本發(fā)明涉及一種檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及表面貼裝電路基板檢測(cè)用的光電顯示裝置、檢測(cè)裝置及其方法。

背景技術(shù)：

近年來(lái)，液晶顯示技術(shù)快速發(fā)展。液晶顯示技術(shù)是一種電光轉(zhuǎn)換技術(shù)，即根據(jù)加在液晶兩側(cè)的電場(chǎng)大小，改變液晶的排列狀態(tài)，從而改變經(jīng)過液晶層的光路方向，最終改變液晶顯示裝置的出光效果。

如圖1A、1B所示，一種檢測(cè)電路基板電學(xué)特性的檢測(cè)裝置，采用一塊如PDLC型光電顯示裝置10懸空在電路基板14上，該液晶顯示面板10包括對(duì)置基板11，液晶層12，反射層13。其中，圖1A為該光電顯示裝置10處于電壓關(guān)斷狀態(tài)，液晶未發(fā)生光學(xué)變化。而圖1B為該光電顯示裝置10處于加電壓狀態(tài)。通過在光電顯示裝置10的對(duì)置基板11和電路基板14之間施加電壓產(chǎn)生電場(chǎng)15，使電路基板14對(duì)應(yīng)電極上方的液晶12的狀態(tài)發(fā)生改變，根據(jù)光電顯示裝置的出光效果判斷電路基板上各個(gè)電極的電學(xué)特性，電極導(dǎo)通處的液晶光學(xué)發(fā)生正常的變化，而電極不導(dǎo)通出的液晶光學(xué)未發(fā)生變化。

相比其他電路測(cè)試方法，如飛針測(cè)試，用液晶顯示裝置檢測(cè)電路基板的電學(xué)特性，更加直觀形象。并且，沒有外加的機(jī)械力，不會(huì)造成線路板的表面損傷。但是，在圖1B中，液晶面板的基板作為絕緣層，會(huì)消弱加載到液晶上的電場(chǎng)強(qiáng)度。所以，基板必須做到微米級(jí)的厚度。然而越是薄的基板頻繁接觸到電路基板就越容易被電路基板磨損，因此顯示屏需要與電路基板保持一定的距離，但該距離的存在也會(huì)消弱加載到液晶上的電場(chǎng)強(qiáng)度。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明的目的就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提供一種可降低檢測(cè)電壓，增強(qiáng)裝置可靠性和耐久性，增加光電顯示裝置的可應(yīng)用范圍的用于電路檢測(cè)的光電顯示裝置及其用于檢測(cè)的方法。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明一方面一實(shí)施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個(gè)第一電極片，另一側(cè)表面上對(duì)應(yīng)配置有多 個(gè)第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導(dǎo)電孔實(shí)現(xiàn)電氣連接；一對(duì)置基板，與該基板對(duì)向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對(duì)置基板之間。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明另一實(shí)施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個(gè)第一電極片，另一側(cè)表面上對(duì)應(yīng)配置有多個(gè)第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導(dǎo)電孔實(shí)現(xiàn)電氣連接；一對(duì)置基板，其上配置有透明導(dǎo)電層，與該基板對(duì)向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對(duì)置基板之間。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明又一實(shí)施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個(gè)第一電極片，另一側(cè)表面上對(duì)應(yīng)配置有多個(gè)第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導(dǎo)電孔實(shí)現(xiàn)電氣連接；一對(duì)置基板，其上配置有透明導(dǎo)電層，與該基板對(duì)向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對(duì)置基板之間；其中，所述基板與所述對(duì)置基板上分別覆蓋有配向膜。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明再一實(shí)施例提出了一種光電顯示裝置，包括：一基板，具有兩側(cè)表面，一側(cè)表面上配置有多個(gè)第一電極片，另一側(cè)表面上對(duì)應(yīng)配置有多個(gè)第二電極片，一所述第一電極片與一所述第二電極片通過導(dǎo)電孔實(shí)現(xiàn)電氣連接；一對(duì)置基板，與該基板對(duì)向設(shè)置；以及一顯示介質(zhì)，設(shè)置于該基板與該對(duì)置基板之間；其中，所述基板與所述對(duì)置基板上分別覆蓋有配向膜。

