物質(zhì)進(jìn)行元素分析， 結(jié)合反滲透污堵的機(jī)理，準(zhǔn)確判斷造成反滲透污堵的原因，不需要制水系統(tǒng)停運(yùn)，在制水系 統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行，可同時進(jìn)行其他方面的試驗和措施。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題采取的技術(shù)方案一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法，其是采用等離子體發(fā)射光譜儀對反滲透系 統(tǒng)進(jìn)水、反滲透化學(xué)清洗后的廢液以及反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)進(jìn)行元素分析，以確定造成反 滲透系統(tǒng)污堵的原因。
所述反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)通過在反滲透系統(tǒng)表面刮取后獲得。
將在反滲透系統(tǒng)表面刮取的反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)先后于550°C和80(TC下灼燒至 恒重，計算兩次灼燒的灼燒減量，對灼燒后的殘留物利用離子體發(fā)射光譜儀進(jìn)行元素分析， 以確定造成污堵的原因。
所述反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)還可以取自SDI膜片對反滲透系統(tǒng)進(jìn)水進(jìn)行過濾后的 濾出物。
對過濾后的SDI膜片進(jìn)行灼燒，先后于550°C和800°C下灼燒至恒重，計算兩次灼 燒的灼燒減量，對灼燒后的殘留物利用離子體發(fā)射光譜儀進(jìn)行元素分析，以確定造成污堵 的原因。
本發(fā)明采用上述技術(shù)方案取得的有益效果如下(I)本發(fā)明不需要反滲透系統(tǒng)停運(yùn)，在反滲透系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行，可同時進(jìn)行其他方面的試驗和措施。
(2)本發(fā)明不會造成反滲透膜的破壞性損壞，有效降低分析成本。
具體實施方式
實施例1河北南網(wǎng)某電廠對反滲透系統(tǒng)進(jìn)行了化學(xué)清洗，化學(xué)清洗方式為①酸洗(鹽酸PH值 2),②酸洗后浸泡,③浸泡后水沖洗,④堿洗(氫氧化鈉和十二烷基苯磺酸鈉pH值12)，⑤ 堿洗后浸泡，⑥浸泡后水沖洗，⑦再酸洗。我們對清洗排液進(jìn)行了等離子發(fā)射光譜(ICP)元素分析，分析結(jié)果見表I。
表I反滲透化學(xué)清洗排液元素分析(單位mg/L)
權(quán)利要求
1.一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法，其特征在于采用等離子體發(fā)射光譜儀對反滲透系統(tǒng)進(jìn)水、反滲透化學(xué)清洗后的廢液以及反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)進(jìn)行元素分析，以確定造成反滲透系統(tǒng)污堵的原因。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法，其特征在于所述反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)通過在反滲透系統(tǒng)表面刮取后獲得。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法，其特征在于將在反滲透系統(tǒng)表面刮取的反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)先后于550°C和80(TC下灼燒至恒重，計算兩次灼燒的灼燒減量，對灼燒后的殘留物利用離子體發(fā)射光譜儀進(jìn)行元素分析，以確定造成污堵的原因。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法，其特征在于所述反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)取自SDI膜片對反滲透系統(tǒng)進(jìn)水進(jìn)行過濾后的濾出物。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法，其特征在于對過濾后的SDI膜片進(jìn)行灼燒，先后于550°C和800°C下灼燒至恒重，計算兩次灼燒的灼燒減量， 對灼燒后的殘留物利用離子體發(fā)射光譜儀進(jìn)行元素分析，以確定造成污堵的原因。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法，其是采用等離子體發(fā)射光譜儀對反滲透系統(tǒng)進(jìn)水、反滲透化學(xué)清洗后的廢液以及反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)進(jìn)行元素分析，以確定造成反滲透系統(tǒng)污堵的原因。本發(fā)明不需要反滲透系統(tǒng)停運(yùn)，在反滲透系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行，可同時進(jìn)行其他方面的試驗和措施，且不會造成反滲透膜的破壞性損壞，有效降低分析成本。
文檔編號B01D65/10GK103041711SQ20131002870
公開日2013年4月17日 申請日期2013年1月25日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月25日
發(fā)明者龍瀟, 石景燕, 劉克成, 高燕寧, 任漢濤, 張建華 申請人:河北省電力建設(shè)調(diào)整試驗所, 國家電網(wǎng)公司, 河北省電力公司電力科學(xué)研究院