1.一種亮度補(bǔ)償方法，其特征在于，所述方法包括：
在顯示面板的有效顯示區(qū)域設(shè)置偵測電阻，并對所述偵測電阻提供偵測電流；
實(shí)時檢測所述偵測電阻兩端的電壓差值，并將所述電壓差值與常溫下所述偵測電阻的壓降進(jìn)行比較得到電壓偏移量；
根據(jù)所述電壓偏移量、所述偵測電流的電流值及所述偵測電阻的材料系數(shù)得到所述顯示面板的有效顯示區(qū)域的實(shí)時溫度；以及
計(jì)算在所述實(shí)時溫度下每個子像素中ELVDD走線的電阻值，并根據(jù)所述實(shí)時溫度下每個子像素中ELVDD走線的電阻值調(diào)整數(shù)據(jù)電壓。
2.如權(quán)利要求1所述的亮度補(bǔ)償方法，其特征在于，將所述電壓差值與常溫下所述偵測電阻的壓降進(jìn)行比較得到電壓偏移量的步驟包括：
將所述電壓差值進(jìn)行放大；
對放大后的電壓差值進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，以得到數(shù)字電壓差值；
將所述數(shù)字電壓差值與常溫下所述偵測電阻的壓降進(jìn)行比較后得到數(shù)字電壓差值與常溫下所述偵測電阻的壓降的差值；
將所述數(shù)字電壓差值與常溫下所述偵測電阻的壓降的差值進(jìn)行放大后得到電壓偏移量。
3.如權(quán)利要求1或2所述的亮度補(bǔ)償方法，其特征在于，根據(jù)所述電壓偏移量、所述偵測電流的電流值及所述偵測電阻的材料系數(shù)得到所述顯示面板的有效顯示區(qū)域的實(shí)時溫度的步驟包括：
根據(jù)所述電壓偏移量及所述偵測電流的電流值計(jì)算出所述偵測電阻的電阻變化量；以及
根據(jù)所述偵測電阻的電阻變化量、所述偵測電阻的溫度系數(shù)、所述偵測電阻的電阻率得到所述顯示面板的有效顯示區(qū)域的實(shí)時溫度。
4.如權(quán)利要求1所述的亮度補(bǔ)償方法，其特征在于，所述偵測電阻的方阻與所述ELVDD走線的方阻相同。
5.一種亮度補(bǔ)償裝置，其特征在于，所述亮度補(bǔ)償裝置包括：
偵測電阻，所述偵測電阻位于顯示面板的有效顯示區(qū)域內(nèi)，所述偵測電阻的一端接收偵測電流；
電壓偏移量獲取模塊，用于實(shí)時檢測所述偵測電阻兩端的電壓差值，并將所述電壓差值與常溫下所述偵測電阻的壓降進(jìn)行比較得到電壓偏移量；
溫度獲取模塊，用于根據(jù)所述電壓偏移量、所述偵測電流的電流值及偵測電阻的材料系數(shù)得到所述顯示面板的有效顯示區(qū)域的實(shí)時溫度；以及
電壓調(diào)整模塊，用于計(jì)算在所述實(shí)時溫度下ELVDD走線的電阻值，并根據(jù)所述實(shí)時溫度下ELVDD走線的電阻值調(diào)整數(shù)據(jù)電壓。
6.如權(quán)利要求5所述的亮度補(bǔ)償裝置，其特征在于，所述電壓偏移量獲取模塊包括：
第一差分放大器，用于實(shí)時檢測所述偵測電阻兩端的電壓差值，并將所述電壓差值進(jìn)行放大；
模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用于對放大后的電壓差值進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，以得到數(shù)字電壓差值；
第二差分放大器，用于將所述數(shù)字電壓差值與常溫下所述偵測電阻的壓降進(jìn)行比較后放大得到電壓偏移量。
7.如權(quán)利要求5所述的亮度補(bǔ)償裝置，其特征在于，所述溫度獲取模塊包括：
電阻變化量獲取單元，用于根據(jù)所述電壓偏移量及所述偵測電流的電流值計(jì)算出所述偵測電阻的電阻變化量；以及
溫度獲取單元，用于根據(jù)所述偵測電阻的電阻變化量、所述偵測電阻的溫度系數(shù)、所述偵測電阻的電阻率得到所述顯示面板的有效顯示區(qū)域的實(shí)時溫度。
8.如權(quán)利要求5所述的亮度補(bǔ)償裝置，其特征在于，所述偵測電阻的方阻與所述ELVDD走線的方阻相同。
9.一種顯示設(shè)備，其特征在于，所述顯示設(shè)備包括如權(quán)利要求5至8任意一項(xiàng)所述的亮度補(bǔ)償裝置。
10.如權(quán)利要求9所述的顯示設(shè)備，其特征在于，所述顯示設(shè)備為AMOLED顯示器。