1.一種偏振成像組件，其特征在于，包括超透鏡框、超透鏡墊片、超透鏡和探測器，超透鏡框用于支撐超透鏡墊片和超透鏡，其上開設(shè)避讓超透鏡陣列的通光區(qū)域；超透鏡墊片固定在超透鏡框上，避讓超透鏡陣列的通光區(qū)域，支撐固定超透鏡，長度與超透鏡長度一致；超透鏡上光刻有確定形狀、尺寸排列的單元結(jié)構(gòu)以形成超透鏡陣列；超透鏡框、超透鏡墊片和超透鏡構(gòu)成超透鏡組件，與探測器組裝后形成偏振成像組件，超透鏡的單元結(jié)構(gòu)與探測器像元一一對應(yīng)耦合，光線通過超透鏡后將光線轉(zhuǎn)換成不同角度光路與探測器相應(yīng)像元耦合，實(shí)施探測器的偏振成像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偏振成像組件，其特征在于，所述探測器與超透鏡框間安裝有調(diào)整墊片，采用緊固件將探測器、調(diào)整墊片及超透鏡組件固連，通過調(diào)整墊片厚度調(diào)整探測器與超透鏡的距離。
3.一種權(quán)利要求1或2所述的偏振成像組件的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，所述根據(jù)線陣探測器像元區(qū)面形，修磨超透鏡墊片的粘接面的步驟中，采用紅外干涉儀測試線陣探測器像元區(qū)面形，依據(jù)線陣探測器像元區(qū)面形修磨超透鏡墊片的粘接面，使超透鏡墊片粘接面的面形與線陣探測器像元區(qū)面形趨勢走向相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，所述超透鏡陣列區(qū)域?yàn)榫匦螀^(qū)域，其內(nèi)陣列排布有單元結(jié)構(gòu)，陣列區(qū)域兩條短邊延伸方向定義為y軸方向，兩短邊上對稱光刻有至少兩對標(biāo)識點(diǎn)，且其中兩對標(biāo)識點(diǎn)為長短邊交點(diǎn)，陣列區(qū)域長邊方向定義為x軸方向，每條長邊外側(cè)沿x軸方向光刻有一排測試點(diǎn)，每排測試點(diǎn)與相近的長邊距離相等。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，所述將修磨后的超透鏡墊片、超透鏡框和超透鏡組裝，形成超透鏡組件的步驟中，超透鏡墊片粘接面的修磨起終點(diǎn)與超透鏡兩側(cè)長短邊相交處標(biāo)識點(diǎn)對應(yīng)，將偏振片墊片固定在偏振片框上，對超透鏡墊片的粘接面均勻涂抹膠層，超透鏡放置在超透鏡墊片的粘接面上，使超透鏡表面與線陣探測器像元區(qū)面形趨勢走向相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，所述調(diào)整超透鏡組件在運(yùn)動平臺上的位置和高度，使超透鏡陣列區(qū)域的長短邊與長線陣探測器拼接裝置運(yùn)動平臺水平面上的運(yùn)動軸平行的步驟，包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，所述調(diào)整超透鏡組件在運(yùn)動平臺上的位置和高度，使超透鏡陣列區(qū)域的長短邊與長線陣探測器拼接裝置運(yùn)動平臺水平面上的運(yùn)動軸平行的步驟，包括：
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，所述調(diào)整探測器的安裝位置和高度，使探測器與超透鏡的標(biāo)識位置滿足預(yù)設(shè)位置關(guān)系，實(shí)施超透鏡陣列中單元結(jié)構(gòu)與探測器像元的對準(zhǔn)耦合的步驟，包括：
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的超透鏡偏振成像焦面耦合工藝，其特征在于，所述調(diào)整探測器的安裝位置和高度，使探測器與超透鏡的標(biāo)識位置滿足預(yù)設(shè)位置關(guān)系，實(shí)施超透鏡陣列中單元結(jié)構(gòu)與探測器像元的對準(zhǔn)耦合的步驟，包括：