專利名稱：一種涂漿機上漿量檢測裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于瓦楞紙板機械制造領域，具體涉及一種涂漿機上漿量檢測裝置。
背景技術：
目前的瓦楞紙板生產(chǎn)線上涂漿機對瓦楞紙的涂漿厚度的控制，如圖(I)所示，為現(xiàn)有常用的瓦楞紙板生產(chǎn)過程中涂漿機控漿裝置及方式，主要過程是涂漿輥I在漿盆3上沾上漿料8后，經(jīng)過控漿輥2刮漿，將厚度11的涂漿涂在單面瓦楞紙9上，最后單面瓦楞紙9與面紙10進行粘合，其涂漿厚度檢測方式是根據(jù)涂漿輥I軸心坐標101、控漿輥2軸心坐標201、涂漿輥I半徑102、控漿輥2半徑202，計算涂漿輥I和控漿輥2之間的間隙，即得到涂漿厚度11。這種方式的主要問題是由于安裝或者機械振動等原因，涂漿輥I和控漿輥2的軸心坐標都很難確定。此外，由于涂漿輥I和控漿輥2在涂漿和刮漿的過程中受到磨損，他們的半徑也會隨使用時間以及工作量的增大而減小。所以這種測量方式精度不夠高，容易導致漿料浪費和生產(chǎn)質(zhì)量不合格等。

實用新型內(nèi)容本實用新型解決的技術問題是克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種提高上漿量厚度測量精度，提高成品質(zhì)量和成品合格率的涂漿機上漿量檢測裝置。為解決上述技術問題，本實用新型采用的技術方案如下一種涂漿機上漿量檢測裝置，包括涂漿輥、控漿輥、漿盆，還包括用于檢測涂漿輥上涂漿厚度的膜厚計、用于對涂漿輥和控漿輥進行位置調(diào)整的運動執(zhí)行機構、用于接收膜厚計數(shù)據(jù)并對運動執(zhí)行機構進行控制的系統(tǒng)控制器，所述膜厚計設置在涂漿輥和控漿輥的上方，膜厚計與系統(tǒng)控制器連接，系統(tǒng)控制器與運動執(zhí)行機構連接，運動執(zhí)行機構與涂漿輥、控漿輥連接。上述方案中，所述膜厚計為P偏光方式紅外線膜厚計。上述方案中，所述系統(tǒng)控制器還連接有用于顯示系統(tǒng)控制器數(shù)據(jù)的顯示器。與現(xiàn)有技術相比，本實用新型技術方案的有益效果是本實用新型在涂漿輥對瓦楞紙涂漿之前，采用P偏光方式紅外線膜厚計對漿料厚度進行檢測，能夠提高上漿量厚度測量精度，并根據(jù)實測的漿料厚度反饋給系統(tǒng)控制器，系統(tǒng)控制器根據(jù)實測漿料厚度與要求的標準漿料厚度進行比對，從而調(diào)整涂漿輥與控漿輥之間的間隙。保證涂在瓦楞紙上的漿料厚度達到預設要求，同時涂漿厚度比較均勻。在節(jié)約漿料的同時，有效地提高了成品質(zhì)量和成品合格率。本實用新型還設置了與系統(tǒng)控制器連接的顯示器，系統(tǒng)控制器所接收到數(shù)據(jù)和經(jīng)過其處理的相關數(shù)據(jù)都可以通過顯示器顯示出來，可以對涂漿厚度進行實時的人性化監(jiān)控，此外，膜厚計對漿料厚度的檢測可以采用在線檢測和離線檢測，既可以對實時的生產(chǎn)進行檢測和監(jiān)控，還可以對將對漿料的檢測應用到除在線生產(chǎn)外的離線檢測中，如獲取不同材料的漿料或不同濃度的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應關系時，可以采用離線方式進行檢測，此時無需開啟整個瓦楞紙板生產(chǎn)線就可以進行檢測，只需運行涂漿輥、膜厚計、控制器、顯示器等相關部件就對涂漿輥上的上漿量厚度進行檢測，大大節(jié)省了生產(chǎn)成本，更大大方便了整個檢測過程。

圖I為現(xiàn)有技術中對涂漿機上漿量厚度常用檢測方式的結構示意圖；圖2為本實用新型中一種涂漿機上漿量檢測裝置結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例對本實用新型的技術方案做進一步的說明。如圖2所示，本實用新型中一種涂漿機上漿量檢測裝置，包括涂漿輥I、控漿輥2、漿盆3，膜厚計4、運動執(zhí)行機構5 (圖中未顯示)、系統(tǒng)控制器6和顯示器7 ；膜厚計4為P偏光方式紅外線膜厚計，其設置在涂漿輥I和控漿輥2的上方，用于檢測涂漿輥上涂漿厚度；運動執(zhí)行機構5與涂漿輥I、控漿輥2連接，系統(tǒng)控制器6與膜厚計4、運動執(zhí)行機構5連接，接收膜厚計檢測的數(shù)據(jù)，并根據(jù)接收到的涂漿厚度計算出涂漿實測厚度與標準厚度的偏差值，運動執(zhí)行機構5根據(jù)偏差值對涂漿輥和控漿輥進行位置調(diào)整。