進(jìn)一步地，所述基板還包括絕緣層，配置于所述基板的所述一側(cè)表面上，覆蓋所述第一電極片。

進(jìn)一步地，所述對(duì)置基板的靠近所述顯示介質(zhì)的一側(cè)配置有彩膜層。

進(jìn)一步地，所述第一、二電極片為任意形狀，且一所述第一電極片的面積比與其對(duì)應(yīng)一所述第二電極片的面積大。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明另一方面提出了一種檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)電路基板的電路特性，包括：如上述各實(shí)施例所述的光電顯示裝置，貼置在所述檢測(cè)電路基板的一側(cè)表面；導(dǎo)電板，貼置在所述檢測(cè)電路基板的另一側(cè)表面，用于為所述電路基板和所述光電顯示裝置提供電源。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明另一方面提出了一種檢測(cè)方法，用于檢測(cè)電路基板的電路特性，所述電路基板具有兩側(cè)電路圖案，通過導(dǎo)電過孔導(dǎo)通，包括：提供上述實(shí)施例中垂直電場(chǎng)切換型光電顯示裝置，貼置在所述檢測(cè)電路基板的一側(cè)表面；提供一導(dǎo)電 板，貼置在所述檢測(cè)電路基板的另一側(cè)表面，用于為所述電路基板和所述光電顯示裝置提供電源；在所述對(duì)置基板上的所述導(dǎo)電層和所述導(dǎo)電板之間施加一檢測(cè)電壓，施加在所述導(dǎo)電板上的電壓通過所述電路基板的所述導(dǎo)電過孔傳導(dǎo)到所述基板的所述第二電極片，再通過所述導(dǎo)電孔傳導(dǎo)到所述基板的所述第一電極片；根據(jù)所述光電顯示裝置的顯示結(jié)果，判斷所述電路基板的電路特性情況。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明再一方面提出了一種檢測(cè)方法，用于檢測(cè)電路基板的電路特性，所述電路基板具有兩側(cè)電路圖案，通過導(dǎo)電過孔導(dǎo)通，包括：提供上述實(shí)施例中共面電場(chǎng)切換型光電顯示裝置，貼置在所述檢測(cè)電路基板的一側(cè)表面；提供一導(dǎo)電板，具有多個(gè)導(dǎo)電圖案單元，貼置在所述檢測(cè)電路基板的另一側(cè)表面，一所述導(dǎo)電圖案單元與所述第二電極片對(duì)應(yīng)，用于為所述電路基板和所述光電顯示裝置提供電源；通過對(duì)所述導(dǎo)電板上兩相鄰的所述導(dǎo)電圖案單元施加檢測(cè)電壓，施加在所述導(dǎo)電板上的所述檢測(cè)電壓通過所述電路基板上對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述導(dǎo)電過孔傳導(dǎo)到所述基板上對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述第二電極片，再通過對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述導(dǎo)電孔傳導(dǎo)到對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述第一電極片；根據(jù)所述光電顯示裝置的顯示結(jié)果，判斷所述電路基板的電路特性情況。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)：

本發(fā)明通過將待檢測(cè)電路基板的一側(cè)和光電顯示裝置一側(cè)分別作為液晶的兩個(gè)電極，或者通過將待檢測(cè)電路基板的一側(cè)的兩個(gè)相鄰電極分別作為液晶的兩個(gè)電極，對(duì)光電顯示裝置和/或電路基板施加電壓后，使光電顯示裝置實(shí)現(xiàn)電控光閥的作用，從而在光電顯示裝置上顯示出線路電氣特征，最終能準(zhǔn)確、直觀地判斷電路的短路和斷路情況?？山档蜋z測(cè)電壓，增強(qiáng)裝置可靠性和耐久性。

附圖說明

圖1A、1B為本發(fā)明現(xiàn)有技術(shù)的液晶顯示裝置的剖面示意圖；

圖2A為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置一實(shí)施例的剖面示意圖；

圖2B為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置另一實(shí)施例的剖面示意圖；

圖3A為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置又一實(shí)施例的剖面示意圖；

圖3B為示意性示出本發(fā)明光電顯示裝置再一實(shí)施例的剖面示意圖；

圖4A為示意性示出本發(fā)明檢測(cè)裝置一實(shí)施例的剖面示意圖；

圖4B為示意性示出本發(fā)明檢測(cè)裝置又一實(shí)施例的剖面示意圖；

圖5A為示意性示出本發(fā)明正常電路基板中導(dǎo)電過孔矩陣的平面示意圖；

圖5B為示意性示出本發(fā)明檢測(cè)圖5A所示正常電路基板的檢測(cè)裝置顯示畫面示意圖；

圖6為示意性示出本發(fā)明檢測(cè)存在導(dǎo)電過孔斷路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；

圖7A為示意性示出本發(fā)明檢測(cè)圖6所示電路基板中導(dǎo)電過孔矩陣的平面示意圖；

圖7B為示意性示出本發(fā)明檢測(cè)圖6所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖；

圖8為示意性示出本發(fā)明檢測(cè)存在相鄰導(dǎo)電過孔短路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；

