技術(shù)特征：

1.一種面向鍛件目標(biāo)晶粒組織的等溫模鍛工藝軌跡規(guī)劃方法，其特征在于：基于在線感知的已完成工藝軌跡，調(diào)整后續(xù)的等溫模鍛工藝軌跡，確保達(dá)到預(yù)設(shè)目標(biāo)晶粒組織，從而有效地保障了鍛件品質(zhì)的穩(wěn)定性和一致性，該方法包括如下步驟：

步驟1：輸入鍛坯初始信息、預(yù)設(shè)目標(biāo)晶粒組織、預(yù)規(guī)劃的工藝軌跡信息，以及等溫模鍛裝備參數(shù)，開始等溫模鍛；

步驟2：在線感知當(dāng)前子過程的工況信息，并預(yù)測當(dāng)前的和按照當(dāng)前等溫模鍛工藝軌跡執(zhí)行到等溫模鍛結(jié)束時(shí)的晶粒組織；

步驟3：計(jì)算預(yù)測的等溫模鍛結(jié)束時(shí)晶粒組織和預(yù)設(shè)目標(biāo)晶粒組織之間的偏差，規(guī)劃后續(xù)子過程的等溫模鍛工藝軌跡，并執(zhí)行；

步驟4：重復(fù)步驟(2)和(3)，直至等溫模鍛結(jié)束。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：步驟3所述的計(jì)算預(yù)測的等溫模鍛結(jié)束時(shí)晶粒組織和預(yù)設(shè)目標(biāo)晶粒組織之間的偏差，主要包括以下兩個(gè)部分：

(1)在當(dāng)前子過程的變形階段，晶粒組織偏差的計(jì)算式為：

Y(i,k)＝X_(i,final)-X_target (1)

$J(i,k)=\sqrt{{(d_{(i,final)}-d_{t\arg et})}^2}---\left(2\right)$

其中，Y(i,k)為在當(dāng)前子過程預(yù)測的等溫模鍛結(jié)束時(shí)再結(jié)晶分?jǐn)?shù)與預(yù)設(shè)目標(biāo)再結(jié)晶分?jǐn)?shù)之差，J(i,k)為在當(dāng)前子過程預(yù)測的等溫模鍛結(jié)束時(shí)平均晶粒尺寸與預(yù)設(shè)目標(biāo)平均晶粒尺寸之差，X_(i,final)和d_(i,final)分別為在當(dāng)前子過程的變形階段，按照當(dāng)前工藝軌跡執(zhí)行到等溫模鍛結(jié)束時(shí)的再結(jié)晶分?jǐn)?shù)和平均晶粒尺寸預(yù)測值，X_target和d_target分別為預(yù)設(shè)目標(biāo)再結(jié)晶分?jǐn)?shù)和平均晶粒尺寸；

(2)在當(dāng)前子過程的保溫階段，晶粒組織偏差的計(jì)算式為：

Y(i,k)＝XH_(i,final)-X_target (3)

$J(i,k)=\sqrt{{({\mathrm{dH}}_{(i,final)}-d_{t\arg et})}^2}---\left(4\right)$

其中，XH_(i,final)和dH_(i,final)分別為在當(dāng)前子過程的保溫階段，按照當(dāng)前等溫模鍛工藝軌跡執(zhí)行到等溫模鍛結(jié)束時(shí)的再結(jié)晶分?jǐn)?shù)和平均晶粒尺寸預(yù)測值。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，步驟3所述的規(guī)劃后續(xù)子過程的等溫模鍛工藝軌跡，主要包括如下子步驟：

(1)在當(dāng)前子過程，判斷預(yù)測的按照當(dāng)前等溫模鍛工藝軌跡執(zhí)行到等溫模鍛結(jié)束時(shí)再結(jié)晶分?jǐn)?shù)與預(yù)設(shè)目標(biāo)再結(jié)晶分?jǐn)?shù)之差是否滿足：Y(i,k)≥0，若滿足，則繼續(xù)判斷預(yù)測的按照當(dāng)前等溫模鍛工藝軌跡執(zhí)行到等溫模鍛結(jié)束時(shí)的平均晶粒尺寸與預(yù)設(shè)目標(biāo)平均晶粒尺寸之差是否滿足：J(i,k)≤δ，若滿足，則后續(xù)子過程的等溫模鍛工藝軌跡為：以當(dāng)前子過程的等溫模鍛壓下速度進(jìn)行后續(xù)子過程；

(2)在當(dāng)前子過程，若Y(i,k)＜0，則將減小后續(xù)子過程的等溫模鍛壓下速度，直到能夠滿足Y(i,k)≥0時(shí)，繼續(xù)判斷J(i,k)≤δ是否滿足，若滿足，則后續(xù)子過程的等溫模鍛工藝軌跡為：以減小后的等溫模鍛壓下速度進(jìn)行后續(xù)子過程；

(3)若在當(dāng)前子過程，將后續(xù)子過程的等溫模鍛壓下速度重新規(guī)劃后，仍然不能滿足Y(i,k)≥0，則在當(dāng)前子過程變形階段結(jié)束時(shí)，規(guī)劃一次保溫工藝，保溫時(shí)間為Δts，再次判斷Y(i,k)≥0是否滿足，若滿足，則繼續(xù)判斷J(i,k)≤δ是否滿足，若滿足，則將規(guī)劃的保溫時(shí)間Δt輸出，同時(shí)確定后續(xù)子過程的等溫模鍛工藝軌跡為：先進(jìn)行Δt的保溫工藝，再以當(dāng)前的等溫模鍛壓下速度進(jìn)行后續(xù)子過程；

(4)若在當(dāng)前子過程結(jié)束時(shí)，增加Δts保溫的工藝仍然不能滿足Y(i,k)≥0，則繼續(xù)將保溫時(shí)間增加為nΔts(n為正整數(shù))，直到能夠同時(shí)滿足Y(i,k)≥0和J(i,k)≤δ時(shí)停止規(guī)劃，并將規(guī)劃的保溫時(shí)間nΔt輸出，同時(shí)確定后續(xù)子過程的等溫模鍛工藝軌跡為：先進(jìn)行nΔt的保溫工藝，再以當(dāng)前的等溫模鍛壓下速度進(jìn)行后續(xù)子過程。