顯示器7與系統(tǒng)控制器6連接，用于顯示系統(tǒng)控制器中相關數(shù)據(jù)。本實用新型中的工作過程如下涂漿輥I轉(zhuǎn)動經(jīng)過漿盆3沾上漿料8，再經(jīng)過控漿輥2進行刮漿處理；利用膜厚計4對涂漿輥I上的涂漿厚度進行實時檢測；膜厚計4為P偏光方式紅外線膜厚計膜厚計4將檢測到的涂漿厚度實時數(shù)據(jù)發(fā)送給系統(tǒng)控制器6 ；涂漿輥I將漿料8涂在單面瓦楞紙9上，單面瓦楞紙9與面紙10進行粘合；系統(tǒng)控制器6根據(jù)接收到的涂漿厚度計算出涂漿實測厚度與標準厚度的偏差值；運動執(zhí)行機構5根據(jù)偏差值調(diào)整涂漿輥I與控漿輥2之間的間隙；調(diào)整后的涂漿輥I進行下一次的沾漿料操作。實時調(diào)整涂漿輥I與控漿輥2之間的間隙，可以保證涂中瓦楞紙上的漿料8厚度達到預期設計要求，同時保證了涂漿厚度比較均勻，在節(jié)約漿料的同時，有效提高了成品質(zhì)量和成品合格率。膜厚計4對上漿量厚度的檢測采用在線檢測或離線檢測，系統(tǒng)控制器6中的數(shù)據(jù)通過顯示器8顯示，上漿量的厚度曲線可以通過顯示器8直接觀察，對涂漿機的上漿量進行實時監(jiān)控。在對涂漿輥I上漿量進行實時檢測前，P偏光方式紅外線膜厚計還需進行如下步驟設置P偏光方式紅外線膜厚計的位置利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同材料的漿料進行實驗檢測，獲取不同材料的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應關系；利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同濃度的漿料進行實驗檢測，獲取不同濃度的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應關系；根據(jù)獲取的對應關系和要進行實時檢測的漿料的材料、濃度設置要進行實時檢測的P偏光方式紅外線膜厚計的位置。
權利要求1.一種涂漿機上漿量檢測裝置，包括涂漿輥(I)、控漿輥(2)、漿盆(3)，其特征在于，還包括用于檢測涂漿輥(I)上涂漿厚度的膜厚計(4 )、用于對涂漿輥(I)和控漿輥(2 )進行位置調(diào)整的運動執(zhí)行機構(5)、用于接收膜厚計(4)數(shù)據(jù)并對運動執(zhí)行機構(5)進行控制的系統(tǒng)控制器(6)，所述膜厚計(4)設置在涂漿輥(I)和控漿輥(2)的上方，膜厚計(4)與系統(tǒng)控制器(6 )連接，系統(tǒng)控制器(6 )與運動執(zhí)行機構(5 )連接，運動執(zhí)行機構(5 )與涂漿輥(I)、控漿輥(2)連接。
2.根據(jù)權利要求I所述的涂漿機上漿量檢測裝置，其特征在于，所述膜厚計(4)為P偏光方式紅外線膜厚計。
3.根據(jù)權利要求I或2所述的涂漿機上漿量檢測裝置，其特征在于，所述系統(tǒng)控制器還連接有用于顯示系統(tǒng)控制器數(shù)據(jù)的顯示器(J)。
專利摘要本實用新型屬于瓦楞紙板機械制造領域，具體涉及一種涂漿機上漿量檢測裝置。所述裝置包括涂漿輥、控漿輥、漿盆，還包括用于檢測涂漿輥上涂漿厚度的膜厚計、用于對涂漿輥和控漿輥進行位置調(diào)整的運動執(zhí)行機構、用于接收膜厚計數(shù)據(jù)并對運動執(zhí)行機構進行控制的系統(tǒng)控制器，所述膜厚計設置在涂漿輥和控漿輥的上方，膜厚計與系統(tǒng)控制器連接，系統(tǒng)控制器與運動執(zhí)行機構連接，運動執(zhí)行機構與涂漿輥、控漿輥連接。本實用新型能提高上漿量厚度測量精度，保證涂在瓦楞紙上的漿料厚度達到預設要求，同時涂漿厚度比較均勻。在節(jié)約漿料的同時，有效地提高了成品質(zhì)量和成品合格率。
文檔編號B05C11/02GK202377163SQ20112054611
公開日2012年8月15日 申請日期2011年12月23日 優(yōu)先權日2011年12月23日
發(fā)明者田剛, 程良倫, 黃加異, 黃雙歡, 黃曼 申請人:廣東工業(yè)大學