圖9A示意性示出為本發(fā)明檢測(cè)圖8所示電路基板中導(dǎo)電過孔矩陣的平面示意圖；

圖9B示意性示出為本發(fā)明檢測(cè)圖8所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。

具體實(shí)施方式

圖2A為本發(fā)明光電顯示裝置一實(shí)施例的剖面示意圖。如圖2A所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板230、一與所述基板230對(duì)向設(shè)置的對(duì)置基板210，以及夾在基板230與所述對(duì)置基板210之間的液晶層220。所述對(duì)置基板210和基板230可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等。

其中，所述對(duì)置基板210在靠近所述液晶層220一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實(shí)現(xiàn)彩色顯示畫面。

所述基板230具有兩側(cè)表面，在所述基板230的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個(gè)第一電極片231形成的矩陣，在所述基板230的另一側(cè)表面布置多個(gè)第二電極片233形成的矩陣，一所述第一電極片231與一所述第二電極片233上下垂直對(duì)應(yīng)，且一所述第一電極片231與一所述第二電極片233之間通過導(dǎo)電孔232實(shí)現(xiàn)電學(xué)導(dǎo)通連接。且所述基板230靠近液晶層220的表面覆蓋有透明絕緣層235。

在一具體的實(shí)現(xiàn)中，所述第一電極片231與所述第二電極片233可以為金屬、合金、復(fù)合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板230上，所述第一、二電極片231、233可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，一所述第一電極片231的形狀與光電顯示裝置顯示區(qū)域內(nèi)一所述像素單元的形狀相同，所述一第一電極片231的面積比與其對(duì)應(yīng)一所述第二電極片233的面積大，所述一第一電極片231面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識(shí)別，所述 顯示缺陷包括點(diǎn)缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片233面積較小以提高被測(cè)試電路基板上測(cè)試點(diǎn)的精細(xì)度。

在圖2A所示的光電顯示裝置中，所述液晶層220中的材料優(yōu)選地為采用藍(lán)相(Blue Phase，BP)液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對(duì)置基板無(wú)需設(shè)置導(dǎo)電層，兩側(cè)基板不用涂布配向膜。該光電顯示裝置為共面電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

圖2B為本發(fā)明光電顯示裝置另一實(shí)施例的剖面示意圖。如圖2B所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板230’、一與所述基板230’對(duì)向設(shè)置的對(duì)置基板210’，以及夾在基板230’與所述對(duì)置基板210’之間的液晶層220’。所述對(duì)置基板210’和基板230’可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等,其中，所述基板與所述對(duì)置基板上分別覆蓋有配向膜229’。

其中，所述對(duì)置基板210’在靠近所述液晶層220’一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實(shí)現(xiàn)彩色顯示畫面，其上配置有所述配向膜229’。

所述基板230’具有兩側(cè)表面，在所述基板230’的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個(gè)第一電極片231’形成的矩陣，在所述基板230’的另一側(cè)表面布置多個(gè)第二電極片233’形成的矩陣，一所述第一電極片231’與一所述第二電極片233’上下垂直對(duì)應(yīng)，且一所述第一電極片231’與一所述第二電極片233’之間通過導(dǎo)電孔232’實(shí)現(xiàn)電學(xué)導(dǎo)通連接。且所述基板230’靠近液晶層220’的表面覆蓋有透明絕緣層235’。

在一具體的實(shí)現(xiàn)中，所述第一電極片231’與所述第二電極片233’可以為金屬、合金、復(fù)合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板230’上，所述第一、二電極片231’、233’可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，一所述第一電極片231’的形狀與光電顯示裝置顯示區(qū)域內(nèi)一所述像素單元的形狀相同，所述一第一電極片231’的面積比與其對(duì)應(yīng)一所述第二電極片233’的面積大，所述一第一電極片231’面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識(shí)別，所述顯示缺陷包括點(diǎn)缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片233’面積較小以提高被測(cè)試電路基板上測(cè)試點(diǎn)的精細(xì)度。

在圖2B所示的光電顯示裝置中，所述液晶層220’中的材料優(yōu)選地為采用平面轉(zhuǎn)換(In Plane Switching，IPS)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所 述對(duì)置基板無(wú)需設(shè)置導(dǎo)電層。該光電顯示裝置為共面電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

圖3A為本發(fā)明光電顯示裝置又一實(shí)施例的剖面示意圖。如圖3A所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板330、一與所述基板330對(duì)向的對(duì)置基板310，以及夾在基板330與所述對(duì)置基板310之間的液晶層320。所述對(duì)置基板310靠近液晶層320一側(cè)覆蓋導(dǎo)電層324。所述導(dǎo)電層324常用的材料為氧化銦錫(ITO)或摻雜氧化鋁，優(yōu)選地為氧化銦錫(ITO)材料。所述對(duì)置基板310和基板330可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等。

