技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種STED超分辨顯微技術(shù)中損耗光斑的高質(zhì)量重建方法。不加載樣品光束經(jīng)過均一相位空間光調(diào)制后被物鏡聚焦，在焦平面得理想損耗光斑；加載樣品光束經(jīng)過均一相位空間光調(diào)制后被物鏡聚焦，在位于樣品內(nèi)部的焦平面得畸變損耗光斑；將空間光調(diào)制器的像素點分區(qū)，各分區(qū)加載不同的相位值，得到一系列需校正損耗光斑，接著與理想損耗光斑進行互相關計算和處理，得到各分區(qū)的相位加載最佳值；各分區(qū)經(jīng)過多次迭代處理后完成樣品內(nèi)部損耗光斑的高質(zhì)量重建。本發(fā)明能重建有損耗空心光斑，能在大深度下得到完整而良好的損耗光斑，擴展了受激輻射淬滅顯微技術(shù)的應用范圍，提高了系統(tǒng)成像深度，提升了系統(tǒng)分辨率與信噪比并優(yōu)化成像質(zhì)量。

技術(shù)研發(fā)人員：龔薇;斯科;吳晨雪
受保護的技術(shù)使用者：浙江大學
文檔號碼：201610813505
技術(shù)研發(fā)日：2016.09.11
技術(shù)公布日：2017.01.04