1.一種STED超分辨顯微技術(shù)中損耗光斑的高質(zhì)量重建方法，其特征在于包括以下步驟：
1)不加載樣品，光束先經(jīng)過(guò)均一相位的空間光調(diào)制器(1)透射，再經(jīng)過(guò)2π渦旋相位板(2)透射，然后經(jīng)過(guò)物鏡(3)聚焦，在焦平面(5)位置得到理想損耗光斑；
2)加載樣品，光束先經(jīng)過(guò)均一相位的空間光調(diào)制器透射，再經(jīng)過(guò)2π渦旋相位板透射，然后經(jīng)過(guò)物鏡聚焦到散射介質(zhì)，在位于散射介質(zhì)(4)內(nèi)部的焦平面位置處得到畸變損耗光斑；
3)光束經(jīng)過(guò)加載相位的空間光調(diào)制器透射，再經(jīng)過(guò)2π渦旋相位板透射，然后經(jīng)過(guò)物鏡聚焦到散射介質(zhì)，在位于散射介質(zhì)內(nèi)部的焦平面位置處得到需校正損耗光斑，將需校正損耗光斑與步驟1)的理想損耗光斑進(jìn)行互相關(guān)計(jì)算和處理；
4)重復(fù)步驟3)將光束經(jīng)過(guò)不同加載相位的空間光調(diào)制器進(jìn)行多次處理，完成校正重建。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種STED超分辨顯微技術(shù)中損耗光斑的高質(zhì)量重建方法，其特征在于：所述步驟4)具體是指：
4.1)將空間光調(diào)制器的像素點(diǎn)以n×n方式均勻分區(qū)，光束經(jīng)過(guò)針對(duì)分區(qū)相位調(diào)制后的空間光調(diào)制器透射，再經(jīng)過(guò)2π渦旋相位板透射，然后經(jīng)過(guò)物鏡聚焦到散射介質(zhì)，在位于散射介質(zhì)內(nèi)部的焦平面位置處得到需校正損耗光斑；
4.2)將得到的需校正損耗光斑與理想損耗光斑進(jìn)行互相關(guān)計(jì)算，得到m個(gè)相關(guān)系數(shù)；
4.3)記錄相關(guān)系數(shù)最大時(shí)分區(qū)的相位值，并以該相位值固定賦予到所對(duì)應(yīng)分區(qū)上；
4.4)空間光調(diào)制器從第一個(gè)分區(qū)開(kāi)始到最后一個(gè)分區(qū)重復(fù)上述步驟，每個(gè)分區(qū)依次進(jìn)行相位變化，完成多次，獲得最終校正后的光斑，實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量重建。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種STED超分辨顯微技術(shù)中損耗光斑的高質(zhì)量重建方法，其特征在于：所述步驟4.1)中空間光調(diào)制器是采用以下方式調(diào)制：將一分區(qū)內(nèi)所有像素點(diǎn)從2π/m到2π進(jìn)行相位值的依次間隔掃描，掃描間隔為2π/m，m表示相關(guān)系數(shù)的總數(shù)，其他分區(qū)的相位保持不變，每個(gè)相位值下進(jìn)行一次，從而獲得一組需校正損耗光斑。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種STED超分辨顯微技術(shù)中損耗光斑的高質(zhì)量重建方法，其特征在于：所述的散射介質(zhì)采用活體生物組織、離體生物組織、毛玻璃和帶非熒光小球的瓊脂等其中的一種。