其中，所述對(duì)置基板310在靠近所述液晶層320一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實(shí)現(xiàn)彩色顯示畫面。

所述基板330具有兩側(cè)表面，在所述基板330的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個(gè)第一電極片331形成的矩陣，在所述基板330的另一側(cè)表面布置多個(gè)第二電極片233形成的矩陣，一所述第一電極片331與一所述第二電極片333上下垂直對(duì)應(yīng)，且一所述第一電極片331與一所述第二電極片333之間通過導(dǎo)電孔232實(shí)現(xiàn)電學(xué)導(dǎo)通連接。且所述基板330靠近液晶層320的表面覆蓋有透明絕緣層335。

在一具體的實(shí)現(xiàn)中，所述第一電極片331與所述第二電極片333可以為金屬、合金、復(fù)合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板330上，所述第一、二電極片331、333可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，所述一第一電極片331的面積比與其對(duì)應(yīng)一所述第二電極片333的面積大，所述一第一電極片331面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識(shí)別，所述顯示缺陷包括點(diǎn)缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片333面積較小以提高被測(cè)試電路基板上測(cè)試點(diǎn)的精細(xì)度。

在圖3A所示的光電顯示裝置中，所述液晶層320中的材料優(yōu)選地為表面穩(wěn)定鐵電液晶(Surface Stabilized Ferroelectric Liquid Crystal，SSFLC)或者膽甾相液晶(Cholesteric Liquid Crystal)或者聚合物分散液晶(Polymer Dispersed Liquid Crystal，PDLC)或等液晶材料。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的兩側(cè)基板無(wú)需涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在所述對(duì)置基板的所述導(dǎo)電層324與所述第二電極片333之間施加電壓，即可實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的 效果。

圖3B為本發(fā)明光電顯示裝置再一實(shí)施例的剖面示意圖。如圖3B所示，本發(fā)明提供一種光電顯示裝置，包括：一基板330’、一與所述基板330’對(duì)向設(shè)置的對(duì)置基板310’，以及夾在基板330’與所述對(duì)置基板310’之間的液晶層320’。所述對(duì)置基板310’靠近液晶層320’一側(cè)覆蓋導(dǎo)電層324’，配向膜329’覆蓋所述導(dǎo)電層324’。所述導(dǎo)電層324’常用的材料為氧化銦錫(ITO)或摻雜氧化鋁，優(yōu)選地為氧化銦錫(ITO)材料。所述對(duì)置基板310’和基板330’可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等,其中，所述基板與所述對(duì)置基板上分別覆蓋有配向膜329’。

其中，所述對(duì)置基板310’在靠近所述液晶層320’一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，相應(yīng)地所述導(dǎo)電層324’可選擇地覆蓋所述彩膜層,可以實(shí)現(xiàn)彩色顯示畫面，所述上導(dǎo)電層324’配置有所述配向膜329’。

所述基板330’具有兩側(cè)表面，在所述基板330’的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個(gè)第一電極片331’形成的矩陣，在所述基板330’的另一側(cè)表面布置多個(gè)第二電極片333’形成的矩陣，一所述第一電極片331’與一所述第二電極片333’上下垂直對(duì)應(yīng)，且一所述第一電極片331’與一所述第二電極片333’之間通過導(dǎo)電孔332’實(shí)現(xiàn)電學(xué)導(dǎo)通連接。且所述基板330’靠近液晶層320’的表面覆蓋有透明絕緣層335’,配向膜329’可選擇地覆蓋所述透明絕緣層325’。

在一具體的實(shí)現(xiàn)中，所述第一電極片331’與所述第二電極片333’可以為金屬、合金、復(fù)合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板330’上，所述第一、二電極片331’、333’可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，所述一第一電極片331’的面積比與其對(duì)應(yīng)一所述第二電極片333’的面積大，所述一第一電極片331’面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識(shí)別，所述顯示缺陷包括點(diǎn)缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片333’面積較小以提高被測(cè)試電路基板上測(cè)試點(diǎn)的精細(xì)度。

在圖3B所示的光電顯示裝置中，所述液晶層320’中的材料優(yōu)選地為采用扭曲向列(Twisted Nematic，TN)型液晶，或者垂直取向(Vertical Alignment，VA)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對(duì)置基板需要在所述對(duì)置基板一側(cè)設(shè)置導(dǎo)電層以及在兩側(cè)基板涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在所述對(duì)置基板的所述導(dǎo)電層324’與所述第二電極片333’之間施加電壓，即可 實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

