技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種具有新型的像素結(jié)構(gòu)的陣列基板、顯示面板以及該顯示面板的分壓電容電極短路的檢測方法。其中，所述陣列基板的所述像素結(jié)構(gòu)包括依次排列的多個子像素，每一所述子像素包括主區(qū)、次區(qū)以及分壓電容；其中，任一所述子像素的所述分壓電容設(shè)置于同一行的相鄰另一所述子像素的所述次區(qū)的下方。通過上述方式，使像素電極的短路只會發(fā)生在不同子像素的分壓電容與次區(qū)之間，從而在陣列測試中更易于檢查出缺陷像素。

技術(shù)研發(fā)人員：安立揚
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市華星光電技術(shù)有限公司
文檔號碼：201611247168
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.29
技術(shù)公布日：2017.05.24