本發(fā)明提供的光電顯示裝置，根據(jù)上述實(shí)施例提供的不同結(jié)構(gòu)和對(duì)應(yīng)的顯示介質(zhì)，可以相應(yīng)地施加水平電場(chǎng)或垂直電場(chǎng)，使光電顯示裝置實(shí)現(xiàn)電控光閥的作用，從而在光電顯示裝置上顯示出線路電氣特征，最終能準(zhǔn)確、直觀地判斷電路異常情況，如短路和斷路。可降低檢測(cè)電壓，增強(qiáng)裝置可靠性和耐久性，增加光電顯示裝置的可應(yīng)用范圍的用于電路檢測(cè)的光電顯示裝置及其用于檢測(cè)的方法。

本發(fā)明還提供了包括上述各實(shí)施例光電顯示裝置的檢測(cè)裝置，用于電路檢測(cè)，下面進(jìn)一步結(jié)合附圖描述如下。

圖4A為本發(fā)明檢測(cè)裝置一實(shí)施例的剖面示意圖。如圖4A所示，本發(fā)明提供一種檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)電路電氣特性，具體例如檢測(cè)電路板，優(yōu)選地，所述電路板具有兩側(cè)電路圖案，且所述兩側(cè)電路圖案通過導(dǎo)電過孔510實(shí)現(xiàn)電氣導(dǎo)通。所述檢測(cè)裝置包括：光電顯示裝置400，貼置在所述檢測(cè)電路基板500的一側(cè)表面；導(dǎo)電板600，貼置在所述檢測(cè)電路基板500的另一側(cè)表面，用于為所述電路基板500和所述光電顯示裝置400提供電源。

提供上述光電顯示裝置400，包括：一基板430、一與所述基板430對(duì)向設(shè)置的對(duì)置基板410，以及夾在基板430與所述對(duì)置基板410之間的液晶層420。所述對(duì)置基板410和基板430可以為玻璃基板或樹脂基板(PET)等。

其中，所述對(duì)置基板410在靠近所述液晶層420一側(cè)可選擇地覆蓋彩膜層(CF)(圖未示)，可以實(shí)現(xiàn)彩色顯示畫面。

所述基板430具有兩側(cè)表面，在所述基板430的一側(cè)表面的所述顯示區(qū)域內(nèi)布置多個(gè)第一電極片431形成的矩陣，在所述基板430的另一側(cè)表面布置多個(gè)第二電極片433形成的矩陣，一所述第一電極片431與一所述第二電極片433上下垂直對(duì)應(yīng)，且一所述第一電極片431與一所述第二電極片433之間通過導(dǎo)電孔432實(shí)現(xiàn)電學(xué)導(dǎo)通連接。且所述基板430靠近液晶層420的表面覆蓋有透明絕緣層435。

在一具體的實(shí)現(xiàn)中，所述第一電極片431與所述第二電極片433可以為金屬、合金、復(fù)合金屬或金屬氧化物等材料，其可以通過噴墨印刷、絲網(wǎng)印刷或貼片等制作工藝形成在上述光電顯示裝置的基板430上，所述第一、二電極片431、433可選擇為任意形狀。優(yōu)選地，所述一第一電極片431的面積比與其對(duì)應(yīng)一所述第二電極片433的面積大，所述一第一電極片431面積較大以使光電顯示裝置顯示結(jié)果的缺陷便于被人眼識(shí)別，所述 顯示缺陷包括點(diǎn)缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電路電氣異常的情況。所述一第二電極片433面積較小以提高被測(cè)試電路基板上測(cè)試點(diǎn)的精細(xì)度。

在圖4A所示的光電顯示裝置400中，所述液晶層420中的材料優(yōu)選地為采用藍(lán)相(Blue Phase，BP)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對(duì)置基板無(wú)需設(shè)置導(dǎo)電層，兩側(cè)基板不用涂布配向膜。該光電顯示裝置為共面電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

可選擇地，在光電顯示裝置400的基板430和對(duì)置基板410的對(duì)向兩側(cè)各涂布有配向膜429，所述液晶層420中的材料優(yōu)選地為采用平面轉(zhuǎn)換(In Plane Switching，IPS)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對(duì)置基板無(wú)需設(shè)置導(dǎo)電層。該光電顯示裝置為共面電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在任意兩第二電極片或任意兩第二電極片區(qū)域之間施加電壓，即可實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

具體地，一導(dǎo)電板600，其上形成有導(dǎo)電圖案，包括多個(gè)導(dǎo)電圖案單元，一該導(dǎo)電圖案單元與光電顯示裝置400的基板430上的一第二電極片433的圖案相對(duì)應(yīng)，在光電顯示裝置400的導(dǎo)電板600的兩相鄰的導(dǎo)電圖案單元上施加電壓Vc，施加在所述導(dǎo)電板600上的所述檢測(cè)電壓通過所述電路基板500對(duì)應(yīng)的所述導(dǎo)電過孔510A和510B分別傳導(dǎo)到相應(yīng)地所述第二電極片433A和433B，再分別通過所述基板430的所述導(dǎo)電孔432A和432B分別傳導(dǎo)到所述基板430的所述第一電極片431A和431B；在第一電極片431A和431B之間就形成一個(gè)由電壓Vc形成的橫向電場(chǎng)。其中，兩相鄰的導(dǎo)電圖案單元不限于圖4A所示的點(diǎn)圖案，也可以是兩相鄰區(qū)域的其他圖案。

圖4B為本發(fā)明又一實(shí)施例的光電顯示裝置的剖面示意圖。如圖4B所示，本發(fā)明提供一種檢測(cè)裝置，其結(jié)構(gòu)與前述實(shí)施例相同的部分不再贅述，不同在于本實(shí)施例中，在光電顯示裝置400’的對(duì)置基板410’靠近顯示介質(zhì)420’的一側(cè)配置有透明導(dǎo)電層424，且采用的顯示介質(zhì)材料不同。

具體地，該光電顯示裝置400’所述液晶層420’中的材料優(yōu)選地為表面穩(wěn)定鐵電液晶(Surface Stabilized Ferroelectric Liquid Crystal，SSFLC)或者膽甾相液晶(Cholesteric Liquid Crystal)或者聚合物分散液晶(Polymer Dispersed Liquid Crystal，PDLC)或等液晶材料。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的兩側(cè)基板無(wú)需涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在所述對(duì)置基板 的所述導(dǎo)電層424’與所述第二電極片433’之間施加電壓，即可實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

可選擇地，在光電顯示裝置400’的基板430’和對(duì)置基板410’的對(duì)向兩側(cè)各涂布有配向膜429’。所述液晶層420’中的材料優(yōu)選地為采用扭曲向列(Twisted Nematic，TN)型液晶，或者垂直取向(Vertical Alignment，VA)型液晶等。采用該類型的顯示介質(zhì)，光電顯示裝置的所述對(duì)置基板需要在所述對(duì)置基板一側(cè)設(shè)置導(dǎo)電層以及在兩側(cè)基板涂布配向膜。該光電顯示裝置為垂直電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置，通過在所述對(duì)置基板的所述導(dǎo)電層424’與所述第二電極片433’之間施加電壓，即可實(shí)現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換顯示畫面的效果。

具體地，導(dǎo)電板600沿著電路基板500的導(dǎo)電過孔(THROUGH VIA)510、光電顯示裝置400的所述基板的第二電極片433、導(dǎo)電孔432、第一電極片431，形成一個(gè)導(dǎo)電通道。通過在光電顯示裝置400在對(duì)置基板410的透明導(dǎo)電層424與導(dǎo)電板600之間施加電壓，所述導(dǎo)電板600將與所述光電顯示裝置400的基板430的第一電極片431形成等電位，從而把導(dǎo)電板600與所述光電顯示裝置400的對(duì)置基板410之間的電位直接施加到液晶層420上，其中，導(dǎo)電過孔510表示從電路基板500的一個(gè)表層延展到另一個(gè)表層的導(dǎo)通孔。

本發(fā)明各實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置的說明中，光電顯示裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)只是舉例說明，不限于此，還可以是PDLC型液晶顯示裝置等其它光電顯示裝置的結(jié)構(gòu)。

圖5A是本發(fā)明正常電路基板中導(dǎo)電過孔矩陣的平面示意圖。如圖5A所示，電路基板500中的多個(gè)導(dǎo)電過孔510呈現(xiàn)點(diǎn)陣圖案440分布，一所述導(dǎo)電過孔510連接所述電路基板500兩側(cè)的各一電路圖案，所述電路基板500兩側(cè)的電路圖案為與所述導(dǎo)電過孔510數(shù)量對(duì)應(yīng)的多個(gè)，且形狀不限。

圖5B是本發(fā)明檢測(cè)圖5A所示正常電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。光電顯示裝置400顯示圖案畫面440’與基板430一側(cè)的第一電極片的形狀圖案對(duì)應(yīng)。

本發(fā)明另一實(shí)施例還提供了一種檢測(cè)方法。參考圖4A和圖5A、5B，使用圖4A實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置進(jìn)行電路特性檢測(cè)的方法步驟如下：

a、提供一導(dǎo)電板600，其上形成有導(dǎo)電圖案，包括多個(gè)導(dǎo)電圖案單元，一該導(dǎo)電圖案單元與光電顯示裝置400的基板430上的一第二電極片433的圖案相對(duì)應(yīng)，在光電顯示裝置400的導(dǎo)電板600的兩相鄰的導(dǎo)電圖案單元上施加電壓Vc，施加在所述導(dǎo)電板 600上的所述檢測(cè)電壓通過所述電路基板500對(duì)應(yīng)的所述導(dǎo)電過孔510A和510B分別傳導(dǎo)到相應(yīng)地所述第二電極片433A和433B，再通過所述基板430的所述導(dǎo)電孔432A和432B傳導(dǎo)到所述基板430的所述第一電極片431A和431B；在第一電極片431A和431B之間就形成一個(gè)由電壓Vc形成的橫向電場(chǎng)。其中，兩相鄰的導(dǎo)電圖案單元不限于圖4A所示的點(diǎn)圖案，也可以是兩相鄰區(qū)域圖案。

b、根據(jù)如圖5B所示的光電顯示裝置400的顯示圖案畫面440，判斷如圖5A所示的電路基板導(dǎo)電過孔的電路特性。

本發(fā)明一實(shí)施例還提供了一種檢測(cè)方法。參考圖4B和圖5A、5B，使用圖4B實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置進(jìn)行電路特性檢測(cè)的方法步驟如下：

a、在光電顯示裝置400的導(dǎo)電層424和導(dǎo)電板600之間施加電壓Vc，施加在所述導(dǎo)電板600上的所述檢測(cè)電壓通過所述電路基板的所述導(dǎo)電過孔510傳導(dǎo)到所述基板430的所述第二電極片433，再通過所述基板430的所述導(dǎo)電孔432傳導(dǎo)到所述基板430的所述第一電極片431；

b、根據(jù)如圖5B所示的光電顯示裝置400的顯示圖案畫面440’，判斷如圖5A所示的電路基板導(dǎo)電過孔的電路特性。

在上述各檢測(cè)方法的實(shí)施例的具體的實(shí)現(xiàn)中，圖5B所示光電顯示裝置500顯示的像素矩陣中每一像素的位置與圖5A所示電路基板如電路基板中的導(dǎo)電過孔矩陣中每一導(dǎo)電過孔的位置一一對(duì)應(yīng)。

在上述各檢測(cè)方法的實(shí)施例的具體的實(shí)現(xiàn)中，在所述對(duì)置基板410和所述導(dǎo)電板600之間施加檢測(cè)電壓Vc時(shí)，所述第一電極片431與所述對(duì)置基板410的導(dǎo)電層424之間形成電場(chǎng)使液晶層422發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，改變第一電極片431正上方區(qū)域的液晶的光學(xué)特性，產(chǎn)生液晶發(fā)生變化的區(qū)域A。

在上述各檢測(cè)方法的實(shí)施例的具體的實(shí)現(xiàn)中，所述顯示結(jié)果為待檢測(cè)的所述電路基板的光電顯示效果與圖5所示正常的所述電路基板的光電顯示效果對(duì)比，根據(jù)顯示缺陷的位置再判定所述電路基板上短路或斷路導(dǎo)電過孔的位置。例如，所述顯示缺陷為液晶顯示裝置400施加電壓Vc后，所述液晶顯示裝置400中液晶層422不發(fā)生變化的點(diǎn)或區(qū)域，其包括點(diǎn)缺陷、線缺陷和/或面缺陷等電氣。

針對(duì)本發(fā)明的檢測(cè)方法，以采用垂直電場(chǎng)切換型液晶顯示裝置應(yīng)用于圖4B實(shí)施例對(duì)應(yīng)檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法為例，為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易 懂，下文特舉優(yōu)選實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下：

實(shí)施例1

圖6是本發(fā)明檢測(cè)存在導(dǎo)電過孔斷路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；圖7A是本發(fā)明檢測(cè)圖6所示電路基板中導(dǎo)電過孔矩陣的平面示意圖；圖7B是本發(fā)明檢測(cè)圖6所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。結(jié)合參考圖6、圖7A、7B，實(shí)施例1中的光電顯示裝置的主要構(gòu)件以及其對(duì)應(yīng)的連接關(guān)系與上述實(shí)施相類似，本發(fā)明的電路特性檢測(cè)裝置，檢測(cè)如圖6所示的存在導(dǎo)電過孔斷路的電路基板時(shí)，具體檢測(cè)方案如下：

a、提供一如上述各實(shí)施例說明的光電顯示裝置400’，將光電顯示裝置400’、電路基板500’、導(dǎo)電板600’依次緊密貼合；

b、在所述光電顯示裝置400’的對(duì)置基板410’的導(dǎo)電層424’和導(dǎo)電板600’之間施加檢測(cè)電壓Vc；

c、施加在導(dǎo)電板600’上的電壓通過電路基板500’的導(dǎo)電過孔510’傳導(dǎo)到光電顯示裝置400基板430’一側(cè)表面的第二電極片433’，再通過光電顯示裝置400基板430’上的導(dǎo)電孔432傳導(dǎo)到第一電極片431’，第一電極片431’與導(dǎo)電層424’之間形成電場(chǎng)促使液晶發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，改變第一電極片431’正上方區(qū)域的液晶的光學(xué)特性，產(chǎn)生液晶發(fā)生變化的區(qū)域A，例如電路基板中導(dǎo)電過孔斷路C，其對(duì)應(yīng)的第一電極片431’正上方區(qū)域A’的液晶狀態(tài)則不發(fā)生變化。

d、對(duì)比圖7B所示的光學(xué)顯示效果與圖5所示的正常電路基板的顯示效果，判定斷路導(dǎo)電過孔510’的位置。例如，圖7B所示光電顯示裝置中像素矩陣顯示缺陷C1的陣列位置對(duì)應(yīng)圖7A所示電路基板如電路板所示導(dǎo)電過孔矩陣中斷路導(dǎo)電過孔C1’的陣列位置，其中，單個(gè)導(dǎo)電過孔C1斷路時(shí)上述顯示缺陷一般為點(diǎn)缺陷。

實(shí)施例2

圖8是本發(fā)明檢測(cè)存在相鄰導(dǎo)電過孔短路的電路基板的光電顯示裝置剖面示意圖；圖9A是本發(fā)明檢測(cè)圖8所示電路基板中導(dǎo)電過孔矩陣的平面示意圖；圖9B是本發(fā)明檢測(cè)圖8所示電路基板的光電顯示裝置顯示平面示意圖。結(jié)合參考圖8、圖9A、9B，實(shí)施例2中的光電顯示裝置和光電顯示裝置的主要構(gòu)件以及其對(duì)應(yīng)的連接關(guān)系與上述實(shí)施相類似，本發(fā)明的電路特性檢測(cè)裝置，檢測(cè)如圖8所示的存在相鄰導(dǎo)電過孔短路的電路基板時(shí)，具體檢測(cè)方案如下：

a、提供一如上述各實(shí)施例說明的光電顯示裝置400’，其包括將光電顯示裝置400’、電 路基板500’、導(dǎo)電板600’上下緊密貼合；

b、在光電顯示裝置400’中對(duì)置基板410’的導(dǎo)電層424’和導(dǎo)電板600’之間施加檢測(cè)電壓Vc；

c、施加在導(dǎo)電板600’上的電壓Vc通過電路基板500’的導(dǎo)電過孔510’傳導(dǎo)到光電顯示裝置基板400’的第二電極片433’，再通過光電顯示裝置400’基板410’的導(dǎo)電孔432’傳導(dǎo)到第一電極431’，該第一電極片431’與導(dǎo)電層424’之間形成電場(chǎng)促使液晶發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，改變第一電極片431’正上方區(qū)域的液晶層的光學(xué)特性，產(chǎn)生液晶發(fā)生變化的區(qū)域A，例如電路基板中導(dǎo)電過孔短路S，其對(duì)應(yīng)的第一電極片正上方區(qū)域C的液晶狀態(tài)則不發(fā)生變化。

d、對(duì)比圖9B所示的光學(xué)顯示效果與圖5所示的正常電路基板的顯示效果，判定短路導(dǎo)電過孔的位置。例如，圖9B所示光電顯示裝置中像素矩陣顯示缺陷S1的陣列位置對(duì)應(yīng)圖9A所示電路基板如PCB板所示導(dǎo)電過孔矩陣中短路導(dǎo)電過孔S1’的陣列位置，其中，兩個(gè)導(dǎo)電過孔S’短路時(shí)上述顯示缺陷一般為兩個(gè)鄰接點(diǎn)缺陷。

以上詳細(xì)描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，但是，本發(fā)明并不限于上述實(shí)施方式中的具體細(xì)節(jié)，在本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi)，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行多種等同變換，這些等同變換均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。

另外需要說明的是，在上述具體實(shí)施方式中所描述的各個(gè)具體技術(shù)特征，在不矛盾的情況下，可以通過任何合適的方式進(jìn)行組合。為了避免不必要的重復(fù)，本發(fā)明對(duì)各種可能的組合方式不再另行說明。